JP2010056580A - 半導体チップの接合方法および接合装置 - Google Patents

半導体チップの接合方法および接合装置 Download PDF

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Abstract

【課題】超音波振動を用いながら、半導体チップと基板との電極端子同士の接合性を高めることのできる半導体チップの接合方法および接合装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る半導体チップの接合方法は、半導体チップの電極端子と基板の電極端子とを当接させ、半導体チップの電極端子の形成面の反対面に当接させた接触体を超音波振動させて、半導体チップに超音波振動を印加することで、半導体チップと基板との電極端子同士を接合する半導体チップの接合方法において、接触体16には、複数の突起部16aが形成され、接触体16を、突起部16aの先端面で半導体チップ6の反対面に当接させ、前記超音波振動は、接触体16を伝わる粗密波であって、波長が、該粗密波の進行方向に隣接する各突起部16aの間隔の自然数分の1の長さであるとともに、最大振幅点が、各突起部16aの位置となるように設定される。
【選択図】図5

Description

本発明は、半導体チップの電極端子と基板の電極端子とを当接させ、半導体チップに超音波振動を印加することで、半導体チップと基板との電極端子同士を接合する半導体チップの接合方法および接合装置に関する。
近年、半導体パッケージ等の半導体装置を製造するにあたって半導体チップを配線基板にフリップチップ接合して搭載する際、半導体チップのバンプ等の電極端子と配線基板のパッド等の電極端子とを当接させ、半導体チップに超音波振動を印加することで、半導体チップと配線基板との電極端子同士を接合(ボンディング)する方法が用いられている。
特許文献1には、超音波振動を用いた従来のフリップチップの接続方法が記載されている。
特許文献1記載のフリップチップの接続方法においては、マウントヘッドに吸着保持させたフリップチップ(半導体チップ)のバンプを、基板の被接続端子に接触させて荷重を加え、マウントヘッドに内蔵された超音波振動子を超音波振動させることで、マウントヘッドを介してフリップチップを超音波振動させる(特許文献1 段落0016−0018、第1−2図)。
これにより、被接続部の酸化層などを容易に除去でき、信頼性の高い電気的接続行うことができるものとしている(特許文献1 段落0022)。
ここで、従来の超音波振動による半導体チップの接合方法および接合装置の例につき、図6を用いてさらに説明する。
図6において、ステージ2上に配線基板4が保持されている。また、半導体チップ6がボンディングツール8(マウントヘッド)に保持されてボンディングツール8とともに移動されて、半導体チップ6に設けられたバンプ6a、6a・・が、配線基板4に設けられた対応するパッド4a、4a・・にそれぞれ当接するよう位置決めされている。ボンディングツール8の両側端面には、超音波振動子9が接続され、超音波振動子9が図示しない発振制御装置で水平方向に超音波振動されることにより、ボンディングツール8と半導体チップ6とがともに超音波振動される。
これによれば、超音波振動は、ボンディングツール8を粗密波として伝わる。この粗密波は、超音波振動子9と接するボンディングツール8の両側端部において必然的に最大振幅点(粗密波進行方向の変位量が最大となる点)となる。そして、半導体チップ6に有効に物理的な振動を印加するために、半導体チップ6はこの粗密波の最大振幅点付近に配置される。図6に示す例おいては、粗密波の波長を、ボンディングツール8の粗密波進行方向の長さと等しく設定するとともに、半導体チップ6をボンディングツール8の中央部に配置して保持することで、半導体チップ6を粗密波の最大振幅点付近に配置している。
特開平10−12669号公報(段落0016−0018、0022、第1−2図)
しかしながら、従来の超音波振動を用いた半導体チップの接合方法では、半導体チップと基板との電極端子(バンプおよびパッド等)同士の接合性が十分でない場合があるという課題があり、それに起因した半導体装置の不良が発生している。
そこで、本願発明は、上記課題を解決すべく成され、超音波振動を用いながら、半導体チップと基板との電極端子同士の接合性を高めることのできる半導体チップの接合方法および接合装置を提供することを目的とする。
本願発明者は、前記課題を解決するために、超音波振動の周波数に着目し、より高い周波数の超音波振動を半導体チップに印加すれば、接合中、振動周期の間に電極端子が酸化してしまうのを防ぐことができ、また単位時間中に電極端子に与えるエネルギーを大きくできることなどから、電極端子同士の接合性を向上できるものとの着想に至った。
即ち、従来の半導体チップの接合方法においては一般的に50kHz程度の超音波振動が用いられているが、これよりも大幅に高い周波数の超音波振動を用いることができれば、電極端子同士の接合性を向上できるものと考えた。
さて、超音波振動子の発振制御装置の設定等により、超音波振動(粗密波)の周波数を高めることは可能である。例として、図7に、図6に示した従来例に比して粗密波の周波数を2倍にした場合の説明図を示す。ここで、ボンディングツール8を伝わる粗密波の波長λと周波数fとの関係は、λ=V/f(Vは粗密波の速度)で表される。粗密波の速度(音速)Vは、ボンディングツール8の材料に固有の定数であるから、周波数fを2倍にすることにより、波長λは1/2となる。
すると、粗密波の不動点間の距離が狭まり、半導体チップ6上で振幅の大きい箇所と極端に小さい箇所(図7においては半導体チップ6の端部近傍)とができてしまい、振幅の小さい箇所において電極端子同士の接合性が悪くなってしまう。
また、超音波振動(粗密波)の周波数をさらに上げれば、不動点が半導体チップ6上に重なってしまい、全く振幅の作用しない電極端子ができてしまう。
このように、単に周波数を上げるのみでは、全ての電極端子の接合性を高めることはできない。
この問題を回避するために、ボンディングツール8の材料等を変更して粗密波の速度Vを高めて波長λを長くしたり、粗密波進行方向の半導体チップ6の長さを短くするといった解決策は容易に考えうるが、ボンディングツール8や半導体チップ6の構成に大きな変更を必要とする上、いずれも高周波化の限界が低いものである。
本願発明者は、従来よりも大幅に高い周波数の超音波振動を用いることができる半導体チップの接合方法および接合装置を精査研究し、本願発明に到達した。
本発明に係る半導体チップの接合方法は、上記課題を解決するために、以下の構成を備える。すなわち、半導体チップの電極端子と基板の電極端子とを当接させ、半導体チップの前記電極端子の形成面の反対面に当接させた接触体を超音波振動させて、半導体チップに超音波振動を印加することで、半導体チップと基板との電極端子同士を接合する半導体チップの接合方法において、前記接触体には、複数の突起部が形成され、前記接触体を、前記突起部の先端面で前記半導体チップの前記反対面に当接させ、前記超音波振動は、前記接触体を伝わる粗密波であって、波長が、該粗密波の進行方向に隣接する各前記突起部の間隔の、自然数分の1の長さであるとともに、最大振幅点が、各突起部の位置となるように設定されていることを特徴とする。
また、本発明に係る半導体チップの接合装置は、半導体チップの電極端子と基板の電極端子とを当接させ、半導体チップに超音波振動を印加することで、半導体チップと基板との電極端子同士を接合する半導体チップの接合装置において、先端面で前記半導体チップの前記反対面に当接する複数の突起部が形成された接触体と、前記接触体を伝わる粗密波であって、波長が、該粗密波の進行方向に隣接する各前記突起部の間隔の、自然数分の1の長さであるとともに、最大振幅点が、各突起部の位置となる前記超音波振動を、接触体を介して半導体チップに印加する超音波振動子とを備えることを特徴とする。
本発明に係る半導体チップの接合方法および接合装置によれば、超音波振動の粗密波の半波長が、各電極端子間の間隔の自然数分の1の長さに設定され、粗密波の最大振幅点が各電極端子の位置となるように設定されていることから、非常に高周波の超音波振動を用いて電極端子の接合を行うことができ、電極端子同士の接合強度を高めることができる。
本発明に係る半導体チップの接合方法の原理を模式的に示した説明図である。 本発明に係る半導体チップの接合方法の原理を模式的に示した説明図である。 本発明の実施例1を示す説明図である。 本発明の実施例2を示す説明図である。 本発明の実施例3を示す説明図である。 従来の半導体チップの接合方法の原理を模式的に示した説明図である。 従来の半導体チップの接合方法の原理を模式的に示した説明図である。
以下、本発明に係る半導体チップの接合方法および接合装置を実施するための最良の形態を、添付図面に基づいて詳細に説明する。
先ず、本願出願人において検討が行われた半導体チップの接合方法および接合装置について、実施例1、2として説明する。
図1および図2は、実施例1、2に係る半導体チップの接合方法の原理を模式的に示した説明図である。
図1および図2において、半導体チップ6が搭載される搭載面4b側に、半導体チップ6のバンプ6a、6a・・(電極端子)と対応して設けられたパッド4a、4a・・(電極端子)を有する配線基板4(基板)が、ステージ2上に保持されている。
半導体チップ6は、電極端子としてのバンプ6a、6a・・が、配線基板4のパッド4a、4a・・にそれぞれ当接するよう、位置決めされている。
この状態で、半導体チップ6に、バンプ6aの並び方向に進行する粗密波の超音波振動を印加することで、半導体チップのバンプ6aと配線基板4のパッド4aとを接合する。
図1および図2において、この超音波振動(粗密波)の振幅(粗密波進行方向の変位量)を、半導体チップ6の上方にグラフとして表している。
図1において、印加する粗密波(超音波振動)は、その半波長(波長の半分の長さ)が、粗密波の進行方向(図1中、左右方向)に隣接する各電極端子(バンプ6aおよびパッド4a)の間隔と等しくなるよう(電極端子の間隔の1分の1の長さとなるよう)設定されている。そしてなおかつ、粗密波の最大振幅点(粗密波進行方向の変位量が最大となる点)が、各電極端子の位置となるよう設定されている。
これにより、粗密波の半波長を半導体チップ6の粗密波進行方向の長さよりも長くする必要がある従来の半導体チップの接合方法と比較して、粗密波を大幅に高周波に設定しても、粗密波の不動点や振幅の小さい点に各電極端子が位置することがなく、各電極端子に確実に十分な超音波振動を印加することができる。
図2においては、印加する粗密波(超音波振動)の半波長が、隣接する各電極端子(バンプ6aおよびパッド4a)の間隔の2分の1の長さとなるよう、設定されている。このようにすれば、図1の場合に比較して、倍の周波数の超音波振動を各電極端子に印加することができる。
一般的には、超音波振動の半波長が、「前記各電極端子の間隔の自然数分の1」の長さとなるよう設定すれば、各電極端子の位置に超音波振動の最大振幅点を位置させることができる。
なお、半導体チップのバンプと配線基板のパッドの材質の組み合わせとして、バンプとパッドとがともに金(Au)、または、バンプが金でパッドがアルミニウム(Al)といった組み合わせが一般的である。ただし本発明はこれらに限定されるものではない。
上述の通り設定された超音波振動を、半導体チップ6に印加する方法および装置の具体例を図3に示す。
図3に示すように、超音波振動子10の先端に、接触体としてのホーン12を取り付け、ホーン12の先端部を、半導体チップ6の側端面に当接させる。そして、図示しない発振制御装置により超音波振動子10を超音波振動させることで、ホーン12を介して半導体チップ6に前記超音波振動を印加する。
ホーン12は、超音波振動子10側から先端に向かうにしたがって先細りに形成され、これにより、先端に向かうにしたがって超音波振動を増幅することができ、半導体チップ6に高振幅の超音波振動を有効に伝達することができる。
なお、接触体は必ずしもホーンでなくともよい。また、接触体を介さずに超音波振動子10を半導体チップ6に直接当接させてもよい。
また、別途、半導体チップ6を上方から配線基板4に向けて押圧する押圧手段を設けて、半導体チップ6を配線基板に押圧しながら超音波振動を印加すれば、電極端子の接合をより強くすることができる。
次に、超音波振動を半導体チップ6に印加する方法および装置の別の例について、図4を用いて説明する。
図4において、ステージ2上に配線基板4が保持されている。また、半導体チップ6が接触体としてのボンディングツール14(マウントヘッド)に保持されてボンディングツール14とともに移動されて、半導体チップ6に設けられたバンプ6a、6a・・が、配線基板4に設けられた対応するパッド4a、4a・・にそれぞれ当接するよう位置決めされている。
ボンディングツール14の両側端面には、超音波振動子10が接続され、超音波振動子10が図示しない発振制御装置で水平方向に超音波振動されることにより、ボンディングツール14と半導体チップ6とがともに超音波振動される。
ボンディングツール14には、半導体チップ6および配線基板4の各電極端子(バンプ6aおよびパッド4a)に対応する位置に突起部14aが形成されており、ボンディングツール14は、突起部14aの先端面で、半導体チップのバンプ6aの形成面の反対面に当接される。また、ボンディングツール14は、半導体チップ6に、図4中、下方向への荷重を与えている。
これによれば、突起部14aを介して超音波振動を各電極端子に有効に印加することができる。
以上のように、実施例1、2によれば、半導体チップ6に伝わる超音波振動の最大振幅点が電極端子(バンプ6aおよびパッド4a)の位置となっていることで、高周波の超音波振動を用いながら、各電極端子を十分に振動させることができる。
上記実施例1、2においては、半導体チップ6に粗密波を印加する構成であるが、本発明に係る本実施例3は、半導体チップ6の全体を高周波に振動させる構成をもつ。
実施例3の構成を示す説明図を、図5に示す。
なお、本実施例3の半導体チップの接合装置は、上記実施例2と基本的な構成は共通するため、実施例2と共通する構成の説明は省略し、相違する構成のみを説明する。
ボンディングツール16には、半導体チップ6に当接する突起部16aが、一定間隔で設けられている。ただし、実施例2における突起部14aとは異なり、突起部16aの形成位置は、半導体チップ6および配線基板4の各電極端子(バンプ6aおよびパッド4a)に対応する位置である必要はない。
ボンディングツール16を介して半導体チップ6に超音波振動を印加する超音波振動子18は、ボンディングツール16を伝わる粗密波であって、波長が、粗密波の進行方向に隣接する各突起部16aの間隔の、自然数分の1の長さ(図5においては波長と同じ長さ)であるとともに、最大振幅点が、各突起部の位置となる超音波振動を印加する。
本実施例3に係る半導体装置の接合装置および接合方法によれば、図5(a)、(b)に示すように、突起体16aは前記超音波振動の波長分の間隔をあけて、最大振幅点に設けられている。したがって、各突起体16aは、ボンディングツール16を伝わる粗密波によって、それぞれが互いに同方向に同一量の変位で振動される。そして、各突起体16a間の、前記超音波振動により反対側に変位する位置においては、ボンディングツール16と半導体チップ6とは接触していないため、半導体チップ6は、各突起体16aに伴って変位されて、チップ全体が水平方向に振動する。すなわち、半導体チップ6全体が、図5(a)の左方向aの変位と、図5(b)の右方向bの変位を繰り返して振動する。
以上のように、実施例3によれば、半導体チップ6全体を高周波に振動させることができる。
本願発明者は、本願発明の半導体チップの接合方法を用いて、印加する超音波振動の周波数を、従来の50kHz程度より高周波にして実験を行い、従来の周波数を用いる場合に比較して、接合強度が上がっていることを確認した。
また、50kHzの超音波振動を印加する印加継続時間を長くして、振動数を、前記高周波の超音波印加によりなされる振動数と等しくする対照実験を行ったが、この場合においても高周波の超音波振動による接合の方が、接合強度が高かった。
これは、前述の通り、高周波の超音波振動の方が振動周期が短いため、接合中、振動周期の間に電極端子が酸化してしまうのを防ぐことができ、また単位時間中に電極端子に与えるエネルギーを大きくできることなどに起因するものと考えられる。
本実施形態においては、半導体チップを配線基板に接合する場合について説明を行ったが、本発明に係る半導体チップの接合方法は、これに限定されるものではなく、超音波振動を用いて半導体チップの電極端子を接合する用途であれば、あらゆる分野に適用することができる。
例えば、近年、半導体チップ同士を電極端子を介して接合する技術が研究されているが、その場合にも、電極端子の位置に超音波振動の最大振幅点がくるように超音波振動を設定し、または、半導体チップ全体を高周波に超音波振動させる本発明を適用することができる。
さらに、半導体装置の外部接続端子(電極端子)を超音波振動を用いてプリント基板に接合するような場合においても、外部接続端子の位置に超音波振動の最大振幅点がくるように超音波振動を設定し、または、半導体チップ全体を高周波に超音波振動させる本発明を適用することができる。
2 ステージ
4 配線基板(基板)
4a パッド(電極端子)
4b 半導体チップの搭載面
6 半導体チップ
6a バンプ(電極端子)
10 超音波振動子
12 ホーン(接触体)
14、16 ボンディングツール(接触体)
14a、16a 突起部

Claims (2)

  1. 半導体チップの電極端子と基板の電極端子とを当接させ、半導体チップの前記電極端子の形成面の反対面に当接させた接触体を超音波振動させて、半導体チップに超音波振動を印加することで、半導体チップと基板との電極端子同士を接合する半導体チップの接合方法において、
    前記接触体には、複数の突起部が形成され、
    前記接触体を、前記突起部の先端面で前記半導体チップの前記反対面に当接させ、
    前記超音波振動は、前記接触体を伝わる粗密波であって、波長が、該粗密波の進行方向に隣接する各前記突起部の間隔の、自然数分の1の長さであるとともに、最大振幅点が、各突起部の位置となるように設定されていることを特徴とする半導体チップの接合方法。
  2. 半導体チップの電極端子と基板の電極端子とを当接させ、半導体チップに超音波振動を印加することで、半導体チップと基板との電極端子同士を接合する半導体チップの接合装置において、
    先端面で前記半導体チップの前記反対面に当接する複数の突起部が形成された接触体と、
    前記接触体を伝わる粗密波であって、波長が、該粗密波の進行方向に隣接する各前記突起部の間隔の、自然数分の1の長さであるとともに、最大振幅点が、各突起部の位置となる前記超音波振動を、接触体を介して半導体チップに印加する超音波振動子とを備えることを特徴とする半導体チップの接合装置。
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