JPH065658Y2 - 放射線測定装置 - Google Patents
放射線測定装置Info
- Publication number
- JPH065658Y2 JPH065658Y2 JP14595587U JP14595587U JPH065658Y2 JP H065658 Y2 JPH065658 Y2 JP H065658Y2 JP 14595587 U JP14595587 U JP 14595587U JP 14595587 U JP14595587 U JP 14595587U JP H065658 Y2 JPH065658 Y2 JP H065658Y2
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- JP
- Japan
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- signal
- outputs
- unit
- radiation
- function
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Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、放射線検出部が検出した放射線の線量を、ス
ペクトル一線量変換演算子値関数(以後この関数をG関
数ということがある)を用いて放射線のエネルギーレベ
ルの影響をうけることなく正しく測定するようにした放
射線測定装置、特に該測定装置を構成する放射線検出信
号増幅用の増幅部のゲイン調整を容易に行うことができ
る測定装置に関する。
ペクトル一線量変換演算子値関数(以後この関数をG関
数ということがある)を用いて放射線のエネルギーレベ
ルの影響をうけることなく正しく測定するようにした放
射線測定装置、特に該測定装置を構成する放射線検出信
号増幅用の増幅部のゲイン調整を容易に行うことができ
る測定装置に関する。
たとえば、NaI(T)シンチレータを用いてγ線の照
射線量を測定する場合、γ線のエネルギーレベルに応じ
てγ線検出器の検出効率及びγ線の照射線量が異なるの
で、γ線の検出結果を該γ線のエネルギーレベルに応じ
て換算する必要があり、このため、従来、上記のG関数
を用いた線量換算が行われている。
射線量を測定する場合、γ線のエネルギーレベルに応じ
てγ線検出器の検出効率及びγ線の照射線量が異なるの
で、γ線の検出結果を該γ線のエネルギーレベルに応じ
て換算する必要があり、このため、従来、上記のG関数
を用いた線量換算が行われている。
第3図はG関数を用いて自動的に線量換算を行うように
した従来のγ線照射線量測定装置の構成図である。第3
図において、1はγ線2を検出してその検出結果に応じ
たパルス列信号としての検出信号1aを出力するNaI
(T)シンチレーション検出器、3は検出信号1aを
増幅して信号1aに比例した増幅信号3aを出力するゲ
イン可変の増幅部で、3bは増幅部3のゲインを変更す
るゲイン設定器である。信号3aは上記のようにして得
られた信号であるからパルス列信号である。4は増幅信
号入力端子41と基準入力端子42とが設けられ、端子
41に入力される増幅信号3aにおけるパルスの波高値
と端子42に入力される後述の信号の値とを比較して前
者が後者を上まわるごとに一個のパルスを出力する波高
弁別部、4aはその出力信号で、したがって信号4aも
パルス列信号であることが明らかである。
した従来のγ線照射線量測定装置の構成図である。第3
図において、1はγ線2を検出してその検出結果に応じ
たパルス列信号としての検出信号1aを出力するNaI
(T)シンチレーション検出器、3は検出信号1aを
増幅して信号1aに比例した増幅信号3aを出力するゲ
イン可変の増幅部で、3bは増幅部3のゲインを変更す
るゲイン設定器である。信号3aは上記のようにして得
られた信号であるからパルス列信号である。4は増幅信
号入力端子41と基準入力端子42とが設けられ、端子
41に入力される増幅信号3aにおけるパルスの波高値
と端子42に入力される後述の信号の値とを比較して前
者が後者を上まわるごとに一個のパルスを出力する波高
弁別部、4aはその出力信号で、したがって信号4aも
パルス列信号であることが明らかである。
6はクロックパルス発生回路5が出力するクロックパル
ス5aを計数してその結果に応じた計数データ信号6a
を出力する計数回路、7は計数データ信号6aが入力さ
れることによって該信号6aに応じたアドレスが撰択さ
れて、この撰択されたアドレスに記憶させられている記
憶内容に応じた記憶データ信号7aを出力する記憶回
路、8はディジタル信号として記憶回路7から出力され
るデータ信号7aをアナログ信号に変換して、この変換
した信号を関数信号8aとして波高弁別部4の基準入力
端子42に入力するようにしたDAコンバータで、9は
クロックパルス発生回路5と計数回路6と記憶回路7と
DAコンバータ8とからなる関数信号発生部である。関
数信号発生部9では各部が上述のように構成されている
ので、記憶回路7における番号の若いアドレスから番号
の古いアドレスに向けて該記憶回路における各アドレス
の記憶内容が順次ディジタル信号に変換されて信号8a
として出力されることになるが、この場合、信号8aが
前述のG関数に応じた経時態様の波形の繰り返し波形を
示すようになっていて、この結果、このような信号8a
が波高弁別部4に入力されてここで上述の波形弁別動作
が行われると、弁別部4から出力されるパルス列信号4
aのパルス周波数が丁度γ線2のエネルギーレベルに応
じて換算された正しいγ線照射線量率に等しくなるよう
に、関数信号発生部9の各部が構成されている。したが
って、弁別部4の出力信号4aにおけるパルス周波数を
検出してこの検出結果に応じた信号10aを出力する計
数部10に信号4aを入力することによって、出力信号
10aにもとづきγ線2による照射線量率を測定できる
ことになる。
ス5aを計数してその結果に応じた計数データ信号6a
を出力する計数回路、7は計数データ信号6aが入力さ
れることによって該信号6aに応じたアドレスが撰択さ
れて、この撰択されたアドレスに記憶させられている記
憶内容に応じた記憶データ信号7aを出力する記憶回
路、8はディジタル信号として記憶回路7から出力され
るデータ信号7aをアナログ信号に変換して、この変換
した信号を関数信号8aとして波高弁別部4の基準入力
端子42に入力するようにしたDAコンバータで、9は
クロックパルス発生回路5と計数回路6と記憶回路7と
DAコンバータ8とからなる関数信号発生部である。関
数信号発生部9では各部が上述のように構成されている
ので、記憶回路7における番号の若いアドレスから番号
の古いアドレスに向けて該記憶回路における各アドレス
の記憶内容が順次ディジタル信号に変換されて信号8a
として出力されることになるが、この場合、信号8aが
前述のG関数に応じた経時態様の波形の繰り返し波形を
示すようになっていて、この結果、このような信号8a
が波高弁別部4に入力されてここで上述の波形弁別動作
が行われると、弁別部4から出力されるパルス列信号4
aのパルス周波数が丁度γ線2のエネルギーレベルに応
じて換算された正しいγ線照射線量率に等しくなるよう
に、関数信号発生部9の各部が構成されている。したが
って、弁別部4の出力信号4aにおけるパルス周波数を
検出してこの検出結果に応じた信号10aを出力する計
数部10に信号4aを入力することによって、出力信号
10aにもとづきγ線2による照射線量率を測定できる
ことになる。
第3図においては、上述のようにして測定が行われるの
で、信号3aのレベルが信号8aのレベルに対応したレ
ベルになるように増幅部3のゲインを調整する必要があ
り、このため、従来、検出器1を既知のエネルギーレベ
ルを有するγ線源で照射すると共に、関数信号8aがこ
の既知のエネルギーレベルに対応した経時的に不変の所
定値を有する波形を示すような記憶内容を有するゲイン
調整用記憶回路を記憶回路7の代りに用いて、この状態
で得られる信号3aと8aとを二現象シンクロスコープ
で観察し、この時シンクロスコープに現れる前記既知の
エネルギーレベルに対応したパルスの波高値が信号8a
の値に一致するように増幅部3のゲイン設定器3bを加
減していた。
で、信号3aのレベルが信号8aのレベルに対応したレ
ベルになるように増幅部3のゲインを調整する必要があ
り、このため、従来、検出器1を既知のエネルギーレベ
ルを有するγ線源で照射すると共に、関数信号8aがこ
の既知のエネルギーレベルに対応した経時的に不変の所
定値を有する波形を示すような記憶内容を有するゲイン
調整用記憶回路を記憶回路7の代りに用いて、この状態
で得られる信号3aと8aとを二現象シンクロスコープ
で観察し、この時シンクロスコープに現れる前記既知の
エネルギーレベルに対応したパルスの波高値が信号8a
の値に一致するように増幅部3のゲイン設定器3bを加
減していた。
したがって、第3図に示した従来のγ線照射線量測定装
置には、増幅部3のゲイン調整を行うにあたって、G関
数に応じた記憶内容を有する記憶回路7を既知のエネル
ギーレベルを有するγ線源の種類に応じたゲイン調整用
記憶回路に交換してゲイン調整を行うか、またはゲイン
調整用記憶回路が一個しかなければこの一個の記憶回路
に対応したγ線源を調達してゲイン調整を行わなければ
ならないので、このようなγ線照射線量測定装置には、
ゲイン調整用記憶回路やゲイン調整用γ線源の調達作業
ならびに記憶回路7をゲイン調整用記憶回路に交換する
作業のため、増幅部3のゲイン調整を行うのに非常に手
間がかかるという問題点があった。
置には、増幅部3のゲイン調整を行うにあたって、G関
数に応じた記憶内容を有する記憶回路7を既知のエネル
ギーレベルを有するγ線源の種類に応じたゲイン調整用
記憶回路に交換してゲイン調整を行うか、またはゲイン
調整用記憶回路が一個しかなければこの一個の記憶回路
に対応したγ線源を調達してゲイン調整を行わなければ
ならないので、このようなγ線照射線量測定装置には、
ゲイン調整用記憶回路やゲイン調整用γ線源の調達作業
ならびに記憶回路7をゲイン調整用記憶回路に交換する
作業のため、増幅部3のゲイン調整を行うのに非常に手
間がかかるという問題点があった。
本考案の目的は、ゲイン調整用放射線源に対応したゲイ
ン調整用記憶回路をその都度調達してこの調達した記憶
回路をG関数に応じた記憶内容を有する記憶回路と交換
するとか、あるいはゲイン調整用記憶回路に対応したゲ
イン調整用放射線源を調達するなどの作業を行わなくて
も、容易に増幅部のゲイン調整が行えるようにすること
にある。
ン調整用記憶回路をその都度調達してこの調達した記憶
回路をG関数に応じた記憶内容を有する記憶回路と交換
するとか、あるいはゲイン調整用記憶回路に対応したゲ
イン調整用放射線源を調達するなどの作業を行わなくて
も、容易に増幅部のゲイン調整が行えるようにすること
にある。
上記問題点を解決するために、本考案によれば、放射線
を検出してこの検出結果に応じた検出信号を出力する放
射線検出部と、前記検出信号を増幅して該検出信号に対
応した増幅信号を出力するゲイン可変の増幅部と、前記
増幅信号におけるパルスの波高値と基準入力端子に入力
される信号の値とを比較して前者が後者を上まわるごと
に一個のパルスを出力する波高弁別部と、所定の経時波
形を有する関数信号を出力する関数信号発生部と、経時
的に変化しない設定値を有する校正信号を出力する前記
設定値可変の校正信号発生部と、前記関数信号と前記校
正信号とを切り換えて前記基準入力端子に入力する信号
切換部とを備え、前記波高弁別部の出力信号にもとづき
前記放射線の線量を測定するように放射線測定装置を構
成するものとする。
を検出してこの検出結果に応じた検出信号を出力する放
射線検出部と、前記検出信号を増幅して該検出信号に対
応した増幅信号を出力するゲイン可変の増幅部と、前記
増幅信号におけるパルスの波高値と基準入力端子に入力
される信号の値とを比較して前者が後者を上まわるごと
に一個のパルスを出力する波高弁別部と、所定の経時波
形を有する関数信号を出力する関数信号発生部と、経時
的に変化しない設定値を有する校正信号を出力する前記
設定値可変の校正信号発生部と、前記関数信号と前記校
正信号とを切り換えて前記基準入力端子に入力する信号
切換部とを備え、前記波高弁別部の出力信号にもとづき
前記放射線の線量を測定するように放射線測定装置を構
成するものとする。
上記のように構成すると、校正信号が既知のエネルギー
レベルを有するゲイン調整用放射線源の前記エネルギー
レベルに対応した値を有するように校正信号発生部にお
ける設定値を設定しておいて、この校正信号を信号切換
部で基準入力端子に入力すると共に前記放射線源で放射
線検出部を照射することによって、直ちに増幅部のゲイ
ン調整をすることができるので、ゲイン調整用放射線源
に対応したゲイン調整用記憶回路をその都度調達してこ
の調達した記憶回路をG関数に応じた記憶内容を有する
記憶回路と交換したり、あるいはゲイン調整用記憶回路
に対応したゲイン調整用放射線源を調達したりしなくて
も容易に増幅部のゲイン調整が行えることになる。
レベルを有するゲイン調整用放射線源の前記エネルギー
レベルに対応した値を有するように校正信号発生部にお
ける設定値を設定しておいて、この校正信号を信号切換
部で基準入力端子に入力すると共に前記放射線源で放射
線検出部を照射することによって、直ちに増幅部のゲイ
ン調整をすることができるので、ゲイン調整用放射線源
に対応したゲイン調整用記憶回路をその都度調達してこ
の調達した記憶回路をG関数に応じた記憶内容を有する
記憶回路と交換したり、あるいはゲイン調整用記憶回路
に対応したゲイン調整用放射線源を調達したりしなくて
も容易に増幅部のゲイン調整が行えることになる。
第1図は本考案の第1実施例の構成図である。第1図の
第3図と異なる所は、信号レベル設定回路11とこの回
路11が出力するディジタル信号をアナログ信号として
の校正信号12aに変換して出力するDAコンバータ1
2とからなる校正信号発生部13と、関数信号8aと校
正信号12aとを切り換えて弁別回路4の基準入力端子
42に入力するスイッチ機構14とこのスイッチ機構の
信号切換態様を制御するスイッチ制御機構15とからな
る信号切換部16とが設けられていることで、この場合
信号レベル設定回路11は校正信号12aの値を変える
ことができるように構成されている。したがって、第1
図で増幅部3のゲイン調整を行う場合、まず信号12a
の値が増幅部3のゲイン調整を行うために使用する既知
のエネルギーレベルを有するゲイン調整用γ線源の前記
エネルギーレベルに対応した値になるように信号レベル
設定回路11における設定値を設定しておいて、信号切
換部16で校正信号12aが弁別部4の基準入力端子4
2に入力されるようにし、さらに信号3aと信号12a
とを同時に観測する二現象シンクロスコープを接続して
検出部1を上記ゲイン調整用γ線源で照射すると、直ち
にゲイン設定器3bを加減することによって増幅部3の
ゲイン調整を完了することができる。したがって、信号
切換部16で関数信号8aが基準入力端子42に入力さ
れるようにすると、計数部10の出力信号10aによっ
てγ線照射線量を正しく測定することができる。なお、
第1図では信号レベル設定回路11が信号12aの値を
変更しうるように構成されている。したがって、第1図
のγ線照射線量測定装置においては、ゲイン調整用γ線
源に対応したゲイン調整用記憶回路をその都度調達して
この調達した記憶回路を記憶回路7と交換したり、ある
いは、たまたま用意されているゲイン調整用記憶回路に
対応したゲイン調整用γ線源を時間をかけて調達したり
しなくても、極めて容易に増幅部3のゲイン調整が行え
ることになる。
第3図と異なる所は、信号レベル設定回路11とこの回
路11が出力するディジタル信号をアナログ信号として
の校正信号12aに変換して出力するDAコンバータ1
2とからなる校正信号発生部13と、関数信号8aと校
正信号12aとを切り換えて弁別回路4の基準入力端子
42に入力するスイッチ機構14とこのスイッチ機構の
信号切換態様を制御するスイッチ制御機構15とからな
る信号切換部16とが設けられていることで、この場合
信号レベル設定回路11は校正信号12aの値を変える
ことができるように構成されている。したがって、第1
図で増幅部3のゲイン調整を行う場合、まず信号12a
の値が増幅部3のゲイン調整を行うために使用する既知
のエネルギーレベルを有するゲイン調整用γ線源の前記
エネルギーレベルに対応した値になるように信号レベル
設定回路11における設定値を設定しておいて、信号切
換部16で校正信号12aが弁別部4の基準入力端子4
2に入力されるようにし、さらに信号3aと信号12a
とを同時に観測する二現象シンクロスコープを接続して
検出部1を上記ゲイン調整用γ線源で照射すると、直ち
にゲイン設定器3bを加減することによって増幅部3の
ゲイン調整を完了することができる。したがって、信号
切換部16で関数信号8aが基準入力端子42に入力さ
れるようにすると、計数部10の出力信号10aによっ
てγ線照射線量を正しく測定することができる。なお、
第1図では信号レベル設定回路11が信号12aの値を
変更しうるように構成されている。したがって、第1図
のγ線照射線量測定装置においては、ゲイン調整用γ線
源に対応したゲイン調整用記憶回路をその都度調達して
この調達した記憶回路を記憶回路7と交換したり、ある
いは、たまたま用意されているゲイン調整用記憶回路に
対応したゲイン調整用γ線源を時間をかけて調達したり
しなくても、極めて容易に増幅部3のゲイン調整が行え
ることになる。
第1図においては、アナログ信号8aと12aとが信号
切換部16によって基準入力端子42に入力されるもの
としたが、本発明においては、第2図に示したように、
信号レベル設定回路11が出力するディジタル信号を記
憶データ信号7aと同質のデータ信号に変換してこの変
換した信号を前述の校正信号12aに対応した校正信号
17aとして出力する信号変換回路17を第1図のDA
コンバータ12の代りに設け、さらにこの校正信号17
aとデータ信号7aとを切りかえて出力する。第1図の
信号切換部16に対応した信号切換部18を設け、そう
して信号切換部18が出力するディジタルデータ信号1
8aをアナログ信号19aに変換して基準入力端子42
に信号19aを入力するDAコンバータ19を設けるよ
うにしてもよいことは明らかである。
切換部16によって基準入力端子42に入力されるもの
としたが、本発明においては、第2図に示したように、
信号レベル設定回路11が出力するディジタル信号を記
憶データ信号7aと同質のデータ信号に変換してこの変
換した信号を前述の校正信号12aに対応した校正信号
17aとして出力する信号変換回路17を第1図のDA
コンバータ12の代りに設け、さらにこの校正信号17
aとデータ信号7aとを切りかえて出力する。第1図の
信号切換部16に対応した信号切換部18を設け、そう
して信号切換部18が出力するディジタルデータ信号1
8aをアナログ信号19aに変換して基準入力端子42
に信号19aを入力するDAコンバータ19を設けるよ
うにしてもよいことは明らかである。
上述したように、本考案においては、放射線を検出して
この検出結果に応じた検出信号を出力する放射線検出部
と、検出信号を増幅して該検出信号に対応した増幅信号
を出力するゲイン可変の増幅部と、増幅信号におけるパ
ルスの波高値と基準入力端子に入力される信号の値とを
比較して前者が後者を上まわるごとに一個のパルスを出
力する波高弁別部と、所定の経時波形を有する関数信号
を出力する関数信号発生部と、経時的に変化しない設定
値を有する校正信号を出力する前記設定値可変の校正信
号発生部と、関数信号と校正信号とを切り換えて基準入
力端子に入力する信号切換部とを備え、波高弁別部の出
力信号にもとづいて前記放射線の線量を測定するように
放射線測定装置を構成した。
この検出結果に応じた検出信号を出力する放射線検出部
と、検出信号を増幅して該検出信号に対応した増幅信号
を出力するゲイン可変の増幅部と、増幅信号におけるパ
ルスの波高値と基準入力端子に入力される信号の値とを
比較して前者が後者を上まわるごとに一個のパルスを出
力する波高弁別部と、所定の経時波形を有する関数信号
を出力する関数信号発生部と、経時的に変化しない設定
値を有する校正信号を出力する前記設定値可変の校正信
号発生部と、関数信号と校正信号とを切り換えて基準入
力端子に入力する信号切換部とを備え、波高弁別部の出
力信号にもとづいて前記放射線の線量を測定するように
放射線測定装置を構成した。
このため、上記のように構成すると、校正信号が既知の
エネルギーレベルを有するゲイン調整用放射線源の前記
エネルギーレベルに対応した値を有するように校正信号
発生部における設定値を設定しておいて、この校正信号
を信号切換部で基準入力端子に入力すると共に前記放射
線源で放射線検出部を照射することによって、直ちに増
幅部のゲイン調整をすることができるので、本考案によ
れば、ゲイン調整用放射線源に対応したゲイン調整用記
憶回路をその都度調達してこの調達した記憶回路をG関
数に応じた記憶内容を有する記憶回路と交換したり、あ
るいはゲイン調整用記憶回路に対応したゲイン調整用放
射線源を調達したりしなくても容易に増幅部のゲイン調
整が行える効果がある。
エネルギーレベルを有するゲイン調整用放射線源の前記
エネルギーレベルに対応した値を有するように校正信号
発生部における設定値を設定しておいて、この校正信号
を信号切換部で基準入力端子に入力すると共に前記放射
線源で放射線検出部を照射することによって、直ちに増
幅部のゲイン調整をすることができるので、本考案によ
れば、ゲイン調整用放射線源に対応したゲイン調整用記
憶回路をその都度調達してこの調達した記憶回路をG関
数に応じた記憶内容を有する記憶回路と交換したり、あ
るいはゲイン調整用記憶回路に対応したゲイン調整用放
射線源を調達したりしなくても容易に増幅部のゲイン調
整が行える効果がある。
第1図、第2図はそれぞれ本考案の第1実施例、第2実
施例の各構成図、第3図は従来のγ線照射線量測定装置
の構成図である。 1……シンチレーション検出器、1a……検出信号、2
……γ線、3……増幅部、3a……増幅信号、4……波
高弁別部、4a……出力信号、8a……関数信号、9…
…関数信号発生部、12a……校正信号、13……校正
信号発生部、16,18……信号切換部、42……基準
入力端子。
施例の各構成図、第3図は従来のγ線照射線量測定装置
の構成図である。 1……シンチレーション検出器、1a……検出信号、2
……γ線、3……増幅部、3a……増幅信号、4……波
高弁別部、4a……出力信号、8a……関数信号、9…
…関数信号発生部、12a……校正信号、13……校正
信号発生部、16,18……信号切換部、42……基準
入力端子。
Claims (1)
- 【請求項1】放射線を検出してこの検出結果に応じた検
出信号を出力する放射線検出部と、前記検出信号を増幅
して該検出信号に対応した増幅信号を出力するゲイン可
変の増幅部と、前記増幅信号におけるパルスの波高値と
基準入力端子に入力される信号の値とを比較して前者が
後者を上まわるごとに一個のパルスを出力する波高弁別
部と、所定の経時波形を有する関数信号を出力する関数
信号発生部と、経時的に変化しない設定値を有する校正
信号を出力する前記設定値可変の校正信号発生部と、前
記関数信号と前記校正信号とを切り換えて前記基準入力
端子に入力する信号切換部とを備え、前記波高弁別部の
出力信号にもとづき前記放射線の線量を測定することを
特徴とする放射線測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14595587U JPH065658Y2 (ja) | 1987-09-25 | 1987-09-25 | 放射線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14595587U JPH065658Y2 (ja) | 1987-09-25 | 1987-09-25 | 放射線測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6450388U JPS6450388U (ja) | 1989-03-28 |
JPH065658Y2 true JPH065658Y2 (ja) | 1994-02-09 |
Family
ID=31415002
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14595587U Expired - Lifetime JPH065658Y2 (ja) | 1987-09-25 | 1987-09-25 | 放射線測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH065658Y2 (ja) |
-
1987
- 1987-09-25 JP JP14595587U patent/JPH065658Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6450388U (ja) | 1989-03-28 |
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