JP2010257956A - セラミックヒータ及びその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】ダミー部材を用いることなくセラミックヒータの加熱面の温度の均一性を高める。
【解決手段】発明のセラミックヒータの製造方法は、窒化アルミニウム粉末を主体とし希土類酸化物粉末を0.03〜1重量%含む低温焼結原料粉からなる内層成形体32の表裏両面を、金属メッシュからなる抵抗発熱体14,16を介して体積抵抗率が1015Ωcm以上の窒化アルミニウム焼結体からなる一対の外層30,30で挟み込んだ状態で、1600〜1750℃で焼成することによりセラミックヒータ10を得るものである。
【選択図】図6

Description

本発明は、セラミックヒータ及びその製造方法に関する。
半導体製造装置においては、熱CVDなどによってシランガスなどの原料ガスを使用してウェハに半導体薄膜を生成するにあたって、そのウエハを加熱するためのセラミックヒータが採用されている。このセラミックヒータは、ウェハの加熱面の温度を例えば700℃といった高温に保持する必要があるが、成膜性や歩留まり、製品品質を向上させるためには、ウエハの加熱面の温度分布を非常に狭い範囲内で制御することが求められる。
例えば、特許文献1には、モリブデンからなる抵抗発熱体を窒化アルミニウム焼結体に埋め込んだセラミックヒータにおいて、加熱面の温度の均一性を向上させる技術が開示されている。具体的には、イットリア粉末を含む窒化アルミニウム粉末をプレス成形して成形体とする際に、その成形体の中央付近にモリブデン製の抵抗発熱体を埋設すると共に、成形体の上下面に近い位置に円板状又はリング状のモリブデン製のダミー材を埋設し、その成形体をホットプレス法によって1800℃で焼結して焼結体とし、その焼結体からダミー部材を研削加工によって除去することにより、セラミックヒータを製造している。こうしたセラミックヒータでは、焼成工程で抵抗発熱体中に炭化モリブデンが生成する。抵抗発熱体中で炭化モリブデンが偏在すると、その炭化モリブデンが生成した部分では抵抗値が高くなり発熱量が増大するため、加熱面の温度の均一性を損なうことになる。特許文献1では、ダミー材を埋設した成形体を焼結することにより、抵抗発熱体中の炭化モリブデンの生成を抑制し、焼成による抵抗発熱体の抵抗変化を抑制し、その結果、加熱面の温度の均一性を向上することに成功している。
特開2003−288975号公報
しかしながら、上述した特許文献1では、ダミー部材を埋設した成形体を焼結したあとの焼結体からダミー部材を研削加工によって除去するため、ダミー部材が必要な分、その価格がセラミックヒータに反映され、ひいてはセラミックヒータの高価になるという問題があった。
本発明はこのような課題を解決するためになされたものであり、ダミー部材を用いることなくセラミックヒータの加熱面の温度の均一性を高めることを主目的とする。
本発明は、上述の主目的を達成するために以下の手段を採った。
すなわち、本発明のセラミックヒータの製造方法は、窒化アルミニウム粉末を主体とし希土類酸化物粉末を0.03〜1重量%含む低温焼結原料粉からなる内層成形体の表裏両面を、金属メッシュからなる抵抗発熱体を介して体積抵抗率が1015Ωcm以上の窒化アルミニウム焼結体からなる一対の外層で挟み込んだ状態で、1600〜1750℃でホットプレス焼成することによりセラミックヒータを得るものである。
また、本発明のセラミックヒータは、平均結晶粒径が1〜2μmで炭素量が300〜600ppm(重量ベース)の窒化アルミニウムを主体とする中間焼結体と、該中間焼結体の表裏両面に配設された金属メッシュからなる第1及び第2抵抗発熱体と、平均結晶粒径が5〜7μmで炭素量が前記中間焼結体より少なく200〜400ppm(重量ベース)であり、前記第1及び第2抵抗発熱体を介して前記中間焼結体を挟み込む一対の窒化アルミニウムを主体とする外側焼結体と、を備えたものである。ここで、外側焼結体は、希土類元素を含み、中間焼結体は、希土類元素が前記外側焼結体に比べて少ないことが好ましい。希土類元素は、外側焼結体では4〜7重量%が好ましく、中間焼結体では0.03〜1重量%が好ましい。抵抗発熱体は、φ0.1〜0.2mmのモリブデン細線を編み込んだ材料により形成されていることが好ましい。また、第1及び第2抵抗発熱体を700℃に加熱したときのセラミックヒータの加熱面の最高温度と最低温度の差が5℃以下であることが好ましい。
本発明のセラミックヒータの製造方法によれば、ダミー部材を用いることなくセラミックヒータの加熱面の温度の均一性を高めることができる。すなわち、内層成形体の表裏両面を、抵抗発熱体を介して、窒化アルミニウム焼結体で形成された一対の外層で挟み込んだ状態で、1600〜1750℃でホットプレス焼成するため、1800℃以上に加熱焼成する場合に比べて、抵抗値が高く発熱量が大きい炭化相が抵抗発熱体内で偏在して発生するのを抑制することができ、抵抗発熱体の抵抗変化を抑制でき、ひいてはセラミックヒータの加熱面の温度の均一性を高めることができる。
本発明のセラミックヒータによれば、第1抵抗発熱体と第2抵抗発熱体の間で電流がリークすることがなく、しかも加熱面(基体の表面)の温度の均一性(以降、均熱性という)が高いため、半導体薄膜の成膜装置の一部品として適している。こうしたセラミックヒータは、上述したセラミックヒータの製造方法により得ることができる。
セラミックヒータ10の平面図である。 セラミックヒータ10の正面図(断面図)である。 第1投影パターン24の説明図である。 第2投影パターン26の説明図である。 両投影パターン24,26を重ね合わせた様子を表す説明図である。 セラミックヒータ10の製造工程を示す説明図である。 実施例4のセラミックヒータの切断断面の写真(部分拡大図付き)である。 実施例4のセラミックヒータの反射電子像(BEI)の写真である。 実施例4のセラミックヒータの二次電子像(SEI)の写真である。
本発明のセラミックヒータの製造方法において、低温焼結原料粉は、窒化アルミニウム粉末を主体とし希土類酸化物粉末を0.03〜1重量%含む混合粉末である。ここで、希土類酸化物としては、例えばイットリア(Y23)、サマリア(Sm23)、ユウロピア(Eu23)などが挙げられる。また、希土類酸化物粉末の含有量が0.03重量%未満の場合には、焼結後の熱伝導率が過小となり、均熱性が悪化するため好ましくなく、1重量%を超える場合には、焼結性が著しく悪化し、均熱性が悪化するため好ましくない。
本発明のセラミックヒータの製造方法において、金属メッシュは、例えばモリブデンやタングステンなどが挙げられるが、このうちモリブデンが好ましい。金属メッシュは、φ0.1〜0.2mmの金属細線を編み込んだ材料により形成されていることが好ましい。金属細線がφ0.1mm未満だと、細すぎてレーザ加工により板状の金属メッシュから所望の形状に切り出すのが困難になるため好ましくなく、0.2mmを超えると、電気抵抗が低すぎてヒータとして十分機能しないおそれがあるため好ましくない。なお、抵抗発熱体を導電材ペーストを印刷することにより作製することも考えられるが、その場合には、抵抗発熱体を設計通りの電気抵抗にすることが非常に困難であり、加熱面の均熱性を高めることができない。
本発明のセラミックヒータの製造方法において、外層は、体積抵抗率が1015Ωcm以上の窒化アルミニウム焼結体から形成されている。体積抵抗率が1015Ωcm未満の場合には、抵抗発熱体に電流を流したときにウエハーや表面近傍に埋設されるRF電極等に電流がリークしてウエハー上のプラズマを不安定にすることがある。こうした窒化アルミニウム焼結体は、例えば、窒化アルミニウム粉末に希土類酸化物粉末を4〜7重量%含む高温焼結原料粉からなる成形体を1800〜1900℃で焼成して得ることができる。
本発明のセラミックヒータの製造方法では、内層成形体の表裏両面を抵抗発熱体を介して一対の窒化アルミニウム焼結体からなる外層で挟み込んだ状態で、1600〜1750℃で焼成する。このときの温度が1600℃未満だと内層焼結体が緻密にならないため熱伝導率が過小となり、強度が低下し、均熱性が悪化するため好ましくなく、1750℃を超えると焼結した内層の体積抵抗率が著しく下がり、且つ、抵抗発熱体の抵抗変化率が著しく大きくなるため、リーク電流の増加、均熱性の悪化が生じるため好ましくない。なお、内層成形体は、一対の外層で挟み込む前に成形したものを用いてもよいし、金型内で一対の外層によって原料粉を挟み込みプレスすることで原料粉を成形してもよい。
本発明のセラミックヒータの製造方法において、内層成形体を外層で挟み込む前に、該外層に抵抗発熱体の形状に合った溝を形成し該溝に抵抗発熱体を嵌めておくことが好ましい。こうすれば、抵抗発熱体の位置決めを確実且つ容易に行うことができる。
本発明のセラミックヒータの製造方法により作製されたセラミックヒータは、希土類元素を含む窒化アルミニウム焼結体で形成された基体と、該基体の表側近傍に配設された金属メッシュからなる第1抵抗発熱体と、該基体の裏側近傍に配設された金属メッシュからなる第2抵抗発熱体と、を備えたものである。
このセラミックヒータにおいて、抵抗発熱体を700℃に加熱したときの加熱面における最高温度と最低温度の差は5℃以下であり、好ましくは3℃以下である。また、このセラミックヒータにおいて、内層成形体の焼結体は、外層に比べて、希土類元素が少なく、結晶粒径が細かく、炭素量が多い。従来、Y23を1重量%以下しか含まない原料粉を焼結した場合、得られる窒化アルミニウム焼結体の体積抵抗率は、通常、1010〜1012Ωcmと低い。このため、リーク電流が発生して十分な発熱量が得られない等の不具合が生じる。しかし、本発明のセラミックヒータの製造方法により得られるセラミックヒータは、Y23を1重量%以下しか含まない原料粉を焼結したにもかかわらず、リーク電流の発生が見られなかった。その理由としては、低温焼結原料粉を緻密な外層の焼結体で覆って焼成することで、焼結工程における炭素の散逸が抑制され、内層の焼結体の結晶粒径が細かく、炭素量が多くなったためと考えられる。
図1は、本発明の一実施形態のセラミックヒータ10の平面図、図2はその正面図(断面図)である。セラミックヒータ10は、希土類元素を含む窒化アルミニウム焼結体で形成された基体12と、その基体12の表側近傍に配設されたモリブデンメッシュからなる第1抵抗発熱体14と、基体12の裏側近傍に配設されたモリブデンメッシュからなる第2抵抗発熱体16とを備えている。基体12の大きさは、特に限定するものではないが、例えば直径330〜340mm、厚さ20mm〜30mmである。第1抵抗発熱体14を基体12の加熱面12aに投影した第1投影パターン24を図3に示す。図3から明らかなように、第1抵抗発熱体14は、中心付近に配置された2つの端子の一方の端子に端を発して一筆書きの要領で配線されたあともう一方の端子に至っている。また、第2抵抗発熱体16を基体12の加熱面12aに投影した第2投影パターン26を図4に示す。図4に示すように、第2抵抗発熱体16は、中心付近に配置された2つの端子の一方の端子に端を発して一筆書きの要領で配線されたあともう一方の端子に至っている。更に、両投影パターン24,26を重ね合わせた様子を図5に示す。図5から明らかなように、第2投影パターン26は、第1投影パターン24の隙間に入り込んでいる。つまり、第1抵抗発熱体14だけでは加熱面12aに温度ムラが発生しやすいため、それを補うために第2抵抗発熱体16がこのような形状に形成されているのである。なお、第1及び第2投影パターン24,26を重ね合わせたときに両者が一致するように第1及び第2抵抗発熱体14,16を形成してもよい。
次に、こうしたセラミックヒータ10の製造方法について説明する。図6は、セラミックヒータ10の製造工程を示す説明図である。まず、外層30を2つ製造する。この外層30は、窒化アルミニウム粉末に対して、希土類酸化物粉末を4〜7重量%添加して混合し、混合粉末をプレス成形して外層成形体とし、この外層成形体をホットプレス法によって1800〜1900℃で焼結させて外層30を得る。各粉末を混合するにあたり、例えば、各粉末を有機溶媒中で湿式混合することによりスラリーとし、該スラリーを乾燥造粒して混合粉末としてもよい。湿式混合を行う際は、ポットミル、トロンメル、アトリッションミルなどの混合粉砕機を使用してもよい。また、湿式混合の代わりに乾式混合してもよい。混合粉末をプレス成形して外層成形体とするにあたり、混合粉末を一軸加圧成形により成形体を作製することが好ましい。一軸加圧成形では、混合粉末を型に充填し上下方向に圧力を加えて成形するため、高密度な成形体が得られる。また、高い寸法精度が要求される場合にも適する。外層成形体をホットプレス法によって焼結させるにあたり、例えば、真空又は不活性雰囲気下で、プレス圧力50〜300kgf/cm2でホットプレス焼成を行ってもよい。焼成時間は、焼成条件に応じて適宜設定すればよいが、例えば1〜10時間の間で適宜設定すればよい。なお、不活性雰囲気とは、焼成に影響を与えないガス雰囲気であればよく、例えば窒素雰囲気、アルゴン雰囲気などが挙げられる。不活性雰囲気の導入により、特に大型な焼結体を得る場合に均熱性が更に高くなり、均一な焼結体が得られる。このようにして得られる外層30の体積抵抗率は、1×1015Ωcm以上となる。
次に、外層30の片面に、第1抵抗発熱体14の形状と合致する形状の溝30aを形成し、この溝30aに第1抵抗発熱体14をはめ込む。また、もう一つの外層30の片面に、第2抵抗発熱体16の形状と合致する形状の溝30bを形成し、この溝30bに第2抵抗発熱体16をはめ込む。
次に、窒化アルミニウム粉末に対して、希土類酸化物粉末を0.03〜1重量%添加して混合し、混合粉末(低温焼結原料粉)を調製する。混合粉末の調製やプレス成形については、外層成形体と同様にして行うことができる。そして、成形用金型に、溝30bに第2抵抗発熱体16をはめ込んだ外層30を第2抵抗発熱体16が上を向くようようにセットし、続いて先ほど用意した低温焼結原料粉を充填し、更に溝30aに第1抵抗発熱体14をはめ込んだ外層30を第1抵抗発熱体14が低温焼結原料粉を向くようにセットし、50〜100kg/cm2の圧力でプレス成形を行う。これにより、厚さ3〜20mm(好ましくは5〜15mm)の内層成形体32の表裏両面に、第1抵抗発熱体14をはめ込んだ外層30と第2抵抗発熱体16をはめ込んだ外層30とが、各抵抗発熱体14,16が内層成形体32を向くように配置されたサンドイッチ構造の成形体34を得る。
次に、ホットプレス用金型にサンドイッチ構造の成形体34をセットし、ホットプレス法によって1600〜1750℃で低温焼結させ、セラミックヒータ10を得る。このときの低温焼結は、例えば、真空又は不活性雰囲気下で、プレス圧力50〜300kgf/cm2という条件で行ってもよい。焼成時間は、焼成条件に応じて適宜設定すればよいが、例えば2〜4時間の間で設定するのが好ましい。
得られたセラミックヒータ10は、基体12を有するが、この基体12は、内層成形体32と外層30とが焼結により一体化されたものである。具体的には、基体12は、内層成形体32が低温焼結された中間焼結体と、この中間焼結体を挟み込む一対の外側焼結体(外層30に由来)とから構成される(図7参照)。中間焼結体は、希土類元素(希土類酸化物由来の成分)が外側焼結体に比べて少なく、結晶粒径が1〜2μmで炭素量が300〜600ppm(重量ベース)である。外側焼結体は、希土類元素(希土類酸化物由来の成分)を含み、平均粒径が5〜7μmで炭素量が中間焼結体より少なく200〜400ppm(重量ベース)である。また、第1及び第2抵抗発熱体14,16は、低温焼結後はモリブデン相と炭化モリブデン相を含むが、抵抗値が高く発熱量の大きい炭化モリブデン相は低温のため生成量が少なく、第1抵抗発熱体14内で目立って偏在することはない。この結果、第1及び第2抵抗発熱体14,16は、その全長にわたって抵抗値が大きくばらつくことはなく、抵抗発熱体の抵抗分布は設計どおりに維持されるので、セラミックヒータ10の加熱面の最高温度と最低温度との差は5℃以下に収まる。また、第1及び第2抵抗発熱体14,16に電流を流したときにリーク電流が生じないことから、第1及び第2抵抗発熱体14,16の間の焼結体は内層成形体32がY23を1重量%以下しか含まない原料粉を焼結したものであるにもかかわらず、体積抵抗率が1015Ωcm程度の高い値になっている。
[実施例1]
まず、直径が360mm、厚さが6mmの外層30を2つ製造した。すなわち、平均粒径1μm、純度99.9%の窒化アルミニウム粉末に対して、平均粒径1.5μm、純度99.9%のイットリア粉末5重量%を添加し、混合し、混合粉末を100kgf/cm2で一軸加圧成形し、外層成形体とした。この外層成形体をホットプレス法によって焼結させ、外層30を得た。このときの焼結は、窒素雰囲気下、プレス圧力200kgf/cm2で1820℃で2時間行った。得られた外層30の体積抵抗率は2×1015Ωcmであった。なお、体積抵抗率は、同条件で作成した窒化アルミ焼結体からサンプルを切り出して、JIS C2141(電気絶縁用セラミック材料の試験方法)に基づき測定した。
次に、一方の外層30の片面に、幅6mm(一部を除く)の第1抵抗発熱体14の形状と合致する形状の溝30aをブラスト加工により形成した。溝30aの深さは0.5mmとした。また、ブラスト加工は、炭化珪素製の粒度#600の砥粒を用いて実施した。一方、φ0.12mmのモリブデン細線を編み込んだ厚さ0.24mmの板状のモリブデンメッシュを用意し、このモリブデンメッシュからレーザ加工により第1抵抗発熱体14を切り出し、外層30の溝30aの中にはめ込んだ。また、もう一方の外層30についても同様の処理を施し、幅9mm(一部を除く)の第2抵抗発熱体16を外層30の溝30bの中にはめ込んだ。
次に、平均粒径1μm、純度99.9%の窒化アルミニウム粉末に対して、平均粒径1.5μm、純度99.9%のイットリア粉末0.03重量%を添加して混合した混合粉末(低温焼結原料粉)を用意した。そして、成型用金型に、溝30bに第2抵抗発熱体16をはめ込んだ外層30を第2抵抗発熱体16が上を向くようようにセットし、続いて先ほど用意した低温焼結原料粉を充填し、更に溝30aに第1抵抗発熱体14をはめ込んだ外層30を第1抵抗発熱体14が低温焼結原料粉を向くようにセットし、100kg/cm2の圧力でプレス成形を行った。これにより、厚さ6mmの内層成形体32の表裏両面を一対の外層30,30で挟み込んだサンドイッチ構造の成形体34を得た。
次に、カーボン製のサヤの上下にシリンダが挿入されたホットプレス用金型に、サンドイッチ構造の成形体34をセットし、ホットプレス法によって低温焼結させ、セラミックヒータ10を得た。このときの低温焼結は、窒素雰囲気下、プレス圧力100kgf/cm2で1650℃で2時間行った。なお、低温焼結後は、内層成形体32の厚みは約半分になった。
加熱面の温度の均一性を評価するために、得られたセラミックヒータ10につき、抵抗上昇率と温度分布を測定した。抵抗上昇率は、次のように測定した。第1抵抗発熱体14につき、中心付近の2つの端子のうち片方の端子からの設計上の電気抵抗が値R0となる第1ポイントを設定し、その第1ポイントから設計上の電気抵抗が同じく値R0となる第2ポイントを設定し、こうした手順で第8ポイントまで設定した。第2抵抗発熱体16についても、同様にして第1〜第8ポイントまで設定した。そして、第1抵抗発熱体14における中心端子−第1ポイント、第1ポイント−第2ポイント、……、第7ポイント−第8ポイントの各電気抵抗を測定した。また、第2抵抗発熱体16における中心端子−第1ポイント、第1ポイント−第2ポイント、……、第7ポイント−第8ポイントの各電気抵抗を測定した。そして、各電気抵抗の測定値につき、100×(測定値−設計値R0)/設計値R0を求め、その最高値を抵抗上昇率(%)とした。その結果を表1に示す。
また、温度分布は、次のように測定した。第1抵抗発熱体14の中心付近の2つの端子に電極端子(図示せず)をそれぞれ接続すると共に、第2抵抗発熱体16の中心付近の2つの端子に電極端子(図示せず)をそれぞれ接続し、両抵抗発熱体14,16に電流を流して加熱面12aが目標温度700℃になるように制御した。そして、目標温度700℃に到達し温度が安定化した状態で、加熱面12aの全面の温度を測定し、そのときの最高温度と最低温度との差を求め、これを温度分布(℃)とした。その結果を表1に示す。表1から明らかなように、抵抗上昇率はわずか6%、温度分布もわずか3℃であった。なお、赤外線放射温度計を用いて温度分布を測定した。
[実施例2〜5,比較例1〜3]
実施例2〜5では、実施例1に準じて表1に示す条件を採用してセラミックヒータ10を製造し、その抵抗上昇率及び温度分布を測定した。また、比較例1では、イットリアを0.1重量%含有する窒化アルミニウム粉末の成形体に第1及び第2抵抗発熱体14,16を埋め込み、それを1855℃の高温で焼結して、セラミックス全体がイットリアを0.1重量%含有する窒化アルミニウム焼結体からなるセラミックヒータを作製し、その抵抗上昇率及び温度分布を測定した。比較例2,3では、内層成形体32をイットリアを5重量%含有する窒化アルミニウム粉末の成形体とし、これをイットリアを5重量%含有する窒化アルミニウム焼結体からなる外層30,30で挟んでサンドイッチ構造の成形体34とし、これを1820℃の高温で焼結してセラミックヒータを作製し、その抵抗上昇率及び温度分布を測定した。これらの結果を表1に示す。
表1から明らかなように、実施例1〜5は、いずれも抵抗上昇率が5〜6%と非常に低く、温度分布も2〜3℃と非常に低かった。これに対して、比較例1〜3は、いずれも抵抗上昇率が35〜38%と高く、温度分布も7〜10℃と高く、均熱性が悪かった。また、実施例1〜5では、第1抵抗発熱体14と第2抵抗発熱体16との間にリーク電流が発生しなかったことから、この間の体積抵抗率は1015Ωcm程度であろうと予測される。実際、体積抵抗率を測定したところ、後出の表2に示すとおり、この予測は的中していた。
図7は、実施例4のセラミックヒータの切断断面の写真(部分拡大図付き)である。図7の写真で白っぽく見える部分は、外側焼結体であり、低温焼結工程の前に外層30だった部分である。一方、一対の外側焼結体に挟み込まれた濃いグレーの部分は、中間焼結体であり、低温焼結工程の前に内層成形体32だった部分である。つまり、内層成形体32とこれを挟み込む一対の外側焼結体が基体12に相当する。なお、写真では判別しにくいが、中間焼結体と外側焼結体との界面付近には第1及び第2抵抗発熱体が存在している。
この実施例4のセラミックヒータにつき、中間焼結体と外側焼結体との界面付近の反射電子像(BEI)と二次電子像(SEI)とを撮影し、その微構造を調べた。一般に、BEIは組成を見るのに適し、SEIは結晶形状を見るのに適している。図8にBEIの写真を示し、図9にSEIの写真を示す。なお、図8で白っぽい楕円部分はモリブデンメッシュの断面である。また、図8と図9は、それぞれ異なる部分を撮影したものである。図8では、Yは白っぽい点として現れるが、そのような白っぽい点は画面の下半分である外側焼結体のみに散らばっており、画面の上半分である中間焼結体には見られない。
実施例1〜5,比較例1〜3につき、炭素量(重量ベース)、平均結晶粒径、体積抵抗率をそれぞれ測定した。その結果を表2に示す。炭素量は、JIS R1603の高周波加熱−赤外線吸収法を用いて測定した。平均結晶粒径は、SEIの写真に写っている複数の結晶の粒径の平均値とした。体積抵抗率は、実施例1の外層30の体積抵抗率と同様にして測定した。実施例1〜5において、中間焼結体の平均結晶粒径は1〜2μm、外側焼結体の平均結晶粒径は5〜7μmであった。また、中間焼結体の炭素量は300〜600ppm、外側焼結体の炭素量は200〜400ppmであり、中間焼結体の方が外側焼結体よりも100〜200ppm程度炭素量が多かった。更に、中間焼結体の体積抵抗率は8×1014〜1×1015Ωcmであった。
このように、Yの分布の様子、各焼結体の結晶粒径及び炭素量を調べた結果、中間焼結体の体積抵抗率が高くなった理由は、結晶粒径が1〜2μmで且つ炭素量が300〜600ppm(重量ベース)であるからだと結論づけた。具体的には、窒化アルミニウム粉末に対してイットリア粉末0.1重量%を添加した混合粉末を成形してそのまま焼成した場合、体積抵抗率は1010〜1012Ω・cmと低い値にしかならない。しかし、実施例1〜5では、その混合粉末を一対の外層で挟み込んで焼成したため、混合粉末からCOガス等が抜け出ず、炭素成分が多く残存し、その残存した炭素成分が粒成長を阻害し、その結果、中間焼結体の結晶粒径が1〜2μmと小さくなって体積抵抗率が高くなった(1015Ωcm程度)と考えられる。
本発明のセラミックヒータは、例えば半導体製造装置の一部品として好適に利用可能である。
10 セラミックヒータ、12 基体、12a 加熱面、14 第1抵抗発熱体、16 第2抵抗発熱体、24 第1投影パターン、26 第2投影パターン、30 外層、30a 溝、30b 溝、32 内層成形体、34 サンドイッチ構造の成形体。

Claims (9)

  1. 窒化アルミニウム粉末を主体とし希土類酸化物粉末を0.03〜1重量%含む低温焼結原料粉からなる内層成形体の表裏両面を、金属メッシュからなる抵抗発熱体を介して体積抵抗率が1015Ωcm以上の窒化アルミニウム焼結体からなる一対の外層で挟み込んだ状態で、1600〜1750℃で焼成することによりセラミックヒータを得る、
    セラミックヒータの製造方法。
  2. 前記一対の外層は、窒化アルミニウム粉末に希土類酸化物粉末を4〜7重量%含む高温焼結原料粉からなる成形体を1800〜1900℃で焼成したものである、
    請求項1に記載のセラミックヒータの製造方法。
  3. 前記内層成形体を前記外層で挟み込む前に、該外層に前記抵抗発熱体の形状に合った溝を形成し該溝に前記抵抗発熱体を嵌めておく、
    請求項1又は2に記載のセラミックヒータの製造方法。
  4. 前記抵抗発熱体は、φ0.1〜0.2mmのモリブデン細線を編み込んだ材料により形成されている、
    請求項1〜3のいずれか1項に記載のセラミックヒータの製造方法。
  5. 請求項1〜4のいずれか1項に記載のセラミックヒータの製造方法によって製造されたセラミックヒータ。
  6. 平均結晶粒径が1〜2μmで炭素量が300〜600ppm(重量ベース)の窒化アルミニウムを主体とする中間焼結体と、
    該中間焼結体の表裏両面に配設された金属メッシュからなる第1及び第2抵抗発熱体と、
    平均結晶粒径が5〜7μmで炭素量が前記中間焼結体より少なく200〜400ppm(重量ベース)であり、前記第1及び第2抵抗発熱体を介して前記中間焼結体を挟み込む一対の窒化アルミニウムを主体とする外側焼結体と、
    を備えたセラミックヒータ。
  7. 前記外側焼結体は、希土類元素を含み、
    前記中間焼結体は、希土類元素が前記外側焼結体に比べて少ない、
    請求項6に記載のセラミックヒータ。
  8. 前記抵抗発熱体は、φ0.1〜0.2mmのモリブデン細線を編み込んだ材料により形成されている、
    請求項6又は7に記載のセラミックヒータ。
  9. 前記第1及び第2抵抗発熱体を700℃に加熱したときの前記セラミックヒータの加熱面の最高温度と最低温度の差が5℃以下である、
    請求項6〜8のいずれか1項に記載のセラミックヒータ。
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