JP2009510802A - 出力レベル電圧調整 - Google Patents
出力レベル電圧調整 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009510802A JP2009510802A JP2008515744A JP2008515744A JP2009510802A JP 2009510802 A JP2009510802 A JP 2009510802A JP 2008515744 A JP2008515744 A JP 2008515744A JP 2008515744 A JP2008515744 A JP 2008515744A JP 2009510802 A JP2009510802 A JP 2009510802A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- output
- level
- polarity
- generating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is dc
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/24—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31703—Comparison aspects, e.g. signature analysis, comparators
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31712—Input or output aspects
- G01R31/31713—Input or output interfaces for test, e.g. test pins, buffers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)
- Control Of Voltage And Current In General (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Direct Current Feeding And Distribution (AREA)
Abstract
Description
コンピュータシステムは、同時に使用されなければならない多数の電子構成要素で構成される。さまざまな構成要素のコストを最小限に抑えるため、異なる電圧で動作する異なる構成要素が製作される。出力レベルが入力レベルに対応しない場合、デバイスが損傷し、同時使用が妨害されるおそれがある。
出力電圧レベルを目標電圧レベルに向けて適合させる回路および方法は、ピンまたはパッドからの出力電圧を出力線に印加し、基準電圧を基準電圧線に印加して、ハイまたはローの論理出力を有する比較器によって比較するステップを備える。状態マシンは比較器からの信号を受信する。状態マシンは、比較器からの信号に応答して、かつ登録された先の論理出力に応答してトリムバス信号を発生する。2つの極性が一致する場合、さらなる訂正用電圧フィードバックが要求される。2つの極性が一致しない場合、比較器の出力状態を反転させることによって反対の符号の訂正用電圧フィードバックが表示される。クロック制御されたトリムバス信号はセンス回路および電圧レギュレータへ送られ、これは、スイッチ抵抗の値を変化させて基準電圧に向けて出力電圧に1段階の段をつける。したがって出力電圧が基準電圧を下回っていた場合、センス回路および電圧レギュレータの抵抗値(抵抗)は、基準電圧に向けて出力電圧を1段階増加させるよう変化する。出力電圧と基準電圧との比較は次のクロック周期で繰返され、比較器、状態マシン、およびセンス/抵抗によって行われるその後のステップも同様に繰返される。連続した電圧ステップは、出力電圧が極性において基準電圧閾値を横切ってから終了する。この時点で比較器信号は状態を反転させ、トリムバス値をレジスタに保存するよう状態マシンへ信号を送る。
図1を参照して、出力パッド12は、出力線14に印加される出力電圧を生成する。テ
スタ16などの基準供給は、安定した固定の基準電圧を線18上に生成する。これらは比較器20によって比較され、比較器20は、基準閾値電圧を上回るまたは下回る誤差を検知することによって出力を生成するアナログ誤差増幅器である。その結果として生じる比較器出力は、誤差の極性に依存して論理ハイまたはローである。
較される。極性が同一の場合、前の論理信号値が1単位分増加する。極性が反対の場合、前の論理信号値が1単位分減少する。
Claims (7)
- 回路の出力ピン用電圧調整回路であって、
チップの出力パッドからの第1の電圧を第2の基準電圧と比較し、前記第1の電圧が前記第2の電圧を超える場合は第1の極性を有し、前記第2の電圧が前記第1の電圧を超える場合は第2の極性を有する出力比較信号を発生するための手段と、
前記比較するための手段からの前記出力比較信号を受信し、訂正信号レベルを発生するための論理手段と、
前記論理手段からの前記訂正信号レベルを受信し、訂正された電圧レベルを前記出力パッドへ出力する電圧発生手段と、
連続した訂正レベルを連続クロック周期で繰返し発生するための前記論理手段をクロック制御するためのタイミング手段とを備える、回路。 - 前記論理手段は先のクロック周期からの訂正レベルを保持するためのレジスタを備える、請求項1に記載の回路。
- 前記比較するための手段、前記論理手段および前記電圧発生手段はループ状に配置される、請求項1に記載の回路。
- 回路の出力ピンにおける電圧を調整するための方法であって、
チップの前記出力ピンにおける第1の電圧を検知するステップと、
チップの前記出力ピンから検知された前記第1の電圧を基準の第2の電圧と比較するステップと、
前記第1の電圧が前記第2の電圧を超える場合は第1の極性を有し、前記第2の電圧が前記第1の電圧を超える場合は第2の極性を有する比較信号を繰返し発生するステップと、
先の比較信号の状態を参照して前記比較信号の状態を論理的に解釈し、それに応答して訂正レベルを発生するステップと、
前記訂正レベルに応答して、訂正された出力電圧を前記出力ピンへ発生するステップとを備える、方法。 - 前記比較信号の発生を、等しい継続時間のクロックパルスでクロック制御するステップをさらに備える、請求項4に記載の方法。
- 前記訂正レベルをスイッチ抵抗のネットワークに印加するステップをさらに備える、請求項4に記載の方法。
- 前記スイッチ抵抗のネットワークを使用して前記訂正された出力電圧を発生するステップをさらに備える、請求項6に記載の方法。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR05/05712 | 2005-06-06 | ||
FR0505712A FR2886746B1 (fr) | 2005-06-06 | 2005-06-06 | Regulation du niveau de tension de sortie |
US11/221,008 | 2005-09-07 | ||
US11/221,008 US7907002B2 (en) | 2005-06-06 | 2005-09-07 | Output level voltage regulation |
PCT/US2006/020428 WO2006132821A2 (en) | 2005-06-06 | 2006-05-25 | Output level voltage regulation |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009510802A true JP2009510802A (ja) | 2009-03-12 |
JP2009510802A5 JP2009510802A5 (ja) | 2009-07-02 |
JP5058158B2 JP5058158B2 (ja) | 2012-10-24 |
Family
ID=36373078
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008515744A Expired - Fee Related JP5058158B2 (ja) | 2005-06-06 | 2006-05-25 | 出力レベル電圧調整 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7907002B2 (ja) |
JP (1) | JP5058158B2 (ja) |
CN (1) | CN101194216B (ja) |
FR (1) | FR2886746B1 (ja) |
TW (1) | TW200705810A (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100792430B1 (ko) * | 2006-06-30 | 2008-01-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자의 내부전압 발생장치 |
JP2011053957A (ja) * | 2009-09-02 | 2011-03-17 | Toshiba Corp | 参照電流生成回路 |
US8971387B2 (en) * | 2009-10-09 | 2015-03-03 | Intersil Americas LLC | System and method for providing a full fail-safe capability in signal transmission networks |
CN102496381B (zh) * | 2011-11-18 | 2015-04-01 | 深圳芯邦科技股份有限公司 | 调整上电电压的方法及装置、上电复位单元、芯片 |
TWI503644B (zh) | 2012-10-05 | 2015-10-11 | Faraday Tech Corp | 電壓調節器校正電路 |
US9461539B2 (en) * | 2013-03-15 | 2016-10-04 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Self-calibrated voltage regulator |
JP6122720B2 (ja) * | 2013-07-17 | 2017-04-26 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 電源電圧遷移照合回路、電源電圧遷移照合方法、及び半導体集積回路 |
US9704581B2 (en) * | 2014-12-27 | 2017-07-11 | Intel Corporation | Voltage ramping detection |
US9665298B2 (en) * | 2015-04-21 | 2017-05-30 | Sandisk Technologies Llc | Method and system to reduce power usage on an I/O interface |
TWI580984B (zh) * | 2015-10-27 | 2017-05-01 | 力晶科技股份有限公司 | 電壓校正電路及電壓校正系統 |
KR102324194B1 (ko) * | 2017-05-22 | 2021-11-10 | 삼성전자주식회사 | 안티퓨즈들을 포함하는 전압 트리밍 회로, 그것의 동작 방법, 그리고 그 전압 트리밍 회로를 포함하는 집적 회로 |
US10559558B2 (en) | 2017-09-29 | 2020-02-11 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Pin modification for standard cells |
US20200136505A1 (en) * | 2018-10-26 | 2020-04-30 | Nxp B.V. | Switched resistor dc-dc converter |
CN114815943B (zh) * | 2022-03-31 | 2023-03-24 | 深圳市迪浦电子有限公司 | 校正修调电路及集成电路 |
US11908539B2 (en) * | 2022-05-31 | 2024-02-20 | Nanya Technology Corporation | Voltage regulator for providing word line voltage |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1041803A (ja) * | 1996-07-19 | 1998-02-13 | Nec Corp | 半導体集積回路 |
JP2002026712A (ja) * | 2000-07-13 | 2002-01-25 | Nec Corp | スルーレート調整回路 |
JP2003069412A (ja) * | 2001-08-10 | 2003-03-07 | Samsung Electronics Co Ltd | インピーダンス制御回路 |
US20040150928A1 (en) * | 2003-02-03 | 2004-08-05 | Goodfellow John Ryan | Digitally controlled voltage regulator |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4638188A (en) * | 1984-08-27 | 1987-01-20 | Cray Research, Inc. | Phase modulated pulse logic for gallium arsenide |
US5652902A (en) * | 1993-06-08 | 1997-07-29 | Theseus Research, Inc. | Asynchronous register for null convention logic systems |
JPH0816260A (ja) * | 1994-07-05 | 1996-01-19 | Hitachi Ltd | 電源電圧調整方法および装置 |
US6046896A (en) * | 1995-08-11 | 2000-04-04 | Fijitsu Limited | DC-to-DC converter capable of preventing overvoltage |
JP3363002B2 (ja) * | 1995-09-29 | 2003-01-07 | 株式会社日立エンジニアリングサービス | 機器の試験方法および試験装置 |
US5675231A (en) * | 1996-05-15 | 1997-10-07 | General Electric Company | Systems and methods for protecting a single phase motor from circulating currents |
JP3442942B2 (ja) * | 1996-10-08 | 2003-09-02 | シャープ株式会社 | 直流安定化電源回路の出力ドライブ回路 |
US5815355A (en) * | 1997-10-06 | 1998-09-29 | Atmel Corporation | Modulation compensated clamp circuit |
US5945920A (en) * | 1997-12-10 | 1999-08-31 | Atmel Corporation | Minimum voltage radio frequency indentification |
US6515919B1 (en) * | 1998-08-10 | 2003-02-04 | Applied Wireless Identifications Group, Inc. | Radio frequency powered voltage pump for programming EEPROM |
US6157206A (en) * | 1998-12-31 | 2000-12-05 | Intel Corporation | On-chip termination |
US6512411B2 (en) * | 1999-08-05 | 2003-01-28 | Maxim Integrated Products, Inc. | Charge pump mode transition control |
JP3765703B2 (ja) * | 2000-02-01 | 2006-04-12 | 本田技研工業株式会社 | 電源装置 |
US6229443B1 (en) * | 2000-06-23 | 2001-05-08 | Single Chip Systems | Apparatus and method for detuning of RFID tag to regulate voltage |
US6525514B1 (en) * | 2000-08-08 | 2003-02-25 | Power Integrations, Inc. | Method and apparatus for reducing audio noise in a switching regulator |
US6452766B1 (en) * | 2000-10-30 | 2002-09-17 | National Semiconductor Corporation | Over-current protection circuit |
JP4212309B2 (ja) * | 2002-07-01 | 2009-01-21 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体集積回路 |
TW200412725A (en) * | 2002-10-11 | 2004-07-16 | Fairchild Semiconductor | Current integrating sense amplifier for memory modules in RFID |
US6861895B1 (en) * | 2003-06-17 | 2005-03-01 | Xilinx Inc | High voltage regulation circuit to minimize voltage overshoot |
KR20080017444A (ko) | 2005-06-06 | 2008-02-26 | 아트멜 코포레이숀 | 출력 레벨 전압 조정 |
-
2005
- 2005-06-06 FR FR0505712A patent/FR2886746B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 2005-09-07 US US11/221,008 patent/US7907002B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-05-25 CN CN2006800200904A patent/CN101194216B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2006-05-25 JP JP2008515744A patent/JP5058158B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2006-06-05 TW TW095119820A patent/TW200705810A/zh unknown
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1041803A (ja) * | 1996-07-19 | 1998-02-13 | Nec Corp | 半導体集積回路 |
JP2002026712A (ja) * | 2000-07-13 | 2002-01-25 | Nec Corp | スルーレート調整回路 |
JP2003069412A (ja) * | 2001-08-10 | 2003-03-07 | Samsung Electronics Co Ltd | インピーダンス制御回路 |
US20040150928A1 (en) * | 2003-02-03 | 2004-08-05 | Goodfellow John Ryan | Digitally controlled voltage regulator |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2886746B1 (fr) | 2007-08-10 |
CN101194216B (zh) | 2012-12-19 |
TW200705810A (en) | 2007-02-01 |
JP5058158B2 (ja) | 2012-10-24 |
US7907002B2 (en) | 2011-03-15 |
CN101194216A (zh) | 2008-06-04 |
FR2886746A1 (fr) | 2006-12-08 |
US20060273847A1 (en) | 2006-12-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5058158B2 (ja) | 出力レベル電圧調整 | |
US4710704A (en) | IC test equipment | |
KR100623614B1 (ko) | 반도체 기억 소자에서의 내부전원 발생기 | |
US20050184896A1 (en) | Circuit, apparatus and method for improved current distribution of output drivers enabling improved calibration efficiency and accuracy | |
US20060238399A1 (en) | Successive approximation type A/D converter | |
US7750703B2 (en) | Duty cycle correcting circuit | |
JP5376559B2 (ja) | 電源回路及び電源制御方法 | |
JP4008459B2 (ja) | 制御信号供給回路及び信号出力回路 | |
TWI450274B (zh) | 記憶體與記憶體寫入方法 | |
US7659704B2 (en) | Regulator circuit | |
KR20080017444A (ko) | 출력 레벨 전압 조정 | |
KR100909636B1 (ko) | 듀얼 파워 업 신호 발생 회로 | |
KR100558488B1 (ko) | 데이터 구동회로 및 이를 이용한 반도체 장치 | |
KR101803464B1 (ko) | 다수 판정 회로 | |
EP1286469A1 (en) | An output driver for integrated circuits and a method for controlling the output impedance of an integrated circuit | |
US7737719B2 (en) | Apparatus for adjusting resistance value of a driver in a semiconductor integrated circuit | |
KR20150019000A (ko) | 기준 전류 생성 회로 및 이의 구동 방법 | |
US8179729B2 (en) | Memory circuit and voltage detection circuit including the same | |
KR102445814B1 (ko) | 반도체 장치 | |
TW201807713A (zh) | 在記憶體裝置之zq校準中決定電阻校準方向之方法 | |
JP4921329B2 (ja) | A/d変換回路 | |
JP6232726B2 (ja) | 半導体集積回路及び半導体集積回路の電源制御方法 | |
US7009420B2 (en) | Input circuit for receiving a signal at an input on an integrated circuit | |
KR101803465B1 (ko) | 다수 판정 회로 | |
CN110993005B (zh) | 电路结构、芯片、训练方法及训练装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090512 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090512 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120227 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120313 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20120612 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120618 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20120619 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120717 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120731 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150810 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |