JP4009197B2 - 走査型近接場光学顕微鏡 - Google Patents
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Description
E.ウォルフ及びM.ニート−ベスペリナスによる、光学ジャーナル学会.AM.第2巻、886〜889頁(1985年)の「散乱場の角周波数スペクトル振幅及びその結果についての幾つかの考察」 「表面科学における進展」の第56(3)巻、133〜237頁(1997年)のジーン−ジャクェス グレフェット及びレミ カーミナティによる「近接場光学における画像形成」
プローブと表面との間の距離は、モニターされたパラメータの値に基づいてフィードバックにより制御されてもよい。有利には、プローブ−表面間の距離の特徴となるこのモニターされたパラメータが振動振幅であり、このパラメータに関連するデータは、走査ライン画像収集と同時に集められる。この測定結果は、プローブ−表面間の距離を推定する、所謂せん断力法のための基礎となる。周知され、しばしば、この分野において開発されているように、プローブ振動は、表面が接近され、移動するプローブと表面との間のせん断力の強度が増大するとき、より減衰するようになる。これは、プローブ高さの測定値を、振動振幅をモニターすることにより得ることができるということを意味している。
(a) 前記サンプル(14)を電磁場で照明し、
(b) 前記サンプル(14)に近接した近接場領域(22)内に、サブ波長寸法の先端を備えたプローブ(20)を移動させ、
(c) 前記プローブ(20)と表面との間の相対運動を提供している間に、前記プローブ(20)をその共鳴周波数又はその近傍で前記サンプルの表面を横切って振動させ、それらの長さが振動振幅により決定される走査ラインの配列が前記走査領域を覆うようにし、
(d) 前記近接場領域(22)へと結合され、従って、前記プローブ(20)、場及びサンプル(14)の間の相互作用に関する情報を検出器(24)のところで含む、放射を検出し、
(e) 前記サンプルのナノメートル構造に関する情報を抽出するため前記検出器(24)からの信号を処理する、各工程を含む。
図1は、全体として10で指し示された本発明のPSTMモードの実施形態を示している。第1のレーザー源12からの光は、サンプル14を支持するドーブプリズム(図示せず)に合焦される。当該プリズムでは、サンプルとのインターフェース上の光は、全反射を受け、伝播波16を反射させ、サンプル14をエバネッセント場内で照明する。プローブ先端20を備えた、テーパー状光ファイバー18は、サンプル表面にほぼ垂直に取り付けられ、近接場領域22へと移動可能である。フォトダイオード検出器24は、ファイバー18に沿って伝播する光信号26を収集するように配置されている。圧電変換器(図示せず)が、矢印28により指し示されるように、横方向にプローブ先端20の共鳴周波数近傍の振動を駆動するためにファイバー18に接続されている。サンプル14を支持するプリズムは、振動軸を含む振動平面に垂直な平面内でその運動を制御する走査チューブ(図示せず)上に取り付けられている。プローブ振動は、第2のレーザー30から軸外し分割フォトダイオード検出器32に向かう合焦光ビームのファイバー18による反射によりモニターされている。分割検出器32は、第1の光検出器34及び第2の光検出器36からなる構成部品を備えている。
ここで、xは走査ライン内の再位置決めピクセルの位置である。振幅は、振動振幅であり、nは、ゼロから出発してプローブの変位を示すピクセル番号であり、sは、毎秒当たりサンプルされたピクセル数であり、ωはプローブ20の角速度である。
図3は、全体として50により指し示された、無開口走査近接場光学顕微鏡(無開口SNOMモード)で実施される本発明の実施例を概略示している。図1に示されたものと同じ機能を提供する構成部品は同様な参照番号が付与されている。図3では、第1のレーザー源12からの光は、サンプル14を直接照明する。従って、サンプル14の回りの近接場領域22では、エバネッセント場及び放射場の両方が存在する。テーパー状のタングステンプローブ52は、サンプル表面に実質的に垂直な走査チューブ(図示せず)上に取り付けられている。走査チューブは、図1に対するものと同じ表記を使用して、y及びzの両方向に、即ち、頁に向かう方向及びサンプル表面に向かう方向に、プローブ52を移動させることを可能にする。プローブ52は、圧電変換器(図示せず)により、矢印28により示されたように、側面方向に振動することもできる。プローブ−場−サンプルの相互作用に関する情報を含む、散乱光54は、検出器56により収集される。PSTM装置に関して、プローブ振動は、第2のレーザー30から、軸外れ分割フォトダイオード検出器34の第1の構成部品36及び第2の構成部品38に向かう、合焦光ビームの反射によりモニターされる。
Claims (25)
- 走査型近接場光学顕微鏡であって、
照明されたサンプル(14)の表面を取り囲む近接場領域(22)に移動可能なプローブ(20)と、
プローブ(20)とサンプル表面との間の相対運動を提供するように構成された駆動手段と、
前記表面を横切って前記プローブ(20)を振動させる手段と、
前記近接場領域(22)における前記プローブ(20)、場及びサンプル(14)の間の相互作用によって影響を受ける電磁場放射を検出するように構成された検出器(24)と、
を備え、
前記顕微鏡は、作動中に前記サンプルの表面の走査を実行するように構成されており、該走査領域は、走査ラインの配列により覆われ、各走査ラインは前記プローブ(20)をその共鳴周波数又はその近傍で振動させることにより収集され、それにより該振動振幅は走査ラインの長さを決定し、それらの配列は、前記駆動手段の作動により提供されるようにしたことを特徴とする、走査型近接場光学顕微鏡。 - 前記プローブ(20)と前記サンプル表面との間の前記相対運動は、調整可能な分離距離をなして提供され、該走査中のこの距離は、プローブ−表面間の距離のパラメータ特徴をモニターして該パラメータの実質的に一定値を維持するためプローブ又はサンプルのいずれかの高さを調整するように構成された高さ調整手段により制御されることを特徴とする、請求項1に記載の顕微鏡。
- 前記駆動手段は、高さ調整を提供するようにも構成されている、請求項2に記載の顕微鏡。
- 前記駆動手段は、前記プローブ(20)を移動させるように構成されていることを特徴とする、請求項3に記載の顕微鏡。
- 前記駆動手段は、前記サンプル(14)を移動させるように構成されていることを特徴とする、請求項3に記載の顕微鏡。
- 前記プローブ(20)と前記サンプル表面との間の距離は、前記モニターされているパラメータの値に基づくフィードバックにより制御されている、請求項2乃至請求項5のいずれか1項に記載の顕微鏡。
- プローブ−表面間の距離のパラメータ特徴は、振動振幅であり、該パラメータに関連するデータは、走査ライン画像収集と同時に集められる、請求項6に記載の顕微鏡。
- 前記サンプル(14)の表面を横切って前記プローブ(20)を振動させるための手段は、走査ライン収集中に、該プローブ(20)をその共鳴周波数から丁度外して振動させるように構成されていることを特徴とする、請求項7に記載の顕微鏡。
- 前記顕微鏡は、レーザー源(30)と、分割光検出器(32)と、前記プローブが該分割光検出器に向かって振動するときレーザーからの光が前記プローブ(20)に入射して反射されるように配列された分割検出器信号処理手段と、を更に備え、これにより、該処理手段は、前記分割光検出器(32)の各部分(34、36)で受け取った信号の比率に基づいてプローブ振動振幅のための値を発生するように構成されていることを特徴とする、請求項7又は8に記載の顕微鏡。
- 前記プローブ(20)は、音叉のプロングに取り付けられており、プローブ振動振幅は、前記プロングの圧電コーティングを用いて測定されることを特徴とする、請求項7に記載の顕微鏡。
- 前記電磁場は、エバネッセント場であり、プローブ−表面間の距離の前記パラメータ特徴は、フォトン電流であることを特徴とする、請求項2乃至6のいずれか1項に記載の顕微鏡。
- 前記駆動手段は、前記プローブが振動される平面にほぼ直交する方向に、プローブ(20)及びサンプル(14)の相対的直線並進運動を提供し、これにより、ほ ぼ矩形の走査領域を画成するように構成されていることを特徴とする、請求項1乃至11のいずれか1項に記載の顕微鏡。
- 前記駆動手段は、前記プローブ(20)がその回りに振動される軸にほぼ一致した軸の回りに、プローブ(20)及びサンプル(14)の相対回転を提供し、これにより、走査ラインの円状配列により前記走査領域を覆うように構成されていることを特徴とする、請求項1乃至11のいずれか1項に記載の顕微鏡。
- 前記フィードバックは、プローブ振動の1周期より大きく且つ走査を実行するのにかかる時間よりも小さい時定数を有することを特徴とする、請求項7又は8に記載の顕微鏡。
- 前記顕微鏡は、前記サンプル(14)を照明するための光源(12)と連係されることを特徴とする、請求項1乃至14のいずれか1項に記載の顕微鏡。
- 前記電磁場が、エバネッセント場であることを特徴とする、請求項15に記載の顕微鏡。
- 前記サンプル(14)は、プリズム上に取り付けられ、該プリズムと光源(12)とは、作動中に該光源からの光が該サンプルに隣接した領域で該プリズムの内側に全反射され、これにより、エバネッセント場内で前記サンプルを照明するように、互いに配置され、
前記プローブは、サブ波長の先端(20)を備えたテーパー状光ファイバー(18)であり、それにより該先端と前記サンプルの回りのエバネッセント場との相互作用で、放射場が該先端(20)から離れるように前記ファイバー内で発生され、
前記検出器(24)は、前記ファイバー内を伝播する放射場を検出するように構成され、
前記顕微鏡は、前記検出器(24)で受信された信号から前記サンプルの画像を抽出し表示するように構成された画像信号処理手段を更に備えていることを特徴とする、請求項16に記載の顕微鏡。 - 前記プローブ(66)は開口式光ファイバー(66)であり、前記光源(62)からの光が、前記ファイバー(66)に沿って伝播し、前記エバネッセント場で前記サンプル(14)を照明するためファイバー先端でサブ波長寸法の開口(68)と結合することができるように構成されており、
前記顕微鏡(60)は、前記サンプル(14)から散乱された放射を収集し、それを前記検出器(74)上に合焦させるように構成された集光光学系(72)と、該検出器(74)で受信された信号から前記サンプルの画像を抽出し、表示するように構成された画像信号処理手段と、を更に備えていることを特徴とする、請求項16に記載の顕微鏡。 - 前記プローブ(82)は、その先端でサブ波長寸法の開口(84)を備えたテーパー状光ファイバーであり、それにより、前記プローブ(82)を照明されたサンプル(14)の近接場領域(22)へと移動したとき、プローブ−場の結合が、前記開口(84)から離れるように該ファイバー内で伝播する波を誘起し、該ファイバーの出力部は前記検出器(86)に接続されていることを特徴とする、請求項1乃至15のいずれか1項に記載の顕微鏡。
- 前記プローブは、その先端を除いてアルミニウムで被覆された、テーパー状光ファイバーであり、該先端は、これによって前記開口(68、84)を形成する、請求項18又は19に記載の顕微鏡。
- 前記プローブ(52)は金属製で、鋭い頂点へとテーパー形成され、前記光源(12)及び前記検出器(56)は前記プローブ(52)が導入されるところの近接場領域で場を確立するため両方とも遠方場領域に配置され、その作動中に、放射が前記光源(12)から前記サンプル(14)へと伝播し、検出器(56)へと至り、これによってプローブ(52)、場及びサンプル(14)の間の相互作用が、前記近接場領域(22)から発する放射波内で検出されるようにしたことを特徴とする、請求項1乃至15のいずれか1項に記載の顕微鏡。
- データ記憶媒体を走査するように構成された請求項1乃至21のいずれか1項に記載の顕微鏡を備えた、デジタルデータ読み出しシステムであって、該データ記憶媒体には、該記憶媒体の光学的特性の変化としてデータが書き込まれている、デジタルデータ読み出しシステム。
- 前記データは、ナノメートルサイズの焼かれた孔として書き込まれていることを特徴とする、請求項22に記載のデジタルデータ読み出しシステム。
- 請求項1乃至21のいずれか1項に記載の近接場顕微鏡において局所プローブ(20)を使用する方法。
- ナノメートルサイズの特徴を備えたサンプル(14)の走査領域から画像データを迅速に収集する方法であって、
(a) 前記サンプル(14)を電磁場で照明し、
(b) 前記サンプル(14)に近接した近接場領域(22)内に、サブ波長寸法の先端を備えたプローブ(20)を移動させ、
(c) 前記プローブ(20)と表面との間の相対運動を提供している間に、前記プローブ(20)をその共鳴周波数又はその近傍で前記サンプルの表面を横切って振動させて走査ラインの配列が前記走査領域を覆うようにし、該走査ラインの長さは振動振幅に対応しており、
(d) 前記近接場領域(22)へと結合され、従って、前記プローブ(20)、場及びサンプル(14)の間の相互作用に関する情報を検出器(24)のところで含む、放射を検出し、
(e) 前記サンプルのナノメートル構造に関する情報を抽出するため前記検出器(24)からの信号を処理する、各工程を含む、方法。
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