JP2003337142A - 波形解析装置 - Google Patents
波形解析装置Info
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Abstract
解析を直ちにかつ容易に行える波形解析装置を実現する
ことを目的にする。 【解決手段】 本発明は、トリガ信号を基準として被測
定波形を測定し、波形データとして記憶部に順次格納
し、この記憶部に格納した複数の波形データから所望の
波形データを表示部に波形表示させる波形解析装置にお
いて、表示部の波形表示に解析位置を指定する指定部
と、この指定部の解析位置で、記憶部における表示及び
非表示の波形データの波形解析を行う解析手段とを設け
たことを特徴とするものである。
Description
に測定した被測定波形の波形解析を行う波形解析装置に
関するものであり、詳しくは、記憶部に格納された複数
の波形データの波形解析を直ちにかつ容易に行える波形
解析装置に関するものである。
ロスコープで、被測定波形をデジタル信号の波形データ
に変換して、記憶部であるメモリに格納し、さらにメモ
リに格納した波形データの解析を行うと共に、この解析
結果および波形データを表示処理部を介して表示部に表
示するように構成されたものであり、各種分野の研究開
発、品質管理、保守作業において広く使用されている。
て所望の条件を満たす波形データのみをメモリに格納す
ることができる。そしてメモリは、トリガ信号ごとに測
定した波形データを複数格納することができ、ヒストリ
メモリとも呼ばれる。
構成図である。図8において、測定部10は、入力回路
11、AD変換回路12、トリガ検出回路13、メモリ
制御回路14を有し、被測定波形が入力され、この被測
定波形をデジタル信号に変換して波形データとして出力
すると共に、所望の波形を格納するための制御信号を出
力する。一般的に入力回路11は複数チャネルあり、入
力回路11ごとにAD変換回路12も設けられるが、1
チャネル分のみ図示している。
この入力波形を所望の振幅レベルに変換し、出力する。
AD変換回路12は、入力回路11から出力された信号
をデジタル信号に変換して波形データとして出力する。
トリガ検出回路13は、入力回路11から出力された信
号によってトリガ信号を出力する。メモリ制御回路14
は、トリガ検出回路13からのトリガ信号によって、制
御信号を出力する。
リ制御回路14からの指示により、AD変換回路12か
らの波形データを格納する。指定部30は、ボタンやロ
ータリーノブ等であり、表示させる波形データやチャネ
ルの選択、選択した波形データの解析位置、解析項目を
出力する。
指定部30からの出力に基づいてヒストリメモリ20か
ら波形データを読み出し、波形解析を行う。また、表示
処理部40は、波形データや解析結果を所望の形式の表
示データに変換して出力する。解析手段41は、表示処
理部40が読み出した波形データの波形解析を行う。表
示部50は、表示処理部40から出力された表示データ
を表示画面に表示する。
路11が、被測定波形を所望の振幅レベルとなるように
減衰、増幅を行い、AD変換回路12およびトリガ検出
回路13に出力する。そして、AD変換回路12が、入
力回路11から出力された信号をデジタル信号に変化
し、波形データとしてヒストリメモリ20に出力する。
1からの信号レベルが所望のトリガ条件となるのを検出
すると、トリガ信号を出力する。所望のトリガ条件と
は、例えば、信号レベルが負から正になる場合や、複数
チャネルからの信号が特定の信号レベルを超える場合等
である。
出回路13からのトリガ信号を基準として、ヒストリメ
モリ20にAD変換回路12からの波形データを、トリ
ガ信号ごとに格納させる。この時、基準となるトリガ信
号前後の所望時間分の波形データをヒストリメモリ20
に格納できるように、AD変換回路12が波形データを
出力する。また、メモリ制御回路14が、ヒストリメモ
リ20に複数格納した波形データを識別するためのイン
デックス、例えば格納した順番を表す番号を、波形デー
タごとに付加する。
ブを介して、ヒストリメモリ20から読み出す波形デー
タの選択、波形解析を行う位置、波形解析を行う対象チ
ャネル、波形解析の項目等が表示処理部40に入力され
る
らの指示に従いヒストリメモリ20に格納された波形デ
ータを読み出し、表示部50の表示画面に波形表示させ
る。図9は、このような装置における表示部50に設け
られた表示画面の表示例である。図9において、横軸は
時間軸であり、縦軸は信号レベルである。波形100
は、ヒストリメモリ20から選択されて読み出された波
形データである。
ータの波形解析を行う。これらの解析結果も、表示処理
部40が、表示部50の表示画面に表示させる。再び、
図9において、トリガ点Trgは、波形100において
トリガ信号が出力された位置を示している。カーソルC
ur1、Cur2は、波形解析を行う解析位置を示して
いる。横軸情報T0は、カーソルCur1、Cur2の
トリガ点Trgそれぞれからの位置”X1”、”X
2”、カーソルCur1、Cur2間の時間幅”Δ
X”、時間幅の逆数”1/ΔX”が表示されている。解
析結果R0は、カーソルCur1、Cur2それぞれに
おける波形100の信号レベル”Y1”、”Y2”、こ
れらの信号レベル差”ΔY”が表示されている。
析結果を図示しない印刷手段に印刷させたり、図示しな
い外部メディアに記憶させる。
ガ信号ごとに取得した波形データの解析は、繰り返し同
じ様な動作を行う機器の性能評価やトレンドの測定に用
いられ、測定条件、例えばサンプリング時間や信号レベ
ルの増幅等も同一条件で測定される。以下に例を挙げ
る。
の上下運動を電気信号に変換し、シリンダの上死点をト
リガ条件として、シリンダ内の圧力、温度等の変化を電
気信号に変換して測定する。そして、トリガ点Trgを
基準とした解析位置で、シリンダの移動距離、圧力、温
度等の解析を行う。
ロウベルからハイレベルに変わる波形の測定で、あるレ
ベルを超えた場合をトリガ条件とし、そのトリガ点Tr
gから所望の解析位置におけるオーバーシュート、アン
ダーシュートの振幅の解析を行う。
測定は、単発の測定ではなく膨大な回数を測定して、解
析し、統計的に処理する必要がある。そのため波形測定
装置は、長時間にわたり波形データを格納可能なように
ヒストリメモリ20が大容量化され、数百から数千の波
形を格納できる。
よって、ヒストリメモリ20の全波形データを順次読み
出して表示画面に波形表示させ、それぞれに対してカー
ソルCur1、Cur2を同一の解析位置に設定して解
析し、目視で解析結果を確認して記録するのは手間と時
間がかかり、非常に効率が悪い。また、ヒストリメモリ
20の波形データを図示しない処理装置に外部メディア
や通信装置等を介して転送して、波形解析を行う方法も
あるが、大容量の波形データを転送するのは時間がかか
り効率が悪い。
れた複数の波形データの波形解析を直ちにかつ容易に行
える波形解析装置を実現することにある。
トリガ信号を基準として被測定波形を測定し、波形デー
タとして記憶部に順次格納し、この記憶部に格納した複
数の波形データから所望の波形データを表示部に波形表
示させる波形解析装置において、前記表示部の波形表示
に解析位置を指定する指定部と、この指定部の解析位置
で、前記記憶部における表示及び非表示の波形データの
波形解析を行う解析手段とを設けたことを特徴とするも
のである。
明において、解析手段は、解析位置をトリガ信号からの
位置により特定し、波形データの波形解析を行うことを
特徴とするものである。
記載の発明において、解析手段は、2つの解析位置で指
定される範囲で波形解析を行うことを特徴とするもので
ある。
明において、解析手段は、解析位置で指定される範囲で
波形データにより周波数成分を求める波形解析を行うこ
とを特徴とするものである。
ずれかに記載の発明において、解析手段は、波形データ
の波形解析を行った解析結果の統計処理を行うことを特
徴とするものである。
明において、解析手段は、解析位置で波形データの信号
レベルを求める波形解析を行い、この解析結果における
最大値、最小値、平均値、分散、統計処理を行った波形
データの解析数の少なくとも一つを求める統計処理を行
うことを特徴とするものである。
形態を説明する。図1は本発明の一実施例を示した構成
図である。ここで、図8と同一のものは同一符号を付
し、説明を省略する。図1において、表示処理部40の
代わりに表示処理部60が設けられる。
指定部30からの出力に基づいて、ヒストリメモリ20
から全波形データを読み出し、読み出した全波形データ
ごとに波形解析を行い、さらに解析結果の統計処理を行
う。また表示処理部60は、指定部30よって選択され
た波形データと、全波形データの解析結果、統計処理結
果を表示部50の表示画面に表示させる。解析手段61
は、表示処理部60の読み出した全波形データの波形解
析、統計処理を行う。
図5は、図1に示す装置の表示部50の表示画面の表示
例である。ここで、図9と同一のものは同一符号を付
し、説明を省略する。図2〜図4において、横軸は時間
であり、縦軸は信号レベルである。
って選択された波形データのみをヒストリメモリ20か
ら読み出し、図2に示すように読み出した波形データを
波形101として表示部50の表示画面に表示させる。
ボタン200が選択されると、表示処理部60が、図3
に示すように解析位置であるカーソルCur1、Cur
2を表示させる。さらに、指定部30を介してカーソル
Cur1、Cur2が所望の解析位置に移動され、解析
位置が指定される。
タン201が選択されると、表示処理部60が、ヒスト
リメモリ20から1チャネル分の全波形データを読み出
す。そして、解析手段61が、読み出した全波形データ
に対して、指定された解析位置、すなわちカーソルCu
r1、Cur2で波形解析を行い、さらに解析結果の統
計処理を行う。統計処理の例としては、最大値、最小
値、平均値、分散、統計処理を行った波形データの解析
数を求める。
うに、トリガ点TrgからカーソルCur1、Cur2
までの位置”X1”、”X2”、およびカーソルCur
1、Cur2間の時間幅”ΔX”、時間幅の逆数”1/
ΔX”からなる時間情報T1を表示させる。
ける波形101の信号レベル”Y1(C1)”、”Y2
(C1)”からなる解析結果R1を表示させる。
n”、平均値”Avg”、分散”Sdv”、統計処理を
行った波形データの解析数”Cnt”からなる統計処理
結果R2を表示させる。
ボタン202が選択されると、表示処理部60が、図5
に示すように全波形データの解析結果を一覧で表示させ
る。図5において、各行ごとに左から波形データのイン
デックス、カーソルCur1における信号レベル”Y1
(C1)”、カーソルCur2における信号レベル”Y
2(C1)”、これらの信号レベル差”ΔY(C1)”
が表示され、最大値、最小値となる解析結果の近傍に
は、最大値を表す上矢印のマーカMrk1、最小値を表
す下矢印のマーカMrk2が表示される。
計処理結果を図示しない印刷手段に印刷させたり、図示
しない外部メディアに記憶させる。
リ20の1チャネル分の全波形データを読み出し、読み
出した全波形データに対して、同一の解析位置で波形解
析、および解析結果の統計処理を行い、表示部50の表
示画面に表示させる動作以外は図8に示す装置と同様な
ので、説明を省略する。
れた複数の波形データに対して、同一の解析位置で波形
解析および解析結果の統計処理を行うので、ヒストリメ
モリ20の波形データを順番に波形表示させて解析位置
を指定して解析させ、解析結果の確認をし、さらに個々
に求めた解析結果を集計して統計処理をする必要がな
い。これにより、ヒストリメモリ20に格納された複数
の波形データの波形解析や統計処理を直ちにかつ容易に
行うことができる。従って、波形解析や、統計処理を短
時間で行うことができ、工数がかからない。
チャンル分の複数の波形データに対して、同一の解析位
置で波形解析を行うので、トリガ信号ごとに、トリガ信
号を基準として同一の測定条件で測定された被測定波形
の波形解析および解析結果の統計処理を直ちにかつ容易
に行うことができる。
なく、以下のようなものでもよい。ヒストリメモリ20
に格納されている1チャネル分の全波形データを読み出
し、波形解析を行う構成を示したが、所望数の波形デー
タのみ読み出し、波形解析を行うようにしてもよい。
1からの信号でトリガ条件を検出し、トリガ信号を出力
する構成としたが、図示しない外部装置から信号を入力
し、この図示しない外部装置から入力された信号でトリ
ガ条件を検出する構成としてもよい。
読み出し、波形解析、統計処理を行う例を示したが、複
数チャネル、例えば4チャネル分の波形データを読み出
し、各チャネルごとの信号レベルや、各チャネル間の信
号レベル差等の波形解析、および解析結果の統計処理を
行い、表示画面に表示させてもよい。すなわち、図6、
図7に示すように表示部50の表示画面に表示させる。
号を付し、説明を省略する。図6において、波形102
〜105のそれぞれは、チャネル1〜チャネル4の波形
データが表示されている。また、カーソルCur1にお
ける波形102、103の信号レベル”Y1(C
1)”、”Y1(C2)”である解析結果R3が表示さ
れている。また、最大値”Max”、最小値”Mi
n”、平均値”Avg”、分散”Sdv”、統計処理を
行った波形データの解析数”Cnt”からなる統計処理
結果R4が表示されている。
が、表示画面の表示スペースの関係により、所望の優先
順位で表示させているため、波形104、105の解析
結果は表示されていない。そして、図7において、各チ
ャネルの全波形データの解析結果の一覧が表示され、各
行ごとに左から波形データのインデックス、カーソルC
ur1における1チャネルから4チャネルそれぞれの信
号レベル”Y1(C1)”、”Y1(C2)”、”Y1
(C3)”、”Y1(C4)”が表示されている。
を読み出し、波形解析および解析結果の統計処理を行う
例を示したが、波形解析のみを行ってもよい。
間軸に対して垂直としたが、時間軸に対して水平とし、
トリガ点から所望の電圧レベルとなるまでの時間を求
め、求めた解析結果を統計処理してもよい。
いるチャネルの波形データのみを波形解析する構成を示
したが、表示されていないチャネルの波形データをカー
ソルCur1、Cur2で指定された解析位置で波形解
析を行ってもよい。
1、Cur2で挟まれた区間で、波形データの周波数解
析、例えば高速フーリエ変換を行い、この周波数成分の
トレンドの統計処理をしてもよい。
る。請求項1〜6によれば、記憶部に格納された複数の
波形データに対して、同一の解析位置で波形解析を行う
ので、記憶部の波形データを順番に波形表示させて解析
位置を指定して解析させる必要がない。これにより、記
憶部に格納された複数の波形データの波形解析を直ちに
かつ容易に行うことができる。従って、波形解析を短時
間で行うことができ、工数がかからない。
データに対して、同一の解析位置で波形解析を行うの
で、トリガ信号を基準として同一の測定条件で測定され
た複数の被測定波形の波形解析を直ちにかつ容易に行う
ことができる。
解析結果の統計処理を行うので、記憶部の波形データを
順番に波形表示させて解析位置を指定して解析させ、解
析結果の確認をし、さらに個々に求めた解析結果を集計
して統計処理をする必要がない。これにより、記憶部に
格納された複数の波形データの統計処理を直ちにかつ容
易に行うことができる。従って、統計処理を短時間で行
うことができ、工数がかからない。
の表示例である。
の表示例である。
の表示例である。
の表示例である。
の表示例である。
の表示例である。
例である。
Claims (6)
- 【請求項1】 トリガ信号を基準として被測定波形を測
定し、波形データとして記憶部に順次格納し、この記憶
部に格納した複数の波形データから所望の波形データを
表示部に波形表示させる波形解析装置において、 前記表示部の波形表示に解析位置を指定する指定部と、 この指定部の解析位置で、前記記憶部における表示及び
非表示の波形データの波形解析を行う解析手段とを設け
たことを特徴とする波形解析装置。 - 【請求項2】 解析手段は、解析位置をトリガ信号から
の位置により特定し、波形データの波形解析を行うこと
を特徴とする請求項1記載の波形解析装置。 - 【請求項3】 解析手段は、2つの解析位置で指定され
る範囲で波形解析を行うことを特徴とする請求項1また
は2記載の波形解析装置。 - 【請求項4】 解析手段は、解析位置で指定される範囲
で波形データにより周波数成分を求める波形解析を行う
ことを特徴とする請求項3記載の波形解析装置。 - 【請求項5】 解析手段は、波形データの波形解析を行
った解析結果の統計処理を行うことを特徴とする請求項
1〜4のいずれかに記載の波形解析装置。 - 【請求項6】 解析手段は、解析位置で波形データの信
号レベルを求める波形解析を行い、この解析結果におけ
る最大値、最小値、平均値、分散、統計処理を行った波
形データの解析数の少なくとも一つを求める統計処理を
行うことを特徴とする請求項5記載の波形解析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002142791A JP3787840B2 (ja) | 2002-05-17 | 2002-05-17 | 波形解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2003337142A true JP2003337142A (ja) | 2003-11-28 |
JP3787840B2 JP3787840B2 (ja) | 2006-06-21 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2007127640A (ja) * | 2005-11-04 | 2007-05-24 | Tektronix Inc | 測定機器及びパワー統計を求める方法 |
JP2007205751A (ja) * | 2006-01-31 | 2007-08-16 | Yokogawa Electric Corp | シリアル通信データの波形測定方法及び装置 |
JP2007248115A (ja) * | 2006-03-14 | 2007-09-27 | Yokogawa Electric Corp | 波形測定装置 |
JP2009115547A (ja) * | 2007-11-05 | 2009-05-28 | Yokogawa Electric Corp | 波形解析装置 |
JP2011058882A (ja) * | 2009-09-08 | 2011-03-24 | Yokogawa Electric Corp | 波形表示装置 |
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2002
- 2002-05-17 JP JP2002142791A patent/JP3787840B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JP4556123B2 (ja) * | 2005-02-02 | 2010-10-06 | 横河電機株式会社 | 波形解析装置 |
JP2007127640A (ja) * | 2005-11-04 | 2007-05-24 | Tektronix Inc | 測定機器及びパワー統計を求める方法 |
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