JPH0159639B2 - - Google Patents

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JPH0159639B2
JPH0159639B2 JP16807380A JP16807380A JPH0159639B2 JP H0159639 B2 JPH0159639 B2 JP H0159639B2 JP 16807380 A JP16807380 A JP 16807380A JP 16807380 A JP16807380 A JP 16807380A JP H0159639 B2 JPH0159639 B2 JP H0159639B2
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JP
Japan
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gain
signal
timing
control block
control
Prior art date
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Expired
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JP16807380A
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English (en)
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JPS5793498A (en
Inventor
Satoshi Matsuo
Katsuji Murai
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS5793498A publication Critical patent/JPS5793498A/ja
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  • Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は核融合試験装置や粒子加速装置などに
用いられる遠隔計測制御装置に係り、特に、事前
に測定信号の波形が予測される場合のアナログ計
測システムの自動化、遠隔化を図るに好適な遠隔
計測制御装置に関する。
核融合試験装置、粒子加速装置等では、アナロ
グで各種の測定を行ない、これら測定信号を遠隔
地のセンターに取り込むアナログ計測システムが
用いられる。これらのシステムではアナログで測
定し、これをデジタル信号に変換して処理してい
る。前述の核融合試験装置や粒子加速装置では、
装置の運転はプレプログラム制御が基本となつて
おり、予め定められたパターンに従つて行われ
る。このため、アナログで測定される信号波形も
前記定められたパターンに伴つて定まる波形とな
り、その高さが運転ごとに微妙に変化する。すな
わち、アナログ信号の波形は試験装置や試験装置
の運転パターンが決まればそれに伴つて定まり、
信号波形の立上り、信号値(信号の高さ)の変化
率が変わる点、信号波形の終点などのタイミング
は、それぞれのアナログ信号検出器ごとに事前に
設定可能である。
第1図は従来のアナログ計測システムのブロツ
ク図である。
測定対象機器(図示せず)に設けられたアナロ
グ信号検出器11〜1oは各種の測定データに対応
し、アナログ値で測定結果を出力する。これら測
定値は増幅器21〜2oで所要の値に増幅される。
該増幅器21〜2oはゲイン設定信号MSによりオ
ペレータが任意に利得Gの設定をすることができ
る。増幅器21〜2oの各出力は各増幅器に対応し
て設けられるスキヤンニングA/D変換器31
oに出力され、ここでアナログ信号からデジタ
ル信号に変換される。スキヤンニングA/D変換
器31〜3oは、スキヤンニング制御部311〜3
oとAD変換器部321〜32oより成り、各装置
は計算機バス4と接続される。このバス4を介し
てメモリを有する計算機5が接続される。
このような計測系では、第2図に示すようにダ
イナミツクレンジが広く変化率の大きい被計測ア
ナログ信号Aを計測する場合、スキヤンニングク
ロツクSCは一定であるため変化率の大きい所の
計測精度が低下し、逆にスキヤンニングクロツク
周波数fを大きく設計すると、計測データがぼう
大となり計算機5のメモリ容量を大きくしなけれ
ばならない。一方、ダイナミツクレンジが広い信
号を低いゲインに設定すると、低レベルでのSN
比、AD変換精度が低下し、逆に高いゲインに設
定すると高レベル時に増幅器21〜2oやA/D変
換器部321〜32oが飽和しリニアリテイがなく
なるという欠点がある。
本発明の目的は、事前に波形の予測が可能な信
号の測定にあたつて、サンプリング周期の制御、
ゲイン切替制御が高精度のリアルタイムに行なう
ことのできる遠隔計測制御装置を提供するにあ
る。
本発明は、アナログ信号の変化率の大小に応じ
てサンプリング周期を切替えるとともに、アナロ
グ信号のレベルの高低に応じて増幅器のゲインを
切替えることにより、計測データのデータ量の最
少化、データ品質の向上をはかるとともに計測タ
イミングの高精度化を図るようにしたものであ
る。
第3図は本発明の実施例を示すブロツク図であ
る。図に示す遠隔計測制御装置は、、図示しない
測定対象機器に取付けられたアナログ信号検出器
1〜1oと、該アナログ信号検出器11〜1oに接
続された増幅器61〜6oと、該増幅器61〜6o
接続されたA/D変換器71〜7oと、該A/D変
換器71〜7oに計算機バス4を介して接続された
処理装置である計算機5と、前記計算機バス4に
接続されたタイミング制御ブロツク9と、前記計
算機バス4及びタイミング制御ブロツク9に接続
され出力側を前記増幅器61〜6oに接続されたゲ
イン制御ブロツク10と、前記計算機バス4及び
タイミング制御ブロツク9に接続され出力側を前
記A/D変換器71〜7oに接続されたクロツク制
御ブロツク8と、を備えている。
アナログ信号検出器11〜1oの出力は、増幅器
1〜6oにより増幅されたのちA/D変換器71
〜7oでデジタル信号に変換され、バス4を介し
て処理装置である計算機5に転送される。一方、
増幅器61〜6oは、クロツク制御ブロツク8、タ
イミング制御ブロツク9、ゲイン制御ブロツク1
0により制御される。増幅器61〜6oの利得は、
ゲイン制御ブロツク10により設定される。
クロツク制御ブロツク8から出力するサンプリ
ングクロツクCLKはAD変換器71〜7oのAD変
換同期信号として入力され、このクロツクCLK
に同期したデータが得られ、一方ゲイン制御ブロ
ツク10から出力するゲイン設定信号Dは増幅器
1〜6oの外部切替信号として入力され、所定の
ゲインに切替わる。
第4図はクロツク制御ブロツク8、タイミング
制御ブロツク9、ゲイン制御ブロツク10の詳細
ブロツク図である。
クロツク制御ブロツク8は水晶発振回路81を
内蔵し高精度の基準パルスを発生しこのパルスを
分周回路82により適当な周波数に分周し、サン
プリングクロツクCLKとして出力される。また
分周率設定レジスタ83はあらかじめ計算機バス
4を介して計測サンプリング周期の変化に対応し
た分周率を設定されるものであり、分周切替制御
回路84は外部信号(サンプリング制御タイミン
グ信号)P1によりサンプリングクロツクCLK
の出力開始、周波数切替、停止を制御する回路で
ある。タイミング制御ブロツク9はあらかじめ計
算機バス4を介して設定された計測開始、周波数
切替、ゲイン切替、計測停止等の計測制御タイミ
ングをリアルタイムに管理するブロツクであり、
タイミングをプリセツトするタイマー設定レジス
タ91、基準パルスを計数し所定の時刻にパルス
を出力するタイマー回路92、タイミング出力を
サンプリング制御タイミング信号P1とゲイン制
御タイミング信号P2とに分割出力するためのタ
イミング出力制御回路93およびタイミング出力
ゲート回路94,95から成る。ゲイン制御ブロ
ツク10は計測器(増幅器)のゲイン切替のため
のゲイン設定信号Dを外部信号(ゲイン制御タイ
ミング信号)P2の入力と同時に出力するブロツ
クであり、あらかじめ計算機バス4を介して設定
された種々のゲインに対応したビツトパターンを
格納しておくゲイン設定レジスタ11、出力レジ
スタ12および外部信号P2と同期をとつて出力
するためのゲイン出力ゲート回路13から成る。
尚、ゲイン設定信号Dのビツト数は計測器(増幅
器)のゲイン切替段数に相当するものであり、所
定のゲインに対応するビツトに“1”を立つよう
にゲイン設定レジスタに設定することができる。
以上の構成による実施例の動作を第5図の動作
波形図により説明する。
被計測アナログ信号Aが立上がると同時にタイ
ミング制御ブロツク9のサンプリング制御タイミ
ング信号P1が出力し、これによりクロツク制御
ブロツク8のサンプリングクロツクCLKが周波
数f1のクロツクとして出力する。同時にゲイン制
御タイミング信号P2が出力し、ゲイン制御ブロ
ツク10よりゲイン設定信号Dが増幅器のゲイン
をG1とするように出力する。被計測アナログ信
号Aの変化率が大きい場合にはサンプリングクロ
ツクの周波数fは大きく(第5図のf1,f3,f5)、
変化率の小さい場合には周波数fは小さく(第5
図のf2,f4)することができ、効率のよいデータ
収集ができる。一方、増幅器ゲインGは被計測ア
ナログ信号Aのレベルが低い場合は大きく(第5
図のG1,G3)、レベルが高い場合には小さく
(第5図のG2)することができ、低レベル時の
分解能の劣化、高レベル時の増幅器61〜6o
AD変換器71〜7oの飽和を防ぐことができる。
以上示した本発明の実施例によれば、計測系の
制御が計算機により遠隔化、自動化が実現できる
だけでなく、被計測アナログ信号の変化に伴い、
サンプリング周期の制御、ゲイン切替制御が高精
度のリアルタイムに行えるので、計測データの品
質がすぐれ、かつデータ量が最少におさえること
ができる。これにより計算機の負荷が軽減できる
し、また、サンプリング周波数および周波数の切
替タイミング、増幅器のゲインおよびゲイン切替
タイミングが全てプリセツトした計算機の中に計
測条件データとして残されているので、計測中又
は計測後のデータ解析および計測波形の再生の際
に計測データと計測制御内容との関係付けが可能
となる。
以上より明らかなように本発明によれば、事前
に予測可能な波形のアナログ信号の測定にあたつ
て、サンプリング周期及びゲイン切替えを遠隔自
動化し、高精度リアルタイム計測制御が可能とな
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のアナログ計測システムを示すブ
ロツク図、第2図は第1図のシステムの各部動作
タイミング図、第3図は本発明の実施例を示すブ
ロツク図、第4図は本発明に係るクロツク制御ブ
ロツク、タイミング制御ブロツク及びゲイン制御
ブロツクの詳細ブロツク図、第5図は第4図の実
施例の各部動作タイミングチヤートである。 11〜1o……アナログ信号検出器、4……計算
機バス、5……計算機、61〜6o……増幅器、7
〜7oA/D変換器、8……クロツク制御ブロツ
ク、9……タイミング制御ブロツク、10……ゲ
イン制御ブロツク、11……ゲイン設定レジス
タ、12……出力レジスタ、13……ゲイン出力
ゲート回路、、81……水晶発振回路、82……
分周回路、83……分周率設定レジスタ、84…
…分周切替制御回路、91……タイマー設定レジ
スタ、92……タイマー回路、93……タイミン
グ出力制御回路、94,95……タイミング出力
ゲート回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 事前に予測可能な波形のアナログ信号を遠隔
    地で測定し、増幅器で所定のゲインで増幅したの
    ちA/D変換手段により所定の周期でデジタル信
    号に変換して処理装置に取り込む遠隔計測制御装
    置において、前記増幅器のゲインをプリセツトさ
    れたゲインにタイミング信号に基づいて順次切り
    替えるゲイン制御手段と、デジタル信号に変換す
    る周期をプリセツトされた周期にタイミング信号
    に基づいて順次切り替えるクロツク制御手段と、
    を備えていることを特徴とする遠隔計測制御装
    置。 2 特許請求の範囲第1項において、クロツク制
    御手段が、処理装置に接続され切り替えタイミン
    グをプリセツトされてアナログ信号立上り時およ
    び信号変化時にタイミング信号を出力するタイミ
    ング制御ブロツクおよび処理装置に接続されたク
    ロツク制御ブロツクであることを特徴とする遠隔
    計測制御装置。 3 特許請求の範囲第1項において、ゲイン制御
    手段が、処理装置に接続され切り替えタイミング
    をプリセツトされてアナログ信号立上り時および
    信号変化時にタイミング信号を出力するタイミン
    グ制御ブロツクおよび処理装置に接続されたゲイ
    ン制御ブロツクであることを特徴とする遠隔計測
    制御装置。
JP16807380A 1980-12-01 1980-12-01 Remote measuring controller Granted JPS5793498A (en)

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JP16807380A JPS5793498A (en) 1980-12-01 1980-12-01 Remote measuring controller

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JP16807380A JPS5793498A (en) 1980-12-01 1980-12-01 Remote measuring controller

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JPS5793498A JPS5793498A (en) 1982-06-10
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JPS5793498A (en) 1982-06-10

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