JPS60209197A - 核計装装置 - Google Patents

核計装装置

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JPS60209197A
JPS60209197A JP59062142A JP6214284A JPS60209197A JP S60209197 A JPS60209197 A JP S60209197A JP 59062142 A JP59062142 A JP 59062142A JP 6214284 A JP6214284 A JP 6214284A JP S60209197 A JPS60209197 A JP S60209197A
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JP
Japan
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signal
calibration
detection signal
output
circuit
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JP59062142A
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JPH051429B2 (ja
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Junichi Motoki
本木 淳一
Yorimasa Endo
遠藤 順政
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/17Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] この発明は、中性子束、放射線などのレベルを測定づる
装置に関し、検出信号レベルを測定しながら、オンライ
ンで装置を校正することができる核計装装置に関する。
[発明の技術的背景] 原子炉内の中性子束レベルを測定する核計装装置は、原
子炉の安全性を監視しかつその出力を制御するために原
子炉の起動時から通常運転時まで作動し、103から1
0 (nV)という広い範囲の中性子束を測定するため
中性子源領域モニタ、中間領域モニタ、局部出力系モニ
タの3つのサブシステムで構成されている。
中性子源領域モニタは、起動時の中性子束レベルが低い
領域に使用するものであり、前置増幅器からの電流パル
ス信号を計数するパルス計数法により測定を行なってい
る。
中間領域モニタは、通常運転に近い領域に使用するもの
であり、信号のゆらぎの2乗平均がパワーに比例すると
いうキャンベル法によって測定を行なっている。
局部出力系モニタは、通常運転時に使用するもので、検
出器からの検出信号が十分大きいので直接入力信号を処
理するDC法により測定を行なっている。
このような核計装装置は、原子炉の安全性を監視するた
めに使用されるものであるため、常に正確な測定ができ
るように校正されていることが必要であるとともに、常
に信号の変動を検出する1cめ測定状態にあることが必
要である。
また、核計装装置は、上述したように入力信号レベルが
各モニタによって異なっているので、装置を校正する校
正信号も各モニタに合った信号を使用している。すなわ
ち、中性子源モニタの場合にはパルス信号を、中間領域
モニタの場合には正弦波信号を、局部出力系モニタの場
合には直流信号をそれぞれ校正信号として使用している
ところで、このような従来の核計装装置は、第1図に示
ずように、入力端子1から供給される被検出体からの中
性子束レベルを表す検出信号を一方の固定端子a側に切
り替わっている切替スイッチ3を介して測定回路5で測
定し、この測定結果をトリップ回路7.指示計M、およ
びリード線11を介して外部の記録計などに供給してい
る。検出信号は、図示しない検出器で検出され、前記増
幅器で増幅された後、入力端子1に供給されている。ト
リップ回路7は、中性子束レベルにより各種トリップ信
号を出力している。
前記切替スイッチ3は、図示のように一方の固定端子a
側に切り替わっている時には、入力端子1から供給され
る検出器からの検出信号を測定回路5に供給するように
なっているが、他方の固定端子す側に切り替えられた場
合には、校正信号発生器13からの校正信号が測定回路
5に供給され、この校正信号により測定回路5を校正し
得るようになっている。
[従来技術の問題点] ところで、上述した従来の核計装装置においては、校正
時に切替スイッチ3を固定端子a側から端子す側に切り
替え、測定回路5には校正信号発生器13からの校正信
号のみが供給されるようになっているため、この間、入
力端子1に供給されている検出器からの検出信号は無視
され、監視されていない状態にある。この検出信号は前
述したように原子炉内の中性子束レベルであり、これを
測定することにより原子炉の安全性を監視しているもの
であるため、常に監視してなければならないものである
が、上述したように従来の装置においては校正時に検出
信号側が切り離されてしまうため、この間検出信号を測
定できず、原子炉の安全性を監視できないという問題が
ある。
[発明の目的] この発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、その目
的とするところは、校正時においても検出信号を測定で
き、帛に原子炉の安全性を監視し得る核51装装置を提
供することにある。
「発明の概要」 上記目的を達成するため、この発明は、所定の校正レベ
ル信号を出力する校正信号出力手段と、被検出体からの
レベル信号を通過させると共に該レベル信号に対し所定
時間だ【プ校正レベル信号を加算して出力ターる信号混
合手段と、該信号混合手段から出力されるレベル信号を
測定して出力する測定手段と、測定出力したレベル信号
に対し前記所定時間においては前記校正レベル信号を減
算する減算手段と、該減算手段から出力されたレベル信
号について減算時のレベル信号と非減惇時のレベル信号
とのレベル差をめる測定誤差検出手段とを有する構成と
したことを要旨とする。
[発明の実施例] 以下、図面を用いてこの発明の詳細な説明する。
第2図はこの発明の一実施例に係る核計装装置を示すも
のである。この計装装置においては、検出器からの検出
信号が供給されている入力端子1は第2の切替スイッチ
15の可動端子Cに接続されるとともに、第1の切替ス
イッチ3の一方の固定端子aに接続されている。スイッ
チ15の固定端子I)は高抵抗17を介して校正信号発
生器13に接続され、また切替スイッチ3の固定端子す
は抵抗19を介して校正信号発生器13に接続されてい
る。切替スイッチ3の可動端子Cは測定回路5に接続さ
れている。測定回路5の出力は、減締器21の一方の入
力および第3の切替スイッチ23の固定端子aに接続さ
れている。減算器21の他方の入力端子には、校正信号
発生器13の校正信号値に相当する直流校正信号値を発
生ずる校正用直流電源25が接続されている。減算器2
1の出力は第3の切替スイッチ23の固定端子すに接続
され、第3の切替スイッチ23の可動端子Cはトリップ
回路7.指示計M、およびリード線11を介して外部の
記録計に接続されている。なお、第2の切替スイッチ1
5と第3の切替スイッチ23とは連動しており、両スイ
ッチの可動端子Cは同時に固定端子a側または固定端子
す側に切り替わるように作動する。
次に、この実施例の作用を説明する。この核計装装置は
、切替スイッチ3.15.23の切替により入ツノ端子
1からの検出信号のみを測定する信号測定機能、検出信
号を測定しながら同時に校正を行なうオンライン校正機
能、校正のみを行なうオフライン校正機能を有している
まず、検出信号のみを測定する信号測定機能について説
明する。この場合には、各スイッチは図示の状態にあり
、入力端子1からの検出信号のみが測定回路5に供給さ
れ、測定され、この測定結果がトリップ回路7.指示計
M1およびリード線11を介して外部の記録計に供給さ
れている。
次に、検出信号を測定しながら校正を行なうオンライン
校正機能について説明する。この場合には、まず各切替
スイッチは図示の信号測定状態にあり、この状態で入ツ
ノ端子1からの検出信号を測定している。そして、校正
するには、上記信号測定状態の時に瞬時箱2の切替スイ
ッチ15および第3の切替スイッチ23の可動端子Cを
固定端子す側に切り替え、入力端子1からの検出信号の
上に抵抗17を介して校正信号発生器13からの校正信
号を加え、この校正信号と検出7信号を加えた信号を測
定回路5で測定する。この場合、校正信号発生器13の
影響が入力端子1を介して検出器側に影響を与えないよ
うに抵抗17はインピーダンスの高い抵抗で構成されて
いる。測定回路5からの測定値は、減算器21の一方の
入力に加えられ、減算器21において校正用直流電源2
5の校正信号値が差し引かれ、検出信号のみが減算器2
1から出力され、トリップ回路7.指示計Mなどに供給
される。
この場合、信号測定状態において検出信号を測定した後
すぐに第2の切替スイッチ15および第3の切替スイッ
チ23を切り替えて校正信号を加えたものを更に減算器
21において校正信号を減じて算出した検出信号Sd 
′は、スイッチを切り替える前の検出信号Sdと同じ筈
であるが、ここで測定回路5に例えば誤差がある場合に
は校正信号発生器13から加られた校正信号Scは測定
回路5を通っ−C測定された時、測定回路5の誤差分だ
(ブ変化(△5c)L、て測定回路5がら出力され(S
c+△Sc)、この誤差変化分△scは減算器21にお
いて校正用直流電源25がらの校正信号Sc (−校正
信号発生器13がらの校正信号と同じ値)で減じられず
、前記検出信号に上乗されて減算器21の出力信号Sd
 −は次式のようになる。
Sd ′=Sd + (Sc +△sc>、−5c=S
d十八SC 従って、この式かられかるようにスイッチを切り替えた
後に測定した検出信号Sd −からスイッチを切り替え
る前に測定した検出信号Sdを引くことにより測定回路
5の誤差分△3cを算出できるので、この値により校正
することができるのである。
△SC=Sd −−8d このようにして校正時においても入力端子1がらの検出
信号は測定回路5に常に供給され、監視され続けられる
のである。
なお、この場合において、測定回路5が第3図(a )
の曲線イで示すように100%の入力信号を加られた時
、出力が100%になり飽和するような特性を有してい
ると、校正信号を加えた時、曲線口で示すように高出力
領域で飽和し、この飽和した出力から校正信号を引いた
ものは曲線ハで示すようになってしまい、正確な出力が
得られない。そこで測定回路5の特性を第3図(b)の
曲線イ′に示すように100%の検出信号が加えられて
も飽和しないように測定回路5に少なくとも校正信号分
の余裕を持た゛せておく。この結果、検出信号の上に校
正信号を加えても出力は入力100%の点でも飽和せず
(曲線口′)、校正信号分を引いた場合には曲線バーに
示ずように正ル1「な信号を得ることができるようにな
る。
また、従来と同じようにオフラインで校正を行なう時に
は、第2の切替スイッチ15および第3の切替スイッチ
23は図示のように固定端子a側に切り替えられた状態
にし、第1の切替スイッチ3のみその可動端子Cを固定
端子す側に切り替え、校正信号発生器13からの校正信
号のみを抵抗19および第1の切替スイッチ3を介して
測定回路5に供給し、校正を行なうことができる。この
場合入力端子1からの検出信号は測定されない。
第4図はこの発明の他の実施例を示すものである。この
実施例においては、測定回路5からの測定信号を処理す
るのにマイクロコンピュータ27を使用している。マイ
クロコンピュータ27は、処理プログラムを記憶したR
OMおよび一時的に情報を記憶するRAMを備えた中央
処理装置(CPU)29と、測定回路5からの測定信号
を読み込んでC’P U 29に供給する入力信号読込
部31と、CPU29で処理した測定信号をディジタル
信号に変換してトリップ回路7にトリップ信号として出
力するディジタル出力部33と、CPU29で処理した
測定信号を処理してアナログ信号に変換して指示計Mや
記録計などに出力するアナログ出ノj部35と、第1の
切替スイッチ3および第2の切替スイッチ15の各スイ
ッチの状態(スイッチモード信号)を検出しCPU29
に供給したり、CPU29からの指令により各切替スイ
ッチを作動させるスイッチ切替信号SWを各切替スイッ
チに供給する入出力ディジタル部37とを有している。
CPU29は、ROMに記憶された処理プログラムによ
り実現されるスイッチモード判断部39と、入力信号を
出力単位に応じて演算変換して出力する出力単位変換部
41と、この出ツノ値が所定のトリップレベル以上か否
かを判断し、トリップレベル以上の出力値に対してトリ
ップ出力を発生するトリップ出力部43とを有している
この実施例においては、第1の切替スイッチ3および第
2の切替スイッチ15の作用は第2図のものと同じであ
り、各スイッチが図示の位置にある場合には入力端子1
からの検出信号を測定しているが、入出力ディジタル部
37を介してCPU29からのスイッチ切替信号swに
より第2の切替スイッチ15が制御され、第2の切替ス
イッチ15か固定端子す側に切り替わった場合には、第
2図の場合と同様に校正イム号発生器13がらの校正信
号が抵抗17を介して検出信号に加られ、校正か行なわ
れるようになっている。また、第1の切替スイッチ3が
固定端子す側に切り替わった場合には校正のみ行なわれ
る。各スイッチの動作状態はスイッチモード信号として
人出ツノディジタル部37を介してCPU29に供給さ
れ、スイッチの状態から測定モードか、オンライン校正
モードか、オフライン校正モードかがCPU29で識別
され、各状態に応じて処理がなされている。
この実施例の作用を第5図により説明する。
第5図において、測定回路5からの入力信号を読み込ん
だ後、第1の切替スイッチ3および第2の切替スイッチ
15の作動状態(スイッチモード)を読み込む(ステッ
プ110.120>。スイッチの状態から判断して、通
常測定モードでなく、オンライン校正モード0場合には
、校正信号分を減算しくステップ130,140.15
0)、ステップ160に進む。また、通常測定モードの
場合またはオンライン校正モードでない場合には、直接
ステップ160に進む。ステップ160では、校正信号
分を引いて得られた検出信号値を出力単位に変換演算し
、アナログ出力部35を介して指示gt Mや記録泪に
出ノJするとともに、トリップレベル以上のものを検出
し、ディジタル出力部33を介してトリップ信号を出力
する(ステップ170)。
なお、上記各実施例においては、原子炉の中性子レベル
を監視する核計装装置について説明したが、この発明は
これに限定されるものでなく、GM管、シンチレーショ
ン検出器からのパルス信号、または電離箱からの微小電
流信号等を入力する放射線モニタ等についても適用可能
なものである。
[発明の効果] 以上説明したように、この発明にj;れば、検出器から
の検出信号を監視しながら、オンラインで校正できるよ
うに構成しているので、校正時においても常に検出信号
を測定して原子炉の動作を常に監視できるため、異常が
あった場合にはずぐに検出し、迅速に対処でき、原子炉
を安全に運転することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の計装装置の一例を示すブロック図、第2
図はこの発明の一実施例を示す核計装装置のブロック図
、第3図は測定回路の特性を示すグラフ、第4図はこの
発明の他の実施例を示すブロック図、第5図は第4図の
装置の作用を示づ一フローチ17−トである。 1・・・入力端子 5・・・測定回路 7・・・トリップ回銘 13・・・校正信号発生器15
・・・第2の切替スイッチ 21・・・減綽器 23・・・第3の切替スイッチ 25・・・校正用直流電流 27・・・マイクロコンピュータ 29・・・CPU 第1図 第2図 第3図(a) 第3図(b) 第4図 7

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 所定の校正レベル信号を出力する校正信号出力手段と、
    被検出体からのレベル信号を通過させると共に該レベル
    信号に対し所定時間だ【プ校正レベル信号を加算して出
    力する信号混合手段と、該信号混合手段から出力される
    レベル信号を測定して出力する測定手段と、測定出力し
    たレベル信号に対し前記所定時間においては前記校正レ
    ベル信号を減算する減算手段と、該減算手段から出力さ
    れたレベル信号について減口時のレベル信号と非減算峙
    のレベル信号とのレベル差をめる測定誤差検出手段とを
    有することをq′?1徴とする核計装装置。
JP59062142A 1984-03-31 1984-03-31 核計装装置 Granted JPS60209197A (ja)

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JP59062142A JPS60209197A (ja) 1984-03-31 1984-03-31 核計装装置

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JP59062142A JPS60209197A (ja) 1984-03-31 1984-03-31 核計装装置

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JPS60209197A true JPS60209197A (ja) 1985-10-21
JPH051429B2 JPH051429B2 (ja) 1993-01-08

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016170566A1 (ja) * 2015-04-20 2016-10-27 三菱電機株式会社 放射線測定装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016170566A1 (ja) * 2015-04-20 2016-10-27 三菱電機株式会社 放射線測定装置
JPWO2016170566A1 (ja) * 2015-04-20 2017-06-29 三菱電機株式会社 放射線測定装置
US10191159B2 (en) 2015-04-20 2019-01-29 Mitsubishi Electric Corporation Radiation measurement device

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JPH051429B2 (ja) 1993-01-08

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