JP2010238691A - 中継部材およびプリント基板ユニット - Google Patents
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Abstract
【課題】これまで以上に良好な電気的性能を有する中継部材およびプリント基板ユニットを提供する。
【解決手段】チップ型の電子部品27は基材25に組み込まれる。基材25はパッケージ基板17およびプリント配線板14の間に挟み込まれる。電子部品27の第1電極端子31はパッケージ基板17の第1端子パッド21に接続される。電子部品27の第2電極端子32はプリント配線板14の第2端子パッド22に接続される。こうして電子部品27はパッケージ基板17およびプリント配線板14に電気的に接続される。電子部品27がパッケージ基板17の輪郭の外側でプリント配線板14の表面に実装される場合に比べて、電子部品27とパッケージ基板17との距離は著しく短縮される。その結果、損失RやインダクタンスLは著しく低減される。プリント基板ユニット13ではこれまで以上に良好な電気的性能が確立される。
【選択図】図3
【解決手段】チップ型の電子部品27は基材25に組み込まれる。基材25はパッケージ基板17およびプリント配線板14の間に挟み込まれる。電子部品27の第1電極端子31はパッケージ基板17の第1端子パッド21に接続される。電子部品27の第2電極端子32はプリント配線板14の第2端子パッド22に接続される。こうして電子部品27はパッケージ基板17およびプリント配線板14に電気的に接続される。電子部品27がパッケージ基板17の輪郭の外側でプリント配線板14の表面に実装される場合に比べて、電子部品27とパッケージ基板17との距離は著しく短縮される。その結果、損失RやインダクタンスLは著しく低減される。プリント基板ユニット13ではこれまで以上に良好な電気的性能が確立される。
【選択図】図3
Description
本発明は、例えば半導体パッケージとプリント配線板との間に配置される中継部材に関する。
例えばサーバコンピュータ装置にはプリント基板ユニットが組み込まれる。プリント基板ユニットは、通常、プリント配線板の表面に実装されるLSIチップパッケージを備える。LSIチップパッケージのパッケージ基板は例えばボールグリッドアレイ(BGA)やランドグリッドアレイ(LGA)に基づきプリント配線板に実装される。LSIチップパッケージの周辺回路部品としてプリント配線板の表面や裏面には抵抗やコンデンサ、インダクタといったチップ型の電子部品が実装される。こうしたチップ型の電子部品は、パッケージ基板の表面に実装されるLSIチップにプリント配線板を介して電気的に接続される。
従来、LSIチップパッケージのパッケージ基板は中継部材を介してプリント配線板上に接合される。中継部材は絶縁性の基材を備える。基材は、パッケージ基板上の端子パッドおよびプリント配線板上の端子パッドに対応する位置に形成される貫通孔を備える。貫通孔内にははんだ材が充填される。こうした中継部材がパッケージ基板およびプリント配線板の間に挟み込まれると、端子パッド同士ははんだ材で相互に接続される。こうしたはんだ材はボールグリッドアレイの代わりに用いられる(特許文献1および2参照)。
LSIチップのパッケージ基板と電子部品との接続にあたって、プリント配線板内の配線パターンやスルーホールが用いられる。電子部品はLSIチップパッケージの周囲に配置されることから、LSIチップパッケージと電子部品との間の配線パターンの長さは比較的に大きい。しかも、LSIチップパッケージの端子パッド同士のピッチは狭いことから、端子パッドから引き出される配線パターンは細く、端子パッド同士のピッチと同じピッチで配置されるスルーホールの径は小さい。
その結果、LSIチップパッケージと電子部品との間の接続ラインでは電気的に損失RやインダクタンスLが増大する。接続ラインに電流が流れた場合、損失Rの増加に基づき電圧が低下する。例えば電源ラインで電圧が過大に低下すると、電圧はLSIチップの動作可能電圧を下回り、LSIチップは動作不能となる。また、信号ラインで矩形波の動作周波数が高く信号の電圧変化の時間が短くなるほど、インダクタンスLの増加に基づき信号波形にひずみが生じたり、信号の電圧変化に応じて電源ラインのノイズが増大したりする。その結果、誤動作の可能性が増大して回路の電気的性能は低下する。
本発明は、上記実状に鑑みてなされたもので、これまで以上に良好な電気的性能を確立する中継部材およびプリント基板ユニットを提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、中継部材の一具体例は、半導体パッケージおよびプリント配線板の間に配置される中継部材であって、絶縁材料から形成される基材と、前記半導体パッケージの第1端子パッドおよび前記プリント配線板の第2端子パッドに対応する位置で前記基材に形成される貫通孔と、前記貫通孔内に挿入されて、前記第1端子パッドに接続される第1電極端子、および、前記第2電極パッドに接続される第2電極端子を両端に有するチップ型の電子部品とを備える。
こうした中継部材は半導体パッケージおよびプリント配線板の接合にあたって用いられる。基材の貫通孔にはチップ型の電子部品が配置される。基材は半導体パッケージおよびプリント配線板の間に挟み込まれる。電子部品の一方の電極端子は半導体パッケージの第1端子パッドに接続される。電子部品の他方の電極端子はプリント配線板の第2端子パッドに接続される。こうして電子部品は半導体パッケージおよびプリント配線板に電気的に接続される。その結果、電子部品が半導体パッケージの輪郭の外側でプリント配線板の表面に実装される場合および電子部品がプリント配線板の裏面に実装される場合に比べて、電子部品と半導体パッケージとの距離は著しく短縮される。同時に、電子部品は例えば配線パターンやスルーホールを介さずに半導体パッケージに直接的に接続される。その結果、電子部品および半導体パッケージの間の損失RおよびインダクタンスLは著しく低減される。その結果、これまで以上に良好な電気的性能が確立される。しかも、これまでパッケージ基板の輪郭の外側でプリント配線板の表面や裏面に実装される電子部品が半導体パッケージの輪郭の内側でプリント配線板との間に配置されることから、半導体パッケージの周辺回路部品としての電子部品の実装スペースは削減される。その結果、プリント配線板の全体の面積は削減される。プリント配線板の小型化が実現される。
上記目的を達成するために、プリント基板ユニットの具体例は、裏面に第1端子パッドを有するパッケージ基板と、表面で前記パッケージ基板の裏面に向き合い、表面に第2端子パッドを有するプリント配線板と、前記パッケージ基板および前記プリント配線板の間に配置される絶縁性の基材と、前記基材に形成されて、前記第1端子パッドおよび前記第2端子パッドに対応する位置に形成される貫通孔と、前記貫通孔内に挿入されて、前記第1端子パッドに接続される第1電極端子、および、前記第2端子パッドに接続される第2電極端子を両端に有するチップ型の電子部品とを備える。こうしたプリント基板ユニットによれば、前述と同様の作用効果が実現される。
以上のように開示の中継部材およびプリント基板ユニットによれば、これまで以上に良好な電気的性能が確立される。
以下、添付図面を参照しつつ本発明の一実施形態を説明する。
図1は電子機器の一具体例すなわちサーバコンピュータ装置11の外観を概略的に示す。サーバコンピュータ装置11は筐体12を備える。筐体12内には収容空間が区画される。収容空間にはプリント基板ユニットが配置される。プリント基板ユニットは例えば半導体部品やメインメモリを備える。半導体部品は、例えば一時的にメインメモリに保持されるソフトウェアプログラムやデータに基づき様々な演算処理を実行する。ソフトウェアプログラムやデータは、同様に収容空間に配置されるハードディスク駆動装置(HDD)といった大容量記憶装置に格納されればよい。こういったサーバコンピュータ装置11は例えばラックに搭載される。
図2は本発明の第1実施形態に係るプリント基板ユニット13の構造を概略的に示す。プリント基板ユニット13は筐体12内に配置される。このプリント基板ユニット13はプリント配線板14を備える。プリント配線板14には例えば樹脂基板が用いられる。プリント配線板14の表面には半導体パッケージすなわちLSI(大規模集積回路)チップパッケージ15が実装される。プリント配線板14およびLSIチップパッケージ15の間には中継部材16が挟み込まれる。中継部材16の働きでLSIチップパッケージ15はプリント配線板14の表面に実装される。こうしてLSIチップパッケージ15はプリント配線板14に電気的および機械的に接続される。
図3に示されるように、LSIチップパッケージ15はパッケージ基板17を備える。パッケージ基板17には例えばセラミック基板が用いられる。パッケージ基板17の表面にはLSIチップ18が実装される。パッケージ基板17の表面にはマトリックス状に端子バンプ19が配列される。端子バンプ19上にLSIチップ18が受け止められる。端子バンプ19の働きでLSIチップ18はパッケージ基板17の表面に実装される。その他、LSIチップ18は例えばダイボンディングやワイヤボンディングに基づきパッケージ基板17に実装されてもよい。パッケージ基板17の表面ではLSIチップ18上にヒートスプレッダやヒートシンク(図示されず)が装着されてもよい。
パッケージ基板17の裏面にはマトリックス状に複数の端子パッド21が配列される。その一方で、プリント配線板14の表面にはマトリックス状に複数の端子パッド22が配列される。パッケージ基板17の端子パッド21はプリント配線板14の端子パッド22に1対1で対応する。ここでは、端子パッド21、22は例えば矩形の輪郭を有する。端子パッド21の表面や端子パッド22の表面は平坦面で規定される。端子パッド21の表面は端子パッド22の表面に平行に規定される。端子パッド21、22は例えば銅から形成される。なお、端子パッド21、22の形状や大きさは必ずしも一致しなくてもよい。ただし、端子パッド21同士のピッチおよび端子パッド22同士のピッチは相互に揃えられる。
中継部材16は基材25を備える。基材25は例えば平たい直方体形状に形成される。基材25の表面および裏面は相互に平行に広がる。基材25の表面および裏面は第1面および第2面のいずれかを構成する。プリント配線板14およびパッケージ基板17の間で基材25は均一な厚みで広がる。基材25は表面でパッケージ基板17の裏面を受け止める。基材25は裏面でプリント配線板14の表面に受け止められる。基材25は絶縁性の高分子材料から形成される。ここでは、基材25は例えば熱硬化性の樹脂材料や熱可塑性の樹脂材料から形成される。
基材25には、基材25の表面から裏面まで貫通する複数の貫通孔26が形成される。貫通孔26は端子パッド21、22の位置に応じてマトリックス状に配列される。ここでは、貫通孔26は端子パッド21に1対1で対応する。同時に、貫通孔26は端子パッド22に1対1で対応する。その結果、基材25の表面で貫通孔26は端子パッド21に向かって開口する。同様に、基材25の裏面で貫通孔26は端子パッド22に向かって開口する。こうして貫通孔26の位置は端子パッド21、22の位置に対応して特定される。本実施形態では貫通孔26は例えば角柱空間を規定する。
各貫通孔26内にはチップ型の電子部品27や固体金属物28が個別に配置される。電子部品27には例えば角柱形状のチップ抵抗やチップコンデンサ、チップインダクタが含まれる。後述のように、本実施形態に係る電子部品27は長手方向の両端すなわち上端および下端に電極端子を有する。電子部品27や固体金属物28は貫通孔26内で直立する垂直姿勢を確立する。電子部品27や固体金属物28は貫通孔26の内壁に密着する。こうして電子部品27や固体金属物28は貫通孔26内に確実に保持される。電子部品27や固体金属物28は貫通孔26内に例えば圧入される。
ここでは、貫通孔26内に配置されるすべての電子部品27で上端から下端まで同一の長さが設定される。電子部品27は例えば1005型チップや0603型チップのいずれかから構成される。こうした電子部品27の寸法は規格に基づき特定される。例えば1005型チップでは上端から下端まで1.0mmの長さが規定される。同時に、プリント配線板14の表面に平行な方向に0.5mmの幅および厚みが規定される。同様に、例えば0603型チップでは0.6mmの長さ並びに0.3mmの幅および厚みが規定される。本実施形態では電子部品27は例えば1005型から構成される。なお、電子部品27の厚みは幅と同一である必要はなく、電子部品27の厚みは規格の寸法以下の例えば0.35mmに規定されてもよい。
電子部品27は例えば角柱形状のチップ本体29を備える。チップ本体29は、例えばセラミック材料から形成される基材を備える。基材内には例えば抵抗体や内部電極が配置される。チップ本体29の両端すなわち上端および下端には1対の外部の電極端子31、32が形成される。電極端子31、32は貫通孔26の開口で露出する。電極端子31は平坦面で対応の端子パッド21を受け止める。電極端子32は平坦面で対応の端子パッド22に受け止められる。電子部品27は端子パッド21に対応の端子パッド22を電気的に接続する。こうして電子部品27はLSIチップパッケージ15に直列に接続される。電極端子31、32は例えば銅から形成される。銅の表面には例えば錫めっき膜やニッケルめっき膜が形成される。
固体金属物28は、電子部品27と同様に、例えば角柱形状に形成される。固体金属物28の外形は電子部品27と同一の外形に形成されることが望ましい。上端から下端まで規定される固体金属物28の長さは、同様に上端から下端まで規定される電子部品27と同一の長さに設定される。ただし、固体金属物28の幅や厚みは電子部品27の幅や厚みと異なってもよい。固体金属物28の上端は平坦面で端子パッド21を受け止める。固体金属物28の下端は平坦面で端子パッド22に受け止められる。こうして固体金属物28は端子パッド21に対応の端子パッド22を電気的に接続する。固体金属物28は例えばパッドと部品との接合に用いられるはんだよりも高い融点を有する。
こういった固体金属物28は、例えば母材と、母材の表面に形成される金属めっき膜とから形成される。母材には、例えば銅、燐青銅、銅−鉄や銅−ニッケルといった銅合金、鉄、42アロイ(鉄−42ニッケル)やコバール(鉄−29ニッケル−17コバルト)といった合金を含む導電性の金属材料のうちのいずれかが用いられる。この母材の表面には、例えば錫、金、銀、パラジウム、錫−ビスマス、錫−銅、錫−銀を含む金属めっき膜のいずれかが形成される。本実施形態では母材には例えば銅単体が用いられる。銅は、例えば錫−鉛合金といった共晶はんだや錫−銀−銅といった高温はんだに比べて高い融点を有する。
以上のようなプリント基板ユニット13によれば、電子部品27は中継部材16に組み込まれる。電子部品27は端子パッド21、22の間に挟み込まれる。こうして電子部品27はLSIチップ18に電気的に接続される。その結果、電子部品がLSIチップパッケージ15の輪郭の外側でプリント配線板14の表面に実装される場合や電子部品がプリント配線板14の裏面に実装される場合に比べて、電子部品27とLSIパッケージ15との距離は著しく短縮される。電子部品27は例えば配線パターンやスルーホールを介さずにLSIパッケージ15に直接接続される。その結果、損失RやインダクタンスLの増大は著しく低減される。プリント基板ユニット13ではこれまで以上に良好な電気的性能が確立される。
しかも、これまでLSIチップパッケージ15の輪郭の外側でプリント配線板14の表面やプリント配線板14の裏面に実装されるチップ型の電子部品が、LSIチップパッケージ15の輪郭の内側でプリント配線板14およびパッケージ基板17の間に配置されることから、プリント配線板14の表面や裏面では電子部品の実装スペースが削減される。その結果、プリント配線板14の表面や裏面の面積は縮小される。プリント配線板14の小型化が実現される。しかも、固体金属物28が例えば銅単体から形成されれば、固体金属物28でははんだより高い導電率が確立される。固体金属物28に大きな電流が流れる場合に電圧変化は低く抑えられる。プリント基板ユニット13の電気的性能は著しく向上する。
次に、プリント基板ユニット13の製造方法を説明する。まず、中継部材16が製造される。図4に示されるように、例えば熱可塑性の樹脂材料から基材25が成形される。基材25は常温で固体から形成される。基材25には複数の貫通孔26が形成される。貫通孔26は例えば角柱形状に形成される。基材25の表面や裏面に平行な方向に規定される貫通孔26の寸法は電子部品27や固体金属物28の幅や厚みより僅かに小さく設定されればよい。ここでは、貫通孔26の寸法は、公差に基づく電子部品27の最小幅および最小厚みの0.45mmより小さく設定される。こうした貫通孔26は、例えば射出成形に基づき基材25の形成と同時に形成される。貫通孔26同士のピッチは端子パッド21同士のピッチおよび端子パッド22同士のピッチに合わせ込まれる。
続いて、例えば基材25の表面から貫通孔26に電子部品27や固体金属物28が垂直姿勢で差し込まれる。基材25の厚みは例えば電子部品27の長さや固体金属物28の長さより僅かに大きく設定される。貫通孔26の寸法は電子部品27や固体金属物28の幅や厚みより僅かに小さく設定されることから、電子部品27や固体金属物28は、基材25の弾性変形に基づき貫通孔26を押し広げつつ貫通孔26内に配置される。その結果、基材25の弾性変形に基づき電子部品27や固体金属物28は貫通孔26内に確実に保持される。なお、電子部品27や固体金属物28の差し込み時、基材25は軟化してもいてもよい。
図5に示されるように、中継部材16は裏面でプリント配線板14上に配置される。中継部材16の表面にはLSIチップパッケージ15が配置される。特定の端子パッド21、22には電子部品27を収容する貫通孔26が位置決めされる。このとき、LSIチップパッケージ15はプリント配線板14に向かって押し付けられる。同時に、中継部材16は加熱される。加熱に基づき基材25は軟化する。LSIチップパッケージ15の押し付けに基づき基材25はプリント配線板14およびパッケージ基板17の間で押し広げられる。こうして電子部品27の電極端子31、32や固体金属物28の上端および下端は端子パッド21、22に接触する。
その後、中継部材16は常温まで冷却される。冷却に基づき基材25は固化する。その結果、基材25の表面はパッケージ基板17の裏面に融着する。基材25の裏面はプリント配線板14の表面に融着する。こうして基材25の表面や裏面はパッケージ基板17の裏面やプリント配線板14の表面に貼り付けられる。その結果、基材25はパッケージ基板17およびプリント配線板14に機械的に固定される。同時に、電子部品27の電極端子31、32や固体金属物28の上端および下端は端子パッド21、22に接触する。その結果、電子部品27および固体金属物28は端子パッド21、22に電気的に接続される。基材25の働きでLSIチップパッケージ15はプリント配線板14の表面に実装される。こうしてプリント基板ユニット13は製造される。
その他、中継部材16の製造にあたって型枠が用意されてもよい。型枠内には予め所定の位置に電子部品27や固体金属物28が配置される。流動体の樹脂材料が型枠内に流し込まれる。樹脂材料には例えば熱硬化性の樹脂材料が用いられる。加熱温度の調整に基づき型枠内には半硬化の基材25が形成される。同時に、電子部品27や固体金属物28に基づき基材25に貫通孔26が形成される。こうして電子部品27や固体金属物28の位置が仮決めされる。その後、プリント配線板14およびパッケージ基板17の間で半硬化の中継部材16が加熱される。半硬化の基材25は、パッケージ基板17の自重でプリント配線板14に押し付けられる。その結果、基材25はプリント配線板14やパッケージ基板17に融着しつつ硬化する。同時に、電子部品27や固体金属物28は端子パッド21、22に接続される。
図6は本発明の第2実施形態に係るプリント基板ユニット13aの構造を概略的に示す。このプリント基板ユニット13aでは、パッケージ基板17の裏面および基材25の表面の間や、基材25の裏面およびプリント配線板14の表面の間に接着層25aが挟み込まれる。接着層25aは貫通孔26の外側で基材25の表面や裏面の全面に広がる。ただし、接着層25aは基材25の表面や裏面に部分的に広がってもよい。接着層25aに基づき基材25はパッケージ基板17の裏面やプリント配線板14の表面に貼り付けられる。接着層25aの形成にあたって、中継部材16の製造時に基材25の表面や裏面に、予め接着剤が塗布されるか、予め接着シートが貼り付けられればよい。その他、前述のプリント基板ユニット13と均等な構成や構造には同一の参照符号が付される。
こうしたプリント基板ユニット13aでは、基材25は接着層25aに基づきパッケージ基板17の裏面やプリント配線板14の表面に貼り付けられる。したがって、プリント基板ユニット13aの製造にあたって基材25の加熱は必要とされない。しかも、プリント基板ユニット13aの製造時、接着層25aの接着が実現する程度にLSIチップパッケージ15がプリント配線板14に向かって軽く押し付けられれば足りる。その結果、LSIチップパッケージ15やプリント配線板14、電子部品27は過度の熱ストレスや機械的ストレスに曝されなくて済む。しかも、こうしたプリント基板ユニット13aによれば、前述のプリント基板ユニット13と同様の作用効果が実現される。
図7は本発明の第3実施形態に係るプリント基板ユニット13bの構造を概略的に示す。このプリント基板ユニット13bでは、電子部品27の電極端子31、32や固体金属物28と端子パッド21、22との間にはんだ材35が挟み込まれる。はんだ材35の働きで電極端子31、32や固体金属物28と端子パッド21、22とは電気的および機械的に確実に接合される。なお、はんだ材35に代えて、電子部品27の電極端子31、32や固体金属物28と端子パッド21、22との間には導電性の接着剤が挟み込まれてもよい。その他、前述のプリント基板ユニット13、13aと均等な構成や構造には同一の参照符号が付される。
こうしたプリント基板ユニット13bの製造時、例えばはんだ材35の溶融にあたってはんだ材35は加熱される。はんだ材35の加熱と同時に基材25は軟化する。その結果、電子部品27の電極端子31、32や固体金属物28と端子パッド21、22との接合と同時に基材25はパッケージ基板17やプリント配線板14に融着される。その他、はんだ材35に例えば錫−鉛合金といった共晶はんだや錫−銀−銅といった高温はんだが用いられる場合、はんだ材35は、LSIチップパッケージ15の輪郭の外側でプリント配線板14の表面や裏面に周辺回路部品としての電子部品のはんだ付けと同時に加熱されればよい。なお、はんだ材35の溶融温度と基材25の軟化する温度が異なる場合にははんだ材35の加熱と基材25の加熱は別工程で実施されればよい。こうしたはんだ材35や接着剤は中継部材16の製造時に電極端子31、32上や固体金属物28上に予め塗布されるか、プリント基板ユニット13bの製造時に電極端子31、32上や固体金属物28上に塗布されればよい。こうしたプリント基板ユニット13bによれば、前述と同様の作用効果が実現される。
図8は本発明の第4実施形態に係るプリント基板ユニット13cの構造を概略的に示す。このプリント基板ユニット13cでは、端子パッド21や端子パッド22に1対2で対応する特定の貫通孔36が形成される。貫通孔36は、相互に隣接する端子パッド21や相互に隣接する端子パッド22にまたがって形成される。したがって、貫通孔36の寸法は貫通孔26の寸法より大きく規定される。貫通孔36内には例えばバイパスコンデンサといった電子部品37が配置される。電子部品37はチップ本体38を備える。チップ本体38は、例えばセラミック材料から形成される基材を備える。基材内には例えば内部電極が配置される。チップ本体38の両端には電極端子39、41が形成される。電極端子39、41は基材25の表面および裏面で一端および他端を露出させる。電子部品37の厚みは電子部品27や固体金属物28の長さと同一の例えば1.0mmに設定される。その結果、電極端子39、41の長さと電子部品27や固体金属物28の長さは一致する。電極端子39、41は例えば銅から形成される。銅の表面には例えば錫めっき膜やニッケルめっき膜が形成される。
電極端子39の一端は端子パッド21を受け止める。電極端子39の他端は端子パッド22に受け止められる。同様に、電極端子41の一端は端子パッド21を受け止める。電極端子41の他端は端子パッド22に受け止められる。こうして電極端子39、41は端子パッド21に対応の端子パッド22を個別に直接接続する。ここでは、電極端子39に接続される端子パッド21は電源端子を構成する。電極端子41に接続される端子パッド21はグラウンド端子を構成する。こうして端子パッド21、22が直接接続されることによって給電が実施される。その他、前述のプリント基板ユニット13〜13bと均等な構成や構造には同一の参照符号が付される。こうしたプリント基板ユニット13cによれば、前述と同様の作用効果が実現される。なお、プリント基板ユニット13cにも前述の接着層25aやはんだ材35、導電性の接着剤が組み込まれてもよい。
図9は本発明の第5実施形態に係るプリント基板ユニット13dの構造を概略的に示す。このプリント基板ユニット13dでは、基材25の貫通孔26の寸法が電子部品27や固体金属物28の幅や厚みより大きく設定される。その結果、電子部品27や固体金属物28と貫通孔26の内壁との間に隙間が形成される。ただし、貫通孔26の寸法は端子パッド21、22の表面の径よりも小さく設定されることが望ましい。その結果、貫通孔26の開口は端子パッド21、22上に確実に配置される。電極端子31、32や固体金属物28の上端や下端は確実に端子パッド21、22に接続される。その他、前述のプリント基板ユニット13〜13cと均等な構成や構造には同一の参照符号が付される。
次に、プリント基板ユニット13dの製造方法を説明する。まず、中継部材16が製造される。前述と同様に、基材25が成形される。図10に示されるように、基材25の裏面には例えば樹脂製の脱落防止用フィルム45が貼り付けられる。貫通孔26には電子部品27や固体金属物28が垂直姿勢で配置される。基材25の厚みは電子部品27や固体金属物28の長さより僅かに大きく設定される。その後、基材25の表面には例えば樹脂製の脱落防止用フィルム46が貼り付けられる。こうして中継部材ユニットが形成される。中継部材ユニットでは、脱落防止用フィルム45、46の働きで貫通孔26内から電子部品27や固体金属物28の脱落は回避される。
図11に示されるように、中継部材ユニットはプリント配線板14上に配置される。貫通孔26の位置は端子パッド22上に位置決めされる。このとき、基材25およびプリント配線板14の間から脱落防止用フィルム45が取り外される。その結果、貫通孔26内の電子部品27や固体金属物28は端子パッド22上に受け止められる。基材25の表面から脱落防止用フィルム46が取り外される。続いて、図12に示されるように、基材25の表面にはLSIチップパッケージ15が配置される。端子パッド21の位置は貫通孔26上に位置決めされる。
前述と同様に、LSIチップパッケージ15はプリント配線板14に向かって押し付けられる。同時に、中継部材16は加熱される。LSIチップパッケージ15の押し付けに基づき基材25はプリント配線板14およびパッケージ基板17の間で押し広げられる。こうして電子部品27の電極端子31、32や固体金属物28の上端および下端は端子パッド21、22に接触する。その後、基材25の固化に基づき基材25の表面や裏面はパッケージ基板17やプリント配線板14に融着する。電子部品27の電極端子31、32や固体金属物28の上端および下端は端子パッド21、22に接触する。
こうしたプリント基板ユニット13dによれば、前述と同様の作用効果が実現される。しかも、電子部品27と貫通孔26の内壁面との間には隙間が形成される。したがって、中継部材16の製造にあたって、電子部品27は貫通孔26内に押し込まれなくてもよいことから、電子部品27には機械的なストレスは作用しない。電子部品27の損傷は確実に回避される。ただし、前述と同様に、電子部品27の電極端子31、32や固体金属物28の上端および下端と端子パッド21、22の間にははんだ材35や導電性の接着剤が挟み込まれることが望ましい。こうしたはんだ材35や接着剤によれば、電子部品27および固体金属物28と端子パッド21、22とは電気的に確実に接合される。
発明者はシミュレーションに基づき本発明の効果を検証した。検証にあたって本発明に係る具体例および従来例に係る比較例が想定された。図13は具体例および比較例に係る回路図を示す。具体例ではLSIチップパッケージ15およびプリント配線板14の間に電子部品27すなわちバイパスコンデンサCが配置された。比較例ではバイパスコンデンサCはプリント配線板14の裏面に配置された。バイパスコンデンサCは、プリント配線板14に形成されるスルーホールビアに基づきプリント配線板14の表面の端子パッド22に接続された。端子パッド21、22同士は例えばはんだ材で接続された。
電源ラインで電圧変化といったノイズの発生が想定される場合、回路上の測定ポイントMで電圧値が測定された。その結果、図14に示されるように、比較例では電圧変化は十分に抑制されなかった。その一方で、具体例では電圧変化はほとんど観察されなかった。比較例に比べて具体例では電圧変化は20分の1程度に抑制された。具体例ではノイズは著しく抑制されることが確認された。本発明によれば、LSIチップパッケージ15およびプリント配線板14の間にバイパスコンデンサを含む電子部品27が配置されることから、インダクタンスLは著しく低減されることが確認された。
以上のような実施形態では、電子機器には例えばサーバコンピュータ装置11が適用されたが、本発明に係る中継部材16やプリント基板ユニット13〜13dは、例えば携帯電話端末といった小型の電子機器やその他の電子機器に組み込まれてもよい。
以上の実施形態に関し出願人はさらに以下の付記を開示する。
(付記1) 半導体パッケージおよびプリント配線板の間に配置される中継部材であって、
絶縁材料から形成される基材と、
前記半導体パッケージの第1端子パッドおよび前記プリント配線板の第2端子パッドに対応する位置で前記基材に形成される貫通孔と、
前記貫通孔内に挿入されて、前記第1端子パッドに接続される第1電極端子、および、前記第2電極パッドに接続される第2電極端子を両端に有するチップ型の電子部品とを備えることを特徴とする中継部材。
絶縁材料から形成される基材と、
前記半導体パッケージの第1端子パッドおよび前記プリント配線板の第2端子パッドに対応する位置で前記基材に形成される貫通孔と、
前記貫通孔内に挿入されて、前記第1端子パッドに接続される第1電極端子、および、前記第2電極パッドに接続される第2電極端子を両端に有するチップ型の電子部品とを備えることを特徴とする中継部材。
(付記2) 付記1に記載の中継部材において、前記電子部品は、抵抗、コンデンサ、インダクタおよびヒューズ素子の少なくともいずれかであることを特徴とする中継部材。
(付記3) 付記1または2に記載の中継部材において、すべての前記電子部品は一端から他端まで同一の長さを有することを特徴とする中継部材。
(付記4) 付記1〜3のいずれか1項に記載の中継部材において、前記電子部品が挿入される前記貫通孔以外の前記貫通孔に挿入される固体金属物を備えることを特徴とする中継部材。
(付記5) 付記1〜4のいずれか1項に記載の中継部材において、
複数の前記第1端子パッドおよび複数の前記第2端子パッドに対応する第2の貫通孔と、
前記第2の貫通孔内に挿入されて、前記第2の貫通孔の開口内に配置される両端に電極端子を有するチップ型の第2の電子部品とを備えることを特徴とする中継部材。
複数の前記第1端子パッドおよび複数の前記第2端子パッドに対応する第2の貫通孔と、
前記第2の貫通孔内に挿入されて、前記第2の貫通孔の開口内に配置される両端に電極端子を有するチップ型の第2の電子部品とを備えることを特徴とする中継部材。
(付記6) 付記5に記載の中継部材において、前記第2の電子部品はバイパスコンデンサであることを特徴とする中継部材。
(付記7) 付記5または6に記載の中継部材において、前記第2の貫通孔に対応する前記第1端子パッドおよび前記第2端子パッドは電源端子用パッドおよびグラウンド端子用パッドを含むことを特徴とする中継部材。
(付記8) 裏面に第1端子パッドを有するパッケージ基板と、
表面で前記パッケージ基板の裏面に向き合い、表面に第2端子パッドを有するプリント配線板と、
前記パッケージ基板および前記プリント配線板の間に配置される絶縁性の基材と、
前記基材に形成されて、前記第1端子パッドおよび前記第2端子パッドに対応する位置に形成される貫通孔と、
前記貫通孔内に挿入されて、前記第1端子パッドに接続される第1電極端子、および、前記第2端子パッドに接続される第2電極端子を両端に有するチップ型の電子部品とを備えることを特徴とするプリント基板ユニット。
表面で前記パッケージ基板の裏面に向き合い、表面に第2端子パッドを有するプリント配線板と、
前記パッケージ基板および前記プリント配線板の間に配置される絶縁性の基材と、
前記基材に形成されて、前記第1端子パッドおよび前記第2端子パッドに対応する位置に形成される貫通孔と、
前記貫通孔内に挿入されて、前記第1端子パッドに接続される第1電極端子、および、前記第2端子パッドに接続される第2電極端子を両端に有するチップ型の電子部品とを備えることを特徴とするプリント基板ユニット。
13〜13d プリント基板ユニット、14 プリント配線板、15 半導体パッケージ(LSIチップパッケージ)、16 中継部材、17 パッケージ基板、21 第1端子パッド(端子パッド)、22 第2端子パッド(端子パッド)、25 基材、26 貫通孔、27 電子部品、28 固体金属物、31 第1電極端子、32 第2電極端子、36 貫通孔、37 電子部品、39 第1電極端子、41 第2電極端子。
Claims (6)
- 半導体パッケージおよびプリント配線板の間に配置される中継部材であって、
絶縁材料から形成される基材と、
前記半導体パッケージの第1端子パッドおよび前記プリント配線板の第2端子パッドに対応する位置で前記基材に形成される貫通孔と、
前記貫通孔内に挿入されて、前記第1端子パッドに接続される第1電極端子、および、前記第2電極パッドに接続される第2電極端子を両端に有するチップ型の電子部品とを備えることを特徴とする中継部材。 - 請求項1に記載の中継部材において、前記電子部品は、抵抗、コンデンサ、インダクタおよびヒューズ素子の少なくともいずれかであることを特徴とする中継部材。
- 請求項1または2に記載の中継部材において、すべての前記電子部品は一端から他端まで同一の長さを有することを特徴とする中継部材。
- 請求項1〜3のいずれか1項に記載の中継部材において、前記電子部品が挿入される前記貫通孔以外の前記貫通孔に挿入される固体金属物を備えることを特徴とする中継部材。
- 請求項1〜4のいずれか1項に記載の中継部材において、
複数の前記第1端子パッドおよび複数の前記第2端子パッドに対応する第2の貫通孔と、
前記第2の貫通孔内に挿入されて、前記第2の貫通孔の開口内に配置される両端に電極端子を有するチップ型の第2の電子部品とを備えることを特徴とする中継部材。 - 裏面に第1端子パッドを有するパッケージ基板と、
表面で前記パッケージ基板の裏面に向き合い、表面に第2端子パッドを有するプリント配線板と、
前記パッケージ基板および前記プリント配線板の間に配置される絶縁性の基材と、
前記基材に形成されて、前記第1端子パッドおよび前記第2端子パッドに対応する位置に形成される貫通孔と、
前記貫通孔内に挿入されて、前記第1端子パッドに接続される第1電極端子、および、前記第2端子パッドに接続される第2電極端子を両端に有するチップ型の電子部品とを備えることを特徴とするプリント基板ユニット。
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