JPS62121383A - 放射線測定装置 - Google Patents
放射線測定装置Info
- Publication number
- JPS62121383A JPS62121383A JP26125485A JP26125485A JPS62121383A JP S62121383 A JPS62121383 A JP S62121383A JP 26125485 A JP26125485 A JP 26125485A JP 26125485 A JP26125485 A JP 26125485A JP S62121383 A JPS62121383 A JP S62121383A
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- Japan
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- radiation
- calibration
- converter
- pulse
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
本発明は放射線の測定に用いられる放射線測定装置に係
わり、特に波高分析の際の測定系のドリフトを校正する
機能とエネルギを自動的に構成する機能を持たせた波高
分析装置に関する。
わり、特に波高分析の際の測定系のドリフトを校正する
機能とエネルギを自動的に構成する機能を持たせた波高
分析装置に関する。
「従来の技術」
第３図は放射線検出装置の要部を表わしたものである。
この装置で線源１から放出される放射線は、放射線検出
器２によって検出される。検出出力はμ■程度の微弱な
ものである。プリアンプ３はこれをｍＶ程度まで増幅す
ると共に、波形整形を行う。リニアアンプ（メインアン
プ）４は、これを更に増幅し、波形整形を行う。
器２によって検出される。検出出力はμ■程度の微弱な
ものである。プリアンプ３はこれをｍＶ程度まで増幅す
ると共に、波形整形を行う。リニアアンプ（メインアン
プ）４は、これを更に増幅し、波形整形を行う。
このようにして得られた放射線の検出パルスは、その波
高が個々の放射線のエネルギに比例している。波高分析
器５ではその前段に配置されたアナログ・ディジタル変
換器（以下Ａ／Ｄ変換器と略称する。）で、それぞれの
検出パルスの波高値をＡ／Ｄ変換する。マルチチャンネ
ル波高分析器（ＭＣＡ）では、例えば８０００チヤンネ
ルあるいは４０００チヤンネルに波高弁別を行う。この
結果、検出パルスが１つ発生するたびに波高分析器５内
のメモリの該当するチャンネルに相当する番地が呼び出
され、その内容が１ずつカウントアツプされる。このよ
うにして、放射線測定がある時間にわたって行われると
、メモリ内には波高別すなわち放射線のエネルギ別のパ
ルス計数情報が蓄積される。計算機６は放射線の測定が
終了した後、波高分析器５内のメモリの内容を読み出し
、これを基に核種の種類の判別等を行うことになる。
高が個々の放射線のエネルギに比例している。波高分析
器５ではその前段に配置されたアナログ・ディジタル変
換器（以下Ａ／Ｄ変換器と略称する。）で、それぞれの
検出パルスの波高値をＡ／Ｄ変換する。マルチチャンネ
ル波高分析器（ＭＣＡ）では、例えば８０００チヤンネ
ルあるいは４０００チヤンネルに波高弁別を行う。この
結果、検出パルスが１つ発生するたびに波高分析器５内
のメモリの該当するチャンネルに相当する番地が呼び出
され、その内容が１ずつカウントアツプされる。このよ
うにして、放射線測定がある時間にわたって行われると
、メモリ内には波高別すなわち放射線のエネルギ別のパ
ルス計数情報が蓄積される。計算機６は放射線の測定が
終了した後、波高分析器５内のメモリの内容を読み出し
、これを基に核種の種類の判別等を行うことになる。
第４図は第３図で説明した計算機の処理結果としてのス
ペクトルの一例を表わしたものである。
ペクトルの一例を表わしたものである。
この図で横軸は放射線のエネルギを表わしており、８０
００チヤンネルの波高分析器で分析した場合には第１か
ら第８０００チヤンネルまでの各チャンネルに相当する
ことになる。縦軸は放射線の強度、すなわち各チャンネ
ルにおける測定時間内における検出パルスのカウント数
を表わしている。
００チヤンネルの波高分析器で分析した場合には第１か
ら第８０００チヤンネルまでの各チャンネルに相当する
ことになる。縦軸は放射線の強度、すなわち各チャンネ
ルにおける測定時間内における検出パルスのカウント数
を表わしている。
同図で実線で示したスペクトル曲線１１におけるピーク
Ｐ１、Ｐ２、・・・・・・は共に急峻であり、それぞれ
が所定のエネルギの核種を表わしている。
Ｐ１、Ｐ２、・・・・・・は共に急峻であり、それぞれ
が所定のエネルギの核種を表わしている。
ところで同図で破線で示したスペクトル曲線１２は同様
の測定結果を表わしたものであるが、前記したピークＰ
１、Ｐ２、・・・・・・が２つに分岐したり幅が広くな
っている。これは測定系の温度変化等により信号の増幅
率や零点がドリフトするためである。すなわち、放射線
の測定時間が比較的長いと、その間に例えば測定系を構
成する回路部分の抵抗器等が微妙な温度変化を生じ、増
幅率等が変化する。この結果として、本来同一チャンネ
ルに属する波高値の検出パルスが異なったチャンネルに
割り当てられ、ドリフトが生じることになる。このよう
なドリフト現象が発生すると、せっかく波高分析器のチ
ャンネル数を多く設定しても、分析の精度を向上させる
ことができない。
の測定結果を表わしたものであるが、前記したピークＰ
１、Ｐ２、・・・・・・が２つに分岐したり幅が広くな
っている。これは測定系の温度変化等により信号の増幅
率や零点がドリフトするためである。すなわち、放射線
の測定時間が比較的長いと、その間に例えば測定系を構
成する回路部分の抵抗器等が微妙な温度変化を生じ、増
幅率等が変化する。この結果として、本来同一チャンネ
ルに属する波高値の検出パルスが異なったチャンネルに
割り当てられ、ドリフトが生じることになる。このよう
なドリフト現象が発生すると、せっかく波高分析器のチ
ャンネル数を多く設定しても、分析の精度を向上させる
ことができない。
そこで、従来では１単位の測定が終了するたびにスペク
トル中のあるピークが常に一定のエネルギ１直の場所に
来るように測定系の校正を行っていた。ここで、校正の
対象となるピークには、特別の線源やパルサを用いてい
た。すなわち前者の方法では、測定の終了するたびに特
別の線源を放射線検出器の前にセットし、この場合に観
測されるピークが所定のエネルギ値となるように校正を
行っていた。また後者の場合には、所定の発光強度のパ
ルサを検出器の近傍に配置し、光電変換後の出力を計算
機で分析させて、これがあるエネルギ値になるように校
正を行っていた。
トル中のあるピークが常に一定のエネルギ１直の場所に
来るように測定系の校正を行っていた。ここで、校正の
対象となるピークには、特別の線源やパルサを用いてい
た。すなわち前者の方法では、測定の終了するたびに特
別の線源を放射線検出器の前にセットし、この場合に観
測されるピークが所定のエネルギ値となるように校正を
行っていた。また後者の場合には、所定の発光強度のパ
ルサを検出器の近傍に配置し、光電変換後の出力を計算
機で分析させて、これがあるエネルギ値になるように校
正を行っていた。
「発明が解決しようとする問題点」
ところが、前者の校正用の線源を用いる方法では、測定
試料について放射線の測定が終了するたびに校正用の線
源をセットする必要があり、多くの測定試料を次々に自
動的に測定する無人化された放射線測定装置には不向き
であった。すなわち、装置を無人化した場合には測定試
゛科と校正用の線源を交互に放射線検出器の前にセット
するターンテーブル状のサンプルチェンジャ等が必要と
なるが、測定試料の放射線が弱い場合には測定試料の近
傍に配置された校正用の線源から放出される放射線が測
定結果に影響を及ぼすという問題があった。
試料について放射線の測定が終了するたびに校正用の線
源をセットする必要があり、多くの測定試料を次々に自
動的に測定する無人化された放射線測定装置には不向き
であった。すなわち、装置を無人化した場合には測定試
゛科と校正用の線源を交互に放射線検出器の前にセット
するターンテーブル状のサンプルチェンジャ等が必要と
なるが、測定試料の放射線が弱い場合には測定試料の近
傍に配置された校正用の線源から放出される放射線が測
定結果に影響を及ぼすという問題があった。
一方、校正用のパルサを用いる方法ではこのパルサに対
応するピークがスペクトル上に現われるので、この部分
の分析ができず、また余計な情報が表示されるという点
でも好ましくなかった。
応するピークがスペクトル上に現われるので、この部分
の分析ができず、また余計な情報が表示されるという点
でも好ましくなかった。
そこで本発明の目的は、サンプルチェンジャ等を使用し
た無人運転ンステムに採用することが可能で、しかも余
計なピークがスペクトルとして現われることのない放射
線測定装置を提供することにある。
た無人運転ンステムに採用することが可能で、しかも余
計なピークがスペクトルとして現われることのない放射
線測定装置を提供することにある。
「問題点を解決するための手段」
本発明では、放射線を検出する放射線検出器と、この放
射線検出器の出力を増幅する増幅器と、この増幅器の出
力した放射線のエネルギに比例するアナログ信号をディ
ジクル信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、このＡ／Ｄ変換
器によって変換されたディジタル信号中から天然に存在
する基準とすべき核種によって得られた信号を判別する
基準核種判別手段と、判別された核種について測定によ
って得られた信号レベルをその核種についての本来的な
信号レベルと比較し信号レベルの補正割合を求める補正
割合演算手段と、この補正割合演算手段の演算した補正
割合に応じて測定系のレベル補正を行う校正手段とを放
射線測定装置に具備させる。
射線検出器の出力を増幅する増幅器と、この増幅器の出
力した放射線のエネルギに比例するアナログ信号をディ
ジクル信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、このＡ／Ｄ変換
器によって変換されたディジタル信号中から天然に存在
する基準とすべき核種によって得られた信号を判別する
基準核種判別手段と、判別された核種について測定によ
って得られた信号レベルをその核種についての本来的な
信号レベルと比較し信号レベルの補正割合を求める補正
割合演算手段と、この補正割合演算手段の演算した補正
割合に応じて測定系のレベル補正を行う校正手段とを放
射線測定装置に具備させる。
ここで校正手段は、増幅器の増幅率を増減させることに
より校正を行っても良いし、Ａ／Ｄ変換器の変換特性を
変化させることにより校正を行ってもよい。また実際の
校正作業にあたっては、校正する量に応じた信号を発生
させて前記した増幅器またはＡ／Ｄ変換器に供給し、こ
れらの特性を変化させるようにしてもよい。
より校正を行っても良いし、Ａ／Ｄ変換器の変換特性を
変化させることにより校正を行ってもよい。また実際の
校正作業にあたっては、校正する量に応じた信号を発生
させて前記した増幅器またはＡ／Ｄ変換器に供給し、こ
れらの特性を変化させるようにしてもよい。
本発明によれば、測定試料に存在する核種を基準にして
、これが常に所定のエネルギになるように校正を行うの
で、校正用の特別の線源やパルサを必要としない。
、これが常に所定のエネルギになるように校正を行うの
で、校正用の特別の線源やパルサを必要としない。
「実施例」
以下実施例につき本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明の一実施例による放射線測定装置を表わ
したもである。第３図と同一部分には同一の符号を付し
て８つ、これらの説明を適宜省略する。さてこの放射線
測定装置では、計算機６が波高分析器５のメモＵ ５
Ｂから読み出した情報を基にして、天然に存在する核種
のピークを検出する。このような核種の代表的なものと
しては、４０Ｋが存在する。４０には半減期１．２Ｘ１
０９年でカリウムの同位体である。
したもである。第３図と同一部分には同一の符号を付し
て８つ、これらの説明を適宜省略する。さてこの放射線
測定装置では、計算機６が波高分析器５のメモＵ ５
Ｂから読み出した情報を基にして、天然に存在する核種
のピークを検出する。このような核種の代表的なものと
しては、４０Ｋが存在する。４０には半減期１．２Ｘ１
０９年でカリウムの同位体である。
この放射性元素は天然に存在するので、測定試料がどの
ようなものであっても放射線検出器２で常に検出される
。従って、１つの測定が終了した後、計算機６はこれを
判別し、その測定されたエネルギがドリフトの生じてい
ない状態でのエネルギからどれだけずれているかを演算
することができる。
ようなものであっても放射線検出器２で常に検出される
。従って、１つの測定が終了した後、計算機６はこれを
判別し、その測定されたエネルギがドリフトの生じてい
ない状態でのエネルギからどれだけずれているかを演算
することができる。
計算機６は、この演算結果に基づいて校正用の補正パル
ス１４を出力する。第２図は演算結果としての必要とす
る補正量と補正パルスの関係の一例を表わしたものであ
る。計算機６は図示しないＲＯＭに記１慮されたこのよ
うな補正特性に基づいて補正パルス１４を所定数だけ出
力することになる。
ス１４を出力する。第２図は演算結果としての必要とす
る補正量と補正パルスの関係の一例を表わしたものであ
る。計算機６は図示しないＲＯＭに記１慮されたこのよ
うな補正特性に基づいて補正パルス１４を所定数だけ出
力することになる。
ディジタル・アナログ変換器（Ａ／Ｄ変換器）１５は、
供給された補正パルス１４をカウントし、その数に応じ
た電圧を制御電圧１６としてＡ／Ｄ変換器５Ａに供給し
、そのＡ／Ｄ変換の特性を調整する。これにより、例え
ば４０にの測定されたエネルギがドリフトの生じていな
い状態のエネルギと一致することになる。なお、第２図
に示した特性の代わりにリニアアンプ３用の制御特性を
持たせれば、制御電圧１６をリニアアンプ４に供給し、
測定系のドリフトを同様に補正させることができる。
供給された補正パルス１４をカウントし、その数に応じ
た電圧を制御電圧１６としてＡ／Ｄ変換器５Ａに供給し
、そのＡ／Ｄ変換の特性を調整する。これにより、例え
ば４０にの測定されたエネルギがドリフトの生じていな
い状態のエネルギと一致することになる。なお、第２図
に示した特性の代わりにリニアアンプ３用の制御特性を
持たせれば、制御電圧１６をリニアアンプ４に供給し、
測定系のドリフトを同様に補正させることができる。
「発明の効果」
以上説明したように本発明によれば、補正割合演算手段
によって補正量が演算され、このｐ市正棗だけ増幅率等
を制御するので、従来のマニュアルによる操作やスタビ
ライザを用いたフィードバック制御に比べて補正を迅速
に行うことができる。
によって補正量が演算され、このｐ市正棗だけ増幅率等
を制御するので、従来のマニュアルによる操作やスタビ
ライザを用いたフィードバック制御に比べて補正を迅速
に行うことができる。
また校正用の特別の線源やパルサを必要としないので、
これらを用意したり調整する必要がなく、測定作業が容
易となるという長所がある。
これらを用意したり調整する必要がなく、測定作業が容
易となるという長所がある。
第１図は本発明の一実施例における放射線測定装置のブ
ロック図、第２図はこの装置の計算機に内蔵されている
ＲＯＭの内容を示す説明図、第３図は従来用いられた放
射線測定装置の一例を示すブロック図、第４図は測定結
果をドリフトとの関係で示すスペクトル分布図である。 ２・・・・・・放射線検出器、 ４・・・・・リニアアンプ、 ５・・・・・波高分析器、 ５Ａ・・・・・Ａ／Ｄ変換器、 ６・・・・・計算機、 １４・・・・・・補正パルス、 １６・・・・・・制御電圧。 出 願 人 日本原子力事業株式会社 代 理 人
ロック図、第２図はこの装置の計算機に内蔵されている
ＲＯＭの内容を示す説明図、第３図は従来用いられた放
射線測定装置の一例を示すブロック図、第４図は測定結
果をドリフトとの関係で示すスペクトル分布図である。 ２・・・・・・放射線検出器、 ４・・・・・リニアアンプ、 ５・・・・・波高分析器、 ５Ａ・・・・・Ａ／Ｄ変換器、 ６・・・・・計算機、 １４・・・・・・補正パルス、 １６・・・・・・制御電圧。 出 願 人 日本原子力事業株式会社 代 理 人
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、放射線を検出する放射線検出器と、この放射線検出
器の出力を増幅する増幅器と、この増幅器の出力した放
射線のエネルギに比例するアナログ信号をディジタル信
号に変換するアナログ・ディジタル変換器と、このアナ
ログ・ディジタル変換器によって変換されたディジタル
信号中から測定試料内に存在する基準とすべき核種によ
って得られた信号を判別する基準核種判別手段と、判別
された核種について測定によって得られた信号レベルを
その核種についての本来的な信号レベルと比較し信号レ
ベルの補正割合を求める補正割合演算手段と、この補正
割合演算手段の演算した補正割合に応じて測定系のレベ
ル補正を行う校正手段とを具備することを特徴とする放
射線測定装置。 ２、校正手段は増幅器の増幅率を増減することにより校
正を行うことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
放射線測定装置。 ３、校正手段はアナログ・ディジタル変換器の変換特性
を変化させることにより校正を行うことを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載の放射線測定装置。 ４、校正手段は補正割合演算手段によって演算された補
正割合に相当する信号を発生させ、これによって増幅器
あるいはアナログ・ディジタル変換器の変換特性を調整
して校正を行うことを特徴とする特許請求の範囲第３項
または第４項記載の放射線測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26125485A JPS62121383A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | 放射線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26125485A JPS62121383A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | 放射線測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62121383A true JPS62121383A (ja) | 1987-06-02 |
Family
ID=17359271
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26125485A Pending JPS62121383A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | 放射線測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62121383A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006029986A (ja) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 放射線測定装置 |
| JP2018146319A (ja) * | 2017-03-03 | 2018-09-20 | 三菱電機株式会社 | 放射性ダストモニタ |
| US10288250B2 (en) | 2016-12-19 | 2019-05-14 | Dr. Ing. H.C. F. Porsche Aktiengesellschaft | Lamp for a motor vehicle body |
-
1985
- 1985-11-22 JP JP26125485A patent/JPS62121383A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006029986A (ja) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 放射線測定装置 |
| US10288250B2 (en) | 2016-12-19 | 2019-05-14 | Dr. Ing. H.C. F. Porsche Aktiengesellschaft | Lamp for a motor vehicle body |
| JP2018146319A (ja) * | 2017-03-03 | 2018-09-20 | 三菱電機株式会社 | 放射性ダストモニタ |
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