JP4939086B2 - 原子間力顕微鏡 - Google Patents
原子間力顕微鏡 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4939086B2 JP4939086B2 JP2006070132A JP2006070132A JP4939086B2 JP 4939086 B2 JP4939086 B2 JP 4939086B2 JP 2006070132 A JP2006070132 A JP 2006070132A JP 2006070132 A JP2006070132 A JP 2006070132A JP 4939086 B2 JP4939086 B2 JP 4939086B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- cantilever
- reflected
- atomic force
- displacement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Description
2.装置振動
3.カンチレバーの熱ドリフト
4.圧電素子のヒステリシス
5.受光器および回路のノイズ
3、3a、4、4a レーザー光
5、5a カンチレバー
7、7a、7b ダイクロイックミラー
8、8a、9、9a 受光器
Claims (2)
- カンチレバーに入射した光の反射光を受光し、被測定物との間の原子間力による前記カンチレバーの変位を測定する原子間力顕微鏡において、
互に波長の異なるレーザー光を発生する2つの独立した光源と、
前記2つの光源によるレーザー光のうちの一方を前記カンチレバーの自由端部で反射させ、他方を前記カンチレバーの固定端部で反射させる互いに独立に焦点位置が調整可能な2つの集光光学系と、
前記カンチレバーの自由端部で反射した反射光と前記カンチレバーの固定端部で反射した反射光とを略同方向に導きかつ前記反射光同士を互いに近接した空間に案内する、ミラーもしくは前記光源から照射されるレーザー光と前記反射光とを分離するビームスプリッタと、
前記カンチレバーの自由端部で反射した反射光と前記カンチレバーの固定端部で反射した反射光とをそれぞれ受光する2つの受光器と、
前記2つの受光器の入射側に配置された前記波長の異なる2つのレーザー光を分離するダイクロイックミラーと、
を有し、
前記2つの受光器による独立した2つの出力に基づいて前記カンチレバーの変位を演算することを特徴とする原子間力顕微鏡。 - 前記カンチレバーと、前記2つの光源および前記2つの集光光学系からなる変位検出装置を複数備えており、
前記複数の光源は互にすべて異なる波長のレーザー光を発生することを特徴とする請求項1記載の原子間力顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006070132A JP4939086B2 (ja) | 2006-03-15 | 2006-03-15 | 原子間力顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006070132A JP4939086B2 (ja) | 2006-03-15 | 2006-03-15 | 原子間力顕微鏡 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007248168A JP2007248168A (ja) | 2007-09-27 |
JP2007248168A5 JP2007248168A5 (ja) | 2009-05-14 |
JP4939086B2 true JP4939086B2 (ja) | 2012-05-23 |
Family
ID=38592652
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006070132A Expired - Fee Related JP4939086B2 (ja) | 2006-03-15 | 2006-03-15 | 原子間力顕微鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4939086B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104897064A (zh) * | 2015-06-09 | 2015-09-09 | 张白 | 一种新型光臂放大式高精度长度传感器及测量方法 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008089510A (ja) * | 2006-10-04 | 2008-04-17 | Research Institute Of Biomolecule Metrology Co Ltd | 走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用のプローブ、及び検査方法 |
JP4936541B2 (ja) * | 2007-08-10 | 2012-05-23 | キヤノン株式会社 | 原子間力顕微鏡 |
EP2374011B1 (en) * | 2008-12-11 | 2018-11-21 | Infinitesima Limited | Dynamic probe detection system and method |
JP6229914B2 (ja) * | 2013-08-06 | 2017-11-15 | オックスフォード インストルメンツ アサイラム リサーチ,インコーポレイテッド | 原子間力顕微鏡用の光ビーム位置決めユニット |
CN103968765B (zh) * | 2014-05-27 | 2016-08-17 | 海宁科海光电科技有限公司 | 聚焦偏移位移传感器 |
CN110986761B (zh) * | 2019-11-18 | 2021-07-06 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 皮米显微镜 |
CN112964909B (zh) * | 2020-09-16 | 2023-12-01 | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 一种原子力显微镜多探针同时独立运动测量方法与装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH074909A (ja) * | 1993-06-14 | 1995-01-10 | Fanuc Ltd | レーザセンサ装置 |
JPH07301516A (ja) * | 1994-04-29 | 1995-11-14 | Olympus Optical Co Ltd | 表面形状測定装置 |
JP2000234994A (ja) * | 1999-02-16 | 2000-08-29 | Jeol Ltd | 走査プローブ顕微鏡におけるカンチレバー変位測定方法 |
JP2001304833A (ja) * | 2000-04-21 | 2001-10-31 | Olympus Optical Co Ltd | 光てこ式傾き検出装置 |
JP2003014611A (ja) * | 2001-06-29 | 2003-01-15 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型プローブ顕微鏡 |
JP2004061349A (ja) * | 2002-07-30 | 2004-02-26 | Ishizuka Glass Co Ltd | 3次元計測検査方法及びその装置 |
-
2006
- 2006-03-15 JP JP2006070132A patent/JP4939086B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104897064A (zh) * | 2015-06-09 | 2015-09-09 | 张白 | 一种新型光臂放大式高精度长度传感器及测量方法 |
CN104897064B (zh) * | 2015-06-09 | 2018-06-01 | 张白 | 一种新型光臂放大式高精度长度传感器及测量方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007248168A (ja) | 2007-09-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4939086B2 (ja) | 原子間力顕微鏡 | |
US8321960B2 (en) | Scanning probe microscope | |
US8345260B2 (en) | Method of detecting a movement of a measuring probe and measuring instrument | |
KR102077064B1 (ko) | 자동초점 제어장치, 반도체 검사장치 및 현미경 | |
JPS6322258B2 (ja) | ||
JP2009128139A (ja) | 走査プローブ顕微鏡及び走査プローブ顕微鏡用探針ユニット | |
KR960013676B1 (ko) | 미소변위검출방법 | |
JPH11223747A (ja) | レーザー光学装置 | |
JP2008089510A (ja) | 走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用のプローブ、及び検査方法 | |
US8225418B2 (en) | Method for processing output of scanning type probe microscope, and scanning type probe microscope | |
WO2018155563A1 (ja) | 走査型プローブ顕微鏡 | |
US20140071457A1 (en) | Method and System for Tilt and Height Control of a Substrate Surface in an Inspection System | |
WO2007078979B1 (en) | Probe module with integrated actuator for a probe microscope | |
JPH08278317A (ja) | 原子間力顕微鏡 | |
JP5232681B2 (ja) | 走査プローブ顕微鏡及びその動作方法 | |
JP2005147979A (ja) | 走査形プローブ顕微鏡 | |
US10564181B2 (en) | Atomic force microscope with optical guiding mechanism | |
JP2019023593A (ja) | レーザ変位計と、それを用いたレーザ超音波検査装置 | |
JP2005283162A (ja) | 反射型近接場光検出光学系及び反射型近接場光学顕微鏡 | |
JP5100248B2 (ja) | 原子間力顕微鏡 | |
JPH07244058A (ja) | 表面形状測定装置 | |
JP3184914B2 (ja) | 表面形状測定方法および表面形状測定器 | |
JP2007333432A (ja) | 走査型プローブ顕微鏡及び検査方法 | |
JPH03282253A (ja) | 光音響信号検出方法および装置並びに半導体素子内部欠陥検出方法 | |
JPH0829434A (ja) | 走査型プローブ顕微鏡 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090316 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090316 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20090527 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110304 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110315 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110513 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110823 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111024 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20120203 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120221 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120224 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150302 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4939086 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150302 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |