JP3370272B2 - 機器の過渡状態表示装置 - Google Patents

機器の過渡状態表示装置

Info

Publication number
JP3370272B2
JP3370272B2 JP04542598A JP4542598A JP3370272B2 JP 3370272 B2 JP3370272 B2 JP 3370272B2 JP 04542598 A JP04542598 A JP 04542598A JP 4542598 A JP4542598 A JP 4542598A JP 3370272 B2 JP3370272 B2 JP 3370272B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
transient state
display device
time
state display
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP04542598A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11242056A (ja
Inventor
武彦 石井
Original Assignee
株式会社日立エンジニアリングサービス
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社日立エンジニアリングサービス filed Critical 株式会社日立エンジニアリングサービス
Priority to JP04542598A priority Critical patent/JP3370272B2/ja
Publication of JPH11242056A publication Critical patent/JPH11242056A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3370272B2 publication Critical patent/JP3370272B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、系統や機器等の過
渡応答信号の解析等に好適な表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】動特性の検査や試験の対象機器や系統と
しては、電力系統、電力機器、各種の電気・電子回路、
コンピュータ等種々である。試験や検査は、実験室や研
究室で行う以外に、現地での立ち上げ試験や保守点検等
がある。電力システムあるいは電路の過渡応答特性を検
証したり、またAVRなどの動特性試験用のデータ収録
解析編集専用の装置がある。この装置は、取り込データ
に関しての過渡応答から定常状態まで応答特性の収録編
集を行った上で画面上に表示する。また、動特性試験用
の試験器がある。この試験器は、手作業で試験信号を計
測した後に過渡特性を人があるいは解析ソフトを別に立
ち上げして編集し直すという作業が必要なため、作業効
率向上を目指した自動計測試験装置(いわゆるツール)
を付加して使う例もある。また過渡特性対象の信号を取
り込むだけの装置もある。この装置によれば、計測後に
人間が各信号レベルを校正し検証する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】前記専用の装置では、
編集ソフトウェアが複雑であるとの問題がある。また、
前記他の装置では、人間の介在を必要とするとの問題が
ある。
【0004】本発明の目的は、簡易に過渡応答等を選択
表示可能にする表示装置を提供するにある。
【0005】更に本発明の目的は、過渡状態のみが画面
に充分に入るようなタイムスケール処理を簡便に行うこ
との可能な表示装置を提供するにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、機器の計測信
号の過渡状態表示装置において、上記計測信号のサンプ
ルを行って、計測サンプルデータd、d、…を入力
する第1の手段と、この入力データを監視して信号の立
ち上がりから定常状態に達するまでの区間である信号整
定区間Tを決定する第2の手段と、この信号整定区間
が、表示画面の横方向幅に収まるように表示タイム
スケールを決定する第3の手段と、この表示タイムスケ
ールで信号整定区間T内の入力データd、…、d
を表示する第4の手段と、を備える機器の過渡状態表示
装置を開示する。
【0007】更に本発明は、互いに関連する2つの信号
(少なくとも一方は計測信号とする)の過渡状態表示装
置において、それぞれサンプルを行って、第1の信号の
サンプルデータd11、d12、…、第2の信号のサン
プルデータd21、d22、…、を入力する第1の手段
と、この入力データを監視して一方の信号である計測信
号の、信号の立ち上がりから定常状態に達するまでの区
間である信号整定区間Tを決定する第2の手段と、こ
の信号整定区間Tが、表示画面の横方向幅に収まるよ
うに表示タイムスケールを決定する第3の手段と、この
表示タイムスケールで信号整定区間T内の入力データ
1i、…、d1jとd2i、…、d2jとを、併せて
表示する第4の手段と、を備える機器の過渡状態表示装
置を開示する。
【0008】更に本発明は、上記第2の手段が、計測信
号のサンプルデータについてサンプルデータが零から微
少許容値になった時点を求めてこれを始点とし、定常状
態になった時点を求めてこれを終点とし、この始点と終
点とを結ぶ区間を、信号整定区間Tとして決定するも
のとした機器の過渡状態表示装置を開示する。更に本発
明は、上記第2の手段では、計測信号のサンプルデータ
について信号の立ち上がり(又は立ち下がり)の開始の
時点を求めてこれを始点とし、定常状態になった時点を
求めてこれを終点とし、この始点と終点とを結ぶ区間
を、信号整定区間Tとして決定するものとした機器の
過渡状態表示装置を開示する。
【0009】更に本発明は、上記第2の手段での始点の
求めは、立ち上がり時(又は立ち下がり時)のサンプル
データの大きさが予め定めた微少許容値を超えた時点を
始点とする機器の過渡状態表示装置を開示する。更に本
発明は、上記第2の手段での終点の求めは、サンプルデ
ータが予め定めた定常状態に入ったことを示す規定振幅
値に達した時点を終点とする機器の過渡状態表示装置を
開示する。更に本発明は、上記第2の手段での終点の求
めは、サンプルデータが最大値(又は最小値)に達した
時点を終点とする機器の過渡状態表示装置を開示する。
【0010】更に本発明は、第4の手段で表示した2つ
の信号が、相互に重なって表示されている場合に、相互
の重なりをなくするように表示位置の変更又は信号レベ
ルのレンジ変更を行うレンジ調整手段を持つ過渡状態表
示装置を開示する。
【0011】更に本発明は、一方の信号は制御対象系へ
の制御のため入力信号、上記他方の信号である計測信号
はこの入力信号に基づいて発生する制御対象系からの応
答信号とする機器の過渡状態表示装置を開示する。
【0012】更に本発明は、第4の手段の表示内容をみ
て入力データの信号解析を行う手段を持つ機器の過渡状
態表示装置を開示する。
【0013】更に本発明は、表示画面でのタイムスケー
ル軸は、R個刻みとし、第3の手段での表示タイムスケ
ールの刻み時間幅τは、 τ>(Te/R) R≧(Te/τ)+2ε+α(但し、εは1又は2又は
3の整数、αは端部吸収分で1未満の値)を満足するτ
とした機器の過渡状態表示装置を開示する。
【0014】
【発明の実施の形態】図1は、AVRの動特性試験時の
回路例図である。AVR1は、自動的に系統や機器等の
電圧も調整する回路であり、内部にはAVR本体の他
に、AVR制御回路10を持ち、外部機器等への制御信
号を出力端子11から発生する。この出力端子11から
の制御信号によって系統や機器が電圧制御を受け、この
制御結果は、変成器二次端子12から得られ、制御監視
や帰還信号として利用される。
【0015】動特性試験装置本体としては、汎用のノー
ト型パソコン2を使った。パソコン2には、CRT3、
プリンタ6をつなげて、出力用として使う。更に、入力
手段として、信号変換器4をつなげた。ノート型パソコ
ンを使うことで、専用マシンを使うことなく、且つ無用
な人手を介することなく、動特性試験を達成する。信号
変換器4は、絶縁信号変換器40とAD変換器41とか
ら成る。絶縁信号変換器40は、二次端子12からの検
出信号を入力するものであり、ホトカプラやトランス等
より成りその入力と出力との電気的分離をはかった。A
D変換器41は、二次端子12と変換器40とを介して
得られる信号がアナログ信号であることから、そのデジ
タル化をはかった。
【0016】ノート型パソコン2は、機能としては、入
力処理20、動特性試験処理21、出力処理22、時間
軸・レンジ設定処理23、編集処理24、メモリ機能2
5を持つ。また、キーボードやマウスを持つが、図面上
は省略した。各機能について簡単に述べる。入力処理2
0…AD変換器41のAD変換出力を取り込み、メモリ
(図示略)に次々に格納する。また、キーボードやマウ
スらによる入力取り込みを含む。動特性試験処理21…
マンマシン操作により、どのような動特性試験を行うか
を決定・指示する。指示とは、CRT画面にその内容を
表示することである。指示と合わせて自動実行を行わせ
る機能を持つこともある。動特性試験対象は、AVR1
であり、種々の試験項目があり、その中から試験対象項
目を指定する。試験項目及び試験内容の各種設定データ
及びソフトウェアは、メモリに格納されており、これを
読み出して表示し、試験内容のデータ及びソフトウェア
は、メモリに格納されており、これを読み出して表示
し、オペレータ(試験作業員)が表示内容を観察しなが
ら具体的な試験を実施する。出力処理22…CRT3、
プリンタ6への表示及びプリントアウトデータの指示及
びその出力を行う。キーボードやマウスによる表示指示
の仕方も含む。設定処理23…本実施の形態での重要な
機能である、サンプル周期teやサンプル時間Tsの設
定、更には信号整定区間(整定範囲)の決定やタイムス
ケールの決定やレンジの設定を行う。詳細は後述する。
編集処理24…特性試験結果の編集や整理する処理を行
う。メモリ機能25…各種のソフトウェアの格納及びそ
のための各種の設定データ、ワークデータの格納、測定
値や分析(解析)結果の格納、分析のための各種基準値
の格納を行う。そのメモリとしては、ICメモリ、磁気
ディスク等がある。図1で、データ25aが動特性試験
のための試験条件設定値、データ21bが基準値、デー
タ25cが測定値、データ25dが解析値である。
【0017】図2は、図1の動特性試験装置を使っての
動特性試験のフローチャートを示す。先ず、ステップS
100で、動特性試験モードの選択を行う。動特性試験
の試験項目は複数存在し、その中の1つをステップS1
01で選択する。試験項目が定まると、その試験条件を
設定する(S102)。試験条件には、対象計測信号
(どこのいかなる信号)(これをAと呼ぶ)を定めるこ
と、更には、必要とあればそのための対比すべき基準信
号(どこのいかなる信号)(これをBと呼ぶ)を定める
こと、信号の解析目的及び解析方法を定めること、を含
む。図1では、AVR制御回路10から制御信号11a
を発生しているが、これが上記基準信号Bである。更に
出力端子してからの出力信号12aを取り込むようにし
ているが、これが上記信号Aである。
【0018】信号A、Bをどの個所のいかなるものとす
るかは解析目的や方法に応じて定める。更に解析方法は
試験ソフトウェアに登録されている。信号Aに関して言
えば、発電機電圧、電流、界磁電圧・電流等がある。こ
こでは、信号Aの過渡状態を対象とし、その過渡状態が
解析対象にしたものとする。信号Bは、パルス信号、イ
ンパルス信号、目標値信号等種々であり、個所によって
定まる。図2では、信号Aのみの取り込み例とした。
尚、ステップS102でのスタートキー信号の受信と
は、試験スタート指示キーの押下を指す。
【0019】ステップS103では、出力信号Aの計測
を行い、これを変換器4を介してパソコン2に取り込
む。取り込みは入力処理20にて行う。AD変換器41
は、所定のサンプル周期tsで、出力信号Aをサンプル
し、AD変換する。サンプル周期tsは、出力信号Aの
種類や試験項目に応じて種々変更可能にしておけば、相
手に応じて適切な周期を選べる。勿論、サンプル周期t
sを、いかなる計測信号に対しても固定化しておく例も
ある。サンプル周期tsの他に、サンプリング時間Ts
をも設定してある。Tsも可変、固定の両例あり、可変
では、例えば、AVRでは、数10秒〜数10分とな
る。サンプル周期ts、サンプリング時間Tsを与えるこ
とで、総計Ts/tsのサンプルデータを得ることができ
る。具体例としては、ts=1msec、Ts=10sec
〜60minがある。
【0020】計測すべき出力信号Aが2つ以上の例もあ
る。そうした場合、この2つ以上の信号を同時にサンプ
ルし、同時にパソコン1に取り込む。これによって位相
関係等が理解可能となる。取り込み方は、2信号なら
ば、2チャンネルで入力とかのやり方をとるとよい。こ
うして取り込んだサンプル計測信号は、メモリに順次格
納され、その後の処理のために利用する。
【0021】ステップS104では、サンプル計測信号
を、オンラインでそのままCRT3に表示する。計測信
号を先ずオンラインで監察するためである。オンライン
の表示は、上記メモリに格納させないで取り込むと同時
にCRT3に送るというやり方で実現できるが、メモリ
として高速アクセス可能なものを使用することで、メモ
リを介しての場合でもオンライン表示は可能である。こ
のオンライン表示では、次々に時間軸が更新される故
に、一種の横スクロール表示である。かかる表示処理
は、出力処理22が行う。
【0022】ステップS105は、設定サンプリング時
間Tsに達したか否かチェックしており、Tsに達するま
で、繰り返しサンプルが行われ、計測信号の取り込みが
なされる。
【0023】ステップS106は、サンプリング時間T
sで取り込んでメモリに一時的に格納したサンプル計測
信号データについて、信号整定区間を決定する。計測信
号は、過渡状態と定常状態とを持つが、動特性試験項目
として先に、過渡状態を設定した。この過渡状態の解析
には、計測信号が立ち上がってから定常状態に達するま
での区間である信号整定区間をつかまえることが不可欠
である。
【0024】そこで、信号整定区間をフローS106で
自動決定することにした。併せて、この信号整定区間が
CRT3の画面に充分に入るようにタイムスケールの決
定を行う。
【0025】先ず、信号整定区間をソフトウェアによっ
て自動的に決定する幾つかの方法を以下説明する。信号
整定区間は、始点と終点を求めた時の始点と終点とは結
ぶ区間である。そこで、始点と終点との求め方について
説明する。
【0026】(1)、最大値(又は最小値)を求める方
法(終点算出法、その1)。計測信号が立ち上がってか
ら過渡状態を経て定常状態に入るまでに、一次遅れや二
次遅れ等の現象(単調増加現象となる)を伴う過渡状態
を経ることが多い。この場合定常状態に達した時は最大
値になった時(終点)であり、信号、立ち上げ時点から
この最大値に達するまでの区間が信号整定区間となる。
最大値を検出するには、サンプル計測信号データを、時
間経過で隣り合うもの同志の大小を比較してゆき、最大
値に達するまでは必ず、隣り合うもの同志の中でサンプ
ル周期ts遅れた後の方のサンプル計測信号が大きくな
ること、及び最大値に達すると、その大小関係がなくな
り同じ値となること(又はある許容値内となること)、
を利用する。大小関係がなくなった時点が最大値に達し
た時点となる。この終点例を図3(a)に示す。最大値
に達するまでに、一部の隣り合うサンプル点相互間で単
調増加とならないような事例もある。この場合、その時
点で最大値と誤判定する恐れもある故、総合的な処理又
は統計的な処理を行って単調増加を判断することが必要
となる。また、最大値に達したか否かも、最大値の前後
で信号レベルのばらつきがある場合には、統計的な処理
が必要となる。統計的な処理とは、2つの隣り合う信号
のみではなく前後3個以上の信号をみてとか、その平均
値をみてとかのことを指す。尚、過渡状態は、立ち上げ
形の他に、立ち下げ形もある故に、立ち下げ形では、最
大値の代わりに最小値を検出する。
【0027】(2)、定常状態を示す規定値に達したか
で求める方法(終点算出法その2)。定常状態に達した
か否かは、規定値に達したか否かでも判定できる。予め
定常状態に達した時の信号レベル(規定振幅値)がわか
っている場合に適用する。この規定振幅値に達した時点
を終点とする。例えば、振動を繰り返し定常状態に達す
る如き過渡状態の終点を見つけるには好適である。その
終点例を図3(b)に示す。
【0028】(3)、混合法(終点算出法その3)。終
点算出法その1、その2とを組み合わせて終点を判定す
ると、更に精度がよくなる。
【0029】(4)、信号立ち上り(又は立ち下り)を
求める方法(始点算出法その1)。過渡状態の始点を求
めるには、計測信号が“零”(例えば定常状態値)から
“有”になった時点であり、これは、その判断基準とし
て、ある微小許容値を与えておき、その微小許容値を越
えて“有”になった時点とするやり方をとる。その始点
例を図4(a)、(b)に示す。過渡状態が、立ち上が
り形ではなく、立ち下り形でも、“有”が正から負にな
るだけである。
【0030】(5)、信号立上り(又は立ち下り)を単
調増加(又は単調減少)現象から求める方法(始点算出
法その2)。始点算出法その1では、“零”の判定、
“有”の判定が困難なこともある。そこで、“有”とな
る所の立ち上げに入ったか否かを、単調増加傾向に達し
たか否かで判定する。“零”及び単調増加も統計的処理
によって判定するやり方もある。即ち、過渡状態では、
ある種の振幅のばらつきがあるため、統計的処理によっ
てそれを補い、立ち上りは単調増加をみることで検出す
るものとした。具体例を図4を利用して述べる。
【0031】図4(a)で、信号立ち上り前では、振幅
値が微妙な変動を持つ。この変動は、ノイズの影響によ
るが、かかる変動分は、除くことが必要となる。そこ
で、微小許容値C1を設定しておき、かかる許容値C1
での変動成分は、無視するように扱う。従って、図4
(a)では、許容値C1内の変動をしている区間が存在
するが、これは信号零として処理する。また許容値C1
は、絶対値として与えてをよいが、相対値(即ち、最大
振幅値に対する許容パーセント比率)として与えてもよ
い。その場合、例えば、C1=±1%程度に設定する。C
1=±2%だと誤差が大きく、C1=±0.1%程度だと感
度がきびしくなると考えられるが、最終的には信号の性
格やねらいによって定めることが好ましい。
【0032】図4(a)で、許容値C1を越えた時点を
始点としてもよいが、更に単調増加しているか否かとい
うファクタを加えると、始点の算出精度は高くなる。そ
れを示したのが、図4(b)である。即ち、許容値C1
を越えた時点から信号の立ち上りが始まると考えられる
から、そのための立ち上げが、実際に生じているか否か
を判定する。判定法は、数1の単調増加判定式による。
ここで、t1、t2、…は、各サンプル時刻、V1、V2
…は各サンプル時刻ごとの振幅値である。t1、t2−t
1、t3−t2、…がそれぞれサンプル周期tsに相当す
る。
【0033】
【数1】 数1を利用することで、n回(例えばn=10)連続繰
返して、各絶対値が“1”より大きい時に、立ち上りが
あったと判定する。そして、その最初のC1を越えた時
点(値)より逆算して(時系列的にさかのぼって)、C
2(但し、C1>C2とする。C1=±1%であればC2
0.5%)を越えた時点を変化開始点(始点)とする。
【0034】(6)、始点算出法その2を利用した終点
算出法。始点算出法その2は、終点算出法にも利用でき
る。単調増加の後で定常状態に入ると、振幅値は安定状
態となる。この安定状態に入ったか否かを、許容値C1
で判定する。更に、数1とは異なり、数2の如く安定判
定式を用いる。ここで、t1、t2…はサンプル時点、
V’1、V’2…はサンプル点毎の振幅値である。
【0035】
【数2】 数2を用いて、n回(例えば、n=10)連続繰返し
て、各絶対値が“1”より小さければ、安定状態に入っ
たと判定する。そして、最初にC1の範囲に入った時点
(値)から時系列的に先に進んでC2(又はC2とは異な
るC3。C2>C3が好ましい)の値に達した時点を安定
点(終点)とする。
【0036】次にタイムスケールの決定法について詳述
する。計測信号は、時間軸と振幅軸で律することができ
る。これをCRT3の画面に表示するには、画面の横軸
に時間軸をとり、画面の縦軸に振幅軸をとることで、計
測信号データを表示する。一方、画面は画素サイズ(縦
×横=mピクセル×nピクセル。例えばm=600、n
=800)で規定されている。こうした画面の横軸を時
間軸に設定した場合、この時間軸をタイムスケールと呼
ぶ。時間軸は、(nsecオーダ〜msecオーダ〜s
ecオーダ〜hourオーダ…の如く、可変化されてお
り、手動によりそのどれかに任意に選択設定できるよう
になっている。本発明では、先に求めた信号整定区間内
のすべてのサンプル計測信号データがこのCRT画面の
横幅内に充分に表示できるように、タイムスケールをソ
フトウェアによって自動決定させることにした点が特徴
の1つである。
【0037】次にタイムスケールの自動決定について述
べる。ここで、タイムスケールとは、表示画面の時間軸
及び時間刻みのことであり、信号整定区間との関係で
は、自動決定した信号整定区間に属する全サンプル計測
信号データを表示画面に表示するように時間軸及び時間
刻みより成るタイムスケールを決定することである。そ
して、このタイムスケールに従ってこれらのデータを表
示し、併せて時間軸及び時間刻みも表示する。例えば、
自動決定した信号整定区間が800msecであった場
合、サンプル周期tsが1msecではこの信号整定区
間内に800個のサンプル計測データが存在する。そこ
で、CRT画面の横幅(800ピクセル又はドット。以
下同じ)に、この800個のサンプル計測データが表示
できるように、タイムスケールを決定する。また、例え
ば信号整定区間が400msecであった場合、サンプ
ル周期が1msecではこの信号整定区間内に400個
のサンプル計測データが存在する。そこで、CRT画面
の横幅(800ピクセル)に、この400個のサンプル
計測データが表示できるように、タイムスケールを決定
する。尚、データを間引いて表示することもあるがタイ
ムスケールとは直接的に関係しない。
【0038】表示画面の横方向の両端部は、観察しにく
いため、この観察しにくい両端部の何ピクセル分かは、
表示対象領域から除くことが好ましい。この領域幅をε
とした場合、両側を除く(800−2ε)なるピクセル
相当幅に、信号整定区間を合わせる。
【0039】タイムスケールで決定した時間軸及びその
刻み時間の表示画面上での表示例を図5(a)、(b)
に示す。横方向の時間刻み数Rは、例えば12個であ
る。この数はCRT画面の大きさによって観察しやすい
ように事前に定めてある例が多い。12個以外には8個
とか16個とかの例もある。図5(a)に示すように、
信号整定区間内に時間刻み数12がフルに入るように、
タイムスケールを決定するのである。そして、画面の下
方に、その時間軸Tを表示し、この時間軸上に12個の
刻みスケール時間(0、10、20、…、120)を表
示し、更に時間元(msec)Dも表示する。図5
(b)は、刻みスケール時間を0、1、2…、12と
し、時間元Dとして、「(×10 msec)」を表示
させた例である。刻み時間幅τ(図5(a)・(b)で
は10msecのこと)は、例えば以下の関係式から自
動的に求める。但し、刻み数Rは12個の例とした(従
って、一般化する場合は、「12」をRに置換すればよ
い)。
【0040】
【数3】 ここで、τは刻み時間幅、Teは信号整定区間時間幅、
2εは両側の除き領域(片側幅がε、但し、前述ではε
を除き分として一般化したが、ここでの幅とは、刻み時
間幅の整数倍;即ち、刻み時間幅の単位で除き領域を設
定)、αは信号整定区間(時間幅)を整数値とした時
の、その少数点以下を切り下げた時に実際の値との差分
である。数3の2つの式(イ)、(ロ)を満足するよう
に、τを選択する。数3の(イ)は、12個の刻み時間
幅の総時間幅(τ・12)よりも信号整定区間Teを小
さく設定する旨の式、数3の(ロ)は、それに加えて両
側2ε及び切り下げ分をカバーした式である。
【0041】例えば計測時間(サンプリング時間)15
秒、サンプル周期1msecの時に信号整定区間が7.
88秒とされたデータの自動スクロールによる表示タイ
ミングは、上記式(イ)から(τ・12)>7.88
(≒8)よりτ=1.0秒と算出される。表示は少数点
である0.88を切り上げて算出された整数の整定時間
8秒の最後の値を取り込んだサンプリング時間から信号
整定区間分を表示タイミングに従い自動スクロールす
る。この自動スクロールで自動的に画面中央に最大タイ
ミングで表示させるために、刻み(タイミング)枠12
個のうち8個を信号整定区間に使用する場合、ε=2と
なり、且つα=0とすると、式(ロ)に代入すれば、1
2≧{(8/1)+2・2+0}から左右が互いに「1
2」となり、等号関係が成立する。従って、前記所定描
画範囲に画面の左右それぞれ2個の枠を空けて信号整定
区間を8個の枠にタイミング1秒で表示する。このとき
切り上げられた実際値との差分の8−7.88=0.1
2秒は時系列的に横スクロールの右側にαとして吸収さ
れる。
【0042】τの候補としては、刻み時間幅として観察
しやすい値とし、例えば、数値的には、τ=1、2、
5、10、20、50、100、200、500の中か
ら選ぶものとし、時間元としてはmsec、sec、m
in、の中から選ぶものとする。εとしては、1、2、
3、等(その単位は刻み時間τ)であるが、ε=3だと
両側が大きくてあいてしまい表示空間を無駄にする恐れ
がある。
【0043】かかる数3でε=1とした場合の図示例が
図6である。画面の横幅をX0とし、この横幅X0の中
に、12個の時間刻みが均等(幅τ)になされている。
両側には、1枠分(1刻み分)εの空き部分を作る。従
って、信号整定区間Teは、2枠目から11枠までの枠
内に収まるようにしてある。更に、α分だけ内側に選ん
である。
【0044】図2のフローの説明に戻る。フローS10
7は、フローS106で得た信号整定区間及びタイムス
ケールに基づいた表示を画面に行うと共に、特性解析
を、その画面上で自動又はマンマシンコミュニケーショ
ンにより行う。特性解析の内容としては、最大値、最小
値、立ち上がり時間、遅れ時間、行き過ぎ時間、自定数
等を求めることを含む。更にこれらの値をメモリに格納
する。特性解析の具体的な説明は、本発明の目的でない
故に、省略する。
【0045】フローS108は帳票編集の選択の有無を
チェックする。解析結果を編集したり、表作りしたりす
ることがあり、このチェックをフローS108で行う。
有であれば、フローS109で帳票編集を行って処理終
了する。
【0046】図2は、1つの信号のみの取り込みの例と
したが、2つ以上の信号の取り込み例もある。図1に従
えば、制御信号11aと計測信号12aとを取り込んだ
例である。この場合、制御信号11aとしては、パルス
信号の例等がある。かかる2信号11a、12aを表示
画面に併せて表示する。信号整定区間及びタイムスケー
ルは、信号12aのみから決定する。2信号11aと1
2aとを併せて表示させておくことで、両信号の位相関
係を含めた特性解析(S107)を行うことができる。
【0047】一方、2信号11a、12aの表示に際し
て、画面上で重なって表示され、特性解析の妨げになる
こともある。こうした場合、両者が重なって表示されな
いような、レンジ調整することが必要となる。かかるフ
ローを図7に示す。図7で、フローS111〜S114
が重なりをなくすための処理を示す。先ず、フローS1
10で決定した信号整定区間及びタイムスケールによっ
て2つのサンプル信号データ11a、12aを表示す
る。フローS111では、重なりがあるか否かを目視に
よりチェックする。重なりがあれば、フローS112で
信号11a、12aの中でレンジ切替えを行うべき信号
を指定する。例えば、信号11aを指定する。この信号
11aについて、振幅レベルが零(又は0%)位置を検
出し、次いでこの位置から上限値が例えば、100%
(フルスパン)位置へレンジシフトを行う(フローS1
13、114)。図8にそのレンジ切替え例を示す。重
ならなければ、100%に達しない位置への切替えでも
よい。尚、図8は、その他に始点、終点のための算出例
も示してある。始点を信号11aから求め、終点を信号
12aから求めた例である。
【0048】尚、重なりをなくすための処理(フローS
110〜S114)は、特性解析を終わった後(フロー
S107の後やフローS109の後)で行うようにして
もよい。
【0049】更に重なりをなくすための他のレンジ切替
えのやり方もある。第1にシフトすべき信号の振幅値を
縮小させて(小さくして)重なりをなくした表示方式が
ある。また、振幅値の縮小と上下の位置の移動とを組み
合わせて、重なりをなくした表示方式もある。振幅値
(例えば100Vとか)は、画面に表示するが、縮小の
場合も、元の振幅値としての数値はそのまま例えば10
0Vの如く表示する。図11には、表示画面の縦方向に
種々のシフトさせた例を示し、(a)が縦方向フルレン
ジの50%〜70%の区間、(b)が0%〜20%の区
間、(c)が80%〜100%の区間の例である。重な
らないようにどれかを選択すればよい。
【0050】図9は、自動系電圧確立試験で4つの信号
a、b、c、dを取り込んだ例である。信号a(制御信
号)のみを重ならないようにして表示した。信号b、
c、dはその応答信号である。表示画面の下段には、処
理メニューを表示してある。処理メニューとしては、ス
タート、ストップ、拡大表示、部分拡大、解析表示、波
形レンジ/位置変更、印刷、読込み、前画面に戻る、と
した。
【0051】図9の表示例は、信号整定区間の決定例と
は特に関係しない。ある信号は信号整定区間で表示し、
ある信号は定常状態に入った状態を含めて表示した。過
渡期間が互いに異なることがあるためである。またオン
ラインで取り込んだすべてのサンプル信号を表示させた
例としてみてもよい。この場合、メニューとしての、
「拡大表示や部分拡大」のメニューを選択して表示させ
る。またこのメニューを使うことで、必要な時間幅やデ
ータ数を自在に選択できる。
【0052】前記動特性試験データを所定表示領域の時
間推移でグラフ表示する時に、前記サンプル周期とA/
Dコンバータのスキャンクロックから決まるサンプル数
(N)と、前記所定表示領域の時間軸上のピクセル数
(画面は800x600ピクセル)との関係を基に、表
示データは取込値の全てを取り出し指定範囲内に表示で
きる機能を装備した。これによりサンプル周期が変わっ
ても、同一表示範囲にサンプル数に応じたグラフ表示が
可能になり、全体的な表示、拡大表示や部分的な拡大表
示が同一表示範囲に行われるので、部分拡大表示や、拡
大表示の場合は全体表示の通常の部分拡大(仮想空間に
よる拡大空間の中を移動、スクロールとして拡大表示さ
せる)方式と異なり、表示画面の表示範囲指定(固定)
でこの指定範囲とする実空間による表示時間の短縮と、
表示時間当たりのサンプル数を全てのオブジェクトで計
算して表示するので、細部の詳細の識別が容易となりメ
モリを大幅に節約できる特徴が有る。
【0053】こうした拡大表示や部分拡大を行うには、
通常、仮想空間を利用することが多い。この仮想空間の
中で、スクロールして必要な表示を行う。しかし、本発
明では、信号整定区間及びタイムスケールを決定でき、
それをもとにして「拡大表示や部分拡大」のメニューを
使うことで、実空間上で達成できる。つまり、従来の仮
想空間による倍率の算出はこの空間内をスクロールし画
面の指定範囲内に表示する方式(図10の(a))、例
えば800×600ピクセルの画面で1msecのサン
プル周期で30秒間測定時は、(1,000/秒)×3
0秒=30,000個のデータを取込む故に、仮想空間
内の横軸(時間軸)スケールは3万個となる。この数と
仮想空間の大きさとは無関係であるが、この大きさには
限界が有りメモリとリンクする。拡大操作でタイミング
刻み1秒と設定されると、画面には12個のタイミング
刻みエリア(時間枠)が有り、従って12秒表示とな
る。収録が前記の30秒であれば仮想空間は(30,0
00/12)×800倍の大きさで、データは30,0
00個の取込のうち、12秒で12,000個を指定
し、その中から画面の表示範囲のピクセル数の800個
を間引きして表示する。これでは、大きすぎてメモリを
相当数分必要とし、実現出来ないのである限界を生じ
る。つまりスクロールの限界を越える為、1msecな
どのサンプル周期による表示拡大などの機能は使えず、
50msec以上などとなってしまい精度が落ちてい
る。
【0054】これに比べ前記と同一条件で測定した時
に、本発明では指定画面を実空間とする方式をとり(図
10の(b))、実空間にタイミング1秒で表示すると
12秒分表示し収録時間30秒であるから、表示開始の
何秒目から12秒間表示するかを指定タイミング(=倍
率)で計算する。つまりタイミングやスクロールの変更
というコマンドをトリガとして計算する為、メモリをあ
まり使わずに大幅に節約でき、スクロールに限界なく拡
大できる。
【0055】以上説明した本実施の形態でのAVR等の
過渡応答特性を有する過渡状態表示装置による動特性自
動試験は、動特性試験及び検証の自動化で、データの自
動編集と帳票がオペレイターの要求通りに自在でありペ
ーパーレス化、LANでのデータの一元管理による予防
保全が可能である。また計測データの良否自動判定によ
る品質維持が図れる。また試験データのグラフ表示をサ
ンプル周期に適応して自動表示させ、取り込データの全
てを表示できるので精度の高い描画表示を可能としてい
る。このため、試験結果の識別や検討を容易にできる。
本発明により、作業の効率向上と省力化が図れ、試験検
証時間が従来8時間→今回1時間、特に動特性試験デー
タの解析整理時間は従来比70%低減と大幅な工数削減
が可能となった。
【0056】尚、信号整定区間を求めるとしたが、信号
の性格や状態に応じて任意に特徴のある区間の算出にも
利用できることは言うまでもない。
【0057】
【発明の効果】本発明によれば、機器の現地試験を精度
よく自動化でき、データのグラフ表示をサンプル周期に
適応して自動表示させ、データ密度と精度の高い表示で
結果の識別・判定を容易に出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態を示す図である。
【図2】処理フロー図である。
【図3】信号整定区間を求めるための説明図である。
【図4】信号整定区間を求めるための説明図である。
【図5】タイムスケールでの表示例図である。
【図6】タイムスケールでの表示例図である。
【図7】他の処理フロー図である。
【図8】2信号表示例図である。
【図9】自動系電圧確立試験での表示例図である。
【図10】仮想空間、実空間との対比例図である。
【図11】上下シフト例図である。
【符号の説明】
1 AVR 2 ノート型パソコン 3 CRT 4 信号変換器 5 プリンタ

Claims (12)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 機器の計測信号の過渡状態表示装置にお
    いて、 上記計測信号のサンプルを行って、計測サンプルデータ
    、d、…を入力する第1の手段と、 この入力データを監視して信号の立ち上がりから定常状
    態に達するまでの区間である信号整定区間Tを決定す
    る第2の手段と、 この信号整定区間Tが、表示画面の横方向幅に収まる
    ように表示タイムスケールを決定する第3の手段と、 この表示タイムスケールで信号整定区間T内の入力デ
    ータd、…、dを表示する第4の手段と、 を備える機器の過渡状態表示装置。
  2. 【請求項2】 互いに関連する2つの信号(少なくとも
    一方は計測信号とする)の過渡状態表示装置において、 それぞれサンプルを行って、第1の信号のサンプルデー
    タd11、d12、…、第2の信号のサンプルデータd
    21、d22、…、を入力する第1の手段と、 この入力データを監視して一方の信号である計測信号
    の、信号の立ち上がりから定常状態に達するまでの区間
    である信号整定区間Tを決定する第2の手段と、 この信号整定区間Tが、表示画面の横方向幅に収まる
    ように表示タイムスケールを決定する第3の手段と、 この表示タイムスケールで信号整定区間T内の入力デ
    ータd1i、…、d1jとd2i、…、d2jとを、併
    せて表示する第4の手段と、 を備える機器の過渡状態表示装置。
  3. 【請求項3】 上記第2の手段では、計測信号のサンプ
    ルデータについてサンプルデータが零から微少許容値に
    なった時点を求めてこれを始点とし、定常状態になった
    時点を求めてこれを終点とし、この始点と終点とを結ぶ
    区間を、信号整定区間Tとして決定するものとした請
    求項1又は2の機器の過渡状態表示装置。
  4. 【請求項4】 上記第2の手段では、計測信号のサンプ
    ルデータについて信号の立ち上がり(又は立ち下がり)
    の開始の時点を求めてこれを始点とし、定常状態になっ
    た時点を求めてこれを終点とし、この始点と終点とを結
    ぶ区間を、信号整定区間Tとして決定するものとした
    請求項1又は2の機器の過渡状態表示装置。
  5. 【請求項5】 上記第2の手段での始点の求めは、立ち
    上がり時(又は立ち下がり時)のサンプルデータの大き
    さが予め定めた微少許容値を超えた時点を始点とする請
    求項3又は4の機器の過渡状態表示装置。
  6. 【請求項6】 上記第2の手段での終点の求めは、サン
    プルデータが予め定めた定常状態に入ったことを示す規
    定振幅値に達した時点を終点とする請求項3又は4の機
    器の過渡状態表示装置。
  7. 【請求項7】 上記第2の手段での終点の求めは、サン
    プルデータが最大値(又は最小値)に達した時点を終点
    とする請求項3又は4の機器の過渡状態表示装置。
  8. 【請求項8】 第4の手段で表示した2つの信号が、相
    互に重なって表示されている場合に、相互の重なりをな
    くするように表示位置の変更又は信号レベルのレンジ変
    更を行うレンジ調整手段を持つ請求項2の機器の過渡状
    態表示装置。
  9. 【請求項9】 一方の信号は制御対象系への制御のため
    入力信号、上記他方の信号である計測信号はこの入力信
    号に基づいて発生する制御対象系からの応答信号とする
    請求項2の機器の過渡状態表示装置。
  10. 【請求項10】 第4の手段の表示内容をみて入力デー
    タの信号解析を行う手段を持つ請求項1〜9のいずれか
    の機器の過渡状態表示装置。
  11. 【請求項11】 上記表示画面でのタイムスケール軸
    は、R個刻みとし、第3の手段での表示タイムスケール
    の刻み時間幅τは、 τ>(T/R) R≧(T/τ)+2ε+α(但し、εは1又は2又は
    3の整数、αは端部吸収分で1未満の値)を満足するτ
    とした請求項1又は2の機器の過渡状態表示装置。
  12. 【請求項12】 上記刻み数Rは、R=12とした請求
    項11の機器の過渡状態表示装置。
JP04542598A 1998-02-26 1998-02-26 機器の過渡状態表示装置 Expired - Fee Related JP3370272B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP04542598A JP3370272B2 (ja) 1998-02-26 1998-02-26 機器の過渡状態表示装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP04542598A JP3370272B2 (ja) 1998-02-26 1998-02-26 機器の過渡状態表示装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11242056A JPH11242056A (ja) 1999-09-07
JP3370272B2 true JP3370272B2 (ja) 2003-01-27

Family

ID=12718935

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP04542598A Expired - Fee Related JP3370272B2 (ja) 1998-02-26 1998-02-26 機器の過渡状態表示装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3370272B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5725690B2 (ja) * 2008-06-04 2015-05-27 テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc. 信号状態検出方法及び装置
JP6673892B2 (ja) 2017-12-14 2020-03-25 ファナック株式会社 観測装置、観測方法及び観測プログラム
JP7008552B2 (ja) * 2018-03-20 2022-01-25 日置電機株式会社 表示装置およびプログラム

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11242056A (ja) 1999-09-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9128126B2 (en) Oscilloscope and method, system thereof for collecting and displaying signal waveform
JP2005512098A (ja) デジタル・オシロスコープの測定アイコン
CN101413967B (zh) 控制示波器自动化量测的方法
US5794008A (en) Electrical network modeling tool and analyzer
CN117783011B (zh) 一种用于果汁生产线的智能品控系统
CN111309791A (zh) 一种检测仪器数据自动采集方法
JP3370272B2 (ja) 機器の過渡状態表示装置
JP2533813B2 (ja) スペクトラム・アナライザ
US20090089005A1 (en) Generation of test specifications based on measured data points
JPH1090333A (ja) 機器特性の試験装置および試験方法
CN115770930A (zh) 一种焊机设备及其电压校准方法和装置
JPH06258356A (ja) 信号波形の最大,最小値測定装置
JP2003156460A (ja) データ管理方法及びデータ管理システム
US20210109130A1 (en) Method and apparatus for controlling a measurement device
JP2003337142A (ja) 波形解析装置
JP2008175681A (ja) 試験装置
US6646428B2 (en) Sweep synchronization testing
JP2742490B2 (ja) 部品の品質検査方案作成システムにおけるデータ解析方案作成装置
KR100376510B1 (ko) 전력변환장치의실시간고장진단장치
US11023114B2 (en) Measurement apparatus and measurement method
JPH05157592A (ja) 電子機器の性能試験装置
JP2005181182A (ja) 波形測定装置および波形測定方法
JP2006214790A (ja) 波形解析装置
JP3071875B2 (ja) Icテスト装置
US20060047449A1 (en) Graphical test development tool for use with automated test equipment

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees