JPH1026668A - 校正装置および中性子束測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【課題】 中性子束増幅器のオフセットとゲインの校正
を自動的に行なう。 【解決手段】 スイッチ３２を動作側に、スイッチ３４
を校正側に切り替え、プロセッサ２４から校正信号発生
回路２０にオフセット校正信号ａとゲイン校正信号ｄを
順次入力し、増幅器１６を介さずに、スイッチ３４を介
して中性子束信号入力回路２２に入力された信号をそれ
ぞれデジタル信号に変換してオフセット校正入力信号
ｂ、ゲイン校正入力信号ｅとして入力する。次に、スイ
ッチ３２を校正側に、スイッチ３４を動作側に切り替
え、プロセッサ２４から校正信号発生回路２０にオフセ
ット校正信号ａ、ゲイン校正信号ｄを順次出力する。オ
フセット校正信号ａ、ゲイン校正信号ｄはそれぞれ増幅
器１６で増幅された後スイッチ３４を介して中性子束信
号入力回路２２に入力され、オフセット校正増幅信号
ｃ、ゲイン校正増幅信号ｆとしてプロセッサ２４に入力
される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、校正装置および中
性子束測定装置に係り、特に、原子力発電所において中
性子束を計測する装置を校正するに好適な校正装置およ
び中性子束測定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】沸騰水型原子力発電所においては、炉心
内の状態を監視するために、固定型中性子束測定装置を
炉心内に設置し、固定型中性子束測定装置により測定さ
れた中性子束や炉心内の水の量、圧力、温度等の測定デ
ータを基に炉心性能をプロセス計算機で算出することが
行なわれている。測定データのうち中性子束に関する測
定データは炉心出力に影響するところから正確な測定値
を得ることが必要とされており、燃料の健全性の監視ポ
イントとなる。しかし、固定型中性子束測定装置は炉心
内に設置されるため、常に放射エネルギが照射され、感
度が徐々に劣化する。そこで、感度の劣化を補償するた
めに、発電所の運転の要所において、炉心内を移動型中
性子束測定装置を移動させて中性子束を測定し、この装
置によって測定された測定データを基に固定型中性子束
測定装置を校正することが行なわれている。

【０００３】移動型中性子束測定装置は、原子炉の炉心
内を上下方向移動して中性子束信号を計測する移動型検
出器と、移動型検出器により検出された微弱な中性子束
信号を増幅する増幅器を備えており、増幅器により増幅
された中性子束信号が中性子束信号処理装置を介してプ
ロセッサに入力され、プロセッサで中性子束に関する測
定情報を算出し、この算出された測定情報が出力装置を
介してプロセス計算機に出力されるようになっている。
そしてプロセス計算機にて炉心性能等の各種の計算が行
なわれる。

【０００４】つまり、微弱な中性子束信号を増幅する増
幅器の精度が移動型中性子束測定装置の測定値の精度を
決定し、さらには、炉心性能計算の精度を左右すること
になる。

【０００５】そこで、移動型中性子束測定装置を用いて
中性子束を測定するに先立って、移動型中性子束測定装
置に用いられる増幅器の入出力特性として、オフセット
とゲインを校正することが行なわれている。

【０００６】増幅器の入出力特性を校正するに際して
は、従来、オペレータが増幅器の入力側に中性子束信号
の模擬信号を与え、増幅器の出力を測定装置により測定
し、この測定結果から増幅器のオフセットとゲインを調
整することが行なわれている。なお、校正対象がデジタ
ル装置の校正方法としては、例えば、特公平６−１９４
５８号公報に記載されているように、設定操作回路から
測定対象の装置にゲインとバイアス値を入力し、測定対
象の出力を主記憶装置に格納し、主記憶装置に格納され
たゲインとバイアス値を使用してデジタル装置の校正値
を算出することが行なわれている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】従来技術では、アナロ
グ信号である校正信号を増幅器に与えて増幅器の出力信
号を測定し、この測定値から増幅器のオフセットとゲイ
ンの調整を行なう一連の作業をオペレータが実施してい
るため、増幅器のオフセットとゲインを調整するにも、
増幅器に設けられた可変抵抗器を手動操作しなければな
らず、増幅器のオフセットとゲインを精度良く調整する
ことが難しく、且つ時間がかかる。

【０００８】本発明の目的は、校正対象の入出力特性の
調整を自動的に行なうことができる校正装置および中性
子束測定装置を提供することにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明は、校正対象に校正信号を入力する入力手段
と、校正信号が入力された校正対象の出力信号を計測す
る計測手段と、入力手段の入力による校正信号と計測手
段の計測値を基に校正対象の入出力特性に関する校正値
を算出する校正値算出手段と、校正値算出手段の算出に
よる校正値に従って校正対象の入出力特性を補正する補
正手段とを備えている校正装置を構成したものである。

【００１０】前記校正装置を構成するに際しては、計測
手段として、入力手段の入力による校正信号と校正信号
が入力された校正対象の出力信号をそれぞれ計測するも
ので構成することができる。さらに校正対象として、入
力信号を増幅する増幅器や中性子束に関するアナログ信
号を増幅する増幅器に適応することができる。

【００１１】また、本発明は、原子炉の炉心内を移動し
て中性子束信号を検出する中性子束検出手段と、校正信
号を発生する校正信号発生手段と、校正時に校正信号発
生手段からの校正信号を選択しそれ以外のときには中性
子束検出手段からの中性子束信号を選択する選択手段
と、選択手段により選択された信号を増幅する増幅器
と、増幅器の出力信号を計測する計測手段と、計測手段
の計測値と校正信号とを基に増幅器の入出力特性に関す
る校正値を算出する校正値算出手段と、校正値算出手段
の算出による校正値に従って増幅器の入出力特性を補正
する補正手段と、補正手段により補正された増幅器の出
力信号に従って中性子束レベルを算出する中性子束レベ
ル算出手段とを備えている中性子束測定装置を構成した
ものである。

【００１２】前記中性子束測定装置を構成するに際して
は、以下の要素を付加することできる。

【００１３】（１）自動校正を起動するための操作のガ
イダンスを表示する第１ガイダンス表示手段を備えてい
る。

【００１４】（２）校正値算出手段の算出による校正値
と基準値とを比較して校正値が基準値の範囲内に入って
いるか否かを判定する判定手段と、判定手段の判定結果
を表示する判定結果表示手段とを備えている。

【００１５】（３）補正手段により補正された入出力特
性の校正結果の来歴を記録する記録手段と、記録手段に
記録された内容をトレンド表示するトレンド表示手段
と、トレンド表示手段により表示されたトレンドの値と
許容値との偏差が設定値より小さいときに校正操作を指
令するためのガイダンスを表示する第２ガイダンス表示
手段とを備えている。

【００１６】（４）校正信号発生手段はオフセット測定
用校正信号とゲイン測定用校正信号を順次発生してな
る。

【００１７】前記した手段によれば、校正対象に校正信
号を入力し、校正対象の出力信号を計測し、校正信号と
校正対象を計測して得られた計測値を基に校正対象の入
出力特性に関する校正値を算出し、この算出値にしたが
って校正対象の入出力特性を補正することで、校正対象
の入出力特性に関する校正を自動的に行なうことができ
る。

【００１８】また中性子束信号を増幅する増幅器を校正
するに際しては、選択手段により校正信号発生手段から
の校正信号を増幅器に与え、増幅器の出力信号を計測
し、校正信号と増幅器を計測して得られた計測値とを基
に増幅器の入出力特性に関する校正値を算出し、この算
出値に従って増幅器の入出力特性を校正することで、増
幅器の入出力特性を自動的に校正することができる。こ
の場合、校正信号としてオフセット測定用校正信号とゲ
イン測定用校正信号を順次増幅器に入力することで、増
幅器のオフセットとゲインの調整を正確に且つ短時間で
行なうことができる。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態を図
面に基づいて説明する。

【００２０】図１は校正装置を中性子束測定装置に適用
したときの実施の形態を示す移動型中性子束測定装置の
全体構成図である。図１において、移動型中性子束測定
装置は、移動型検出器１０、コントローラ１２、操作表
示パネル１４を備えて構成されており、移動型検出器１
０がコントローラ１２に接続され、コントローラ１２が
操作表示パネル１４に接続されている。移動型検出器１
０は原子炉の炉心内を上下方向に移動して中性子束信号
を計測する中性子束検出手段として構成されており、中
性子束信号がコントローラ１２に入力されている。コン
トローラ１２は、中性子束増幅器１６、中性子束信号処
理部１８、校正信号発生回路２０、中性子束信号入力回
路２２、プロセッサ２４、操作指令入力部２６、表示情
報出力部２８、メモリ３０を備えて構成されており、中
性子束増幅器１６が移動型検出器１０に接続され、操作
指令入力部２６、表示情報出力部２８がそれぞれ操作表
示パネル１４に接続されている。

【００２１】中性子束増幅器１６は、移動型検出器１０
からの中性子束信号をスイッチ（図示省略）を介して取
り込み、微弱な中性子束信号を増幅するアナログ増幅器
として構成されている。校正信号発生回路２０はデジタ
ル信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器を内蔵
し、プロセッサ２４からの信号をアナログ信号に変換し
て中性子束増幅器１６に入力するようになっている。す
なわち校正信号発生回路２０はプロセッサ２４とともに
校正信号を校正対象の中性子束増幅器１６に入力する入
力手段を構成するとともに、校正信号を発生する校正信
号発生手段としても構成されている。

【００２２】中性子束信号入力回路２２はアナログ信号
をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器を内蔵し、中性
子束増幅器１６で増幅された中性子束信号をスイッチ
（図示省略）を介して入力したり、校正信号発生回路２
０からの校正信号をスイッチ（図示省略）を介して入力
したりするようになっており、入力したいずれかのアナ
ログ信号をデジタル信号に変換してプロセッサ２４に出
力するようになっている。

【００２３】プロセッサ２４は中性子束信号入力回路２
２からのデジタル信号を基に中性子束増幅器１６の入出
力特性に関する校正値、例えばオフセット、ゲインに関
する校正値を算出する校正値算出手段を構成するととも
に、校正値に従って中性子束増幅器１６の入出力特性を
補正する補正手段をも構成するようになっている。そし
てこれらの演算を行なうために、計測値や校正値に関す
るデータがメモリ３０に格納されるようになっている。
さらにプロセッサ２４は、メモリ３０に格納された校正
値と基準値とを比較して校正値が基準値の範囲内に入っ
ているか否かを判定する判定手段を構成するとともに、
入出力特性の補正された中性子束増幅器１６の出力信号
に従って中性子束レベルを算出する中性子束レベル算出
手段としても構成されている。また、プロセッサ２４
は、操作指令入力部２６からの指令に基づいて各種の演
算を行ない、演算結果を表示情報出力部２８を介して操
作表示パネル１４に表示させるようになっている。操作
表示パネル１４には、操作員の操作に必要な操作情報が
各種表示されるとともに、操作をガイダンスするための
ガイダンス情報やメモリ３０に記録された校正結果の来
歴がトレンド表示されるようになっており、操作表示パ
ネル１４は、判定結果表示手段、ガイダンス表示手段お
よびトレンド表示手段として構成されている。

【００２４】次に、中性子束増幅器１６の入出力特性を
校正するに先立って、校正装置の１要素となる校正信号
発生回路２０、中性子束信号入力回路２２の校正につい
て説明する。

【００２５】まず、図２（ａ）に示すように、「開始ス
イッチ」を操作するか否かのガイダンスが表示されたと
きに、オペレータが操作表示パネル１４上の開始のスイ
ッチを操作すると、図３に示すように、プロセッサ２４
からの指令により、移動型検出器１０と増幅器１６との
間に挿入されたスイッチ（選択手段）３２が動作側に切
り替えられ、増幅器１６と中性子束信号入力回路２２と
の間に挿入されたスイッチ３４が校正側に切り替えられ
る。この状態でプロセッサ２４から校正信号発生回路２
０へオフセット校正信号Ａ（０Ｖ電圧）が出力される。
オフセット校正信号Ａは校正信号発生回路２０でアナロ
グ信号に変換された後、スイッチ３４を介して中性子束
信号入力回路２２に入力され、デジタル信号に変換され
た後オフセット校正信号Ｂとしてプロセッサ２４に入力
される。このとき信号測定点３６に、指定の規格に基づ
いて校正された標準計器を接続し、校正信号発生回路２
０の出力を測定し、オフセット校正信号実測値Ｃとして
プロセッサ２４に入力する。プロセッサ２４に入力され
たオフセット校正入力信号Ｂ、オフセット校正信号実測
値Ｃのデジタルデータはメモリ３０に格納される。

【００２６】次に、プロセッサ２４から校正信号発生回
路２０にゲイン校正信号Ｄ（増幅器１６の出力電圧がフ
ルースケール近傍の電圧を示すときの信号）が出力され
る。ゲイン校正信号Ｄは校正信号発生回路２０でアナロ
グ信号に変換された後スイッチ３４を介して中性子束信
号入力回路２２に入力され、ここでデジタル信号に変換
され、ゲイン校正入力信号Ｅとしてプロセッサ２４に入
力される。さらに校正信号発生回路２０の出力が信号測
定点３６で標準計器により計測され、この計測値がゲイ
ン校正信号実測値Ｆとしてプロセッサ２４に入力され
る。そしてゲイン校正入力信号Ｅ、ゲイン校正信号実測
値Ｆに関するデータはそれぞれメモリ３０に格納され
る。

【００２７】次に、プロセッサ２４は、メモリ３０に格
納されたデータに基づいて校正信号発生回路２０、中性
子束信号入力回路２２のオフセットとゲインを算出す
る。

【００２８】校正信号発生回路２０のオフセットｘ１
（Ａ）、ゲインｙ１（Ｄ）は次の式に従って求めること
ができる。

【００２９】オフセットｘ１（Ａ）＝Ａ−Ｃ……（１） ゲインｙ１（Ｄ）＝｛Ｄ−ｘ１（Ａ）｝／Ｆ……（２） 一方、中性子束信号入力回路２２のオフセットｘ２
（Ａ）、ゲインｙ２（Ｄ）は次の式に従って求めること
ができる。

【００３０】オフセットｘ２（Ａ）＝Ｃ−Ｂ……（３） ゲインｙ２（ｄ）＝Ｆ／｛Ｅ＋ｘ２（Ａ）｝……（４） （１）〜（４）式で求められたオフセットとゲインに関
するデータはメモリ３０に格納され、校正信号発生回路
２０に入力する信号や中性子束信号入力回路２２から出
力される信号に適用され、校正信号発生回路２０、中性
子束信号入力回路２０のオフセットとゲインに関する校
正が実施される。すなわち、（１）〜（４）式で求めら
れたオフセットとゲインに関するデータに従ってオフセ
ットとゲインを設定範囲内の値に修正する。

【００３１】この場合、校正信号発生回路２０、中性子
束信号入力回路２２のオフセットおよびゲインが精度良
く校正されたか否かを確認するために、プロセッサ２４
から校正用の参照信号を校正信号発生回路２０に出力す
ると同時に、操作表示パネル１２に校正用の参照信号の
精度の範囲を示すガイダンスを表示する。このガイダン
スとしては、図２（ｂ）に示すように、「標準計器を信
号測定点３６に接続し、測定値が下記の精度範囲内であ
ることを確認ください。」という内容のものが表示され
る。さらに、このとき信号測定点３６に接続された標準
計器の測定結果を基に、操作表示パネル１４に表示され
た精度範囲内（参照信号±０．１％）に収まっているか
否かを確認する。

【００３２】またさらにプロセッサ２４は、中性子束信
号入力回路２２からの信号を取り込み、この信号が精度
範囲内（参照信号±１％）に収まっているか否かを判定
する。そして各実測値が精度範囲内に収まっていないと
きには装置の校正処理を中止し、再度校正信号発生信号
２０、中性子束入力回路２２に関する校正処理を行なう
ように操作表示パネル１４にガイダンスを表示する。こ
のときは、図２（ｃ）に示すように、校正異常を示すガ
イダンスが表示される。

【００３３】一方、各実測値が精度範囲内に収まってい
たときには、校正信号発生回路２０、中性子束信号入力
回路２２の校正を完了する。このとき、操作表示パネル
１４には、図２（ｄ）に示すように、校正が正常に終了
した旨のガイダンスが表示される。この後は、校正され
た校正信号回路２０、中性子束信号入力回路２２を用い
て中性子束増幅器１６の校正が実施される。

【００３４】中性子束増幅器１６の入出力特性を校正す
るに際しては、まず、プロセッサ２４からの指令によ
り、スイッチ３２を動作側に切り替え、スイッチ３４を
校正側に切り替える。この状態でプロセッサ２４から校
正信号発生回路２０にオフセット校正信号ａ（１０μＡ
程度の電流値を示す信号）を入力すると、このオフセッ
ト校正信号ａは校正信号発生回路２０でデジタル信号に
変換された後スイッチ３４を介して中性子束信号２２に
入力され、デジタル信号に変換され後、オフセット校正
入力信号ｂとしてプロセッサ２４に入力される。そして
プロセッサ２４によりオフセット校正入力信号ｂに関す
るデータがメモリ３０に格納される。

【００３５】次に、プロセッサ２４からの指令により、
スイッチ３２を校正側に切り替え、スイッチ３４を動作
側に切り替える。この状態でプロセッサ２４から校正信
号発生回路２０にオフセット校正信号ａを入力すると、
このオフセット校正信号ａはアナログ信号に変換された
後、増幅器１６で増幅され、スイッチ３４を介して中性
子束信号入力回路２２に入力され、デジタル信号に変換
され後、オフセット校正増幅信号ｃとしてプロセッサ２
４に入力される。そしてプロセッサ２４によりオフセッ
ト校正増幅信号ｃに関するデータがメモリ３０に格納さ
れる。

【００３６】中性子束増幅器１６のオフセットはメモリ
３０に格納されたデータを基に次の（５）式によって求
められる。

【００３７】オフセットｘ３（ａ）＝ｂ−ｃ……（５） 次に、プロセッサ２４からの指令により、スイッチ３２
を動作側に切り替え、スイッチ３４を校正側に切り替
え、プロセッサ２４から校正信号発生回路２０にゲイン
校正信号ｄ（２０００μＡ程度の電流値を示す信号）を
入力する。ゲイン校正信号Ｄは校正信号発生回路２０で
アナログ信号に変換された後、スイッチ３４を介して中
性子束信号入力回路２０に入力され、デジタル信号に変
換された後ゲイン校正入力信号ｅとしてプロセッサ２４
に入力される。そしてプロセッサ２４によりゲイン校正
入力信号ｅに関するデータがメモリ３０に格納される。

【００３８】次に、プロセッサ２４からの指令によりス
イッチ３２が校正側に切り替えられ、スイッチ３４が動
作側に切り替えられる。この状態でプロセッサ２４から
校正信号発生回路２０にゲイン校正信号ｄが入力される
と、ゲイン校正信号ｄが増幅器１６で増幅された後スイ
ッチ３４を介して中性子束信号入力回路２２に入力さ
れ、デジタル信号に変換された後ゲイン校正増幅信号ｆ
としてプロセッサ２４に入力される。そしてプロセッサ
２４によりゲイン校正増幅信号ｆに関するデータがメモ
リ３０に格納される。

【００３９】メモリ３０にゲイン校正入力信号ｅ、ゲイ
ン校正増幅信号ｆに関するデータが格納された後は、こ
れらのデータを基に増幅器１６のゲインがプロセッサ２
４により、次の（６）式に従って算出される。

【００４０】 ゲインｙ３（ｄ）＝ｅ／｛ｆ＋ｘ３（ａ）｝……（６） （５）式、（６）式に従って増幅器１６のオフセットと
ゲインが算出された後は、これらの値が基準値の範囲内
にあるか否かの判定がプロセッサ２４により、次の
（７）、（８）式に従って実行される。

【００４１】 （Ｐ−４％）＜ｘ３（ａ）＜（Ｐ＋４％）……（７） （Ｑ−２．５％）＜ｙ３（ｄ）＜（Ｑ＋２．５％）……（８） ここで、Ｐはオフセットの理論値、Ｑはゲインの理論値
を示す。

【００４２】（７）、（８）式に従って、増幅器１６の
オフセットおよびゲインに関する算出値が設定値の範囲
内に入っているか否かをプロセッサ２４が判定した際
に、各算出値が上記式の条件を満足しないときには、そ
の値は不良値として除去する。さらに、オフセットまた
はゲインが不良値であることのガイダンスを操作表示パ
ネル１４に表示させて、校正処理を終了する。

【００４３】一方、各算出値が上記式を満足したときに
は、オフセットとゲインに関する算出値のデータをメモ
リ３０に格納し、これらのデータを増幅器１６からの出
力信号に適応することにより、増幅器１６のオフセット
およびゲインの校正を実施する。またこのときの校正結
果はメモリ３０に校正結果の来歴として格納される。

【００４４】中性子束増幅器１６に対する校正が終了し
たときに、プロセッサ２４からの指令により、表示情報
出力部２８を介して操作表示パネル１４に校正終了のガ
イダンスを表示させ、オペレータに校正が終了した旨を
知らせる。そしてオペレータが校正終了操作を行なうこ
とで、増幅器１６の校正処理が終了することになる。

【００４５】校正終了後に、オペレータが操作表示パネ
ル１４から来歴のトレンド表示指令を操作指令入力部２
６に与えると、トレンド表示指令がプロセッサ２４に入
力される。プロセッサ２４は操作指令入力部２６からの
指令に応答して、メモリ３０に格納されている校正結果
の来歴からトレンド情報を表示情報出力部２８を介して
操作表示パネル１４に表示する。このとき、プロセッサ
２４は、常時、来歴の校正結果のトレンドと許容特性デ
ータとを比較し、この許容値との偏差がメモリ３０に格
納されている設定値より小さくなったときには、オペレ
ータに対して装置に対する校正処理の実行を促すガイダ
ンスを表示情報出力部２８を介して操作表示パネル１４
に表示させる。

【００４６】以上の処理をまとめると、図５に示すよう
な内容となる。

【００４７】すなわち、校正処理の要否がガイダンス表
示され（ステップ１０１）、このとき校正開始のスイッ
チが操作されないときには（ステップ１０２）、移動型
検出器１０からの信号を増幅器１６で増幅し、増幅した
信号を中性子束信号入力２２でデジタル信号に変換して
プロセッサ２４に入力する。そしてプロセッサ２４で増
幅器１６に関するデータを処理し（ステップ１０３）、
校正結果来歴のトレンドと許容特性データとを比較し
（ステップ１０４）、比較結果が正常状態を示すときに
はステップ１０１の処理に戻り、比較結果が異常状態を
示すときには校正処理を要求するためのガイダンスを表
示する（ステップ１０５）。

【００４８】一方、ステップ１０２で校正開始のスイッ
チが操作されたときには、増幅器１６を校正するに先立
って中性子束信号処理部１８のオフセット、ゲインを算
出し（ステップ１０６）、この算出値を基に中性子束信
号処理部１８の校正を行う（ステップ１０７）。そし
て、この校正結果をチェックする（ステップ１０８）。
このとき校正結果が正常と判定されたときには、増幅器
１６のオフセット、ゲインを算出し（ステップ１０
９）、この算出値に従って増幅器１６のオフセット、ゲ
インを校正する（ステップ１１０）。そして、この校正
結果を基準値に従ってチェックする（ステップ１１
１）。ステップ１０８またはステップ１１１のチェック
で異常と判定されたときには校正結果が異常である旨を
ガイダンス表示する（ステップ１１２）。

【００４９】一方、ステップ１１１のチェックで正常と
判定されたときには、校正が正常な状態で終了した旨を
ガイダンス表示する（ステップ１１３）。

【００５０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
校正対象に校正信号を入力するとともに校正信号の出力
信号を計測し、校正信号と校正対象に関する計測値を基
に校正対象の入出力特性に関する校正値を算出し、この
算出値に従って校正対象の入出力特性を補正するように
したため、校正対象の校正を自動的に行なうことがで
き、校正作業を精度良く短時間で行なうことができる。
さらに中性子束信号を増幅する増幅器を校正対象とした
ときには、増幅器の入出力特性の校正を自動的に且つ精
度良く行なうことができ、校正された増幅器の信号を基
に中性子束レベルを算出することで、炉心性能計算の精
度の向上に寄与することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施の形態を示す移動型中性子束装
置の全体構成図である。

【図２】操作表示パネルのガイダンス表示例を示す図で
ある。

【図３】校正信号発生回路と中性子束信号入力回路を校
正するときのブロック構成図である。

【図４】中性子束増幅器の校正を実施するためのブロッ
ク構成図である。

【図５】図２および図４の校正方法を説明するためのフ
ローチャートである。

【符号の説明】

１０ 移動型検出器 １２ コントローラ １４ 操作表示パネル １６ 中性子束増幅器 １８ 中性子束信号処理部 ２０ 校正信号発生回路 ２２ 中性子束信号入力回路 ２４ プロセッサ ２６ 操作指令入力部 ２８ 表示情報出力部 ３０ メモリ

フロントページの続き (72)発明者 松宮 章一 茨城県日立市大みか町五丁目２番１号 株 式会社日立製作所大みか工場内

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 校正対象に校正信号を入力する入力手段
   と、校正信号が入力された校正対象の出力信号を計測す
   る計測手段と、入力手段の入力による校正信号と計測手
   段の計測値を基に校正対象の入出力特性に関する校正値
   を算出する校正値算出手段と、校正値算出手段の算出に
   よる校正値に従って校正対象の入出力特性を補正する補
   正手段とを備えている校正装置。
2. 【請求項２】 校正対象に校正信号を入力する入力手段
   と、入力手段の入力による校正信号と校正信号が入力さ
   れた校正対象の出力信号をそれぞれ計測する計測手段
   と、計測手段の各計測値を基に校正対象の入出力特性に
   関する校正値を算出する校正値算出手段と、校正値算出
   手段の算出による校正値に従って校正対象の入出力特性
   を補正する補正手段とを備えている校正装置。
3. 【請求項３】 入力信号を増幅する増幅器に校正信号を
   入力する入力手段と、入力手段の入力による校正信号と
   校正信号が入力された増幅器の出力信号をそれぞれ計測
   する計測手段と、計測手段の各計測値を基に増幅器の入
   出力特性に関する校正値を算出する校正値算出手段と、
   校正値算出手段の算出による校正値に従って増幅器の入
   出力特性を補正する補正手段とを備えている校正装置。
4. 【請求項４】 中性子束に関するアナログ信号を増幅す
   る増幅器に校正信号を入力する入力手段と、入力手段の
   入力による校正信号と校正信号が入力された増幅器の出
   力信号をそれぞれ計測する計測手段と、計測手段の各計
   測値を基に増幅器の入出力特性に関する校正値を算出す
   る校正値算出手段と、校正値算出手段の算出による校正
   値に従って増幅器の入出力特性を補正する補正手段とを
   備えている校正装置。
5. 【請求項５】 原子炉の炉心内を移動して中性子束信号
   を検出する中性子束検出手段と、校正信号を発生する校
   正信号発生手段と、校正時に校正信号発生手段からの校
   正信号を選択しそれ以外のときには中性子束検出手段か
   らの中性子束信号を選択する選択手段と、選択手段によ
   り選択された信号を増幅する増幅器と、増幅器の出力信
   号を計測する計測手段と、計測手段の計測値と校正信号
   とを基に増幅器の入出力特性に関する校正値を算出する
   校正値算出手段と、校正値算出手段の算出による校正値
   に従って増幅器の入出力特性を補正する補正手段と、補
   正手段により補正された増幅器の出力信号に従って中性
   子束レベルを算出する中性子束レベル算出手段とを備え
   ている中性子束測定装置。
6. 【請求項６】 自動校正を起動するための操作のガイダ
   ンスを表示する第１ガイダンス表示手段を備えている請
   求項５記載の中性子束測定装置。
7. 【請求項７】 校正値算出手段の算出による校正値と基
   準値とを比較して校正値が基準値の範囲内に入っている
   か否かを判定する判定手段と、判定手段の判定結果を表
   示する判定結果表示手段とを備えている請求項５または
   ６記載の中性子束測定装置。
8. 【請求項８】 補正手段により補正された入出力特性の
   校正結果の来歴を記録する記録手段と、記録手段に記録
   された内容をトレンド表示するトレンド表示手段と、ト
   レンド表示手段により表示されたトレンドの値と許容値
   との偏差が設定値より小さいときに校正操作を指令する
   ためのガイダンスを表示する第２ガイダンス表示手段と
   を備えている請求項５、６または７記載の中性子束装
   置。
9. 【請求項９】 校正信号発生手段はオフセット測定用校
   正信号とゲイン測定用校正信号を順次発生してなる請求
   項５、６、７または８記載の中性子束測定装置。