JP2003337142A - 波形解析装置 - Google Patents

波形解析装置

Info

Publication number
JP2003337142A
JP2003337142A JP2002142791A JP2002142791A JP2003337142A JP 2003337142 A JP2003337142 A JP 2003337142A JP 2002142791 A JP2002142791 A JP 2002142791A JP 2002142791 A JP2002142791 A JP 2002142791A JP 2003337142 A JP2003337142 A JP 2003337142A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
analysis
waveform
waveform data
display
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2002142791A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3787840B2 (ja
Inventor
Tomomi Saito
智美 齋藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP2002142791A priority Critical patent/JP3787840B2/ja
Publication of JP2003337142A publication Critical patent/JP2003337142A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3787840B2 publication Critical patent/JP3787840B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Recording Measured Values (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 記憶部に格納された複数の波形データの波形
解析を直ちにかつ容易に行える波形解析装置を実現する
ことを目的にする。 【解決手段】 本発明は、トリガ信号を基準として被測
定波形を測定し、波形データとして記憶部に順次格納
し、この記憶部に格納した複数の波形データから所望の
波形データを表示部に波形表示させる波形解析装置にお
いて、表示部の波形表示に解析位置を指定する指定部
と、この指定部の解析位置で、記憶部における表示及び
非表示の波形データの波形解析を行う解析手段とを設け
たことを特徴とするものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、トリガ信号を基準
に測定した被測定波形の波形解析を行う波形解析装置に
関するものであり、詳しくは、記憶部に格納された複数
の波形データの波形解析を直ちにかつ容易に行える波形
解析装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】波形解析装置は、例えば、デジタルオシ
ロスコープで、被測定波形をデジタル信号の波形データ
に変換して、記憶部であるメモリに格納し、さらにメモ
リに格納した波形データの解析を行うと共に、この解析
結果および波形データを表示処理部を介して表示部に表
示するように構成されたものであり、各種分野の研究開
発、品質管理、保守作業において広く使用されている。
【0003】また、波形解析装置は、トリガ信号を用い
て所望の条件を満たす波形データのみをメモリに格納す
ることができる。そしてメモリは、トリガ信号ごとに測
定した波形データを複数格納することができ、ヒストリ
メモリとも呼ばれる。
【0004】図8は、従来の波形解析装置の例を示した
構成図である。図8において、測定部10は、入力回路
11、AD変換回路12、トリガ検出回路13、メモリ
制御回路14を有し、被測定波形が入力され、この被測
定波形をデジタル信号に変換して波形データとして出力
すると共に、所望の波形を格納するための制御信号を出
力する。一般的に入力回路11は複数チャネルあり、入
力回路11ごとにAD変換回路12も設けられるが、1
チャネル分のみ図示している。
【0005】入力回路11は、被測定波形が入力され、
この入力波形を所望の振幅レベルに変換し、出力する。
AD変換回路12は、入力回路11から出力された信号
をデジタル信号に変換して波形データとして出力する。
トリガ検出回路13は、入力回路11から出力された信
号によってトリガ信号を出力する。メモリ制御回路14
は、トリガ検出回路13からのトリガ信号によって、制
御信号を出力する。
【0006】記憶部であるヒストリメモリ20は、メモ
リ制御回路14からの指示により、AD変換回路12か
らの波形データを格納する。指定部30は、ボタンやロ
ータリーノブ等であり、表示させる波形データやチャネ
ルの選択、選択した波形データの解析位置、解析項目を
出力する。
【0007】表示処理部40は、解析手段41を有し、
指定部30からの出力に基づいてヒストリメモリ20か
ら波形データを読み出し、波形解析を行う。また、表示
処理部40は、波形データや解析結果を所望の形式の表
示データに変換して出力する。解析手段41は、表示処
理部40が読み出した波形データの波形解析を行う。表
示部50は、表示処理部40から出力された表示データ
を表示画面に表示する。
【0008】このような装置の動作を説明する。入力回
路11が、被測定波形を所望の振幅レベルとなるように
減衰、増幅を行い、AD変換回路12およびトリガ検出
回路13に出力する。そして、AD変換回路12が、入
力回路11から出力された信号をデジタル信号に変化
し、波形データとしてヒストリメモリ20に出力する。
【0009】一方、トリガ検出回路13は、入力回路1
1からの信号レベルが所望のトリガ条件となるのを検出
すると、トリガ信号を出力する。所望のトリガ条件と
は、例えば、信号レベルが負から正になる場合や、複数
チャネルからの信号が特定の信号レベルを超える場合等
である。
【0010】そして、メモリ制御回路14が、トリガ検
出回路13からのトリガ信号を基準として、ヒストリメ
モリ20にAD変換回路12からの波形データを、トリ
ガ信号ごとに格納させる。この時、基準となるトリガ信
号前後の所望時間分の波形データをヒストリメモリ20
に格納できるように、AD変換回路12が波形データを
出力する。また、メモリ制御回路14が、ヒストリメモ
リ20に複数格納した波形データを識別するためのイン
デックス、例えば格納した順番を表す番号を、波形デー
タごとに付加する。
【0011】また、指定部30のボタンやロータリーノ
ブを介して、ヒストリメモリ20から読み出す波形デー
タの選択、波形解析を行う位置、波形解析を行う対象チ
ャネル、波形解析の項目等が表示処理部40に入力され
【0012】そして、表示処理部40が、指定部30か
らの指示に従いヒストリメモリ20に格納された波形デ
ータを読み出し、表示部50の表示画面に波形表示させ
る。図9は、このような装置における表示部50に設け
られた表示画面の表示例である。図9において、横軸は
時間軸であり、縦軸は信号レベルである。波形100
は、ヒストリメモリ20から選択されて読み出された波
形データである。
【0013】また、解析手段41が、読み出した波形デ
ータの波形解析を行う。これらの解析結果も、表示処理
部40が、表示部50の表示画面に表示させる。再び、
図9において、トリガ点Trgは、波形100において
トリガ信号が出力された位置を示している。カーソルC
ur1、Cur2は、波形解析を行う解析位置を示して
いる。横軸情報T0は、カーソルCur1、Cur2の
トリガ点Trgそれぞれからの位置”X1”、”X
2”、カーソルCur1、Cur2間の時間幅”Δ
X”、時間幅の逆数”1/ΔX”が表示されている。解
析結果R0は、カーソルCur1、Cur2それぞれに
おける波形100の信号レベル”Y1”、”Y2”、こ
れらの信号レベル差”ΔY”が表示されている。
【0014】さらに、表示処理部40が波形データや解
析結果を図示しない印刷手段に印刷させたり、図示しな
い外部メディアに記憶させる。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】このような装置でトリ
ガ信号ごとに取得した波形データの解析は、繰り返し同
じ様な動作を行う機器の性能評価やトレンドの測定に用
いられ、測定条件、例えばサンプリング時間や信号レベ
ルの増幅等も同一条件で測定される。以下に例を挙げ
る。
【0016】例(1)自動車のエンジン部分のシリンダ
の上下運動を電気信号に変換し、シリンダの上死点をト
リガ条件として、シリンダ内の圧力、温度等の変化を電
気信号に変換して測定する。そして、トリガ点Trgを
基準とした解析位置で、シリンダの移動距離、圧力、温
度等の解析を行う。
【0017】例(2)電子回路において、信号レベルが
ロウベルからハイレベルに変わる波形の測定で、あるレ
ベルを超えた場合をトリガ条件とし、そのトリガ点Tr
gから所望の解析位置におけるオーバーシュート、アン
ダーシュートの振幅の解析を行う。
【0018】例(1)、例(2)に挙げたような機器の
測定は、単発の測定ではなく膨大な回数を測定して、解
析し、統計的に処理する必要がある。そのため波形測定
装置は、長時間にわたり波形データを格納可能なように
ヒストリメモリ20が大容量化され、数百から数千の波
形を格納できる。
【0019】しかし、ヒストリメモリ20の大容量化に
よって、ヒストリメモリ20の全波形データを順次読み
出して表示画面に波形表示させ、それぞれに対してカー
ソルCur1、Cur2を同一の解析位置に設定して解
析し、目視で解析結果を確認して記録するのは手間と時
間がかかり、非常に効率が悪い。また、ヒストリメモリ
20の波形データを図示しない処理装置に外部メディア
や通信装置等を介して転送して、波形解析を行う方法も
あるが、大容量の波形データを転送するのは時間がかか
り効率が悪い。
【0020】そこで、本発明の目的は、記憶部に格納さ
れた複数の波形データの波形解析を直ちにかつ容易に行
える波形解析装置を実現することにある。
【0021】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
トリガ信号を基準として被測定波形を測定し、波形デー
タとして記憶部に順次格納し、この記憶部に格納した複
数の波形データから所望の波形データを表示部に波形表
示させる波形解析装置において、前記表示部の波形表示
に解析位置を指定する指定部と、この指定部の解析位置
で、前記記憶部における表示及び非表示の波形データの
波形解析を行う解析手段とを設けたことを特徴とするも
のである。
【0022】請求項2記載の発明は、請求項1記載の発
明において、解析手段は、解析位置をトリガ信号からの
位置により特定し、波形データの波形解析を行うことを
特徴とするものである。
【0023】請求項3記載の発明は、請求項1または2
記載の発明において、解析手段は、2つの解析位置で指
定される範囲で波形解析を行うことを特徴とするもので
ある。
【0024】請求項4記載の発明は、請求項3記載の発
明において、解析手段は、解析位置で指定される範囲で
波形データにより周波数成分を求める波形解析を行うこ
とを特徴とするものである。
【0025】請求項5記載の発明は、請求項1〜4のい
ずれかに記載の発明において、解析手段は、波形データ
の波形解析を行った解析結果の統計処理を行うことを特
徴とするものである。
【0026】請求項6記載の発明は、請求項5記載の発
明において、解析手段は、解析位置で波形データの信号
レベルを求める波形解析を行い、この解析結果における
最大値、最小値、平均値、分散、統計処理を行った波形
データの解析数の少なくとも一つを求める統計処理を行
うことを特徴とするものである。
【0027】
【発明の実施の形態】以下図面を用いて本発明の実施の
形態を説明する。図1は本発明の一実施例を示した構成
図である。ここで、図8と同一のものは同一符号を付
し、説明を省略する。図1において、表示処理部40の
代わりに表示処理部60が設けられる。
【0028】表示処理部60は、解析手段61を有し、
指定部30からの出力に基づいて、ヒストリメモリ20
から全波形データを読み出し、読み出した全波形データ
ごとに波形解析を行い、さらに解析結果の統計処理を行
う。また表示処理部60は、指定部30よって選択され
た波形データと、全波形データの解析結果、統計処理結
果を表示部50の表示画面に表示させる。解析手段61
は、表示処理部60の読み出した全波形データの波形解
析、統計処理を行う。
【0029】このような装置の動作を説明する。図2〜
図5は、図1に示す装置の表示部50の表示画面の表示
例である。ここで、図9と同一のものは同一符号を付
し、説明を省略する。図2〜図4において、横軸は時間
であり、縦軸は信号レベルである。
【0030】まず、表示処理部60が、指定部30によ
って選択された波形データのみをヒストリメモリ20か
ら読み出し、図2に示すように読み出した波形データを
波形101として表示部50の表示画面に表示させる。
【0031】そして、指定部30を介して、図2に示す
ボタン200が選択されると、表示処理部60が、図3
に示すように解析位置であるカーソルCur1、Cur
2を表示させる。さらに、指定部30を介してカーソル
Cur1、Cur2が所望の解析位置に移動され、解析
位置が指定される。
【0032】また、指定部30を介して、図3に示すボ
タン201が選択されると、表示処理部60が、ヒスト
リメモリ20から1チャネル分の全波形データを読み出
す。そして、解析手段61が、読み出した全波形データ
に対して、指定された解析位置、すなわちカーソルCu
r1、Cur2で波形解析を行い、さらに解析結果の統
計処理を行う。統計処理の例としては、最大値、最小
値、平均値、分散、統計処理を行った波形データの解析
数を求める。
【0033】そして、表示処理部60が、図4に示すよ
うに、トリガ点TrgからカーソルCur1、Cur2
までの位置”X1”、”X2”、およびカーソルCur
1、Cur2間の時間幅”ΔX”、時間幅の逆数”1/
ΔX”からなる時間情報T1を表示させる。
【0034】さらに、カーソルCur1、Cur2にお
ける波形101の信号レベル”Y1(C1)”、”Y2
(C1)”からなる解析結果R1を表示させる。
【0035】また、最大値”Max”、最小値”Mi
n”、平均値”Avg”、分散”Sdv”、統計処理を
行った波形データの解析数”Cnt”からなる統計処理
結果R2を表示させる。
【0036】さらに、指定部30を介して、図4に示す
ボタン202が選択されると、表示処理部60が、図5
に示すように全波形データの解析結果を一覧で表示させ
る。図5において、各行ごとに左から波形データのイン
デックス、カーソルCur1における信号レベル”Y1
(C1)”、カーソルCur2における信号レベル”Y
2(C1)”、これらの信号レベル差”ΔY(C1)”
が表示され、最大値、最小値となる解析結果の近傍に
は、最大値を表す上矢印のマーカMrk1、最小値を表
す下矢印のマーカMrk2が表示される。
【0037】そして、表示処理部60が、解析結果、統
計処理結果を図示しない印刷手段に印刷させたり、図示
しない外部メディアに記憶させる。
【0038】ここで、表示処理部60が、ヒストリメモ
リ20の1チャネル分の全波形データを読み出し、読み
出した全波形データに対して、同一の解析位置で波形解
析、および解析結果の統計処理を行い、表示部50の表
示画面に表示させる動作以外は図8に示す装置と同様な
ので、説明を省略する。
【0039】このように、ヒストリメモリ20に格納さ
れた複数の波形データに対して、同一の解析位置で波形
解析および解析結果の統計処理を行うので、ヒストリメ
モリ20の波形データを順番に波形表示させて解析位置
を指定して解析させ、解析結果の確認をし、さらに個々
に求めた解析結果を集計して統計処理をする必要がな
い。これにより、ヒストリメモリ20に格納された複数
の波形データの波形解析や統計処理を直ちにかつ容易に
行うことができる。従って、波形解析や、統計処理を短
時間で行うことができ、工数がかからない。
【0040】また、ヒストリメモリ20に格納された1
チャンル分の複数の波形データに対して、同一の解析位
置で波形解析を行うので、トリガ信号ごとに、トリガ信
号を基準として同一の測定条件で測定された被測定波形
の波形解析および解析結果の統計処理を直ちにかつ容易
に行うことができる。
【0041】なお、本発明はこれに限定されるものでは
なく、以下のようなものでもよい。ヒストリメモリ20
に格納されている1チャネル分の全波形データを読み出
し、波形解析を行う構成を示したが、所望数の波形デー
タのみ読み出し、波形解析を行うようにしてもよい。
【0042】また、トリガ検出回路13は、入力回路1
1からの信号でトリガ条件を検出し、トリガ信号を出力
する構成としたが、図示しない外部装置から信号を入力
し、この図示しない外部装置から入力された信号でトリ
ガ条件を検出する構成としてもよい。
【0043】また、1チャネル分の全波形データのみを
読み出し、波形解析、統計処理を行う例を示したが、複
数チャネル、例えば4チャネル分の波形データを読み出
し、各チャネルごとの信号レベルや、各チャネル間の信
号レベル差等の波形解析、および解析結果の統計処理を
行い、表示画面に表示させてもよい。すなわち、図6、
図7に示すように表示部50の表示画面に表示させる。
【0044】ここで、図2〜図5と同一のものは同一符
号を付し、説明を省略する。図6において、波形102
〜105のそれぞれは、チャネル1〜チャネル4の波形
データが表示されている。また、カーソルCur1にお
ける波形102、103の信号レベル”Y1(C
1)”、”Y1(C2)”である解析結果R3が表示さ
れている。また、最大値”Max”、最小値”Mi
n”、平均値”Avg”、分散”Sdv”、統計処理を
行った波形データの解析数”Cnt”からなる統計処理
結果R4が表示されている。
【0045】波形104、105も波形解析されている
が、表示画面の表示スペースの関係により、所望の優先
順位で表示させているため、波形104、105の解析
結果は表示されていない。そして、図7において、各チ
ャネルの全波形データの解析結果の一覧が表示され、各
行ごとに左から波形データのインデックス、カーソルC
ur1における1チャネルから4チャネルそれぞれの信
号レベル”Y1(C1)”、”Y1(C2)”、”Y1
(C3)”、”Y1(C4)”が表示されている。
【0046】また、ヒストリメモリ20の全波形データ
を読み出し、波形解析および解析結果の統計処理を行う
例を示したが、波形解析のみを行ってもよい。
【0047】また、カーソルCur1、Cur2は、時
間軸に対して垂直としたが、時間軸に対して水平とし、
トリガ点から所望の電圧レベルとなるまでの時間を求
め、求めた解析結果を統計処理してもよい。
【0048】また、表示部50の表示画面に表示されて
いるチャネルの波形データのみを波形解析する構成を示
したが、表示されていないチャネルの波形データをカー
ソルCur1、Cur2で指定された解析位置で波形解
析を行ってもよい。
【0049】さらに、解析手段61は、カーソルCur
1、Cur2で挟まれた区間で、波形データの周波数解
析、例えば高速フーリエ変換を行い、この周波数成分の
トレンドの統計処理をしてもよい。
【0050】
【発明の効果】本発明によれば、以下のような効果があ
る。請求項1〜6によれば、記憶部に格納された複数の
波形データに対して、同一の解析位置で波形解析を行う
ので、記憶部の波形データを順番に波形表示させて解析
位置を指定して解析させる必要がない。これにより、記
憶部に格納された複数の波形データの波形解析を直ちに
かつ容易に行うことができる。従って、波形解析を短時
間で行うことができ、工数がかからない。
【0051】また、記憶部に格納された複数のデジタル
データに対して、同一の解析位置で波形解析を行うの
で、トリガ信号を基準として同一の測定条件で測定され
た複数の被測定波形の波形解析を直ちにかつ容易に行う
ことができる。
【0052】また、請求項5、6によれば、波形解析の
解析結果の統計処理を行うので、記憶部の波形データを
順番に波形表示させて解析位置を指定して解析させ、解
析結果の確認をし、さらに個々に求めた解析結果を集計
して統計処理をする必要がない。これにより、記憶部に
格納された複数の波形データの統計処理を直ちにかつ容
易に行うことができる。従って、統計処理を短時間で行
うことができ、工数がかからない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図2】図1に示す装置の表示部50の表示画面の第1
の表示例である。
【図3】図1に示す装置の表示部50の表示画面の第2
の表示例である。
【図4】図1に示す装置の表示部50の表示画面の第3
の表示例である。
【図5】図1に示す装置の表示部50の表示画面の第4
の表示例である。
【図6】図1に示す装置の表示部50の表示画面の第5
の表示例である。
【図7】図1に示す装置の表示部50の表示画面の第6
の表示例である。
【図8】従来の波形解析装置の構成図である。
【図9】図8に示す装置の表示部50の表示画面の表示
例である。
【符号の説明】
20 ヒストリメモリ(記憶部) 30 指定部 50 表示部 60 表示処理部 61 解析手段

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 トリガ信号を基準として被測定波形を測
    定し、波形データとして記憶部に順次格納し、この記憶
    部に格納した複数の波形データから所望の波形データを
    表示部に波形表示させる波形解析装置において、 前記表示部の波形表示に解析位置を指定する指定部と、 この指定部の解析位置で、前記記憶部における表示及び
    非表示の波形データの波形解析を行う解析手段とを設け
    たことを特徴とする波形解析装置。
  2. 【請求項2】 解析手段は、解析位置をトリガ信号から
    の位置により特定し、波形データの波形解析を行うこと
    を特徴とする請求項1記載の波形解析装置。
  3. 【請求項3】 解析手段は、2つの解析位置で指定され
    る範囲で波形解析を行うことを特徴とする請求項1また
    は2記載の波形解析装置。
  4. 【請求項4】 解析手段は、解析位置で指定される範囲
    で波形データにより周波数成分を求める波形解析を行う
    ことを特徴とする請求項3記載の波形解析装置。
  5. 【請求項5】 解析手段は、波形データの波形解析を行
    った解析結果の統計処理を行うことを特徴とする請求項
    1〜4のいずれかに記載の波形解析装置。
  6. 【請求項6】 解析手段は、解析位置で波形データの信
    号レベルを求める波形解析を行い、この解析結果におけ
    る最大値、最小値、平均値、分散、統計処理を行った波
    形データの解析数の少なくとも一つを求める統計処理を
    行うことを特徴とする請求項5記載の波形解析装置。
JP2002142791A 2002-05-17 2002-05-17 波形解析装置 Expired - Fee Related JP3787840B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002142791A JP3787840B2 (ja) 2002-05-17 2002-05-17 波形解析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002142791A JP3787840B2 (ja) 2002-05-17 2002-05-17 波形解析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003337142A true JP2003337142A (ja) 2003-11-28
JP3787840B2 JP3787840B2 (ja) 2006-06-21

Family

ID=29702969

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002142791A Expired - Fee Related JP3787840B2 (ja) 2002-05-17 2002-05-17 波形解析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3787840B2 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006214790A (ja) * 2005-02-02 2006-08-17 Yokogawa Electric Corp 波形解析装置
JP2007127640A (ja) * 2005-11-04 2007-05-24 Tektronix Inc 測定機器及びパワー統計を求める方法
JP2007205751A (ja) * 2006-01-31 2007-08-16 Yokogawa Electric Corp シリアル通信データの波形測定方法及び装置
JP2007248115A (ja) * 2006-03-14 2007-09-27 Yokogawa Electric Corp 波形測定装置
JP2009115547A (ja) * 2007-11-05 2009-05-28 Yokogawa Electric Corp 波形解析装置
JP2011058882A (ja) * 2009-09-08 2011-03-24 Yokogawa Electric Corp 波形表示装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006214790A (ja) * 2005-02-02 2006-08-17 Yokogawa Electric Corp 波形解析装置
JP4556123B2 (ja) * 2005-02-02 2010-10-06 横河電機株式会社 波形解析装置
JP2007127640A (ja) * 2005-11-04 2007-05-24 Tektronix Inc 測定機器及びパワー統計を求める方法
JP2007205751A (ja) * 2006-01-31 2007-08-16 Yokogawa Electric Corp シリアル通信データの波形測定方法及び装置
JP2007248115A (ja) * 2006-03-14 2007-09-27 Yokogawa Electric Corp 波形測定装置
JP2009115547A (ja) * 2007-11-05 2009-05-28 Yokogawa Electric Corp 波形解析装置
JP2011058882A (ja) * 2009-09-08 2011-03-24 Yokogawa Electric Corp 波形表示装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3787840B2 (ja) 2006-06-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20020063712A1 (en) Instrument having a virtual magnifying glass for displaying magnified portions of a signal waveform
US7729872B2 (en) Digital signal analysis program and waveform display apparatus
CN1230683C (zh) 初级测量值与导出参数的同时显示
US10557870B2 (en) Apparatus and method for time correlated signal acquisition and viewing
JP2516536B2 (ja) 信号特性表示方法
US10061466B2 (en) Method for automatically adjusting the magnification and offset of a display to view a selected feature
JP2009515199A (ja) 複数領域マーカの方法、システム及び装置
TWI509260B (zh) 低電壓差分信號測試的系統和方法
JP2008232968A (ja) 信号分析装置、方法及びプログラム
CN1979180A (zh) 波形测量装置及其方法
JP3787840B2 (ja) 波形解析装置
US7330044B2 (en) Method and apparatus for semiconductor testing
EP3220550B1 (en) Method and apparatus for analyzing a transmission signal
US20140163940A1 (en) Method and system for modeling rf emissions occurring in a radio frequency band
US20230251292A1 (en) Data analysis system, measurement device, and method
JP4483285B2 (ja) 波形測定装置
JP3223486B2 (ja) 波形解析装置
CN109765411B (zh) 波形显示装置及历史波形统计方法
JP4556123B2 (ja) 波形解析装置
KR100360279B1 (ko) 데이터 측정장치
JP3370272B2 (ja) 機器の過渡状態表示装置
US20240103056A1 (en) Method, signal processing device, and measurement application device
JP3407667B2 (ja) データ表示方法及びこれを用いた測定器
JP3493652B2 (ja) 波形観測装置
JP2000187087A (ja) 測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050728

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050829

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051027

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20051205

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060203

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060306

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060319

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 3787840

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090407

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100407

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100407

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110407

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130407

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130407

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140407

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees