JP2000266884A - 核計測装置 - Google Patents
核計測装置Info
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- JP2000266884A JP2000266884A JP11070054A JP7005499A JP2000266884A JP 2000266884 A JP2000266884 A JP 2000266884A JP 11070054 A JP11070054 A JP 11070054A JP 7005499 A JP7005499 A JP 7005499A JP 2000266884 A JP2000266884 A JP 2000266884A
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- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
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- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 原子炉内で検出された中性子束の値に予め設
定されたゲインを乗じて原子炉熱出力に対応する計測値
を算出するゲイン回路１９を備えて、原子炉の監視を行
う核計測装置１１において、ゲイン設定値の校正作業を
容易にして作業者の負担を軽減する。 【解決手段】 ゲイン設定値校正情報を入力し、ゲイン
設定値を校正前の値から連続的あるいはステップ的に所
望の値まで変化させるゲイン設定値切換指令を出力させ
る試験調整装置１３を設け、該ゲイン設定値切換指令に
より核計測装置本体１２のゲイン設定手段２０を動作さ
せてゲイン設定値を校正する。
定されたゲインを乗じて原子炉熱出力に対応する計測値
を算出するゲイン回路１９を備えて、原子炉の監視を行
う核計測装置１１において、ゲイン設定値の校正作業を
容易にして作業者の負担を軽減する。 【解決手段】 ゲイン設定値校正情報を入力し、ゲイン
設定値を校正前の値から連続的あるいはステップ的に所
望の値まで変化させるゲイン設定値切換指令を出力させ
る試験調整装置１３を設け、該ゲイン設定値切換指令に
より核計測装置本体１２のゲイン設定手段２０を動作さ
せてゲイン設定値を校正する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、原子力発電プラ
ントにおいて、原子炉の監視、制御および保護のため、
原子炉内の中性子束を連続監視して異常変化を検出す
る、原子炉の核計装設備における核計測装置に関するも
のである。
ントにおいて、原子炉の監視、制御および保護のため、
原子炉内の中性子束を連続監視して異常変化を検出す
る、原子炉の核計装設備における核計測装置に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】原子炉の運転状態の監視、制御、安全性
の保持などを行うため、原子炉には種々の計装が施され
ているが、中性子束を測定することにより炉内の核分裂
現象の起こりかたをモニターして炉の運転、制御を行う
のは直接的な方法であり、殆ど時間遅れなしに核分裂発
生数の変化を追随して測定できる。この様な計装方式
は、核計装といわれ、低出力での測定精度も優れたもの
である。一方、原子炉出力を求めるには、冷却材の入
口、出口温度差と流量の測定値から算出して連続指示さ
せることが可能である。これは、熱出力を算出するもの
で、この様な熱的な測定はどうしても時間的な遅れを生
じるため、出力の急速な変化に対応できない。このた
め、原子炉の起動時、および出力領域での出力制御、ま
た炉の安全保持のために出力の異常変化を検出する安全
系においては、上述した核計装により中性子束を連続監
視して制御している。
の保持などを行うため、原子炉には種々の計装が施され
ているが、中性子束を測定することにより炉内の核分裂
現象の起こりかたをモニターして炉の運転、制御を行う
のは直接的な方法であり、殆ど時間遅れなしに核分裂発
生数の変化を追随して測定できる。この様な計装方式
は、核計装といわれ、低出力での測定精度も優れたもの
である。一方、原子炉出力を求めるには、冷却材の入
口、出口温度差と流量の測定値から算出して連続指示さ
せることが可能である。これは、熱出力を算出するもの
で、この様な熱的な測定はどうしても時間的な遅れを生
じるため、出力の急速な変化に対応できない。このた
め、原子炉の起動時、および出力領域での出力制御、ま
た炉の安全保持のために出力の異常変化を検出する安全
系においては、上述した核計装により中性子束を連続監
視して制御している。
【０００３】図８は、例えば加圧沸騰水型のＰＷＲ原子
力発電プラントにおける炉外核計装設備の構成図であ
る。図において、１は中性子束を検出する検出器、２は
検出器１で検出された中性子束を電子回路により連続監
視して、異常時に原子炉トリップ信号および警報信号を
出力する核計測装置、３は原子炉制御系装置、４は原子
炉保護系装置である。また、５は核計測装置２内の加算
ゲイン回路、６は同じく核計測装置２内のテスト入力回
路であり、７、８、および９はそれぞれ加算ゲイン回路
５を構成する加算部、ゲイン回路およびゲイン設定器で
ある。
力発電プラントにおける炉外核計装設備の構成図であ
る。図において、１は中性子束を検出する検出器、２は
検出器１で検出された中性子束を電子回路により連続監
視して、異常時に原子炉トリップ信号および警報信号を
出力する核計測装置、３は原子炉制御系装置、４は原子
炉保護系装置である。また、５は核計測装置２内の加算
ゲイン回路、６は同じく核計測装置２内のテスト入力回
路であり、７、８、および９はそれぞれ加算ゲイン回路
５を構成する加算部、ゲイン回路およびゲイン設定器で
ある。
【０００４】次に動作について説明する。中性子束の検
出器１は原子炉内の適当な箇所にいくつか配置され、各
検出器１から出力される中性子束の検出値は核計測装置
２の加算ゲイン回路５の加算部７に入力される。加算部
７では各検出器１の検出値を加算し、その値をゲイン回
路８に入力し、ゲイン回路８において、予めゲイン設定
器９により設定されたゲインを加算部７からの出力値に
乗じて原子炉熱出力に対応する計測値を出力する。この
計測値により、図示しない比較器を用いて異常が検出さ
れると原子炉トリップ信号あるいは警報信号を原子炉制
御系装置３および原子炉保護系装置４に供給する。これ
により原子炉制御系装置３および原子炉保護系装置４で
は、原子炉に対して必要な制御、指示を行う。
出器１は原子炉内の適当な箇所にいくつか配置され、各
検出器１から出力される中性子束の検出値は核計測装置
２の加算ゲイン回路５の加算部７に入力される。加算部
７では各検出器１の検出値を加算し、その値をゲイン回
路８に入力し、ゲイン回路８において、予めゲイン設定
器９により設定されたゲインを加算部７からの出力値に
乗じて原子炉熱出力に対応する計測値を出力する。この
計測値により、図示しない比較器を用いて異常が検出さ
れると原子炉トリップ信号あるいは警報信号を原子炉制
御系装置３および原子炉保護系装置４に供給する。これ
により原子炉制御系装置３および原子炉保護系装置４で
は、原子炉に対して必要な制御、指示を行う。
【０００５】ところで、中性子束は通常、原子炉出力と
比例するものであるが、検出器１が検出している中性子
束は、炉心周辺部に配置された燃料アセンブリでの核分
裂により生じた中性子が大部分を占め、炉心の燃焼が進
むに伴い変化するものである。このため、加算された中
性子束検出値にゲインを乗じた計測値が常に原子炉出力
と対応するように、核計測装置を原子炉出力に対して再
校正する必要があり、ゲイン回路８で用いるゲインの設
定値をゲイン設定器９により調整して校正する。一方、
核計装設備は定期的に検査を実施するが、その際、原子
炉停止状態でテスト入力回路６により中性子束の値を加
算ゲイン回路５に模擬入力して、正常に動作するかどう
か確認する。また、原子炉熱出力が定格出力未満の運転
状態にも核計装設備を検査することがあり、定格出力に
対する不足分の中性子束値をテスト入力回路６により加
算ゲイン回路５に模擬入力して、正常に動作するかどう
か確認する。
比例するものであるが、検出器１が検出している中性子
束は、炉心周辺部に配置された燃料アセンブリでの核分
裂により生じた中性子が大部分を占め、炉心の燃焼が進
むに伴い変化するものである。このため、加算された中
性子束検出値にゲインを乗じた計測値が常に原子炉出力
と対応するように、核計測装置を原子炉出力に対して再
校正する必要があり、ゲイン回路８で用いるゲインの設
定値をゲイン設定器９により調整して校正する。一方、
核計装設備は定期的に検査を実施するが、その際、原子
炉停止状態でテスト入力回路６により中性子束の値を加
算ゲイン回路５に模擬入力して、正常に動作するかどう
か確認する。また、原子炉熱出力が定格出力未満の運転
状態にも核計装設備を検査することがあり、定格出力に
対する不足分の中性子束値をテスト入力回路６により加
算ゲイン回路５に模擬入力して、正常に動作するかどう
か確認する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】従来の核計測装置で
は、ゲイン回路８で用いるゲインを校正するには、別途
算出された原子炉出力の値を基に、校正前のゲイン回路
８におけるゲイン設定値とこのゲイン回路８で算出され
た計測値とから目標とするゲイン設定値を算出し、作業
者がゲイン設定器９を手動で調整する。このとき、ゲイ
ンを急に変更するとゲイン回路８の出力変動が大きくな
り信頼性が悪くなるため、作業者は、ゲイン回路８の出
力値を確認しながら、目標とするゲイン設定値になるま
で徐々に調整する。ところで、原子炉に係わる種々の調
整および校正作業の殆どは、原子炉の停止状態で行うも
のであるが、上記のようなゲイン設定値の校正は、原子
炉の出力が主に１００％状態で実施するものであり、し
かもゲイン設定器９の接触不良やヒューマンエラー等に
よりゲイン回路８の出力変動が発生すると、原子炉のト
リップ信号の誤発信に至ることもある。このため、作業
者の負担が、実際の作業だけでなく心理的にも大きなも
のであった。また、核計装設備の定期検査や運転状態の
検査時に、テスト入力回路６により中性子束を模擬入力
するにも、作業者がその都度適切な条件で模擬入力を行
っていたため、これについても作業者の負担が大きなも
のであった。
は、ゲイン回路８で用いるゲインを校正するには、別途
算出された原子炉出力の値を基に、校正前のゲイン回路
８におけるゲイン設定値とこのゲイン回路８で算出され
た計測値とから目標とするゲイン設定値を算出し、作業
者がゲイン設定器９を手動で調整する。このとき、ゲイ
ンを急に変更するとゲイン回路８の出力変動が大きくな
り信頼性が悪くなるため、作業者は、ゲイン回路８の出
力値を確認しながら、目標とするゲイン設定値になるま
で徐々に調整する。ところで、原子炉に係わる種々の調
整および校正作業の殆どは、原子炉の停止状態で行うも
のであるが、上記のようなゲイン設定値の校正は、原子
炉の出力が主に１００％状態で実施するものであり、し
かもゲイン設定器９の接触不良やヒューマンエラー等に
よりゲイン回路８の出力変動が発生すると、原子炉のト
リップ信号の誤発信に至ることもある。このため、作業
者の負担が、実際の作業だけでなく心理的にも大きなも
のであった。また、核計装設備の定期検査や運転状態の
検査時に、テスト入力回路６により中性子束を模擬入力
するにも、作業者がその都度適切な条件で模擬入力を行
っていたため、これについても作業者の負担が大きなも
のであった。
【０００７】この発明は、上記のような問題点を解消す
るために成されたものであって、核計測装置のゲイン回
路で用いるゲインの設定値の校正を、ヒューマンエラー
を防止して容易で信頼性良く行えるようにして、作業者
の負担を軽減することを目的とする。さらに、検査時の
中性子束の模擬入力についても作業者の負担を軽減でき
ることを目的とする。
るために成されたものであって、核計測装置のゲイン回
路で用いるゲインの設定値の校正を、ヒューマンエラー
を防止して容易で信頼性良く行えるようにして、作業者
の負担を軽減することを目的とする。さらに、検査時の
中性子束の模擬入力についても作業者の負担を軽減でき
ることを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この発明に係わる請求項
１記載の核計測装置は、原子炉内に配置された中性子束
検出器の検出値が入力され、予めゲイン設定手段により
設定されたゲインを上記検出値に乗じ原子炉熱出力に対
応する計測値を算出するゲイン回路を備えて、上記原子
炉の監視を行う装置構成であって、上記ゲイン設定手段
がゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部を備え、ゲイン設定値校正
情報を入力する入力手段と上記ゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ
部に接続して各種情報の受け渡しを行う外部Ｉ／Ｆ部と
制御部とで構成され、上記ゲイン設定値校正情報に基づ
いて、その時点の上記ゲイン回路で用いられるゲイン設
定値および該ゲイン回路で算出された上記計測値の変動
を監視しながら、上記ゲイン設定値を連続的あるいはス
テップ的に所望の値まで変化させるゲイン設定値切換指
令を上記外部Ｉ／Ｆ部から出力する試験調整装置を有し
て、該試験調整装置の出力により上記ゲイン設定手段が
動作して上記ゲイン設定値を校正するものである。
１記載の核計測装置は、原子炉内に配置された中性子束
検出器の検出値が入力され、予めゲイン設定手段により
設定されたゲインを上記検出値に乗じ原子炉熱出力に対
応する計測値を算出するゲイン回路を備えて、上記原子
炉の監視を行う装置構成であって、上記ゲイン設定手段
がゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部を備え、ゲイン設定値校正
情報を入力する入力手段と上記ゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ
部に接続して各種情報の受け渡しを行う外部Ｉ／Ｆ部と
制御部とで構成され、上記ゲイン設定値校正情報に基づ
いて、その時点の上記ゲイン回路で用いられるゲイン設
定値および該ゲイン回路で算出された上記計測値の変動
を監視しながら、上記ゲイン設定値を連続的あるいはス
テップ的に所望の値まで変化させるゲイン設定値切換指
令を上記外部Ｉ／Ｆ部から出力する試験調整装置を有し
て、該試験調整装置の出力により上記ゲイン設定手段が
動作して上記ゲイン設定値を校正するものである。
【０００９】またこの発明に係わる請求項２記載の核計
測装置は、請求項１において、ゲイン回路で用いられる
ゲイン設定値および該ゲイン回路で算出された計測値の
変動を表示させる表示手段を試験調整装置に備えたもの
である。
測装置は、請求項１において、ゲイン回路で用いられる
ゲイン設定値および該ゲイン回路で算出された計測値の
変動を表示させる表示手段を試験調整装置に備えたもの
である。
【００１０】またこの発明に係わる請求項３記載の核計
測装置は、請求項２において、ゲイン回路で用いられる
ゲイン設定値および該ゲイン回路で算出された計測値の
変動を取り込み保存するデータベースを試験調整装置に
備えたものである。
測装置は、請求項２において、ゲイン回路で用いられる
ゲイン設定値および該ゲイン回路で算出された計測値の
変動を取り込み保存するデータベースを試験調整装置に
備えたものである。
【００１１】またこの発明に係わる請求項４記載の核計
測装置は、請求項３において、試験調整装置の外部Ｉ／
Ｆ部と接続され、中性子束の値をゲイン回路に模擬入力
するテスト入力回路を備え、原子炉停止状態で実施する
定期検査時に上記ゲイン回路に模擬入力される中性子束
値のテスト入力基準情報が予めデータベースに格納さ
れ、該テスト入力基準情報に基づいた指令を上記試験調
整装置の外部Ｉ／Ｆ部から出力してテスト入力回路が動
作し、定期検査を行うものである。
測装置は、請求項３において、試験調整装置の外部Ｉ／
Ｆ部と接続され、中性子束の値をゲイン回路に模擬入力
するテスト入力回路を備え、原子炉停止状態で実施する
定期検査時に上記ゲイン回路に模擬入力される中性子束
値のテスト入力基準情報が予めデータベースに格納さ
れ、該テスト入力基準情報に基づいた指令を上記試験調
整装置の外部Ｉ／Ｆ部から出力してテスト入力回路が動
作し、定期検査を行うものである。
【００１２】またこの発明に係わる請求項５記載の核計
測装置は、請求項４において、原子炉熱出力が定格出力
未満の運転状態の検査時に、ゲイン回路で用いられるゲ
イン設定値および該ゲイン回路で算出された計測値に基
づいて、上記定格出力に対する不足分の中性子束値を制
御部で算出して、外部Ｉ／Ｆ部から出力することにより
テスト入力回路が動作し、検査を行うものである。
測装置は、請求項４において、原子炉熱出力が定格出力
未満の運転状態の検査時に、ゲイン回路で用いられるゲ
イン設定値および該ゲイン回路で算出された計測値に基
づいて、上記定格出力に対する不足分の中性子束値を制
御部で算出して、外部Ｉ／Ｆ部から出力することにより
テスト入力回路が動作し、検査を行うものである。
【００１３】またこの発明に係わる請求項６記載の核計
測装置は、請求項１〜５のいずれかにおいて、試験調整
装置に入力されるゲイン設定値校正情報として、別途算
出された原子炉熱出力に対応するゲインの値が入力さ
れ、当該ゲインの値をゲイン設定値の校正後の値とする
ものである。
測装置は、請求項１〜５のいずれかにおいて、試験調整
装置に入力されるゲイン設定値校正情報として、別途算
出された原子炉熱出力に対応するゲインの値が入力さ
れ、当該ゲインの値をゲイン設定値の校正後の値とする
ものである。
【００１４】またこの発明に係わる請求項７記載の核計
測装置は、請求項１〜５のいずれかにおいて、試験調整
装置に入力されるゲイン設定値校正情報として、別途算
出された原子炉熱出力が入力され、校正前のゲイン回路
で用いられるゲイン設定値および該ゲイン回路で算出さ
れた計測値に基づいて上記原子炉熱出力に対応するゲイ
ンの値を上記試験調整装置の制御部で算出し、当該ゲイ
ンの値を上記ゲイン設定値の校正後の値とするものであ
る。
測装置は、請求項１〜５のいずれかにおいて、試験調整
装置に入力されるゲイン設定値校正情報として、別途算
出された原子炉熱出力が入力され、校正前のゲイン回路
で用いられるゲイン設定値および該ゲイン回路で算出さ
れた計測値に基づいて上記原子炉熱出力に対応するゲイ
ンの値を上記試験調整装置の制御部で算出し、当該ゲイ
ンの値を上記ゲイン設定値の校正後の値とするものであ
る。
【００１５】またこの発明に係わる請求項８記載の核計
測装置は、請求項３〜５のいずれかにおいて、試験調整
装置に入力されるゲイン設定値校正情報として、原子炉
運転中の原子炉熱出力に応じたゲインの経時変化模擬情
報が予めデータベースに格納され、該ゲインの経時変化
模擬情報に基づいた試験調整装置の出力により、ゲイン
設定値を校正するものである。
測装置は、請求項３〜５のいずれかにおいて、試験調整
装置に入力されるゲイン設定値校正情報として、原子炉
運転中の原子炉熱出力に応じたゲインの経時変化模擬情
報が予めデータベースに格納され、該ゲインの経時変化
模擬情報に基づいた試験調整装置の出力により、ゲイン
設定値を校正するものである。
【００１６】
【発明の実施の形態】実施の形態１．以下、この発明の
実施の形態１を図について詳細に説明する。図１は、こ
の発明の実施の形態１による、例えば加圧沸騰水型のＰ
ＷＲ原子力発電プラントにおける炉外核計装設備の構成
図である。図において、１０は原子炉内の中性子束を検
出する検出器、１１は検出器１０で検出された中性子束
を電子回路により連続監視して、異常時に原子炉トリッ
プ信号および警報信号を出力する核計測装置で、核計測
装置本体１２と本体１２を試験調整する試験調整装置１
３とで構成される。１４は原子炉制御系装置、１５は原
子炉保護系装置、１６は核計測装置本体１２内の加算ゲ
イン回路、１７は同じく核計測装置本体１２内のテスト
入力回路であり、１８、１９、および２０はそれぞれ加
算ゲイン回路１６を構成する加算部、ゲイン回路、およ
びゲイン設定手段としてのゲイン設定部、２１はゲイン
設定部２０内のゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部である。ま
た、試験調整装置１３は、データ入力のための入力手段
２２、データ出力のための表示手段２３、核計測装置本
体１２のゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部２１およびテスト入
力回路１７に接続され、データの受け渡しを行う外部Ｉ
／Ｆ部２４、制御ロジック部２５およびデータベース部
２６で構成される。
実施の形態１を図について詳細に説明する。図１は、こ
の発明の実施の形態１による、例えば加圧沸騰水型のＰ
ＷＲ原子力発電プラントにおける炉外核計装設備の構成
図である。図において、１０は原子炉内の中性子束を検
出する検出器、１１は検出器１０で検出された中性子束
を電子回路により連続監視して、異常時に原子炉トリッ
プ信号および警報信号を出力する核計測装置で、核計測
装置本体１２と本体１２を試験調整する試験調整装置１
３とで構成される。１４は原子炉制御系装置、１５は原
子炉保護系装置、１６は核計測装置本体１２内の加算ゲ
イン回路、１７は同じく核計測装置本体１２内のテスト
入力回路であり、１８、１９、および２０はそれぞれ加
算ゲイン回路１６を構成する加算部、ゲイン回路、およ
びゲイン設定手段としてのゲイン設定部、２１はゲイン
設定部２０内のゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部である。ま
た、試験調整装置１３は、データ入力のための入力手段
２２、データ出力のための表示手段２３、核計測装置本
体１２のゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部２１およびテスト入
力回路１７に接続され、データの受け渡しを行う外部Ｉ
／Ｆ部２４、制御ロジック部２５およびデータベース部
２６で構成される。
【００１７】次に核計測装置本体１２の動作について説
明する。中性子束の検出器１０は原子炉内の適当な箇所
にいくつか配置され、各検出器１０から出力される中性
子束の検出値は核計測装置本体１２の加算ゲイン回路１
６の加算部１８に入力される。加算部１８では各検出器
１０の検出値を加算し、その値をゲイン回路１９に入力
し、ゲイン回路１９において、予めゲイン設定部２０に
より設定されたゲインを加算部１８からの出力値に乗じ
て原子炉熱出力に対応する計測値を出力する。この計測
値により、図示しない比較器を用いて異常が検出される
と原子炉トリップ信号あるいは警報信号を原子炉制御系
装置１４および原子炉保護系装置１５に供給する。これ
により原子炉制御系装置１４および原子炉保護系装置１
５では、原子炉に対して必要な制御、指示を行う。
明する。中性子束の検出器１０は原子炉内の適当な箇所
にいくつか配置され、各検出器１０から出力される中性
子束の検出値は核計測装置本体１２の加算ゲイン回路１
６の加算部１８に入力される。加算部１８では各検出器
１０の検出値を加算し、その値をゲイン回路１９に入力
し、ゲイン回路１９において、予めゲイン設定部２０に
より設定されたゲインを加算部１８からの出力値に乗じ
て原子炉熱出力に対応する計測値を出力する。この計測
値により、図示しない比較器を用いて異常が検出される
と原子炉トリップ信号あるいは警報信号を原子炉制御系
装置１４および原子炉保護系装置１５に供給する。これ
により原子炉制御系装置１４および原子炉保護系装置１
５では、原子炉に対して必要な制御、指示を行う。
【００１８】通常、中性子束は原子炉出力と比例するも
のであるが、上述したように炉心の燃焼が進むに伴い変
化するものであるため、加算された中性子束検出値にゲ
インを乗じた計測値が常に原子炉出力と対応するよう
に、核計測装置１１を原子炉出力に対して再校正する必
要があり、ゲイン回路１９で用いるゲインの設定値をゲ
イン設定部２０により調整して校正する。
のであるが、上述したように炉心の燃焼が進むに伴い変
化するものであるため、加算された中性子束検出値にゲ
インを乗じた計測値が常に原子炉出力と対応するよう
に、核計測装置１１を原子炉出力に対して再校正する必
要があり、ゲイン回路１９で用いるゲインの設定値をゲ
イン設定部２０により調整して校正する。
【００１９】一方、核計装設備は定期的に検査を実施す
るが、その際、原子炉停止状態でテスト入力回路１７に
より中性子束の値を加算ゲイン回路１６に模擬入力し
て、正常に動作するかどうか確認する。また、原子炉熱
出力が定格出力未満の運転状態にも核計装設備を検査す
ることがあり、定格出力に対する不足分の中性子束値を
テスト入力回路１７により加算ゲイン回路１６に模擬入
力して、正常に動作するかどうか確認する。
るが、その際、原子炉停止状態でテスト入力回路１７に
より中性子束の値を加算ゲイン回路１６に模擬入力し
て、正常に動作するかどうか確認する。また、原子炉熱
出力が定格出力未満の運転状態にも核計装設備を検査す
ることがあり、定格出力に対する不足分の中性子束値を
テスト入力回路１７により加算ゲイン回路１６に模擬入
力して、正常に動作するかどうか確認する。
【００２０】上記核計測装置本体１２での、ゲイン設定
手段２０によるゲイン設定値の校正およびテスト入力回
路１７による中性子束の値の模擬入力は、核計測装置１
１の試験調整装置１３から外部Ｉ／Ｆ部２４を介して伝
送された指令により、ゲイン設定部２０およびテスト入
力回路１７がそれぞれ動作して行うものである。以下、
試験調整装置１３での動作を説明する。核計測装置本体
１２のゲイン回路１９で用いるゲイン設定値およびゲイ
ン回路１９出力である計測値は本体１２のゲイン設定部
２０のゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部２１を介して試験調整
装置１３の外部Ｉ／Ｆ部に伝送され、データベース部２
６に格納される。また、核計装設備の検査時にテスト入
力回路１７から模擬入力される中性子束の値も、テスト
入力情報としてデータベース部２６に格納される。これ
らのゲイン設定値、計測値およびテスト入力情報等のデ
ータは、表示手段２３で随時表示させることができる。
手段２０によるゲイン設定値の校正およびテスト入力回
路１７による中性子束の値の模擬入力は、核計測装置１
１の試験調整装置１３から外部Ｉ／Ｆ部２４を介して伝
送された指令により、ゲイン設定部２０およびテスト入
力回路１７がそれぞれ動作して行うものである。以下、
試験調整装置１３での動作を説明する。核計測装置本体
１２のゲイン回路１９で用いるゲイン設定値およびゲイ
ン回路１９出力である計測値は本体１２のゲイン設定部
２０のゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部２１を介して試験調整
装置１３の外部Ｉ／Ｆ部に伝送され、データベース部２
６に格納される。また、核計装設備の検査時にテスト入
力回路１７から模擬入力される中性子束の値も、テスト
入力情報としてデータベース部２６に格納される。これ
らのゲイン設定値、計測値およびテスト入力情報等のデ
ータは、表示手段２３で随時表示させることができる。
【００２１】原子炉熱出力は、例えば１ヶ月に数回程度
の頻度で、核計装設備とは別のプラントコンピュータで
算出され、作業者はその時点のゲイン設定値およびゲイ
ン回路１９から出力される計測値を試験調整装置１３の
表示手段２３で確認する。このとき、上記計測値と原子
炉熱出力との間に許容されない程度のずれがあれば、作
業者は、原子炉熱出力に対応するゲインの値をゲイン設
定値校正情報として入力手段２２から試験調整装置１３
に入力する。制御ロジック部２５は、ゲイン設定値が、
校正前の値から入力された所望の値まで、連続的あるい
はステップ的に徐々に変化させるゲイン設定値切換指令
を外部Ｉ／Ｆ部２４から出力する。このゲイン設定値切
換指令は、核計測装置本体１２のゲイン設定部２０が有
するゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部２１に入力され、これに
よりゲイン設定部２０はゲイン回路１９で用いるゲイン
設定値を校正する。このとき、ゲイン設定値はゲイン設
定値切換指令に基づいて所望の値まで徐々に変化し、そ
のときのゲイン設定値およびゲイン回路１９出力である
計測値の変動は、ゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部２１および
外部Ｉ／Ｆ部２４を介して試験調整装置１３に伝送さ
れ、データベース部２６に取り込まれて格納されると共
に、作業者は表示手段２３で随時表示させて確認でき
る。ゲイン設定値が、入力された所望の値まで変化する
と、校正が終了する。
の頻度で、核計装設備とは別のプラントコンピュータで
算出され、作業者はその時点のゲイン設定値およびゲイ
ン回路１９から出力される計測値を試験調整装置１３の
表示手段２３で確認する。このとき、上記計測値と原子
炉熱出力との間に許容されない程度のずれがあれば、作
業者は、原子炉熱出力に対応するゲインの値をゲイン設
定値校正情報として入力手段２２から試験調整装置１３
に入力する。制御ロジック部２５は、ゲイン設定値が、
校正前の値から入力された所望の値まで、連続的あるい
はステップ的に徐々に変化させるゲイン設定値切換指令
を外部Ｉ／Ｆ部２４から出力する。このゲイン設定値切
換指令は、核計測装置本体１２のゲイン設定部２０が有
するゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部２１に入力され、これに
よりゲイン設定部２０はゲイン回路１９で用いるゲイン
設定値を校正する。このとき、ゲイン設定値はゲイン設
定値切換指令に基づいて所望の値まで徐々に変化し、そ
のときのゲイン設定値およびゲイン回路１９出力である
計測値の変動は、ゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部２１および
外部Ｉ／Ｆ部２４を介して試験調整装置１３に伝送さ
れ、データベース部２６に取り込まれて格納されると共
に、作業者は表示手段２３で随時表示させて確認でき
る。ゲイン設定値が、入力された所望の値まで変化する
と、校正が終了する。
【００２２】次に、テスト入力回路１７による中性子束
の値の模擬入力における試験調整装置１３の動作につい
て説明する。定期検査時には、ほぼ毎回決められたメニ
ューに従って中性子束の値を加算ゲイン回路１６に模擬
入力するものであるが、この定期検査における決められ
たメニューを、テスト入力基準情報として予めデータベ
ース部２６に格納しておく。定期検査時には、データベ
ース部２６内のテスト入力基準情報に基づいた指令を試
験調整装置１３の外部Ｉ／Ｆ部２４から出力し、核計測
装置本体１２のテスト入力回路１７は上記指令を受けて
動作し、テスト入力基準情報に基づいた中性子束の値を
加算部１８を介してゲイン回路１９に入力する。これに
より定期検査を実施する。
の値の模擬入力における試験調整装置１３の動作につい
て説明する。定期検査時には、ほぼ毎回決められたメニ
ューに従って中性子束の値を加算ゲイン回路１６に模擬
入力するものであるが、この定期検査における決められ
たメニューを、テスト入力基準情報として予めデータベ
ース部２６に格納しておく。定期検査時には、データベ
ース部２６内のテスト入力基準情報に基づいた指令を試
験調整装置１３の外部Ｉ／Ｆ部２４から出力し、核計測
装置本体１２のテスト入力回路１７は上記指令を受けて
動作し、テスト入力基準情報に基づいた中性子束の値を
加算部１８を介してゲイン回路１９に入力する。これに
より定期検査を実施する。
【００２３】次に、原子炉熱出力が定格出力未満の運転
状態に、定格出力に対する不足分の中性子束値をテスト
入力回路１７により加算ゲイン回路１６に模擬入力して
実施する検査について説明する。上述したように、ゲイ
ン回路１９で用いるゲイン設定値およびゲイン回路１９
出力である計測値は、ゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部２１お
よび外部Ｉ／Ｆ部２４を介して試験調整装置１３に伝送
される。原子炉熱出力が定格出力未満で検査する際、試
験調整装置１３の制御ロジック部２において、上記ゲイ
ン設定値および計測値に基づいて、定格出力に対する不
足分の中性子束の値を算出し、外部Ｉ／Ｆ部２４から出
力する。核計測装置本体１２のテスト入力回路１７は上
記中性子束の値を受けて、加算部１８を介してゲイン回
路１９に模擬入力し、これにより検査を実施する。
状態に、定格出力に対する不足分の中性子束値をテスト
入力回路１７により加算ゲイン回路１６に模擬入力して
実施する検査について説明する。上述したように、ゲイ
ン回路１９で用いるゲイン設定値およびゲイン回路１９
出力である計測値は、ゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部２１お
よび外部Ｉ／Ｆ部２４を介して試験調整装置１３に伝送
される。原子炉熱出力が定格出力未満で検査する際、試
験調整装置１３の制御ロジック部２において、上記ゲイ
ン設定値および計測値に基づいて、定格出力に対する不
足分の中性子束の値を算出し、外部Ｉ／Ｆ部２４から出
力する。核計測装置本体１２のテスト入力回路１７は上
記中性子束の値を受けて、加算部１８を介してゲイン回
路１９に模擬入力し、これにより検査を実施する。
【００２４】この実施の形態では、ゲイン回路１９で用
いるゲイン設定値を校正するのに、作業者は試験調整装
置１３の入力手段２２から、ゲイン設定値校正情報とし
て所望のゲインの値を入力するのみで、試験調整装置１
３はゲイン設定値を徐々に所望の値まで変化させるゲイ
ン設定値切換指令を出力し、該指令を受けて核計測装置
本体１２のゲイン設定部２０はゲイン設定値を徐々に変
化させて校正する。しかも、そのときのゲイン設定値お
よびゲイン回路１９出力の計測値の変動は、試験調整装
置１３に伝送され、表示手段２３で随時表示でき、作業
者は、上記ゲイン設定値および計測値が所望の値に徐々
に校正されていくのを確認することができる。このた
め、従来のようにゲイン設定器９を手動で操作するのに
比べ、ゲイン設定値の校正作業が容易になり、ヒューマ
ンエラーが防止でき信頼性が向上する。また、ゲイン設
定値の校正は、原子炉の出力が主に１００％状態で実施
するものであり、ゲイン回路１９の出力変動が発生する
と、原子炉のトリップ信号の誤発信に至ることもあるた
め、作業者の心理的負担はかなり大きなものであった
が、作業が入力手段２２から数値入力するのみで良く、
しかも表示手段２３で校正される様子を表示させて確認
できるため、心理的負担が大きく軽減できるものであ
る。さらに、ゲイン設定値およびゲイン回路１９出力の
計測値をデータベース部２６に格納するため、表示手段
２３からいつでもそれらの情報を引き出して表示させる
ことができ、核計測装置１１の校正における信頼性向上
が図れる。
いるゲイン設定値を校正するのに、作業者は試験調整装
置１３の入力手段２２から、ゲイン設定値校正情報とし
て所望のゲインの値を入力するのみで、試験調整装置１
３はゲイン設定値を徐々に所望の値まで変化させるゲイ
ン設定値切換指令を出力し、該指令を受けて核計測装置
本体１２のゲイン設定部２０はゲイン設定値を徐々に変
化させて校正する。しかも、そのときのゲイン設定値お
よびゲイン回路１９出力の計測値の変動は、試験調整装
置１３に伝送され、表示手段２３で随時表示でき、作業
者は、上記ゲイン設定値および計測値が所望の値に徐々
に校正されていくのを確認することができる。このた
め、従来のようにゲイン設定器９を手動で操作するのに
比べ、ゲイン設定値の校正作業が容易になり、ヒューマ
ンエラーが防止でき信頼性が向上する。また、ゲイン設
定値の校正は、原子炉の出力が主に１００％状態で実施
するものであり、ゲイン回路１９の出力変動が発生する
と、原子炉のトリップ信号の誤発信に至ることもあるた
め、作業者の心理的負担はかなり大きなものであった
が、作業が入力手段２２から数値入力するのみで良く、
しかも表示手段２３で校正される様子を表示させて確認
できるため、心理的負担が大きく軽減できるものであ
る。さらに、ゲイン設定値およびゲイン回路１９出力の
計測値をデータベース部２６に格納するため、表示手段
２３からいつでもそれらの情報を引き出して表示させる
ことができ、核計測装置１１の校正における信頼性向上
が図れる。
【００２５】また、テスト入力回路１７から中性子束の
値を模擬入力して実施する検査においても、定期検査時
には、予めデータベース部２６に格納されたテスト入力
基準情報に基づいた指令を、定格出力未満の運転状態の
検査時には、制御ロジック部２５で算出した値を、それ
ぞれ試験調整装置１３から出力して上記模擬入力を行う
ため、作業者は検査の開始命令のみ入力すれば良く、作
業が格段と容易になる。検査結果を表示手段２３から表
示させるようにすれば、信頼性の高い検査がさらに効率
よく実施できる。
値を模擬入力して実施する検査においても、定期検査時
には、予めデータベース部２６に格納されたテスト入力
基準情報に基づいた指令を、定格出力未満の運転状態の
検査時には、制御ロジック部２５で算出した値を、それ
ぞれ試験調整装置１３から出力して上記模擬入力を行う
ため、作業者は検査の開始命令のみ入力すれば良く、作
業が格段と容易になる。検査結果を表示手段２３から表
示させるようにすれば、信頼性の高い検査がさらに効率
よく実施できる。
【００２６】なおこの実施の形態では、試験調整装置１
３は、ゲイン設定値の校正とテスト入力回路１７におけ
る中性子束値の模擬入力との双方を調整するものであっ
たが、ゲイン設定値の校正のみを調整するものであって
も良い。
３は、ゲイン設定値の校正とテスト入力回路１７におけ
る中性子束値の模擬入力との双方を調整するものであっ
たが、ゲイン設定値の校正のみを調整するものであって
も良い。
【００２７】実施の形態２．次に、上記実施の形態１に
おける核計測装置本体１２のゲイン設定部２０を、デジ
タル設定方式にした例を図２に示す。図に示すように、
ゲイン設定部２０は、ゲインデジタル設定回路２０ａ
と、それを制御し試験調整装置１３との情報の受け渡し
をするゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部としての制御回路２１
ａとで構成される。上記実施の形態１で述べたように、
試験調整装置１３からゲイン設定値切換指令が出力さ
れ、該指令をゲイン設定部２０の制御回路２１ａで受け
て、制御回路２１ａは、ゲインデジタル設定回路２０ａ
のゲイン設定カウンタ値を変更させる。この変更された
値に基づいてゲイン回路１９のゲイン設定値は変更され
る。この場合も、ゲイン回路１９で用いられるゲイン設
定値およびゲイン回路１９の出力である計測値は制御回
路２１ａを介して試験調整装置１３に伝送され、表示手
段２３で表示させることで作業者は校正中の変動の様子
および校正後の値を確認できる。
おける核計測装置本体１２のゲイン設定部２０を、デジ
タル設定方式にした例を図２に示す。図に示すように、
ゲイン設定部２０は、ゲインデジタル設定回路２０ａ
と、それを制御し試験調整装置１３との情報の受け渡し
をするゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部としての制御回路２１
ａとで構成される。上記実施の形態１で述べたように、
試験調整装置１３からゲイン設定値切換指令が出力さ
れ、該指令をゲイン設定部２０の制御回路２１ａで受け
て、制御回路２１ａは、ゲインデジタル設定回路２０ａ
のゲイン設定カウンタ値を変更させる。この変更された
値に基づいてゲイン回路１９のゲイン設定値は変更され
る。この場合も、ゲイン回路１９で用いられるゲイン設
定値およびゲイン回路１９の出力である計測値は制御回
路２１ａを介して試験調整装置１３に伝送され、表示手
段２３で表示させることで作業者は校正中の変動の様子
および校正後の値を確認できる。
【００２８】図３は、ゲインデジタル設定回路２０ａに
乗算型のＤ／Ａコンバータを使用したゲイン設定部２０
を備えたゲイン回路１９の回路図である。図において、
制御回路２１ａからデジタル設定値Ｋがゲインデジタル
設定回路２０ａに入力されＤ／Ａコンバータに入力する
電流が制御される。Ａ点ではイマジナルショートで電位
０ Ｉ１＝ＶIN／ＲIN Ｉ２＝−Ｖ１／Ｒ１ Ｖ１＝ＶOUT×（Ｋ／２16） Ｉ１＝Ｉ２より（Ｉ１＝Ｉ２となるようにオペアンプが
動作） ＶOUT＝−（Ｒ１／ＲIN）×（２16／Ｋ） ＝−（Ｒ１×２16／Ｋ）／ＲIN×ＶIN となり、ゲイン回路１９はゲイン（Ｒ１×２16／Ｋ）／
ＲINの反転増幅器を構成することになる。
乗算型のＤ／Ａコンバータを使用したゲイン設定部２０
を備えたゲイン回路１９の回路図である。図において、
制御回路２１ａからデジタル設定値Ｋがゲインデジタル
設定回路２０ａに入力されＤ／Ａコンバータに入力する
電流が制御される。Ａ点ではイマジナルショートで電位
０ Ｉ１＝ＶIN／ＲIN Ｉ２＝−Ｖ１／Ｒ１ Ｖ１＝ＶOUT×（Ｋ／２16） Ｉ１＝Ｉ２より（Ｉ１＝Ｉ２となるようにオペアンプが
動作） ＶOUT＝−（Ｒ１／ＲIN）×（２16／Ｋ） ＝−（Ｒ１×２16／Ｋ）／ＲIN×ＶIN となり、ゲイン回路１９はゲイン（Ｒ１×２16／Ｋ）／
ＲINの反転増幅器を構成することになる。
【００２９】この様に、ゲイン設定部２０をデジタル方
式にすることにより、機械的接点における接触不良によ
る変動をなくすことができる。
式にすることにより、機械的接点における接触不良によ
る変動をなくすことができる。
【００３０】実施の形態３．次に、上記実施の形態１に
おける核計測装置本体１２のゲイン設定部２０を、アナ
ログ設定方式にした例を図４に示す。図に示すように、
ゲイン設定部２０は、アナログのゲイン設定器２０ｂ
と、それを駆動制御し試験調整装置１３との情報の受け
渡しをするゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部としての設定器駆
動部２１ｂとで構成される。上記実施の形態１で述べた
ように、試験調整装置１３からゲイン設定値切換指令が
出力され、該指令をゲイン設定部２０の設定器駆動部２
１ｂで受けて、設定器駆動部２１ｂは、ゲイン設定器２
０ｂの値を変更させる。この変更された値に基づいてゲ
イン回路１９のゲイン設定値は変更される。この場合
も、ゲイン回路１９で用いられるゲイン設定値およびゲ
イン回路１９の出力である計測値は設定器駆動部２１ｂ
を介して試験調整装置１３に伝送され、表示手段２３で
表示させることで作業者は校正中の変動および校正後の
値を確認できる。
おける核計測装置本体１２のゲイン設定部２０を、アナ
ログ設定方式にした例を図４に示す。図に示すように、
ゲイン設定部２０は、アナログのゲイン設定器２０ｂ
と、それを駆動制御し試験調整装置１３との情報の受け
渡しをするゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部としての設定器駆
動部２１ｂとで構成される。上記実施の形態１で述べた
ように、試験調整装置１３からゲイン設定値切換指令が
出力され、該指令をゲイン設定部２０の設定器駆動部２
１ｂで受けて、設定器駆動部２１ｂは、ゲイン設定器２
０ｂの値を変更させる。この変更された値に基づいてゲ
イン回路１９のゲイン設定値は変更される。この場合
も、ゲイン回路１９で用いられるゲイン設定値およびゲ
イン回路１９の出力である計測値は設定器駆動部２１ｂ
を介して試験調整装置１３に伝送され、表示手段２３で
表示させることで作業者は校正中の変動および校正後の
値を確認できる。
【００３１】図５は、上記のようなアナログ設定方式の
ゲイン設定部２０を備えたゲイン回路１９の回路図であ
る。図において、設定器駆動部２１ｂでゲイン設定値は
アナログ変化値である可変抵抗値RV１（微調整用）とRV
２（粗調整用）とに変えられ、設定器駆動部２１ｂのモ
ータによりゲイン設定器２０ｂのポテンショメータの値
が変更される。Ａ点ではイマジナルショートで電位０ Ｉ１＝ＶIN／ＲIN Ｉ２＝−ＶOUT／（Ｒ１＋RV１＋RV２） Ｉ１＝Ｉ２より（Ｉ１＝Ｉ２となるようにオペアンプが
動作） ＶOUT＝−（Ｒ１＋RV１＋RV２）／ＲIN×ＶIN となり、ゲイン回路１９はゲイン（Ｒ１＋RV１＋RV２）
／ＲINの反転増幅器を構成することになる。
ゲイン設定部２０を備えたゲイン回路１９の回路図であ
る。図において、設定器駆動部２１ｂでゲイン設定値は
アナログ変化値である可変抵抗値RV１（微調整用）とRV
２（粗調整用）とに変えられ、設定器駆動部２１ｂのモ
ータによりゲイン設定器２０ｂのポテンショメータの値
が変更される。Ａ点ではイマジナルショートで電位０ Ｉ１＝ＶIN／ＲIN Ｉ２＝−ＶOUT／（Ｒ１＋RV１＋RV２） Ｉ１＝Ｉ２より（Ｉ１＝Ｉ２となるようにオペアンプが
動作） ＶOUT＝−（Ｒ１＋RV１＋RV２）／ＲIN×ＶIN となり、ゲイン回路１９はゲイン（Ｒ１＋RV１＋RV２）
／ＲINの反転増幅器を構成することになる。
【００３２】この様に、ゲイン設定部２０をアナログ方
式にすることにより、従来用いていたアナログのゲイン
設定器９に設定器駆動部２１ｂを備えて用いることが可
能であり、容易に実施できる。また、ゲイン調整の分解
能が小さいアナログ方式を用いることにより、微小な調
整が容易に行える。
式にすることにより、従来用いていたアナログのゲイン
設定器９に設定器駆動部２１ｂを備えて用いることが可
能であり、容易に実施できる。また、ゲイン調整の分解
能が小さいアナログ方式を用いることにより、微小な調
整が容易に行える。
【００３３】実施の形態４．上記実施の形態１では、別
途算出された原子炉熱出力に対応するゲインの値をゲイ
ン設定値校正情報として入力手段２２から試験調整装置
１３に入力したが、作業者が、原子炉熱出力を試験調整
装置１３に入力し、試験調整装置１３の制御ロジック部
２５で該原子炉熱出力に対応するゲインの値を算出させ
ても良い。この場合の、作業者のゲイン校正における処
理手順のフローチャートを図６に示す。図に示すよう
に、作業者は別途算出された原子炉熱出力をゲイン設定
値校正情報として入力手段２２から試験調整装置１３に
入力する（Ｓ１）。試験調整装置１３に伝送されるゲイ
ン回路１９の出力である計測値（核計装出力）を表示手
段２３で確認し（Ｓ２）、作業者は校正すべきかどうか
判断する。許容されないずれが発生していれば入力手段
２２から校正開始命令を入力する（Ｓ３）。試験調整装
置１３の制御ロジック部２５は、校正開始命令を受け
て、核計測装置本体１２から伝送される。その時点のゲ
イン設定値およびゲイン回路１９の出力に基づいて、入
力された原子炉熱出力に対応するゲインの値を算出し、
該ゲイン値を所望のゲイン設定値として、上記実施の形
態１と同様に校正する（Ｓ４）。作業者は、校正終了後
のゲイン回路１９の出力を表示手段２３で表示させて原
子炉熱出力とのずれが修正されたことを確認して（Ｓ
５）、作業が完了する（Ｓ６）。
途算出された原子炉熱出力に対応するゲインの値をゲイ
ン設定値校正情報として入力手段２２から試験調整装置
１３に入力したが、作業者が、原子炉熱出力を試験調整
装置１３に入力し、試験調整装置１３の制御ロジック部
２５で該原子炉熱出力に対応するゲインの値を算出させ
ても良い。この場合の、作業者のゲイン校正における処
理手順のフローチャートを図６に示す。図に示すよう
に、作業者は別途算出された原子炉熱出力をゲイン設定
値校正情報として入力手段２２から試験調整装置１３に
入力する（Ｓ１）。試験調整装置１３に伝送されるゲイ
ン回路１９の出力である計測値（核計装出力）を表示手
段２３で確認し（Ｓ２）、作業者は校正すべきかどうか
判断する。許容されないずれが発生していれば入力手段
２２から校正開始命令を入力する（Ｓ３）。試験調整装
置１３の制御ロジック部２５は、校正開始命令を受け
て、核計測装置本体１２から伝送される。その時点のゲ
イン設定値およびゲイン回路１９の出力に基づいて、入
力された原子炉熱出力に対応するゲインの値を算出し、
該ゲイン値を所望のゲイン設定値として、上記実施の形
態１と同様に校正する（Ｓ４）。作業者は、校正終了後
のゲイン回路１９の出力を表示手段２３で表示させて原
子炉熱出力とのずれが修正されたことを確認して（Ｓ
５）、作業が完了する（Ｓ６）。
【００３４】この実施の形態では、作業者は原子炉熱出
力を入力し、校正すべきかどうかの判断をするだけで良
く、作業がさらに容易になり、ヒューマンエラーがさら
に防止でき、作業者の負担が軽減できる。
力を入力し、校正すべきかどうかの判断をするだけで良
く、作業がさらに容易になり、ヒューマンエラーがさら
に防止でき、作業者の負担が軽減できる。
【００３５】なお、ゲイン回路１９の出力を表示手段２
３で確認する作業（Ｓ２）をした後、校正すべきと判断
される場合のみ、入力手段２２から試験調整装置１３に
原子炉熱出力を入力し（Ｓ１）、この入力を校正開始命
令としても良い。また、予めデータベース部２６に判断
基準となる規格値を格納しておいて、原子炉熱出力の入
力を受けて試験調整装置１３に校正すべきかどうかを判
断させることもできる。また、この実施の形態において
も、ゲイン設定値は連続的あるいはステップ的に徐々に
変化して校正され、それらの値は、試験調整装置１３に
伝送されるため、校正中のゲイン設定値およびゲイン回
路１９出力の変動を表示手段２３で表示させて作業者が
確認するようにしても良い。
３で確認する作業（Ｓ２）をした後、校正すべきと判断
される場合のみ、入力手段２２から試験調整装置１３に
原子炉熱出力を入力し（Ｓ１）、この入力を校正開始命
令としても良い。また、予めデータベース部２６に判断
基準となる規格値を格納しておいて、原子炉熱出力の入
力を受けて試験調整装置１３に校正すべきかどうかを判
断させることもできる。また、この実施の形態において
も、ゲイン設定値は連続的あるいはステップ的に徐々に
変化して校正され、それらの値は、試験調整装置１３に
伝送されるため、校正中のゲイン設定値およびゲイン回
路１９出力の変動を表示手段２３で表示させて作業者が
確認するようにしても良い。
【００３６】実施の形態５．次に、図１に示すような核
計測装置により、ゲイン設定値の校正作業そのものをな
くして自動で校正するものについて以下に示す。試験調
整装置１３に入力されるゲイン設定値校正情報として、
原子炉運転中の原子炉熱出力に応じたゲインの経時変化
模擬情報を予めデータベース部２６に格納する。図７
は、原子炉運転前の炉心設計において、ワンサイクル運
転中のゲイン定数の変化をシミュレーションにより予測
したものである。この様なゲインの経時変化模擬情報を
予め、データベース部２６に格納することで、原子炉運
転中においては、時間経過により決定される燃料の燃焼
度により求まるゲイン定数に合わせてゲイン設定値切換
指令を外部Ｉ／Ｆ部２４から出力する。この後、上記実
施の形態１と同様にゲイン設定値切換指令は、核計測装
置本体１２のゲイン設定部２０が有するゲイン設定値切
換Ｉ／Ｆ部２１に入力され、これによりゲイン設定部２
０はゲイン回路１９で用いるゲイン設定値を校正する。
計測装置により、ゲイン設定値の校正作業そのものをな
くして自動で校正するものについて以下に示す。試験調
整装置１３に入力されるゲイン設定値校正情報として、
原子炉運転中の原子炉熱出力に応じたゲインの経時変化
模擬情報を予めデータベース部２６に格納する。図７
は、原子炉運転前の炉心設計において、ワンサイクル運
転中のゲイン定数の変化をシミュレーションにより予測
したものである。この様なゲインの経時変化模擬情報を
予め、データベース部２６に格納することで、原子炉運
転中においては、時間経過により決定される燃料の燃焼
度により求まるゲイン定数に合わせてゲイン設定値切換
指令を外部Ｉ／Ｆ部２４から出力する。この後、上記実
施の形態１と同様にゲイン設定値切換指令は、核計測装
置本体１２のゲイン設定部２０が有するゲイン設定値切
換Ｉ／Ｆ部２１に入力され、これによりゲイン設定部２
０はゲイン回路１９で用いるゲイン設定値を校正する。
【００３７】この様に、この実施の形態では、原子炉熱
出力に応じたゲインの経時変化模擬情報を予めデータベ
ース部２６に格納することで、ゲイン設定値の校正作業
を自動化することができ、作業者は、表示手段２３で確
認するのみで良く作業の負担は殆どない。
出力に応じたゲインの経時変化模擬情報を予めデータベ
ース部２６に格納することで、ゲイン設定値の校正作業
を自動化することができ、作業者は、表示手段２３で確
認するのみで良く作業の負担は殆どない。
【００３８】
【発明の効果】以上のようにこの発明による請求項１記
載の核計測装置は、原子炉内に配置された中性子束検出
器の検出値が入力され、予めゲイン設定手段により設定
されたゲインを上記検出値に乗じ原子炉熱出力に対応す
る計測値を算出するゲイン回路を備えて、上記原子炉の
監視を行う装置構成であって、上記ゲイン設定手段がゲ
イン設定値切換Ｉ／Ｆ部を備え、ゲイン設定値校正情報
を入力する入力手段と上記ゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部に
接続して各種情報の受け渡しを行う外部Ｉ／Ｆ部と制御
部とで構成され、上記ゲイン設定値校正情報に基づい
て、その時点の上記ゲイン回路で用いられるゲイン設定
値および該ゲイン回路で算出された上記計測値の変動を
監視しながら、上記ゲイン設定値を連続的あるいはステ
ップ的に所望の値まで変化させるゲイン設定値切換指令
を上記外部Ｉ／Ｆ部から出力する試験調整装置を有し
て、該試験調整装置の出力により上記ゲイン設定手段が
動作して上記ゲイン設定値を校正するため、ゲイン設定
値の校正作業が容易となり作業者の負担が軽減し、ヒュ
ーマンエラーも防止できる。
載の核計測装置は、原子炉内に配置された中性子束検出
器の検出値が入力され、予めゲイン設定手段により設定
されたゲインを上記検出値に乗じ原子炉熱出力に対応す
る計測値を算出するゲイン回路を備えて、上記原子炉の
監視を行う装置構成であって、上記ゲイン設定手段がゲ
イン設定値切換Ｉ／Ｆ部を備え、ゲイン設定値校正情報
を入力する入力手段と上記ゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部に
接続して各種情報の受け渡しを行う外部Ｉ／Ｆ部と制御
部とで構成され、上記ゲイン設定値校正情報に基づい
て、その時点の上記ゲイン回路で用いられるゲイン設定
値および該ゲイン回路で算出された上記計測値の変動を
監視しながら、上記ゲイン設定値を連続的あるいはステ
ップ的に所望の値まで変化させるゲイン設定値切換指令
を上記外部Ｉ／Ｆ部から出力する試験調整装置を有し
て、該試験調整装置の出力により上記ゲイン設定手段が
動作して上記ゲイン設定値を校正するため、ゲイン設定
値の校正作業が容易となり作業者の負担が軽減し、ヒュ
ーマンエラーも防止できる。
【００３９】またこの発明による請求項２記載の核計測
装置は、請求項１において、ゲイン回路で用いられるゲ
イン設定値および該ゲイン回路で算出された計測値の変
動を表示させる表示手段を試験調整装置に備えたため、
作業者はゲイン設定値および上記計測値の変動および校
正後の値を確認でき、校正における信頼性が向上すると
共に、作業者の心理的負担も軽減できる。
装置は、請求項１において、ゲイン回路で用いられるゲ
イン設定値および該ゲイン回路で算出された計測値の変
動を表示させる表示手段を試験調整装置に備えたため、
作業者はゲイン設定値および上記計測値の変動および校
正後の値を確認でき、校正における信頼性が向上すると
共に、作業者の心理的負担も軽減できる。
【００４０】またこの発明による請求項３記載の核計測
装置は、請求項２において、ゲイン回路で用いられるゲ
イン設定値および該ゲイン回路で算出された計測値の変
動を取り込み保存するデータベースを試験調整装置に備
えたため、表示手段を用いていつでもデータベース内の
情報を確認でき、核計測装置の校正の信頼性をさらに向
上させる。
装置は、請求項２において、ゲイン回路で用いられるゲ
イン設定値および該ゲイン回路で算出された計測値の変
動を取り込み保存するデータベースを試験調整装置に備
えたため、表示手段を用いていつでもデータベース内の
情報を確認でき、核計測装置の校正の信頼性をさらに向
上させる。
【００４１】またこの発明による請求項４記載の核計測
装置は、請求項３において、試験調整装置の外部Ｉ／Ｆ
部と接続され、中性子束の値をゲイン回路に模擬入力す
るテスト入力回路を備え、原子炉停止状態で実施する定
期検査時に上記ゲイン回路に模擬入力される中性子束値
のテスト入力基準情報が予めデータベースに格納され、
該テスト入力基準情報に基づいた指令を上記試験調整装
置の外部Ｉ／Ｆ部から出力してテスト入力回路が動作
し、定期検査を行うため、定期検査時の作業が容易とな
り、作業者の負担が軽減でき、信頼性も向上する。
装置は、請求項３において、試験調整装置の外部Ｉ／Ｆ
部と接続され、中性子束の値をゲイン回路に模擬入力す
るテスト入力回路を備え、原子炉停止状態で実施する定
期検査時に上記ゲイン回路に模擬入力される中性子束値
のテスト入力基準情報が予めデータベースに格納され、
該テスト入力基準情報に基づいた指令を上記試験調整装
置の外部Ｉ／Ｆ部から出力してテスト入力回路が動作
し、定期検査を行うため、定期検査時の作業が容易とな
り、作業者の負担が軽減でき、信頼性も向上する。
【００４２】またこの発明による請求項５記載の核計測
装置は、請求項４において、原子炉熱出力が定格出力未
満の運転状態の検査時に、ゲイン回路で用いられるゲイ
ン設定値および該ゲイン回路で算出された計測値に基づ
いて、上記定格出力に対する不足分の中性子束値を制御
部で算出して、外部Ｉ／Ｆ部から出力することによりテ
スト入力回路が動作し、検査を行うため、検査時の作業
が容易となり、作業者の負担が軽減でき、信頼性も向上
する。
装置は、請求項４において、原子炉熱出力が定格出力未
満の運転状態の検査時に、ゲイン回路で用いられるゲイ
ン設定値および該ゲイン回路で算出された計測値に基づ
いて、上記定格出力に対する不足分の中性子束値を制御
部で算出して、外部Ｉ／Ｆ部から出力することによりテ
スト入力回路が動作し、検査を行うため、検査時の作業
が容易となり、作業者の負担が軽減でき、信頼性も向上
する。
【００４３】またこの発明による請求項６記載の核計測
装置は、請求項１〜５のいずれかににおいて、試験調整
装置に入力されるゲイン設定値校正情報として、別途算
出された原子炉熱出力に対応するゲインの値が入力さ
れ、当該ゲインの値をゲイン設定値の校正後の値とする
ため、ゲイン設定値の校正作業が容易となり作業者の負
担が軽減し、ヒューマンエラーも防止できる。
装置は、請求項１〜５のいずれかににおいて、試験調整
装置に入力されるゲイン設定値校正情報として、別途算
出された原子炉熱出力に対応するゲインの値が入力さ
れ、当該ゲインの値をゲイン設定値の校正後の値とする
ため、ゲイン設定値の校正作業が容易となり作業者の負
担が軽減し、ヒューマンエラーも防止できる。
【００４４】またこの発明による請求項７記載の核計測
装置は、請求項１〜５のいずれかににおいて、試験調整
装置に入力されるゲイン設定値校正情報として、別途算
出された原子炉熱出力が入力され、校正前のゲイン回路
で用いられるゲイン設定値および該ゲイン回路で算出さ
れた計測値に基づいて上記原子炉熱出力に対応するゲイ
ンの値を上記試験調整装置の制御部で算出し、当該ゲイ
ンの値を上記ゲイン設定値の校正後の値とするため、ゲ
イン設定値の校正作業がさらに容易となり作業者の負担
が一層軽減し、ヒューマンエラーも防止できる。
装置は、請求項１〜５のいずれかににおいて、試験調整
装置に入力されるゲイン設定値校正情報として、別途算
出された原子炉熱出力が入力され、校正前のゲイン回路
で用いられるゲイン設定値および該ゲイン回路で算出さ
れた計測値に基づいて上記原子炉熱出力に対応するゲイ
ンの値を上記試験調整装置の制御部で算出し、当該ゲイ
ンの値を上記ゲイン設定値の校正後の値とするため、ゲ
イン設定値の校正作業がさらに容易となり作業者の負担
が一層軽減し、ヒューマンエラーも防止できる。
【００４５】またこの発明による請求項８記載の核計測
装置は、請求項３〜５のいずれかにおいて、試験調整装
置に入力されるゲイン設定値校正情報として、原子炉運
転中の原子炉熱出力に応じたゲインの経時変化模擬情報
が予めデータベースに格納され、該ゲインの経時変化模
擬情報に基づいた試験調整装置の出力により、ゲイン設
定値を校正するため、ゲイン設定値の校正を自動化で行
うことができ、作業者の負担を殆どなくすことができ
る。
装置は、請求項３〜５のいずれかにおいて、試験調整装
置に入力されるゲイン設定値校正情報として、原子炉運
転中の原子炉熱出力に応じたゲインの経時変化模擬情報
が予めデータベースに格納され、該ゲインの経時変化模
擬情報に基づいた試験調整装置の出力により、ゲイン設
定値を校正するため、ゲイン設定値の校正を自動化で行
うことができ、作業者の負担を殆どなくすことができ
る。
【図１】 この発明の実施の形態１による原子力発電プ
ラントの核計装設備の構成図である。
ラントの核計装設備の構成図である。
【図２】 この発明の実施の形態２による原子力発電プ
ラントの核計装設備の構成図である。
ラントの核計装設備の構成図である。
【図３】 この発明の実施の形態２によるゲイン設定部
を備えたゲイン回路の回路図である。
を備えたゲイン回路の回路図である。
【図４】 この発明の実施の形態３による原子力発電プ
ラントの核計装設備の構成図である。
ラントの核計装設備の構成図である。
【図５】 この発明の実施の形態３によるゲイン設定部
を備えたゲイン回路の回路図である。
を備えたゲイン回路の回路図である。
【図６】 この発明の実施の形態４によるゲイン設定値
の校正作業の処理手順を示すフローチャートである。
の校正作業の処理手順を示すフローチャートである。
【図７】 この発明の実施の形態５によるゲインの経時
変化模擬情報を示すグラフである。
変化模擬情報を示すグラフである。
【図８】 従来の原子力発電プラントの核計装設備の構
成図である。
成図である。
１０ 中性子束検出器、１１ 核計測装置、１２ 核計
測装置本体、１３ 試験調整装置、１７ テスト入力回
路、１９ ゲイン回路、２０ ゲイン設定手段としての
ゲイン設定部、２１ ゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部、２１
ａ ゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部としての制御回路、２１
ｂ ゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部としての設定器駆動部、
２２ 入力手段、２３ 表示手段、２４ 外部Ｉ／Ｆ
部、２５ 制御ロジック部、２６ データベース部。
測装置本体、１３ 試験調整装置、１７ テスト入力回
路、１９ ゲイン回路、２０ ゲイン設定手段としての
ゲイン設定部、２１ ゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部、２１
ａ ゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部としての制御回路、２１
ｂ ゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部としての設定器駆動部、
２２ 入力手段、２３ 表示手段、２４ 外部Ｉ／Ｆ
部、２５ 制御ロジック部、２６ データベース部。
Claims (8)
- 【請求項１】 原子炉内に配置された中性子束検出器の
検出値が入力され、予めゲイン設定手段により設定され
たゲインを上記検出値に乗じ原子炉熱出力に対応する計
測値を算出するゲイン回路を備えて、上記原子炉の監視
を行う核計測装置において、上記ゲイン設定手段がゲイ
ン設定値切換Ｉ／Ｆ部を備え、ゲイン設定値校正情報を
入力する入力手段と上記ゲイン設定値切換Ｉ／Ｆ部に接
続して各種情報の受け渡しを行う外部Ｉ／Ｆ部と制御部
とで構成され、上記ゲイン設定値校正情報に基づいて、
その時点の上記ゲイン回路で用いられるゲイン設定値お
よび該ゲイン回路で算出された上記計測値の変動を監視
しながら、上記ゲイン設定値を連続的あるいはステップ
的に所望の値まで変化させるゲイン設定値切換指令を上
記外部Ｉ／Ｆ部から出力する試験調整装置を有して、該
試験調整装置の出力により上記ゲイン設定手段が動作し
て上記ゲイン設定値を校正することを特徴とする核計測
装置。 - 【請求項２】 ゲイン回路で用いられるゲイン設定値お
よび該ゲイン回路で算出された計測値の変動を表示させ
る表示手段を試験調整装置に備えたことを特徴とする請
求項１記載の核計測装置。 - 【請求項３】 ゲイン回路で用いられるゲイン設定値お
よび該ゲイン回路で算出された計測値の変動を取り込み
保存するデータベースを試験調整装置に備えたことを特
徴とする請求項２記載の核計測装置。 - 【請求項４】 試験調整装置の外部Ｉ／Ｆ部と接続さ
れ、中性子束の値をゲイン回路に模擬入力するテスト入
力回路を備え、原子炉停止状態で実施する定期検査時に
上記ゲイン回路に模擬入力される中性子束値のテスト入
力基準情報が予めデータベースに格納され、該テスト入
力基準情報に基づいた指令を上記試験調整装置の外部Ｉ
／Ｆ部から出力してテスト入力回路が動作し、定期検査
を行うことを特徴とする請求項３記載の核計測装置。 - 【請求項５】 原子炉熱出力が定格出力未満の運転状態
の検査時に、ゲイン回路で用いられるゲイン設定値およ
び該ゲイン回路で算出された計測値に基づいて、上記定
格出力に対する不足分の中性子束値を制御部で算出し
て、外部Ｉ／Ｆ部から出力することによりテスト入力回
路が動作し、検査を行うことを特徴とする請求項４記載
の核計測装置。 - 【請求項６】 試験調整装置に入力されるゲイン設定値
校正情報として、別途算出された原子炉熱出力に対応す
るゲインの値が入力され、当該ゲインの値をゲイン設定
値の校正後の値とすることを特徴とする請求項１〜５の
いずれかに記載の核計測装置。 - 【請求項７】 試験調整装置に入力されるゲイン設定値
校正情報として、別途算出された原子炉熱出力が入力さ
れ、校正前のゲイン回路で用いられるゲイン設定値およ
び該ゲイン回路で算出された計測値に基づいて上記原子
炉熱出力に対応するゲインの値を上記試験調整装置の制
御部で算出し、当該ゲインの値を上記ゲイン設定値の校
正後の値とすることを特徴とする請求項１〜５のいずれ
かに記載の核計測装置。 - 【請求項８】 試験調整装置に入力されるゲイン設定値
校正情報として、原子炉運転中の原子炉熱出力に応じた
ゲインの経時変化模擬情報が予めデータベースに格納さ
れ、該ゲインの経時変化模擬情報に基づいた試験調整装
置の出力により、ゲイン設定値を校正することを特徴と
する請求項３〜５のいずれかに記載の核計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11070054A JP2000266884A (ja) | 1999-03-16 | 1999-03-16 | 核計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11070054A JP2000266884A (ja) | 1999-03-16 | 1999-03-16 | 核計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000266884A true JP2000266884A (ja) | 2000-09-29 |
Family
ID=13420471
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11070054A Pending JP2000266884A (ja) | 1999-03-16 | 1999-03-16 | 核計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000266884A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100951447B1 (ko) | 2007-10-29 | 2010-04-07 | 한전케이피에스 주식회사 | 방사선 감시설비의 시험장치 |
| JP2012163362A (ja) * | 2011-02-03 | 2012-08-30 | Mitsubishi Electric Corp | 炉外核計装装置 |
| US20130142298A1 (en) * | 2011-12-06 | 2013-06-06 | Mitsubishi Electric Corporation | In-core nuclear instrumentation apparatus |
| CN103854710A (zh) * | 2012-12-07 | 2014-06-11 | 中国核动力研究设计院 | 一种采用主回路精确流量校准核仪表系统的方法 |
| WO2016031045A1 (ja) * | 2014-08-29 | 2016-03-03 | 三菱電機株式会社 | 炉外核計装装置 |
| US9368239B2 (en) | 2012-03-13 | 2016-06-14 | Mitsubishi Electric Corporation | Ex-core nuclear instrumentation system |
| WO2017042876A1 (ja) * | 2015-09-08 | 2017-03-16 | 三菱電機株式会社 | 炉内核計装装置 |
-
1999
- 1999-03-16 JP JP11070054A patent/JP2000266884A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100951447B1 (ko) | 2007-10-29 | 2010-04-07 | 한전케이피에스 주식회사 | 방사선 감시설비의 시험장치 |
| JP2012163362A (ja) * | 2011-02-03 | 2012-08-30 | Mitsubishi Electric Corp | 炉外核計装装置 |
| US8964926B2 (en) | 2011-02-03 | 2015-02-24 | Mitsubishi Electric Corporation | Ex-core nuclear instrumentation system |
| US20130142298A1 (en) * | 2011-12-06 | 2013-06-06 | Mitsubishi Electric Corporation | In-core nuclear instrumentation apparatus |
| US9368239B2 (en) | 2012-03-13 | 2016-06-14 | Mitsubishi Electric Corporation | Ex-core nuclear instrumentation system |
| CN103854710A (zh) * | 2012-12-07 | 2014-06-11 | 中国核动力研究设计院 | 一种采用主回路精确流量校准核仪表系统的方法 |
| CN103854710B (zh) * | 2012-12-07 | 2016-08-10 | 中国核动力研究设计院 | 一种采用主回路精确流量校准核仪表系统的方法 |
| WO2016031045A1 (ja) * | 2014-08-29 | 2016-03-03 | 三菱電機株式会社 | 炉外核計装装置 |
| WO2017042876A1 (ja) * | 2015-09-08 | 2017-03-16 | 三菱電機株式会社 | 炉内核計装装置 |
| JPWO2017042876A1 (ja) * | 2015-09-08 | 2018-03-29 | 三菱電機株式会社 | 炉内核計装装置 |
| CN107924726A (zh) * | 2015-09-08 | 2018-04-17 | 三菱电机株式会社 | 堆芯核仪表装置 |
| US11081244B2 (en) | 2015-09-08 | 2021-08-03 | Mitsubishi Electric Corporation | Incore nuclear instrumentation system |
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|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060110 |
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|
| A02 | Decision of refusal |
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