JP3363002B2 - 機器の試験方法および試験装置 - Google Patents

機器の試験方法および試験装置

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JP3363002B2 JP25267195A JP25267195A JP3363002B2 JP 3363002 B2 JP3363002 B2 JP 3363002B2 JP 25267195 A JP25267195 A JP 25267195A JP 25267195 A JP25267195 A JP 25267195A JP 3363002 B2 JP3363002 B2 JP 3363002B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電力系統の制御シ
ステムを構成する機器、例えば自動電圧調整器(以下、
AVRと呼ぶ)、PT・CT、保護継電器等の試験装置
に係り、特に、現地での立上げ調整や保守点検に好適な
試験方法と装置に関する。
【0002】
【従来の技術】AVRなど、電力制御システムを構成す
る機器の調整運転や定検作業時の現地試験は、静特性試
験及び動特性試験用の試験器を手動操作し、デジタルボ
ルトメータなどから計測値を読み取っていた。近頃は、
専用のデータ処理装置によってデータ収録作業の合理化
が進んでいる。しかし、静特性試験と動特性試験を含め
て自動化した試験方式は実現されていない。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の現地におけるA
VRなどの静特性試験では、試験信号を入力してから測
定値が整定する時間が、タイムラグの違いから対象試験
回路毎に異なるため、測定値の整定を、作業員が確認し
た上で測定値を読み取らなければならなかった。
【0004】一方、動特性試験では、静特性試験を通じ
て対象機器に設定されたループゲインやダンピング値な
どの試験条件に基づいて行われるが、試験中に試験条件
を変更する動調整の行われるケースがしばしばある。こ
の場合、動特性試験後に再び静特性試験を行って動調整
された最終の試験条件を求め、静特性試験による試験条
件を修正して保守管理のデータを確保していた。
【0005】このように、従来の現地試験では手作業が
多いだけでなく、重複作業が発生するため作業効率が悪
く、大きなマンパワーを必要としていた。
【0006】本発明の課題は、電力用制御システムを構
成する機器の現地試験を自動化し、作業効率の向上と省
力化をはかる試験方法と装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記した電力系統制御シ
ステムの構成要素で、PTやCTを介して系統と接続さ
れる機器の試験方法において、対象機器の試験項目に応
じて、指示値を示してPT二次信号および/またはCT
二次信号を模擬した試験信号を発生させ、前記試験信号
を入力とする前記対象機器の出力信号を前記試験項目に
対応した出力端子からサンプリングし、同一値とみなさ
れるデータが所定数連続するとき測定値として取得し、
この測定値を前記信号値に対応して予め定めた基準値と
比較して合否判定し、合格の場合には静特性試験データ
として確保し、不合格の場合は前記対象機器の前記試験
項目に関する試験条件の再設定を待って、上記一連の処
理を繰り返すことにより達成される。
【0008】前記試験項目に関して、前記指示値を変更
して発生される所定回数分の試験信号に対する前記静特
性試験データが確保されたとき、このデータを基にして
前記試験条件を算出することを特徴とする。また、前記
対象機器に対する前記試験信号の入力は、前記指示値と
発生された前記試験信号を比較し、正常と判定されたと
きに行われることを特徴とする。
【0009】本発明の課題は、また、PT二次信号およ
び/またはCT二次信号を含む所定信号を入力している
対象機器から試験項目に対応した出力信号を所定周期で
サンプリングし、そのサンプリング中に動調整の要求が
有れば前記対象機器に対する所定の試験条件の調整を許
容し、所定サンプリング時間まで時系列の測定値を取得
して動特性試験データを確保し、その後サンプリング中
の前記動調整の要求の有無をチエックして、有る場合に
前記動特性試験データを基に前記試験条件を算出するこ
とにより達成される。
【0010】上記の試験条件は、前記対象機器の静特性
試験による設定値を予め記憶し、前記動特性試験データ
を基に算出した結果で該当する記憶値を更新して管理す
ることを特徴とする。
【0011】上記の試験方法を適用してなる機器の試験
装置の一形態は、計算機装置からの指示で、静特性試験
の試験信号を発生して対象機器に入力する試験信号発生
装置と、対象機器の出力端子からの出力信号を絶縁変換
して前記計算機装置に入力する信号変換装置と、静特性
試験時にその試験項目を選択し、前記試験信号発生装置
に前記静特性試験項目に応じた試験信号の発生の指示を
与え、前記対象機器の出力端子から前記試験項目に対応
した出力信号をサンプリングし、この測定値を前記信号
値に対応して予め定めた基準値と比較して合否判定を行
い、合格の場合には静特性試験データとして確保する静
特性試験処理手段と、動特性試験時にその試験項目を選
択し、PT二次信号および/またはCT二次信号を含む
所定信号を入力している前記対象機器の出力端子から、
前記動試験項目に対応した出力信号を所定周期でサンプ
リングし、所定のサンプリング時間まで時系列の測定値
を取得して動特性試験データを確保する動特性試験処理
手段と、前記動特性試験データを所定描画領域の画面上
に時間推移でグラフ表示する際に、前記サンプリング周
期と表示時間から定まるサンプル数と前記所定描画領域
の時間軸上のドット数との関係から表示データ密度を変
更する出力処理手段を有する前記計算機装置と、を備え
ることを特徴とする。
【0012】上記した本発明の構成によれば、試験信号
の発生の指示、整定の確認、試験条件の算出あるいは動
調整後の試験条件の算出と更新を含む、特性試験の全過
程を重複を排除して自動化できるので、現地試験の人手
や作業時間を大幅に低減できる。しかも、試験信号の良
否判定を行って、異常時に実機への印加をキャンセルで
きるので機器と試験の安全を確保できる。
【0013】さらに、特性試験の出力処理では、特性試
験のサンプリング周期が変わっても、同一の描画範囲に
サンプル数に応じたグラフ表示が可能になる。すなわ
ち、表示時間を任意に設定して、サンプリング時間の全
体的表示や、部分的な表示が同一描画範囲に行われる。
この場合の部分表示は、全体的表示の通常の部分拡大と
異なり、表示時間の短縮と共に表示される時間当たりの
サンプル数が増加するので、細部の詳細な識別が容易に
なる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を、A
VRの試験装置として実施した適用例によって説明す
る。
【0015】図2は、AVRを含む電力系統安定化シス
テムの周知の構成を示す。同期発電機10の系統投入に
際し、発電機10が定格回転数になると界磁遮断器30
を投入し、初励磁用バッテリーで界磁回路20を励磁
し、発電機電圧が定格の80%に到達するとAVR1に
よる制御に切り替わる。AVR1はPTによる発電機電
圧信号や、CTによる発電機電流信号等を取り込み、各
制御回路を通じて発電機電圧を一定にするように励磁電
流を制御する。例えば、自動系電圧検出回路14は、特
性試験で調整された電圧設定器90Rの設定値に、発電
機電圧が安定するように自動制御する。
【0016】図1は、本発明の一実施形態によるAVR
の試験装置の構成を示す。図示のAVR1は現地の実機
で、立ち上げや定検作業時に特性試験が行なわれる。A
VR1は複数の回路からなるAVR制御回路部1’と、
静特性試験の入力信号を取り込むテストターミナル9、
各制御回路からの試験信号を出力するCK1、CK
2、...などの出力端子8を備えている。なお、図示
を省略しているが、動特性試験時に系統のPTやCT等
から入力を取り込む入力端子も備えている。
【0017】AVRの特性試験には、表1に示す種々の
試験項目からなる静特性試験及び動特性試験がある。
【0018】
【表1】
【0019】静特性試験はAVRを系統から切り離し、
PT二次信号やCT二次信号を模擬した試験信号によ
り、主として制御回路毎の試験を行い、試験条件を確定
する。一方、動特性試験はAVRを系統に接続し、発電
機の起動/停止などを含む種々の運転条件に応じた試験
を行う。
【0020】計算機装置(CPU)2は、試験項目に応
じた試験信号の発生を試験信号発生装置3に指示すると
ともに、AVR1の出力端子8から試験出力信号を信号
変換器4を介して取り込み、試験結果の判定や表示など
を行う。このため、出力信号のサンプリングや表示装置
5からのコマンドを取り込む入力処理手段21、サンプ
リング信号の合否判定等を行う特性試験処理手段22、
試験条件や試験結果などを記憶する試験データ記憶手段
23、信号発生装置3への指示と、表示装置5やプリン
タ6への出力処理を行う出力処理手段24を有してい
る。
【0021】試験信号発生装置3は、CPU2からの試
験項目に応じた指示を取り込む入力処理端子31、PT
二次電圧出力部32、CT二次電流出力部33などを備
え、試験信号を発生してAVR1のテストターミナル9
に印加する。
【0022】上記の構成によって、静特性試験を行う場
合は、テストターミナル9からPT二次信号やCT二次
信号などをAVR制御回路部1’に入力し、図示してい
ない調整つまみによって回路毎に設定された試験条件
(ループゲインやバイアス等)に基づく、試験対象回路
の出力信号を出力端子8に出力する。もし、出力信号の
判定結果が不合格となれば、AVR制御回路1’の試験
条件の設定値を変更し、合格するまで試験を繰り返す。
【0023】動特性試験を行う場合は、図2のシステム
から発電機電圧や電流などを直接取り込んで、試験対象
回路の出力信号を対応する出力端子に出力させ、試験項
目に応じてサンプリングする。動特性試験においてはシ
ステムからの入力信号の監視が必要であり、入力信号を
そのまま出力する出力端子8もある。また、動特性の試
験中に、静特性で設定した試験条件が必要に応じて動調
整される。
【0024】次に、本実施形態の特徴部の一つである特
性試験処理手段の構成と動作を詳細に説明する。図1に
示すように、特性試験処理手段22は静特性試験処理手
段221、動特性試験処理手段222及びそれらに共通
の試験条件演算手段223を有している。これらの処理
手段は、以下のソフト処理によって実現される。
【0025】図3は、計算機装置による静特性試験の処
理手順を示すフローチャートである。静特性試験処理手
段221の制御による静特性試験は、表示装置5のメニ
ュー画面上で静特性が選択されて開始する。続いて、表
1の静特性試験項目を示したメニュー画面上で試験項目
が選択される(s101)。
【0026】以下では、試験項目No1の自動系電圧検
出回路特性試験を例に説明する。この試験では、自動系
電圧検出回路14の試験条件(ループゲイン、バイア
ス、ダンピング等)を調整し、試験装置3からのPT二
次電圧の入力に対する電圧設定器90Rの出力特性をチ
エックする。試験条件は、立ち上げ時には設計値が設定
され、定検時などには前回の設定値のままである。設計
値または既設定値による試験条件は、試験データ記憶手
段23の試験条件領域231に格納されていて、画面や
リストによる参照が可能である。
【0027】試験条件の設定の確認を示すスタートキー
信号(画面上の操作コマンドキー)を受信すると(s1
02)、試験信号発生の指示、この場合はPT二次の所
定電圧値の発生を指示する(s103)。試験信号発生
装置3から発生したPT二次電圧値は、A/Dコンバー
タ42を介して一旦、計算機装置2に取り込み、先の指
示値と比較して試験信号の良否判定を行う(s10
4)。判定の結果が良であれば、試験信号の出力を指示
し(s105)、AVR1のテストターミナル9に試験
信号が印加される。もし、判定の結果が否であれば一
旦、処理を終了し、異常信号の出力を回避する。
【0028】次に、試験項目、すなわち対象試験回路に
対応する出力端子の出力信号を、所定の周期でサンプリ
ングする(s106)。出力信号が一定値に整定するま
での時間は回路によって異なる。例えば、自動系電圧検
出回路14はオペアンプであり、演算のための積分器等
の伝達関数やタイムラグによって整定時間がきまる。そ
こで、サンプリング値を時系列にバッファで一時記憶
し、所定回数(たとえば5回)連続して同一値であるか
判定し(s107)、所定回数の同一値が得られるまで
サンプリングを繰り返す。この場合の同一値に、許容可
能な偏差範囲を含むことは言うまでもない。
【0029】なお、試験信号の入力から出力の整定まで
に、一般には1〜2秒かかるので、この時間後にサンプ
リングを開始するようにして、s107の判定処理を早
めることもできる。
【0030】次に、整定した測定値と、試験データ記憶
手段23の基準値領域232に記憶している基準値を比
較し、所定の判定基準(たとえば、誤差±1%以内)に
従って測定値の合否判定を行う(s108)。合格の場
合は、測定値領域233に記憶する(s109)。この
測定値は静特性試験データの一部をなす。不合格の場合
は、s102に戻り、AVR1に設定されている試験条
件が再設定されたのを確認して、上記一連の処理を繰り
返す。
【0031】次に、当該試験項目の試験が全て終了した
か判定し(s110)、終了していなければs103に
戻って、次の試験信号の指示を行う。自動系電圧検出回
路特性試験の場合、PT二次電圧は40V〜140Vま
で20Vステップで印加され、各試験電圧に対するAV
Rの90Rの出力電圧を、出力端子CK1を通して測定
する。
【0032】表2に、自動系電圧検出回路特性試験にお
ける試験信号(PT二次信号)とAVR出力信号(CK
1出力)の基準値及び、合格した測定値の一例を示す。
【0033】
【表2】
【0034】表2の基準値及び測定値は、計算機装置2
内部の信号レベルに合わせた値であり、AVRの出力値
との間には信号変換器4によるレンジ変換が行われてい
る。
【0035】s110で当該項目の試験終了が確認され
ると、最終的に設定された試験条件の算出を行う(s1
11)。試験条件の算出は、各試験条件に用意されてい
る演算手段(演算プログラム)をもつ試験条件算出手段
223を起動して行う。
【0036】自動系電圧検出回路特性試験の場合、試験
条件の一つである90R特性のゲインG90は、表2の測
定値から数1のように計算される。
【0037】
【数1】G90=(8.2−2.5)/(140−40)
=0.058 算出された試験条件は、試験条件設定値領域231の該
当値を更新、記憶する(s112)。なお、当該試験項
目の試験中に、s108の判定に不合格のなかった場合
は、試験条件の算出と更新を省略できる。最後に、試験
項目毎に測定値や試験条件を、出力処理手段24の処理
を介して、所定形式に表示/印字する(s113)。
【0038】上記のs104で、試験信号が異常と判定
された場合、計算機装置2からのキャンセル信号によっ
て、試験信号発生装置3のPT二次電圧、CT二次電流
の出力を瞬時に0まで戻し、出力をロックするようにし
てもよい。この場合、静特性試験は中断され、試験信号
の異常表示による点検を可能にする。
【0039】本実施形態によれば、試験信号の発生から
測定値のサンプリングと出力及び試験条件の算出までの
全てを自動化でき、立ちあげや定検時の現地試験の人手
や作業時間を大幅に低減できる。また、試験信号の良否
を自動判定するので、実機に異常信号を印加して事故を
引き起こす心配もない。さらに、AVRからの出力信号
の整定を自動的に判定するので、測定誤差を低減して試
験精度を向上できる。
【0040】図4は、計算機装置による動特性試験の処
理手順を示すフローチャートである。動特性試験処理手
段222の制御による動特性試験は、表示装置5のメニ
ュー画面上で動特性が選択されて開始する。続いて、表
1の動特性試験項目を示したメニュー画面上で試験項目
が選択される(s201)。
【0041】以下では、試験項目No1の自動系電圧確
立試験を例に説明する。この試験では、(41)界磁遮
断器30を投入して同期発電機10の界磁回路20を励
磁し、励磁電流を増やしながら発電機電圧を定格まで立
ちあげる。
【0042】試験条件の設定、確認を示すスタートキー
信号を受信すると(s202)、試験対象回路の出力信
号を所定の周期でサンプリングし、バッファに時系列に
一時記憶する(s203)。一時記憶するデータ量は、
後述する表示時間によって異なる。サンプリング周期
は、概ね0〜50msの範囲で、試験項目によって相違
する。
【0043】サンプリング中は動調整の割込み要求を監
視し(s204)、割込みがなければサンプリングデー
タを出力処理手段24の処理を介して、表示装置5また
はプリンタ6にオンライン表示する(s205)。試験
項目に予め定められているサンプリング時間(又は回
数)に達したか判定し(s206)、到達するまでサン
プリングを繰り返す。
【0044】自動系電圧確立試験の場合、サンプリング
信号として発電機電圧・電流、界磁電圧・電流、界磁遮
断器投入信号、APPS入力等を同時に取り込む。サン
プリング周期は50ms、サンプリング時間は3〜5分
である。
【0045】動特性試験中に、静特性試験で設定された
試験条件の動調整が必要になり、例えば、発電機電圧の
立上り時間や安定迄の時間を再調整する場合がある。こ
の場合、動調整キー信号による割込みが行われてs20
2に戻り、動調整の設定確認後にサンプリングが再開さ
れる。
【0046】所定のサンプリング時間が終了すると、各
出力信号の測定値は時系列に測定値領域233に格納さ
れる(s207)。この時系列の測定値は動特性試験デ
ータの一部をなす。
【0047】次に、試験中の動調整の要求の有無をチエ
ックする(s208)。動調整の要求が有った場合は、
試験条件算出手段223を起動して、当該試験項目に関
する試験条件を時系列の測定値から算出する(s20
9)。算出した試験条件は、試験条件領域231の該当
値を更新、記憶し(s210)、表示/印字される(s
211)。
【0048】上記の処理フローでは記述を省略している
が、s208で終了が確認された後、通常は所定信号の
最大値や安定値あるいはタイミング等、必要な他の動特
性データを算出して出力する。
【0049】本実施形態によれば、動特性試験中に動調
性により可変設定された試験条件は、動特性試験の測定
データを基に算出し、静特性試験で設定した条件を更新
するようにしているので、従来のように動特性試験の後
に再び静特性試験を行うことなく、試験条件を適正に管
理できる。
【0050】以上のようにして、動特性試験でサンプリ
ングされた測定値は、出力処理手段24で所定の表示形
式に編集処理され、表示装置5の水平時間軸による横ス
クロ−ルでオンライン表示される。この場合、試験項目
によってサンプリング周期が異なるため、サンプル数に
応じた表示処理が必要になる。
【0051】図5は、サンプル数に応じた画面上の表示
処理を示す説明図である。(a)に示すように、画面上
の描画範囲を、例えば水平400ドット×垂直200ド
ットに設定する。この描画範囲は、試験項目の表示画面
毎に設定可能であるが、小型の表示装置による現地試験
などでは、描画範囲が固定されることが多い。
【0052】次に、(b)に示すように、1画面上に表
示するサンプル数Nを算出する。サンプル数Nは、サン
プリング周期と1画面の表示時間から、数2のように算
出される(s301)。
【0053】
【数2】サンプル数N=(1/サンプリング周期)×1
画面の表示時間 1画面の表示時間は、サンプリング時間の全体表示では
それより若干長めに、部分表示では所望の時間が設定さ
れる。
【0054】次に、サンプル数Nと描画範囲の水平(時
間)ドット数Hを比較する(s302)。サンプル数の
方が多い場合は、〔サンプル数/水平ドット数〕のサン
プル毎に、全ての水平ドット数分だけ描画する(s30
3)。サンプル数の方が少ない場合は、〔水平ドット数
/サンプル数〕のドット毎に、全てのサンプル数を描画
する。
【0055】自動系電圧確立試験の例では、サンプリン
グ周期50(ms)、サンプリング時間3分で、全体的
表示におけるサンプル数は3600となり、サンプリン
グデータの9個おきに間引き表示される。また、表示時
間を45(s)とすると、全サンプル数が表示される。
さらに表示時間を短縮すると、表示されるサンプル数は
同じで、時間軸を引き延ばした表示となる。
【0056】本実施形態によって、特性試験のサンプリ
ング周期が変わっても、同一の描画範囲にサンプル数に
応じた表示処理が可能になる。この場合、表示時間を任
意に設定して、サンプリング時間の全体的表示や、部分
的な表示が同一描画範囲に表示できる。特に、部分的な
表示の場合は、全体的表示の部分拡大と異なり、表示時
間の短縮と共に表示される時間当たりのサンプル数が増
加するので、細部の詳細な識別が容易になる。
【0057】
【実施例】以下、AVR試験装置の具体的な実施例を説
明する。
【0058】図6は、AVR試験装置の具体的な構成図
である。計算機装置2にノート型パソコンを使用し、試
験信号発生装置3とRS232Cで接続している。パソ
コン2は、1MHz12ビットのA/Dコンバータを内
蔵し、絶縁信号変換器41を介して、AVR1の出力計
測端子8と接続している。また、3.5インチのフロッ
ピ−ディスクを補助メモリとして、デ−タの保存とロ−
ドを可能にしている。
【0059】さらに、400dot×200dotの描
画領域をもつ表示画面と、小型軽量のプリンタを付属し
ている。ちなみに、ノート型パソコンは5.5kg、絶
縁信号変換器41は7.5kg、可搬型の試験信号発生
装置3は22kgで、全体として1人の作業員による搬
入と配線が可能である。
【0060】図7は、AVRの自動系電圧確立試験(動
特性)の処理手順を示すフローである。図示のように、
試験中に測定値のオンライン表示を基に、電圧立上り時
間と立上りの安定性を動調整している。これら試験条件
の調整は実機上で、前者はループゲイン、後者はダンピ
ングの調整つまみによって行われる。動調整されたゲイ
ンやダンピングは、動調整試験の測定値から算出して、
静特性試験による設定値を更新し、最終的に静特性デー
タの一部として出力される。
【0061】図8は、AVRの自動系電圧確立試験の表
示画面を示したものである。画面の描画領域には発電機
電圧1、界磁電圧2、界磁電流3、界磁遮断器操作信号
4などが、表示コマンドをクリックして8チャネルまで
表示できる。図示例は、界磁遮断器投入後の電圧の上昇
と安定を観察する、部分的な表示である。また、グラフ
表示の他に、電圧・電流値の最大値や安定値、遮断器の
投入から電圧安定までの時間等も表示されている。
【0062】画面上には、表示コマンドの他にも種々の
操作キーを有している。例えば、動調整で試験条件を設
定後、画面のSTARTキーをクリックするとサンプリ
ングが開始される。動調整キーをクリックすると、動調
整の割込み要求が発生される。全体表示、拡大表示、波
形レンジ変更キーの選択によって、所望のグラフ表示が
選択できる。図示を省略したが、試験信号の異常時に出
力をキャンセルするキーも用意されている。
【0063】なお、上記の表示機能は試験中の表示のみ
ならず、フロッピ−ディスクの保存デ−タによって、試
験後の再表示も可能になることは言うまでもない。
【0064】
【発明の効果】本発明の構成によれば、電力系統のPT
・CT信号を入力とする機器の現地試験を精度よく自動
化できる効果がある。
【0065】また、動特性試験後の静特性試験のやり直
しをすることなく試験条件を取得できるので、作業効率
を向上するとともに保守管理に資する効果がある。
【0066】さらに、試験データのグラフ表示を、描画
画面の制約の中でサンプリング周期に適応して自動表示
するとともに、データ密度の高い表示を可能にしている
ので、試験結果の識別や検討を用意にする効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態を示すAVRの試験装置の
構成図。
【図2】AVRを含む電力系統安定化システムの構成
図。
【図3】本発明の実施の形態を示す静特性試験の処理フ
ロー図。
【図4】本発明の実施の形態を示す動特性試験の処理フ
ロー図。
【図5】サンプル数に応じたグラフ表示の処理方法を説
明する説明図。
【図6】一実施例によるAVR試験装置の構成図。
【図7】一実施例による自動系電圧確立試験の手順を示
すフロー図。
【図8】自動系電圧確立試験による測定値のグラフと操
作キーを示す画面例図。
【符号の説明】
1…AVR、2…計算機装置(パソコン)、3…試験信
号発生装置、4…信号変換装置、5…表示装置、6…プ
リンタ、7…RS232C、8…出力端子、9…テスト
ターミナル、21…入力処理手段、22…特性試験処理
手段、221…静特性試験処理手段、222…動特性試
験処理手段、223…試験条件算出手段、23…試験デ
ータ記憶手段、231…試験条件領域、232…基準値
領域、233…測定値領域、24…出力処理手段、41
…絶縁信号変換器、42…A/Dコンバータ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 31/00 H02P 9/30

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電力系統制御システムの構成要素で、P
    TやCTを介して系統と接続されている機器の試験方法
    において、 予め対象機器の試験項目に応じてゲイン、ダンピングま
    たはバイアスを含む試験条件を設定し、 PT二次信号および/またはCT二次信号を含む所定信
    号を入力している前記対象機器から試験項目に対応した
    出力信号を所定周期でサンプリングし、そのサンプリン
    グ中に動調整の要求が有れば前記対象機器に対する前記
    試験条件の再調整を許容し、所定サンプリング時間まで
    時系列の測定値を取得して動特性試験データを確保し、
    その後サンプリング中の前記動調整の要求の有無をチエ
    ックして、要求の有る場合に前記動特性試験データであ
    る時系列の測定値を基に試験条件算出手段を起動して前
    記試験条件を算出することを特徴とする機器の試験方
    法。
  2. 【請求項2】 請求項1において、 前記試験条件は、前記対象機器の静特性試験の結果に基
    づく試験条件を予め記憶し、前記動特性試験データを基
    に算出した結果で該当する試験条件を更新して管理する
    ことを特徴とする機器の試験方法。
  3. 【請求項3】 電力系統制御システムの構成要素で、P
    TやCTを介して系統と接続される機器の試験装置にお
    いて、 計算機装置からの指示で、静特性試験の試験信号を発生
    して対象機器に入力する試験信号発生装置と、 対象機器の出力端子からの出力信号を絶縁変換して前記
    計算機装置に入力する信号変換装置と、 静特性試験時にその試験項目を選択し、前記対象機器の
    試験項目に応じてゲイン、ダンピングまたはバイアスを
    含む試験条件を設定し、前記試験信号発生装置に前記静
    特性試験項目に応じた試験信号の発生の指示を与え、前
    記対象機器の出力端子から前記試験項目に対応した出力
    信号をサンプリングし、この測定値を前記試験信号に対
    応して予め定めた基準値と比較して合否判定を行い、合
    格の場合には静特性試験データとして確保する静特性試
    験処理手段と、動特性試験時にその試験項目を選択し、
    前記静特性試験データに基づいた試験条件を前記対象機
    器の試験項目に応じて設定し、PT二次信号および/ま
    たはCT二次信号を含む所定信号を入力している前記対
    象機器の出力端子から、前記試験項目に対応した出力信
    号を所定周期でサンプリングし、サンプリング中に動調
    整の要求が有れば前記試験条件の再調整を許容し、所定
    のサンプリング時間まで時系列の測定値を取得して動特
    性試験データを確保し、その後に前記動特性試験データ
    である時系列の測定値を基に試験条件算出手段を起動し
    て前記試験条件を算出する動特性試験処理手段と、前記
    静特性試験データや前記動特性試験データを画面表示装
    置および/またはプリンタに所定の形式で出力する出力
    処理手段を有する前記計算機装置と、を備えることを特
    徴とする機器の試験装置。
  4. 【請求項4】 電力系統安定化制御システムの構成要素
    である自動電圧調整器(以下、AVRと呼ぶ)の試験装
    置において、 計算機装置からの指示で、PT二次信号および/または
    CT二次信号を模擬した静特性試験の試験信号を発生し
    てAVRに入力する試験信号発生装置と、 AVRの複数の出力端子からの出力信号を絶縁変換して
    前記計算機装置に入力する信号変換装置と、 静特性試験時にその試験項目を選択し、前記対象機器の
    試験項目に応じてゲイン、ダンピングまたはバイアスを
    含む試験条件を設定し、前記試験信号発生装置にその試
    験項目に応じた試験信号の発生の指示を与え、前記出力
    端子から前記試験項目に対応した出力信号をサンプリン
    グし、同一値と見られるデータが所定数連続するとき測
    定値として取得し、この測定値を前記試験信号に対応し
    て予め定めた基準値と比較して合否判定を行い、合格の
    場合には静特性試験データとして確保する静特性試験処
    理手段と、動特性試験時に動特性試験項目を選択し、前
    記静特性試験データを基にした前記試験条件を前記対象
    機器の試験項目に応じて設定し、PT二次信号およびC
    T二次信号等を入力しているAVRの出力端子から、前
    記動特性試験項目に対応した出力信号を所定周期でサン
    プリングし、サンプリング中に動調整の要求が有れば前
    記試験条件の再調整を許容し、所定のサンプリング時間
    まで時系列の測定値を取得して動特性試験データを確保
    し、その後に前記動特性試験データである時系列の測定
    値を基に試験条件算出手段を起動して前記試験条件を算
    出する動特性試験処理手段と、前記静特性試験データや
    前記動特性試験データを画面表示装置および/またはプ
    リンタに所定の形式で出力する出力処理手段を有する前
    記計算機装置と、を備えることを特徴とするAVRの試
    験装置。
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