JP2010190590A - 走査プローブ顕微鏡及びその動作方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】探針3aを備えるカンチレバ3と、カンチレバ3の背面に光10を照射するための光源1と、光源1から照射されてカンチレバ3の背面から反射した光(反射光)11を検出するための光検出器2と、光検出器2による反射光11の検出結果に基づいてカンチレバ3の変位を検出して出力する演算手段9とを有し、演算手段9は、光検出器2の2つの受光面による反射光11の検出信号の差分を算出してこの差分に応じた信号を出力する機能を備えた走査プローブ顕微鏡において、光検出器2をその受光面の配列方向に沿って振動させるための振動手段8を備える。
【選択図】図3
Description
Claims (6)
- 探針を備えるカンチレバと、カンチレバの背面に光を照射するための光源と、光源から照射されてカンチレバの背面から反射した光(反射光)を検出するための光検出器と、光検出器による反射光の検出結果に基づいてカンチレバの変位を検出して出力する演算手段とを有し、光検出器には少なくとも2つの受光面が設けられており、演算手段は、光検出器の2つの受光面による反射光の検出信号の差分を算出してこの差分に応じた信号を出力する機能を備えている走査プローブ顕微鏡であって、光検出器をその受光面の配列方向に沿って振動させるための振動手段を具備することを特徴とする走査プローブ顕微鏡。
- 光検出器は、その検出信号を増幅するためのプリアンプ基板に、振動手段を介して取り付けられていることを特徴とする請求項1記載の走査プローブ顕微鏡。
- 振動手段は、ピエゾ素子からなることを特徴とする請求項1又は2記載の走査プローブ顕微鏡。
- 探針を備えるカンチレバと、カンチレバの背面に光を照射するための光源と、光源から照射されてカンチレバの背面から反射した光(反射光)を検出するための光検出器と、光検出器による反射光の検出結果に基づいてカンチレバの変位を検出して出力する演算手段と、光検出器を振動させるための振動手段とを有し、光検出器には少なくとも2つの受光面が設けられており、演算手段は、光検出器の2つの受光面による反射光の検出信号の差分を算出してこの差分に応じた信号を出力する機能を備えている走査プローブ顕微鏡の動作方法であって、振動手段が光検出器をその受光面の配列方向に沿って振動させ、この状態で演算手段が光検出器の2つの受光面による反射光の検出信号の差分を算出し、この差分に応じた信号を出力することを特徴とする走査プローブ顕微鏡の動作方法。
- 光検出器は、その検出信号を増幅するためのプリアンプ基板に、振動手段を介して取り付けられていることを特徴とする請求項2記載の走査プローブ顕微鏡の動作方法。
- 振動手段は、ピエゾ素子からなることを特徴とする請求項4又は5記載の走査プローブ顕微鏡の動作方法。
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Cited By (2)
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---|---|---|---|---|
JP2019117111A (ja) * | 2017-12-27 | 2019-07-18 | 株式会社生体分子計測研究所 | 原子間力顕微鏡及び原子間力顕微鏡の位置設定方法 |
CN112630144A (zh) * | 2019-10-08 | 2021-04-09 | 株式会社岛津制作所 | 扫描型探针显微镜以及扫描型探针显微镜的位置调整方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06288757A (ja) * | 1993-03-31 | 1994-10-18 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型プローブ顕微鏡 |
JPH1073605A (ja) * | 1996-08-29 | 1998-03-17 | Olympus Optical Co Ltd | カンチレバー変位検出装置 |
JPH1194854A (ja) * | 1997-07-24 | 1999-04-09 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型プローブ顕微鏡 |
JP2000146551A (ja) * | 1998-11-05 | 2000-05-26 | Agency Of Ind Science & Technol | 光反射方式角度検出計の感度またはダイナミックレンジの制御方法 |
JP2000206125A (ja) * | 1999-01-13 | 2000-07-28 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 走査型プロ―ブ顕微鏡の光軸調整補助装置 |
JP2000517433A (ja) * | 1996-09-06 | 2000-12-26 | ザ リージェンツ オブ ザ ユニバーシティ オブ カリフォルニア | 小さな入射ビームスポットを生成するための原子間力顕微鏡 |
JP2005134113A (ja) * | 2003-10-28 | 2005-05-26 | Shimadzu Corp | 走査型プローブ顕微鏡 |
-
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06288757A (ja) * | 1993-03-31 | 1994-10-18 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型プローブ顕微鏡 |
JPH1073605A (ja) * | 1996-08-29 | 1998-03-17 | Olympus Optical Co Ltd | カンチレバー変位検出装置 |
JP2000517433A (ja) * | 1996-09-06 | 2000-12-26 | ザ リージェンツ オブ ザ ユニバーシティ オブ カリフォルニア | 小さな入射ビームスポットを生成するための原子間力顕微鏡 |
JPH1194854A (ja) * | 1997-07-24 | 1999-04-09 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型プローブ顕微鏡 |
JP2000146551A (ja) * | 1998-11-05 | 2000-05-26 | Agency Of Ind Science & Technol | 光反射方式角度検出計の感度またはダイナミックレンジの制御方法 |
JP2000206125A (ja) * | 1999-01-13 | 2000-07-28 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 走査型プロ―ブ顕微鏡の光軸調整補助装置 |
JP2005134113A (ja) * | 2003-10-28 | 2005-05-26 | Shimadzu Corp | 走査型プローブ顕微鏡 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019117111A (ja) * | 2017-12-27 | 2019-07-18 | 株式会社生体分子計測研究所 | 原子間力顕微鏡及び原子間力顕微鏡の位置設定方法 |
JP7031852B2 (ja) | 2017-12-27 | 2022-03-08 | 株式会社生体分子計測研究所 | 原子間力顕微鏡及び原子間力顕微鏡の位置設定方法 |
CN112630144A (zh) * | 2019-10-08 | 2021-04-09 | 株式会社岛津制作所 | 扫描型探针显微镜以及扫描型探针显微镜的位置调整方法 |
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