JP2009532586A - 電解銅めっき方法 - Google Patents

電解銅めっき方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2009532586A
JP2009532586A JP2009504184A JP2009504184A JP2009532586A JP 2009532586 A JP2009532586 A JP 2009532586A JP 2009504184 A JP2009504184 A JP 2009504184A JP 2009504184 A JP2009504184 A JP 2009504184A JP 2009532586 A JP2009532586 A JP 2009532586A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plating
copper
solution
sulfopropyl
electrolytic copper
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2009504184A
Other languages
English (en)
Inventor
ジェームス・ワトコウスキ
マリア・ニコロバ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
MacDermid Inc
Original Assignee
MacDermid Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by MacDermid Inc filed Critical MacDermid Inc
Publication of JP2009532586A publication Critical patent/JP2009532586A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/24Reinforcing the conductive pattern
    • H05K3/241Reinforcing the conductive pattern characterised by the electroplating method; means therefor, e.g. baths or apparatus
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D3/00Electroplating: Baths therefor
    • C25D3/02Electroplating: Baths therefor from solutions
    • C25D3/38Electroplating: Baths therefor from solutions of copper
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/28Manufacture of electrodes on semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/268
    • H01L21/283Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current
    • H01L21/288Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a liquid, e.g. electrolytic deposition
    • H01L21/2885Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a liquid, e.g. electrolytic deposition using an external electrical current, i.e. electro-deposition
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D5/00Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
    • C25D5/18Electroplating using modulated, pulsed or reversing current
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/03Metal processing
    • H05K2203/0392Pretreatment of metal, e.g. before finish plating, etching

Abstract

【課題】 2つの工程を含む電解銅めっき方法を提案する。方法は、非常に狭い場所のめっきに特に適する。
【解決手段】 第1工程は、硫黄含有有機化合物、好ましくは、1つ又は複数のアルカンスルホン酸エステル基及び/又はアルカンスルホン酸を含む抗抑制剤を含む前処理溶液を含む。第2工程は、アルカンスルホン酸に基づく電解銅めっき溶液を含む。
【選択図】なし

Description

本発明は、表面を電解銅めっきする、特に、プリント回路基板上のスルーホール又はビア等の非常に狭い面積をめっきする方法に関する。本発明の方法は、非常に小さなプリント回路のビアのめっきに特に適している。
電解銅めっきは、外部電流を使用して導電性基板に銅を堆積する方法である。公知の工業用の電解銅めっき溶液は、銅堆積物の特性を改良する様々な添加剤と一緒に、硫酸銅、ホウフッ化銅、又はシアン化銅水溶液を含む。最も広く使用される工業用の銅めっき用電解質は、硫酸銅、硫酸、及び様々なめっき添加剤の水溶液に基づく。電解銅めっき浴及び添加剤に関して、概して、特許文献1〜3を参照し、各内容を参照することにより全体を本願に援用する。
また、電解銅めっきにアルカンスルホン酸を使用することも知られている。特許文献4は、銅アルカンスルホン酸塩、及び遊離アルカンスルホン酸を含む溶液を使用する電子装置への銅の電解析出を論じ、各内容を参照することにより全体を本願に援用する。
小型化及び機能性の向上が要求され、めっきする必要がある電子部品のサイズが実質的に小さくなっている。例えば、多くの回路基板設計が、直径が約25〜約250ミクロン、アスペクト比が約1:1〜上限約1.5:1のブラインドビアの効果的なめっき、及びアスペクト比が上限約8:1のスルーホールの同時めっきを必要とする。多くの電解銅めっき浴は、そのような狭い場所のめっきが出来ない。場合によっては、ぬれ性が問題であり、また他の場合にはマストランスポートが課題を提示し、他の領域では電気的効果が困難を生じる。歴史的に、同時めっきされたスルーホールの信頼性は、複合された技術設計に取り込まれ、産業規格を満たすことが出来ていない。
米国特許第5,068,013号明細書 米国特許第5,174,886号明細書 米国特許第5,051,154号明細書 米国特許第6,605,204号明細書
結果的に、狭い場所を効果的にめっきできる電解銅めっき溶液及び方法が依然として必要とされている。本願の目的は、特別に設計され、且つ、効果的なめっきが狭い場所で必要とされる電子技術の応用に適する電解銅めっき溶液及び方法を提供することにある。
本発明の発明者等は下記1及び2を含む電解銅めっき方法を提案する。
1.銅電気化学的還元用抗抑制剤(anti−suppressor)水溶液を含む前処理溶液と表面を接触させる工程。抗抑制剤が、硫黄含有有機化合物、好ましくは、アルカンスルホン酸エステル基及び/又はアルカンスルホン酸を含む。そして、
2.電解銅めっき溶液と陰極として前記表面を接触させ、銅が前記表面をめっきするようにめっき電流を加える工程。電解銅めっき溶液は、(i)銅イオン、(ii)アルカンスルホン酸、(iii)塩化物イオン、及び好ましくは、(iv)アルデヒド又はケトン化合物を含む。
好ましくは、電解銅めっき溶液は、また、(i)界面活性剤又は湿潤剤、(ii)好ましくは、1つ又は複数のスルホン酸エステル基を含む硫黄含有有機化合物を含む光沢剤、及び(iii)窒素含有有機化合物を含むレベリング剤も含む。
前処理工程及びめっき工程を含む電解銅めっき方法が提案される。方法は、プリント回路基板のマイクロビア等の非常に狭い場所のめっき、及び同じ基板設計のスルーホールの同時めっきに適している。提案された方法は、下記1及び2を含む。
1.硫黄含有有機化合物、好ましくは、1つもしくは複数の(アルカン)スルホン酸エステル基及び/又はアルカンスルホン酸を含む抗抑制剤水溶液を含む前処理溶液と表面を接触させる工程、そして、
2.(i)銅イオン、(ii)アルカンスルホン酸、(iii)塩化物イオン、及び好ましくは、(iv)アルデヒド又はケトン化合物を含む電解銅めっき溶液と陰極表面を接触させ;及び銅が前記表面をめっきするようにめっき電流を加える工程。
前処理溶液は、硫黄含有有機化合物、好ましくは、1つ又は複数の(アルカン)スルホン酸エステル基、及び/又は(アルカン)スルホン酸を含む銅電気化学的還元用抗抑制剤を含む。前処理溶液に抗抑制剤として使用するのに適切な化合物の例としては、4,5‐ジチオオクタン‐1,8‐ジスルホン酸二ナトリウム(disodium 4,5‐dithiooctane‐1,8‐disulfonate)、2‐メルカプト‐エタンスルホン酸ナトリウム、3‐メルカプト‐1‐プロパンスルホン酸カリウム、ビス‐(3‐スルホプロピル)ジスルフィド二ナトリウム、ビス(3‐スルホプロピル)ジスルフィド二ナトリウム、テトラポリプロポキシ‐エトキシエチレンジアミンスルホコハク酸エステルナトリウム塩(tetrapolypropoxy‐ethoxy ethylenediamine sulfosuccinic ester sodium salt)、及びこれらの混合物が挙げられるが、これらに限定されない。好ましくは、前処理溶液の抗抑制剤は、ビス(3‐スルホプロピル)ジスルフィド二ナトリウムである。前処理溶液中の抗抑制剤の濃度は、約0.1g/l〜約10g/lであるのが好ましい。
任意で、好ましくは、前処理溶液は銅イオンも含む。銅イオンは、硫酸銅、メタンスルホン酸銅、又は同様の銅塩により提供されてもよい。硫酸銅は、好適な銅イオン源である。使用される場合、前処理溶液中の銅イオンの濃度は、好ましくは、約0.01〜約5.0g/lである。どのような場合でも、前処理溶液のpHは、好ましくは、1.0〜3.5である。
前処理溶液の次に用いられる電解めっき溶液は、(i)銅イオン、(ii)アルカンスルホン酸、(iii)塩化物イオン、及び好ましくは、(iv)アルデヒド又はケトン化合物の水溶液を含む。めっき浴は、好ましくは、(i)界面活性剤又は湿潤剤、(ii)光沢剤、及び(iii)レベリング剤も含む。
電解銅めっき溶液中の銅イオン源は、硫酸銅、酸化銅、メタンスルホン酸銅、又は同様の銅塩から可能である。好ましくは、メタンスルホン酸銅、又は酸化銅(アルカンスルホン酸に溶解する)が使用される。めっき溶液中の銅イオン濃度は、好ましくは、約20〜60g/lであり、より好ましくは、40〜55g/lである。
めっき溶液に使用されるアルカンスルホン酸は、比較的低コストであるメタンスルホン酸が好ましい。めっき溶液中のアルカンスルホン酸の濃度は、好ましくは、約40〜約200g/lである。
塩化物イオン源は、電気めっき溶液に溶解可能な塩化物を含む。塩化物イオン源の例としては、塩化ナトリウム、塩化カリウム、塩酸、及びこれらの混合物等が挙げられる。塩化物イオンの濃度は、好ましくは、0.02ppm〜125ppm、より好ましくは、30ppm〜90ppmである。
電気銅めっき溶液に好適に含まれるアルデヒド又はケトン化合物の例としては、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、スクシンアルデヒド、メチルエチルケトン、及びこれらの混合物等が挙げられる。これらの化合物の濃度は、好ましくは、約0.005〜約0.500g/lである。
めっき溶液は、好ましくは、界面活性剤又は湿潤剤も含む。界面活性剤又は湿潤剤は、めっき溶液の表面張力を低下させるために使用される。これは、めっき溶液が非常に小さな穴、又はビアを湿らせるために特に重要である。有用な界面活性剤又は湿潤剤は、高分子量ポリマー、好ましくは、ポリグリコール系ポリマー及びコポリマーを含む。好ましくは、ポリ(エチレングリコール)、ポリ(プロピレングリコール)及びこれらのコポリマーが使用される。めっき溶液中の界面活性剤及び/又は湿潤剤の濃度は、約0.1〜約8g/lであってもよい。
めっき溶液は、好ましくは、光沢剤を含む。概して、銅電気めっき用光沢剤は硫黄含有有機化合物であり、また、他の官能基を含んでもよい。例えば、3‐(ベンズチアゾリル‐2‐チオ)‐プロピルスルホン酸エステルナトリウム、エチレン‐ジチオジプロピルスルホン酸ナトリウム、ビス‐(3‐スルホプロピル)ジスルフィド二ナトリウム、N,N‐ジメチルジチオカルバミン酸(3‐スルホプロピル)エステルナトリウム塩、及びこれらの混合物が挙げられる。好ましくは、光沢剤は、ビス‐(3‐スルホプロピル)ジスルフィド二ナトリウムを含む。めっき溶液中の光沢剤の濃度は、好ましくは、約0.001ppm〜約2.00ppmである。
めっき溶液は、好ましくは、レベリング剤も含む。銅電気めっき用レベリング剤は、概して、窒素含有有機化合物を含む。アミノ基又は置換アミノ基を有する化合物が一般的に使用される。例えば、高分子アミン;トリイソプロパノールアミン、アルキル化ポリアルキレンイミン;及び4‐メルカプトピリジン等が挙げられる。レベリング剤は、好ましくは、テトラポリプロポキシ‐エトキシエチレンジアミンスルホコハク酸エステルナトリウム塩である。めっき溶液中のレベリング剤の濃度は、好ましくは、約0.005〜約0.100g/lである。
めっきされる面は、電解銅めっき溶液中に置かれて電源の陰極に接続されることで、陰極になる。また、金属銅陽極もめっき溶液中に置かれ、電源の陽極に接続される。生じるめっき電流によって表面を銅めっきする。本願に記載される方法は、めっき作業の周期中、直流(DC)、周期的パルス電流(PP)、周期的パルス逆電流(PPR)、及び/又はこれらの組み合わせを利用できる。
めっき電流に使用されるアンペアは、一定であるか、又は、パルスめっき法のように変わってもよい。概して、このめっき溶液中で有用な陰極電流密度は、陰極領域1平方フィート当たり5〜30アンペアであり、好ましくは、陰極電流密度は、陰極領域1平方フィート当たり8〜15アンペアである。
実施例I
以下の前処理及びめっき溶液が調製された:
前処理
成分 濃度
ビス‐(3‐スルホプロピル)ジスルフィド二ナトリウム 3mmol/L(1.06g/L)
銅(硫酸エステルの場合) 10.6mmol/L(0.67g/L)
水 上限1L
めっき溶液
成分 濃度
銅(メタンスルホン酸銅の場合) 45g/L
メタンスルホン酸 110g/L
塩化物イオン 65ppm
ホルムアルデヒド 62ppm
PEG4000 ポリ(エチレングリコール) 1.1g/L
ビス(3‐スルホプロピル)ジスルフィド二ナトリウム 0.5ppm
テトラポリプロポキシ‐エトキシエチレンジアミン
スルホコハク酸エステルナトリウム塩 27ppm
直径が50,75,100,150マイクロメートル、深さが75,100マイクロメートルのビア、及び直径が0.2,0.25,0.35,0.5mmのスルーホールを含む2つの厚さ1.6mmのプリント回路基板を処理した。1つは、前処理溶液とめっき溶液とを通して処理した。もう1つは、めっき溶液だけを通して処理した。どちらの場合も、PPR電流が、順方向の陰極電流密度12ASF、逆電流密度30ASF(1平方フィート当たりのアンペア)で使用された。前処理溶液で処理された基板のすべてのビアとスルーホールは、効果的にめっきされたが、めっき溶液だけを通して処理した基板のビアは効果的にめっきされなかった。

Claims (10)

  1. 表面を電解銅めっきする方法であり、
    a)硫黄含有有機化合物を含む水溶液を含む前処理溶液と表面を接触させる工程、そして、
    b)(i)銅イオン、(ii)アルカンスルホン酸、(iii)塩化物イオン、及び好ましくは、(iv)アルデヒド又はケトン化合物を含む電解銅めっき溶液と陰極として前記表面を接触させ;及び銅が前記表面をめっきするようにめっき電流を加える工程
    を含むことを特徴とする表面を電解銅めっきする方法。
  2. 硫黄含有有機化合物が、スルホン酸エステル基又はスルホン酸基である請求項1に記載の方法。
  3. めっき溶液が、光沢剤、レベリング剤、界面活性剤、及び湿潤剤からなる群より選択される少なくとも1つの添加剤を更に含む請求項1に記載の方法。
  4. 前処理溶液が、銅イオンを更に含む請求項1及び2のいずれかに記載の方法。
  5. 光沢剤が、ビス(3‐スルホプロピル)ジスルフィド二ナトリウム、及びレベリング剤がテトラポリプロポキシ‐エトキシエチレンジアミンスルホコハク酸エステルナトリウム塩(tetrapolypropoxy‐ethoxy ethylenediamine sulfosuccinic ester sodium salt)を含む請求項3に記載の方法。
  6. 硫黄含有有機化合物が、ビス(3‐スルホプロピル)ジスルフィド二ナトリウムを含む請求項1、3、及び5のいずれかに記載の方法。
  7. めっき電流が、一定直流である請求項1に記載の方法。
  8. めっき電流が、時間とともに変わる請求項1、2、3、及び5のいずれかに記載の方法。
  9. 陰極の電気極性が、周期的に反転する請求項1に記載の方法。
  10. a)前処理溶液が、銅イオン及びビス(3‐スルホプロピル)ジスルフィド二ナトリウムを含み、
    b)めっき溶液が、ビス(3‐スルホプロピル)ジスルフィド二ナトリウム、テトラポリプロポキシ‐エトキシエチレンジアミンスルホコハク酸エステルナトリウム塩
    を含む請求項1に記載の方法。
JP2009504184A 2006-04-05 2007-01-19 電解銅めっき方法 Pending JP2009532586A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/398,048 US7575666B2 (en) 2006-04-05 2006-04-05 Process for electrolytically plating copper
PCT/US2007/001716 WO2007126453A2 (en) 2006-04-05 2007-01-19 Process for electrolytically plating copper

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009532586A true JP2009532586A (ja) 2009-09-10

Family

ID=38574012

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009504184A Pending JP2009532586A (ja) 2006-04-05 2007-01-19 電解銅めっき方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7575666B2 (ja)
EP (1) EP2010698B1 (ja)
JP (1) JP2009532586A (ja)
CN (1) CN101405436B (ja)
ES (1) ES2421189T3 (ja)
WO (1) WO2007126453A2 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012127003A (ja) * 2010-12-15 2012-07-05 Rohm & Haas Electronic Materials Llc 銅層を均一にする電気めっき方法
JP2013044007A (ja) * 2011-08-23 2013-03-04 Ishihara Chem Co Ltd 銅フィリング方法及び当該方法を適用した電子部品
JP2013044035A (ja) * 2011-08-25 2013-03-04 Ishihara Chem Co Ltd 銅フィリング方法及び当該方法を適用した電子部品
JP2015503033A (ja) * 2011-12-21 2015-01-29 アトテツク・ドイチユラント・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングAtotech Deutschland GmbH スルーホールめっきおよびビアフィリングの組み合わせのための方法
US10468364B2 (en) 2016-03-28 2019-11-05 Ebara Corporation Plating method
JP2020523481A (ja) * 2017-06-16 2020-08-06 アトテツク・ドイチユラント・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングAtotech Deutschland GmbH 水性酸性銅電気めっき浴および銅コーティングの電解析出方法

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100832705B1 (ko) * 2006-12-23 2008-05-28 동부일렉트로닉스 주식회사 시스템 인 패키지의 비아 도금방법 및 그 시스템
TWI341554B (en) * 2007-08-02 2011-05-01 Enthone Copper metallization of through silicon via
US7905994B2 (en) 2007-10-03 2011-03-15 Moses Lake Industries, Inc. Substrate holder and electroplating system
JP2009167506A (ja) * 2008-01-21 2009-07-30 Ebara Udylite Kk 酸性電解銅めっき液およびこれを用いる微細配線回路の作製方法
JP4857317B2 (ja) * 2008-02-26 2012-01-18 新光電気工業株式会社 スルーホールの充填方法
US8262894B2 (en) 2009-04-30 2012-09-11 Moses Lake Industries, Inc. High speed copper plating bath
US8962085B2 (en) * 2009-06-17 2015-02-24 Novellus Systems, Inc. Wetting pretreatment for enhanced damascene metal filling
US9455139B2 (en) 2009-06-17 2016-09-27 Novellus Systems, Inc. Methods and apparatus for wetting pretreatment for through resist metal plating
WO2011036158A2 (en) 2009-09-28 2011-03-31 Basf Se Wafer pretreatment for copper electroplating
KR101705734B1 (ko) 2011-02-18 2017-02-14 삼성전자주식회사 구리 도금 용액 및 이것을 이용한 구리 도금 방법
JP5502967B2 (ja) * 2012-11-05 2014-05-28 株式会社Jcu 酸性電解銅めっき液
CN103103585B (zh) * 2012-12-29 2015-09-16 上海新阳半导体材料股份有限公司 一种用于铜互连的高速凸点电镀方法
US9613833B2 (en) 2013-02-20 2017-04-04 Novellus Systems, Inc. Methods and apparatus for wetting pretreatment for through resist metal plating
CN103103587B (zh) * 2013-02-22 2016-02-17 陕西师范大学 含巯基杂环化合物的电镀铜溶液
US20140262801A1 (en) * 2013-03-14 2014-09-18 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Method of filling through-holes
CN103361681B (zh) * 2013-08-08 2016-11-16 上海新阳半导体材料股份有限公司 能改变tsv微孔镀铜填充方式的添加剂c及包含其的电镀液
US10154598B2 (en) * 2014-10-13 2018-12-11 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Filling through-holes
CN104947155B (zh) * 2015-05-28 2017-04-26 中南大学 基于电化学法从废旧电路板中回收铜制备高纯高强度铜箔的工艺
CN114277408B (zh) * 2021-12-29 2023-11-03 广东利尔化学有限公司 一种pcb电镀铜添加剂

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07157890A (ja) * 1993-12-08 1995-06-20 Okuno Chem Ind Co Ltd 酸性銅めっき浴及びこれを使用するめっき方法
JP2003003291A (ja) * 2001-03-23 2003-01-08 Interuniv Micro Electronica Centrum Vzw 複数工程からなる金属析出方法
JP2003113490A (ja) * 2001-10-02 2003-04-18 Shipley Co Llc 基体上に金属層を堆積させるためのメッキ浴および方法
JP2003129273A (ja) * 2001-10-29 2003-05-08 Applied Materials Inc 電解めっき方法
JP2004342750A (ja) * 2003-05-14 2004-12-02 Toshiba Corp 電子デバイスの製造方法
JP2005146314A (ja) * 2003-11-12 2005-06-09 Semiconductor Leading Edge Technologies Inc 金属膜形成方法及びめっき装置
JP2005535787A (ja) * 2002-08-16 2005-11-24 アーケマ・インコーポレイテッド 電解銅めっき液

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2525943A (en) * 1947-09-24 1950-10-17 Standard Oil Co Copper plating bath and process
US3775176A (en) * 1971-02-23 1973-11-27 Amicon Corp Method of forming an electroplatable microporous film with exposed metal particles within the pores
US4038042A (en) * 1975-12-18 1977-07-26 E. I. Du Pont De Nemours And Company Electroplating of polypropylene compositions
US5051154A (en) 1988-08-23 1991-09-24 Shipley Company Inc. Additive for acid-copper electroplating baths to increase throwing power
US5068013A (en) 1988-08-23 1991-11-26 Shipley Company Inc. Electroplating composition and process
US4954226A (en) * 1988-12-21 1990-09-04 International Business Machines Corporation Additive plating bath and process
US5174886A (en) 1991-02-22 1992-12-29 Mcgean-Rohco, Inc. High-throw acid copper plating using inert electrolyte
JP3286744B2 (ja) * 1993-05-24 2002-05-27 奥野製薬工業株式会社 非導電性材料表面に電気めっき層を直接形成する方法
DE19624071A1 (de) * 1996-06-17 1997-12-18 Bayer Ag Verfahren zur Herstellung von bahnförmigen metallbeschichteten Folien
DE69703798T2 (de) * 1997-02-03 2001-08-02 Okuno Chem Ind Co Verfahren zum elektrobeschichten nichtleitender materialien
EP1091024A4 (en) * 1998-04-30 2006-03-22 Ebara Corp METHOD AND DEVICE FOR COATING SUBSTRATES
WO2000010200A1 (en) * 1998-08-11 2000-02-24 Ebara Corporation Wafer plating method and apparatus
KR100665745B1 (ko) * 1999-01-26 2007-01-09 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 구리도금방법 및 그 장치
US6444110B2 (en) * 1999-05-17 2002-09-03 Shipley Company, L.L.C. Electrolytic copper plating method
US6605204B1 (en) 1999-10-14 2003-08-12 Atofina Chemicals, Inc. Electroplating of copper from alkanesulfonate electrolytes
JP3594894B2 (ja) * 2000-02-01 2004-12-02 新光電気工業株式会社 ビアフィリングめっき方法
US6770558B2 (en) 2002-02-25 2004-08-03 International Business Machines Corporation Selective filling of electrically conductive vias for three dimensional device structures
EP1553211B1 (en) * 2002-07-25 2014-04-02 Shinryo Corporation Tin-silver-copper plating solution, plating film containing the same, and method for forming the plating film
US7273540B2 (en) * 2002-07-25 2007-09-25 Shinryo Electronics Co., Ltd. Tin-silver-copper plating solution, plating film containing the same, and method for forming the plating film
KR100389061B1 (ko) * 2002-11-14 2003-06-25 일진소재산업주식회사 전해 동박 제조용 전해액 및 이를 이용한 전해 동박 제조방법
US7429401B2 (en) 2003-05-23 2008-09-30 The United States of America as represented by the Secretary of Commerce, the National Insitiute of Standards & Technology Superconformal metal deposition using derivatized substrates
US20050274622A1 (en) * 2004-06-10 2005-12-15 Zhi-Wen Sun Plating chemistry and method of single-step electroplating of copper on a barrier metal
EP1598449B1 (en) * 2004-04-26 2010-08-04 Rohm and Haas Electronic Materials, L.L.C. Improved plating method

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07157890A (ja) * 1993-12-08 1995-06-20 Okuno Chem Ind Co Ltd 酸性銅めっき浴及びこれを使用するめっき方法
JP2003003291A (ja) * 2001-03-23 2003-01-08 Interuniv Micro Electronica Centrum Vzw 複数工程からなる金属析出方法
JP2003113490A (ja) * 2001-10-02 2003-04-18 Shipley Co Llc 基体上に金属層を堆積させるためのメッキ浴および方法
JP2003129273A (ja) * 2001-10-29 2003-05-08 Applied Materials Inc 電解めっき方法
JP2005535787A (ja) * 2002-08-16 2005-11-24 アーケマ・インコーポレイテッド 電解銅めっき液
JP2004342750A (ja) * 2003-05-14 2004-12-02 Toshiba Corp 電子デバイスの製造方法
JP2005146314A (ja) * 2003-11-12 2005-06-09 Semiconductor Leading Edge Technologies Inc 金属膜形成方法及びめっき装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012127003A (ja) * 2010-12-15 2012-07-05 Rohm & Haas Electronic Materials Llc 銅層を均一にする電気めっき方法
JP2016216830A (ja) * 2010-12-15 2016-12-22 ローム アンド ハース エレクトロニック マテリアルズ エルエルシーRohm and Haas Electronic Materials LLC 銅層を均一にする電気めっき方法
JP2013044007A (ja) * 2011-08-23 2013-03-04 Ishihara Chem Co Ltd 銅フィリング方法及び当該方法を適用した電子部品
JP2013044035A (ja) * 2011-08-25 2013-03-04 Ishihara Chem Co Ltd 銅フィリング方法及び当該方法を適用した電子部品
JP2015503033A (ja) * 2011-12-21 2015-01-29 アトテツク・ドイチユラント・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングAtotech Deutschland GmbH スルーホールめっきおよびビアフィリングの組み合わせのための方法
US10468364B2 (en) 2016-03-28 2019-11-05 Ebara Corporation Plating method
KR102061026B1 (ko) 2016-03-28 2019-12-31 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 도금 방법
JP2020523481A (ja) * 2017-06-16 2020-08-06 アトテツク・ドイチユラント・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングAtotech Deutschland GmbH 水性酸性銅電気めっき浴および銅コーティングの電解析出方法
JP7136814B2 (ja) 2017-06-16 2022-09-13 アトテック ドイチュラント ゲー・エム・ベー・ハー ウント コー. カー・ゲー 水性酸性銅電気めっき浴および銅コーティングの電解析出方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP2010698B1 (en) 2013-07-03
US7575666B2 (en) 2009-08-18
CN101405436B (zh) 2011-02-16
WO2007126453A3 (en) 2007-12-21
EP2010698A2 (en) 2009-01-07
CN101405436A (zh) 2009-04-08
ES2421189T3 (es) 2013-08-29
US20070235343A1 (en) 2007-10-11
WO2007126453A2 (en) 2007-11-08
EP2010698A4 (en) 2012-06-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2009532586A (ja) 電解銅めっき方法
JP5073736B2 (ja) 孔及びキャビティの金属による電解充填法
JP5078142B2 (ja) スルーホールに金属を充填するための電気処理、とりわけプリント基板のスルーホールに銅を充填するための電気処理
JP6111241B2 (ja) 銅の電解析出用水性酸浴、当該浴の使用、当該浴中のルテニウムイオンの使用、および、当該浴を用いた加工対象物上への銅の電解析出方法
TWI390085B (zh) 高純度電解磺酸溶液
JP2001073182A (ja) 改良された酸性銅電気メッキ用溶液
JP2005535787A (ja) 電解銅めっき液
US6676823B1 (en) High speed acid copper plating
JP2004204351A (ja) 逆パルスめっき組成物および逆パルスメッキ方法
TW201332412A (zh) 組合的通孔鍍覆和孔填充的方法
US9963797B2 (en) Copper electroplating method
KR101134610B1 (ko) 동도금용 첨가제 및 이를 이용한 전자회로기판의 제조방법
JP4588185B2 (ja) アルカンスルホン酸塩電解質から銅の電気めっき
JP2004250791A (ja) 電気めっき組成物
CN113430594A (zh) 一种含氮小分子的应用及电镀液
US9169576B2 (en) Electrolytic copper plating solution and method of electrolytic copper plating
JP4894990B2 (ja) 酸性電気銅めっき液
US9175413B2 (en) Copper electroplating solution and method of copper electroplating
KR20070025643A (ko) 인쇄회로기판 스루홀 도금용 산성 동전해 용액의 조성물

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110630

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110712

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20111206