JP2010206819A - 撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】補正の対象となる画像情報を取得した時から所定時間(例えば133×10−3〔sec/フレーム〕)経過した後にダーク画像Darkを取得して、そのダーク画像Darkに基づいてリーク電流値を求めて、そのリーク電流値に基づいて、対象となる画像情報を補正する。ダーク画像は残光を含んでいる。したがって、この残光情報に基づいてリーク電流値を正確に求めることができる。また、従来のようにリーク電流値を平均化したりする必要がなく、リーク電流値を簡易に求めることができる。その結果、その正確に求められたリーク電流値に基づいて、対象となる画像情報を正確に求めることができる。
【選択図】図5
Description
すなわち、請求項1に記載の発明は、光または放射線の入射により前記光または放射線の情報を電荷情報に変換する変換層と、2次元状に複数配列され、前記変換層で変換された電荷情報を蓄積して読み出す蓄積・読み出し回路と、同一列の前記蓄積・読み出し回路に接続された各ゲートラインと、同一行の前記蓄積・読み出し回路に接続された各データラインとを備え、前記各ゲートラインを逐次駆動して、前記蓄積・読み出し回路で読み出された電荷情報に基づいて画像を得る撮像装置であって、ある列における電荷情報を、その後に駆動される前記画像を得るための列から読み出された電荷情報に基づいて補正する画像情報補正手段を備えることを特徴とするものである。
図1は、実施例1に係るX線撮影装置の概略ブロック図であり、図2は、X線撮影装置のX線変換層周辺の概略断面図であり、図3は、X線撮影装置のアンプ・A/D変換回路内のデータの流れを模式化した概略ブロック図である。後述する実施例2も含めて、本実施例1では、入射する放射線としてX線を例に採って説明するとともに、撮像装置としてX線撮影装置を例に採って説明する。
+P(G5,D)+P(G6,D)+P(G7,D)
+P(G8,D)+P(G9,D)+P(G10,D)}…(1)
L(G2,D)=A×{P(G3,D)+P(G4,D)+P(G5,D)
+P(G6,D)+P(G7,D)+P(G8,D)
+P(G9,D)+P(G10,D)} …(2)
L(G3,D)=A×{P(G4,D)+P(G5,D)+P(G6,D)
+P(G7,D)+P(G8,D)+P(G9,D)
+P(G10,D)} …(3)
L(G4,D)=A×{+P(G5,D)+P(G6,D)+P(G7,D)
+P(G8,D)+P(G9,D)+P(G10,D)}…(4)
L(G5,D)=A×{P(G6,D)+P(G7,D)+P(G8,D)
+P(G9,D)+P(G10,D)} …(5)
L(G6,D)=A×{P(G7,D)+P(G8,D)+P(G9,D)
+P(G10,D)} …(6)
L(G7,D)=A×{P(G8,D)+P(G9,D)+P(G10,D)}…(7)
L(G8,D)=A×{P(G9,D)+P(G10,D)} …(8)
L(G9,D)=A×P(G10,D) …(9)
上記(1)〜(9)式中の『D』はデータラインD1〜D10のうちのいずれにも当てはまることを意味する。上記(1)〜(9)式中の『A』は、まだ読み出していないゲートラインGでのキャリアの総量から、リーク電流値を見積もるための係数で1以下の値となる。なお、係数Aについては、1種類とは限定されず、アンプ31の増幅率やゲートラインGの駆動方式(例えばゲートラインGを2本以上に同時に選択して読み出す)に応じて複数種類分準備して設けてもよい。また、上記(1)〜(9)式に限定されずに、検出素子DUの(ゲートラインGおよびデータラインDの)アドレスに応じて係数Aを適宜変更してもよい。
TP(G,D)は補正後の信号レベル(キャリア)である。また、上記(10)式中の『D』はデータラインD1〜D10のうちのいずれにも当てはまることを意味するとともに、『G』はゲートラインG1〜G10のうちのいずれにも当てはまることを意味する。
図5は、実施例2に係るダーク画像を取得するための説明図である。上述した実施例1と共通する箇所については同じ符号を付して、その説明を省略する。
23 … X線変換層
4 … 画像処理部
Dark … ダーク画像
Claims (1)
- 光または放射線の入射により前記光または放射線の情報を電荷情報に変換する変換層と、2次元状に複数配列され、前記変換層で変換された電荷情報を蓄積して読み出す蓄積・読み出し回路と、同一列の前記蓄積・読み出し回路に接続された各ゲートラインと、同一行の前記蓄積・読み出し回路に接続された各データラインとを備え、前記各ゲートラインを逐次駆動して、前記蓄積・読み出し回路で読み出された電荷情報に基づいて画像を得る撮像装置であって、ある列における電荷情報を、その後に駆動される前記画像を得るための列から読み出された電荷情報に基づいて補正する画像情報補正手段を備えることを特徴とする撮像装置。
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