JPS6157879A - 線量率計の自動調整装置 - Google Patents
線量率計の自動調整装置Info
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- JPS6157879A JPS6157879A JP17978984A JP17978984A JPS6157879A JP S6157879 A JPS6157879 A JP S6157879A JP 17978984 A JP17978984 A JP 17978984A JP 17978984 A JP17978984 A JP 17978984A JP S6157879 A JPS6157879 A JP S6157879A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、放射線量測定装置に係り、特に定期的に調整
を実施する線量率計測系のゲイン、バイアス調整に好適
な調整手段に関する。
を実施する線量率計測系のゲイン、バイアス調整に好適
な調整手段に関する。
［発明の背景］
従来は、基礎原子力講座２「放射線（改訂版）」（第１
８８頁参照、コロナ社出版）に示される如く計測系をア
ナログ回路で構成している。すなわち、第４図に示す如
く、アナログ演算部２５において検出器１からの信号を
演算増幅器で演算し線量率信号として出力するものであ
り、ゲイン、バイアスは可変抵抗によりバイアスとゲイ
ンを相互に調整して２点の校正信号が目標値を指示する
よう合せ込み調整する。このように、従来の装置は、ア
ナログ回路で計測系を構成しており、計測系のゲイン、
バイアス調整は、可変抵抗器により出力指示値が目標値
に一致するよう、ゲイン抵抗とバイアス抵抗を交互に何
回もくり返し操作し合わせこんでいる。このようなゲイ
ン、バイアスの調整方法が第５図に示されている。すな
わち、第５図（Ｂ）のステップ２０１において、模擬信
号発生部より出力指示値Ａ。に相当する模擬人カニ、を
入力する。すると、ステップ２０２において、バイパス
調整可変抵抗により出力指示がＡ。になる様に調整する
。次にステップ２０３において、出力指示値Ｂ。に相当
する模擬入カニ、を入力する。
８８頁参照、コロナ社出版）に示される如く計測系をア
ナログ回路で構成している。すなわち、第４図に示す如
く、アナログ演算部２５において検出器１からの信号を
演算増幅器で演算し線量率信号として出力するものであ
り、ゲイン、バイアスは可変抵抗によりバイアスとゲイ
ンを相互に調整して２点の校正信号が目標値を指示する
よう合せ込み調整する。このように、従来の装置は、ア
ナログ回路で計測系を構成しており、計測系のゲイン、
バイアス調整は、可変抵抗器により出力指示値が目標値
に一致するよう、ゲイン抵抗とバイアス抵抗を交互に何
回もくり返し操作し合わせこんでいる。このようなゲイ
ン、バイアスの調整方法が第５図に示されている。すな
わち、第５図（Ｂ）のステップ２０１において、模擬信
号発生部より出力指示値Ａ。に相当する模擬人カニ、を
入力する。すると、ステップ２０２において、バイパス
調整可変抵抗により出力指示がＡ。になる様に調整する
。次にステップ２０３において、出力指示値Ｂ。に相当
する模擬入カニ、を入力する。
この入力値によってステップ２０４において、出力指示
Ｂをゲイン調整可変抵抗により、出力指示がＢｎになる
ように調整し、これが、模擬人カニ、の出力指示値Ａが
Ａ。に、模擬人カニ、の出力指示値ＢがＢ。になるまで
何回もくり返す。
Ｂをゲイン調整可変抵抗により、出力指示がＢｎになる
ように調整し、これが、模擬人カニ、の出力指示値Ａが
Ａ。に、模擬人カニ、の出力指示値ＢがＢ。になるまで
何回もくり返す。
このように、従来は、アナログ回路方式で計測系を構成
しているため、ゲイン、バイアスの調整を可変抵抗を操
作することにより行っているが、校正用模擬信号が固定
された２点のため、ゲインとバイアスは、相当に影響を
及ぼしゲインを調整するバイアスの再調整が必要となる
ため、交互に調整をくり返し２点の校正用模擬信号に対
し、出力が目標値に一致するように合せ込んでおり運転
量の保守調整が大変であった。
しているため、ゲイン、バイアスの調整を可変抵抗を操
作することにより行っているが、校正用模擬信号が固定
された２点のため、ゲインとバイアスは、相当に影響を
及ぼしゲインを調整するバイアスの再調整が必要となる
ため、交互に調整をくり返し２点の校正用模擬信号に対
し、出力が目標値に一致するように合せ込んでおり運転
量の保守調整が大変であった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、１回の模擬信号入力（又は、実照射）
により簡単にゲイン、バイアス調整を行い保守点検時の
調整作業時間を短縮することができる線量率計の自動調
整装置を提供することにある。
により簡単にゲイン、バイアス調整を行い保守点検時の
調整作業時間を短縮することができる線量率計の自動調
整装置を提供することにある。
本発明は、校正用模擬信号入力時の出力指示信号と目標
とする指示値（校正用基準値）を記憶しておき、−次方
程式を解くことにより調整すべきゲイン、バイアス値を
演算し自動設定することにより１回の模擬信号入力によ
り簡単にゲイン、バイアスＩＩＷを行い保守点検時の調
整作業時間を短縮しようというものである。
とする指示値（校正用基準値）を記憶しておき、−次方
程式を解くことにより調整すべきゲイン、バイアス値を
演算し自動設定することにより１回の模擬信号入力によ
り簡単にゲイン、バイアスＩＩＷを行い保守点検時の調
整作業時間を短縮しようというものである。
以下、本発明の実施例について説明する。
第１図には、本発明の一実施例が示されている。
図において、検出器１は、電離箱検出器やＧＭ管検出器
のような放射線量に感応する放射線検出器であり電流信
号又はパルス信号を発生するものである。
のような放射線量に感応する放射線検出器であり電流信
号又はパルス信号を発生するものである。
増幅部２、入力部３は、検出器ｌからの信号を演算部４
で処理しやすい様、対数増幅及び、波形整形等を行なう
ものである。また、演算部４は、入力信号Ｘに対し、出
力ｙをｙ＝ａ−ｘ＋ｂの演算を行なって出力するもので
ある。すなわち、検光器１からの検出信号Ｘがｘ＝ｘｏ
の場合に演算部４は、前記の如き演算を行って出力値ｙ
としてｙ＝ａｘ、＋ｂ という値を出力する。
で処理しやすい様、対数増幅及び、波形整形等を行なう
ものである。また、演算部４は、入力信号Ｘに対し、出
力ｙをｙ＝ａ−ｘ＋ｂの演算を行なって出力するもので
ある。すなわち、検光器１からの検出信号Ｘがｘ＝ｘｏ
の場合に演算部４は、前記の如き演算を行って出力値ｙ
としてｙ＝ａｘ、＋ｂ という値を出力する。
この様に演算された出力ｙは、出力表示部５に線量率と
して表示する。
して表示する。
また、模擬信号発生部１０は、放射線外側系を簡易的に
校正するもので、実際に検出器１に照射した時の検出器
からの出力と等価な信号を電気的に発生するものであり
、校正信号（模擬信号）は２点以上有する。通常２点で
校正する。もちろん、検出器１に実照射を２点行ない校
正することも可能である。
校正するもので、実際に検出器１に照射した時の検出器
からの出力と等価な信号を電気的に発生するものであり
、校正信号（模擬信号）は２点以上有する。通常２点で
校正する。もちろん、検出器１に実照射を２点行ない校
正することも可能である。
以下の説明では、模擬信号発生部１０からＩ。
とＩｌｌの信号が発生できるものとして説明する。
■、は検出器にＡ。ｍ Ｒ／ ｈの照射を模擬する値で
あり、■、は検出器１にＢ。ｍＲ／ｈの照射を模擬した
値である。
あり、■、は検出器１にＢ。ｍＲ／ｈの照射を模擬した
値である。
記憶部６は、目標値設定部７から設定されたＡ、、Ｂｆ
ｉの値と、■、を入力した時の出力値Ａと、１．を入力
した時の出力値Ｂを記憶しておく。
ｉの値と、■、を入力した時の出力値Ａと、１．を入力
した時の出力値Ｂを記憶しておく。
偏差補正部８は、記憶部６に入力される演算部４からが
出力されるＡ、Ｂの値から計測系の特性を求め演算部４
の出力信号ｙが、目標値設定部７から出力されるＡ。、
Ｂｏと同じＡ。、Ｂｏとなるように、演算部４のゲイン
ａ及びバイアスｂの値を算出し設定するものである。こ
の設定は自動調整指令９により実行されゲイン、バイア
ス自動調整を行なう。
出力されるＡ、Ｂの値から計測系の特性を求め演算部４
の出力信号ｙが、目標値設定部７から出力されるＡ。、
Ｂｏと同じＡ。、Ｂｏとなるように、演算部４のゲイン
ａ及びバイアスｂの値を算出し設定するものである。こ
の設定は自動調整指令９により実行されゲイン、バイア
ス自動調整を行なう。
次に第２１！ｌを用いて具体的ｌｌ！整方接方法明する
。
。
調整前のディジタル演算部４の入出力特性をｙ＝ａ、・
ｘ＋ｂ１とすると、模擬入力値工、を入力した時出力は
ｙ＝４となる。また、模擬入力値工、を入力した時はｙ
＝１３となる。しかし、模擬入力値工、はもともと出力
ｙ＝Ａｆｌ となるべき値として設定されたものであり
、模擬入力値工、はもともと出力ｙ＝Ｂｏ となるべき
値として設定されたものである。従ってこれら模擬入力
値工、。
ｘ＋ｂ１とすると、模擬入力値工、を入力した時出力は
ｙ＝４となる。また、模擬入力値工、を入力した時はｙ
＝１３となる。しかし、模擬入力値工、はもともと出力
ｙ＝Ａｆｌ となるべき値として設定されたものであり
、模擬入力値工、はもともと出力ｙ＝Ｂｏ となるべき
値として設定されたものである。従ってこれら模擬入力
値工、。
１、に対し正規の出力’：ｊ ＝ Ａｎ ｐ Ｖ ＝
Ｂ ｎをする様に、演算部４のゲイン、バイアスを調整
し、第２図（Ａ）図示ｙ＝ａｏ−ｘ十す。にする必要が
ある。
Ｂ ｎをする様に、演算部４のゲイン、バイアスを調整
し、第２図（Ａ）図示ｙ＝ａｏ−ｘ十す。にする必要が
ある。
この様な出力のズレは、放射線検出器１が物理現象を検
出するものであり、放射線下における感度変化及び増幅
部２の経年変化に起因するものであり、定期的校正が必
要である。
出するものであり、放射線下における感度変化及び増幅
部２の経年変化に起因するものであり、定期的校正が必
要である。
記憶部６へは、目標値設定部７の設定及び、模擬信号（
又は実照射）入力時においてＳＥＴ信号を与える事によ
り記憶する。記憶値Ａ。ｔ Ｂａｔ Ａ。
又は実照射）入力時においてＳＥＴ信号を与える事によ
り記憶する。記憶値Ａ。ｔ Ｂａｔ Ａ。
Ｂは、偏差補正部８へ入力する。偏差補正部８において
、Ａ＝ａ、” Ｉ、＋ｂ１．Ｂ＝ａ１” Ｉ、＋ｂ□。
、Ａ＝ａ、” Ｉ、＋ｂ１．Ｂ＝ａ１” Ｉ、＋ｂ□。
Ａｎ：ｆｉａ・ＩＡ＋ｂａｔ Ｂｏ＝ ａｎ・Ｉ、＋ｂ
、より、ａｏ＝ａ、・（Ａ、−Ｂｏ）／（Ａ−Ｂ）ｂ
ｎ＝ Ａ ｏ （Ａ ｏ Ｂ ａ ）・（Ａ−ｂ、
）／（Ａ−Ｂ）とし、目標ゲイン、バイアス値を演算算
出し演算部４の設定を行なう。
、より、ａｏ＝ａ、・（Ａ、−Ｂｏ）／（Ａ−Ｂ）ｂ
ｎ＝ Ａ ｏ （Ａ ｏ Ｂ ａ ）・（Ａ−ｂ、
）／（Ａ−Ｂ）とし、目標ゲイン、バイアス値を演算算
出し演算部４の設定を行なう。
第２図（Ｂ）を用いてゲイン、バイアスの調整方法につ
いて説明する。
いて説明する。
まず、ステップ１０１において、模擬信号（又は既知の
値の実照射）入力時に出力指示すべき値Ａｏ＝ Ｂｅを
予め記憶部に入力しておく。次に、スチップ１０２にお
いて、模擬信号（又は実照射）を実際に入力し、そのと
きの出力指示値Ａ、Ｂを記憶部へ入力する。そこで、ス
テップ１０３において、模擬信号（又は実照射）入力に
よって出された値Ａ、Ｂの値より現状の特性 ｙ＝ａ１ｘ＋ｂ。
値の実照射）入力時に出力指示すべき値Ａｏ＝ Ｂｅを
予め記憶部に入力しておく。次に、スチップ１０２にお
いて、模擬信号（又は実照射）を実際に入力し、そのと
きの出力指示値Ａ、Ｂを記憶部へ入力する。そこで、ス
テップ１０３において、模擬信号（又は実照射）入力に
よって出された値Ａ、Ｂの値より現状の特性 ｙ＝ａ１ｘ＋ｂ。
を算出する。
次にステップ１０４において、模擬信号（又は実照射）
値の入力に対して、正常な出力指示値を示すように、す
なわち、ステップ１０１で記憶した設定値に一致するよ
うに演算部のゲインａとバイアスｂを変更し、 ｙ＝ａ、ｘ＋ｂ。
値の入力に対して、正常な出力指示値を示すように、す
なわち、ステップ１０１で記憶した設定値に一致するよ
うに演算部のゲインａとバイアスｂを変更し、 ｙ＝ａ、ｘ＋ｂ。
となるようにする。
第３図には、第１図図示偏差補正部８の詳細が示されて
いる。
いる。
この偏差補正部８は、記憶部６に格納されているデータ
Ａ、Ｂ、Ａ、、Ｂｏと、現在演算部４に設定されている
ゲインａ１、バイアスｂ１の値より、加算部１５、割算
部１６、乗算部１７により新ゲインａ。、新バイアスｂ
、、を演算し、データ設定部１８に入力する。
Ａ、Ｂ、Ａ、、Ｂｏと、現在演算部４に設定されている
ゲインａ１、バイアスｂ１の値より、加算部１５、割算
部１６、乗算部１７により新ゲインａ。、新バイアスｂ
、、を演算し、データ設定部１８に入力する。
ａｏ＝ａ、・（Ａ、−Ｂ、）／（Ａ−Ｂ）ｂ、＝Ａｏ−
（Ａ、−Ｂ、）・（Ａ−ｂ、）／（Ａ−Ｂ）データ設定
部１８には、自動調整指令９により新データａｎｔ ｂ
、が格納され演算部４に新データを設定する。
（Ａ、−Ｂ、）・（Ａ−ｂ、）／（Ａ−Ｂ）データ設定
部１８には、自動調整指令９により新データａｎｔ ｂ
、が格納され演算部４に新データを設定する。
尚、第１図に示す演算部４、記憶部、目標設定部７、偏
差補正部８の機能をハード回路で実現することはもちろ
ん、マイクロコンピュータを用いてソフト処理すること
も本発明の範囲内である。
差補正部８の機能をハード回路で実現することはもちろ
ん、マイクロコンピュータを用いてソフト処理すること
も本発明の範囲内である。
したがって、本実施例によれば、放射線計測装置の校正
におけるゲイン、バイアス調整が容易に実施でき運転員
の負担を従来の約１／１０に低減できるとともにシステ
ムの運転効率向上の効果がある。
におけるゲイン、バイアス調整が容易に実施でき運転員
の負担を従来の約１／１０に低減できるとともにシステ
ムの運転効率向上の効果がある。
以上説明したように、本発明によれば、１回の模擬信号
入力（又は実照射入力）により簡単にゲイン、バイアス
調整を行い保守点検時の調整作業時間を短縮することが
できる。
入力（又は実照射入力）により簡単にゲイン、バイアス
調整を行い保守点検時の調整作業時間を短縮することが
できる。
第１図は、本発明の実施例を示す回路構成図、第２図は
、本発明におけるゲイン、バイアス調整の方法と過程を
示す図、第３図は、本発明における偏差補正部８の詳細
ブロック図、第４図は、従来方式の回路構成を示す図、
第５図は、従来方式のゲイン、バイアス調整の方法と過
程を示す図である。 ４・・・演算部、６・・・記憶部、７・・・目標値設定
部、８・・・偏差補正部、９・・・自動調整指令、１５
・・・加算部、１６・・・割算部、１７・・・乗算部、
１８・・・データ設定部。
、本発明におけるゲイン、バイアス調整の方法と過程を
示す図、第３図は、本発明における偏差補正部８の詳細
ブロック図、第４図は、従来方式の回路構成を示す図、
第５図は、従来方式のゲイン、バイアス調整の方法と過
程を示す図である。 ４・・・演算部、６・・・記憶部、７・・・目標値設定
部、８・・・偏差補正部、９・・・自動調整指令、１５
・・・加算部、１６・・・割算部、１７・・・乗算部、
１８・・・データ設定部。
Claims (1)
- １、放射線検出器と該検出器からの信号を増幅する増幅
器と該増幅器の信号を放射線量率に換算する演算部と放
射線量率信号を出力する出力指示部より成る放射線量率
測定装置において、校正用の模擬信号を供給する校正信
号発生手段と、前記校正信号に相当する線量率の値を記
憶する記憶部と、前記記憶部に記憶された値の加減乗除
演算により実際に校正信号を入力したときの出力値を前
記記憶部に記憶された線量率に一致させるように上記演
算部のゲインとバイアス値を調整する手段を設けたこと
を特徴とする線量率計の自動調整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17978984A JPS6157879A (ja) | 1984-08-29 | 1984-08-29 | 線量率計の自動調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17978984A JPS6157879A (ja) | 1984-08-29 | 1984-08-29 | 線量率計の自動調整装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6157879A true JPS6157879A (ja) | 1986-03-24 |
| JPH055070B2 JPH055070B2 (ja) | 1993-01-21 |
Family
ID=16071917
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17978984A Granted JPS6157879A (ja) | 1984-08-29 | 1984-08-29 | 線量率計の自動調整装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6157879A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001074844A (ja) * | 1999-09-01 | 2001-03-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ポケット線量計 |
| JP2011075337A (ja) * | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 放射線検出装置 |
| JP2018518682A (ja) * | 2015-06-25 | 2018-07-12 | ジーイー−ヒタチ・ニュークリア・エナジー・アメリカズ・エルエルシーＧｅ−Ｈｉｔａｃｈｉ Ｎｕｃｌｅａｒ Ｅｎｅｒｇｙ Ａｍｅｒｉｃａｓ， Ｌｌｃ | ガイガーミュラー放射線センサの監視および試験のための電子信号を提供するための方法、システムおよび装置 |
| JP2018190111A (ja) * | 2017-04-28 | 2018-11-29 | 横河電機株式会社 | 校正作業支援装置、校正作業支援方法、校正作業支援プログラム及び記録媒体 |
-
1984
- 1984-08-29 JP JP17978984A patent/JPS6157879A/ja active Granted
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001074844A (ja) * | 1999-09-01 | 2001-03-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ポケット線量計 |
| JP2011075337A (ja) * | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 放射線検出装置 |
| JP2018518682A (ja) * | 2015-06-25 | 2018-07-12 | ジーイー−ヒタチ・ニュークリア・エナジー・アメリカズ・エルエルシーＧｅ−Ｈｉｔａｃｈｉ Ｎｕｃｌｅａｒ Ｅｎｅｒｇｙ Ａｍｅｒｉｃａｓ， Ｌｌｃ | ガイガーミュラー放射線センサの監視および試験のための電子信号を提供するための方法、システムおよび装置 |
| JP2021047210A (ja) * | 2015-06-25 | 2021-03-25 | ジーイー−ヒタチ・ニュークリア・エナジー・アメリカズ・エルエルシーＧｅ−Ｈｉｔａｃｈｉ Ｎｕｃｌｅａｒ Ｅｎｅｒｇｙ Ａｍｅｒｉｃａｓ， Ｌｌｃ | ガイガーミュラー放射線センサの監視および試験のための電子信号を提供するための方法、システムおよび装置 |
| JP2018190111A (ja) * | 2017-04-28 | 2018-11-29 | 横河電機株式会社 | 校正作業支援装置、校正作業支援方法、校正作業支援プログラム及び記録媒体 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH055070B2 (ja) | 1993-01-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |