JPH03189586A - 放射能測定装置 - Google Patents
放射能測定装置Info
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- JPH03189586A JPH03189586A JP1328482A JP32848289A JPH03189586A JP H03189586 A JPH03189586 A JP H03189586A JP 1328482 A JP1328482 A JP 1328482A JP 32848289 A JP32848289 A JP 32848289A JP H03189586 A JPH03189586 A JP H03189586A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 17
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 abstract description 6
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- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 abstract description 3
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- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 14
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 12
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- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は放射能定量装置に係り、特に高線量率被検体の
γ線放出核種の放射能を簡便に定量するのに好適な放射
能測定装置に関する。
γ線放出核種の放射能を簡便に定量するのに好適な放射
能測定装置に関する。
従来、被検体内の放射能を定量する装置は、例えば、特
開昭62−179684号公報に示されたものが知られ
ている。
開昭62−179684号公報に示されたものが知られ
ている。
上記従来技術は放射性被検体の放射能を定量するのに当
り、前記被検体から放出される放射線を二台以上の放射
線検出器で測定している。しかし。
り、前記被検体から放出される放射線を二台以上の放射
線検出器で測定している。しかし。
この測定装置は、検出器の種類及び設置体形が異なり各
検出器間で幾何効率、検出効率を補正しなければならな
い。
検出器間で幾何効率、検出効率を補正しなければならな
い。
本発明の目的は、放射性被検体の放射能レベルが高線量
率であっても、放射線検出器を移動させることなく、す
なわち、幾何効率を変えず一台の放射線検出器で被検体
の放射能を定量する放射能測定装置を提供することにあ
る。
率であっても、放射線検出器を移動させることなく、す
なわち、幾何効率を変えず一台の放射線検出器で被検体
の放射能を定量する放射能測定装置を提供することにあ
る。
上記目的を達成するために、放射線検出器の前面に設置
されたコリメータを通して入射される被検体からの放射
線のエネルギ毎の計数値を検出器のエネルギ出力信号か
ら求める。また、検出器に入射した放射線のトータル計
数値を検出器のタイミング信号より求め、この検出器に
入射した放射線のトータル計数値より前述放射線エネル
ギ毎の計数値を補正することにより、被検体の放射能を
定量することにある。
されたコリメータを通して入射される被検体からの放射
線のエネルギ毎の計数値を検出器のエネルギ出力信号か
ら求める。また、検出器に入射した放射線のトータル計
数値を検出器のタイミング信号より求め、この検出器に
入射した放射線のトータル計数値より前述放射線エネル
ギ毎の計数値を補正することにより、被検体の放射能を
定量することにある。
被検体から放出された放射線は、放射線検出器の前面に
設置したコリメータを通して検出器に入射する。検出器
に入射した放射線は検出器により放射線エネルギに応じ
た微分パルスを発生する。
設置したコリメータを通して検出器に入射する。検出器
に入射した放射線は検出器により放射線エネルギに応じ
た微分パルスを発生する。
この微分パルスは検出器のエネルギ及びタイミング出力
端子から出力され、エネルギ信号は放射線信号処理装置
によりエネルギ毎に識別に測定される。また、タイミン
グ信号は高速の信号処理装置で計測する。被検体の放射
能が高くなると、放射線エネルギ毎の計数値は放射線信
号処理装置内に於けるパイルアップ、及び不感時間(デ
ッドタイム)の影響により放射線検出器に入射した放射
線の一部を数え落しする。その数え落しの補正をタイミ
ング信号の計数値により実施する。この補正した計数値
と、コリメータと放射線検出器との応答とから、被検体
の放射能を定量することが可能になる。
端子から出力され、エネルギ信号は放射線信号処理装置
によりエネルギ毎に識別に測定される。また、タイミン
グ信号は高速の信号処理装置で計測する。被検体の放射
能が高くなると、放射線エネルギ毎の計数値は放射線信
号処理装置内に於けるパイルアップ、及び不感時間(デ
ッドタイム)の影響により放射線検出器に入射した放射
線の一部を数え落しする。その数え落しの補正をタイミ
ング信号の計数値により実施する。この補正した計数値
と、コリメータと放射線検出器との応答とから、被検体
の放射能を定量することが可能になる。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は本発明の放射線計測系及び演算制御部のブロッ
ク図、第2図は放射線計測系の動作を示すタイムチャー
トを示す図である。
ク図、第2図は放射線計測系の動作を示すタイムチャー
トを示す図である。
被検体12から放出されるγ線は、放射線検出器1によ
り測定される。放射線検出器1には、Ge半導体検出器
を用いることができる。半導体検出器1の前面には、半
導体検出器1の検出効率を決定するためのコリメータ1
3が設けられている。
り測定される。放射線検出器1には、Ge半導体検出器
を用いることができる。半導体検出器1の前面には、半
導体検出器1の検出効率を決定するためのコリメータ1
3が設けられている。
半導体検出器1には半導体検出器1を放射線測定可能状
態にするためのバイアス電源を供給する高圧電源7が接
続されている。半導体検出器1の出力はプリアンプ2に
より増幅され、微分パルス形状のスペクトルスコピーア
ンプ8の入力信号14が得られる。スペクトルスコピー
アンプ8により微分パルス信号を波形整形及び増幅し、
出力信号15が得られ、その信号が多重波高分析器9に
よって分析され、半導体検出器1に入射したγ線をエネ
ルギ毎に識別し、その数をカラントする。
態にするためのバイアス電源を供給する高圧電源7が接
続されている。半導体検出器1の出力はプリアンプ2に
より増幅され、微分パルス形状のスペクトルスコピーア
ンプ8の入力信号14が得られる。スペクトルスコピー
アンプ8により微分パルス信号を波形整形及び増幅し、
出力信号15が得られ、その信号が多重波高分析器9に
よって分析され、半導体検出器1に入射したγ線をエネ
ルギ毎に識別し、その数をカラントする。
すなわち、γ線スペクトルを得る。
被検体12の放射能レベルが高くなるとスペクトルスコ
ピーアンプ8内で放射線信号が重なり合う現象・パイル
アップが発生する。パイルアップが発生すると正確なγ
線スペクトルが得られないため、パイルアップを除去す
る計測系を、通常。
ピーアンプ8内で放射線信号が重なり合う現象・パイル
アップが発生する。パイルアップが発生すると正確なγ
線スペクトルが得られないため、パイルアップを除去す
る計測系を、通常。
用いる。従って、パイルアップによって除去した放射線
計数値を補正しないと被検体12の放射能を実際より低
い値で定量する可能性があるという問題が生じる。これ
を回避するために、半導体検出器1のタイミング信号を
利用する。このタイミング信号は同時計測方法、及び、
逆向時計測方法等に用いるためのゲート信号であり高速
である。
計数値を補正しないと被検体12の放射能を実際より低
い値で定量する可能性があるという問題が生じる。これ
を回避するために、半導体検出器1のタイミング信号を
利用する。このタイミング信号は同時計測方法、及び、
逆向時計測方法等に用いるためのゲート信号であり高速
である。
半導体検出器1のタイミング信号は、検出器1にγ線が
入射する毎に発生し、タイミングアンプ3及びディスク
リミネータ4により利用可能なディスクリミネータ4の
出力信号17を得る。
入射する毎に発生し、タイミングアンプ3及びディスク
リミネータ4により利用可能なディスクリミネータ4の
出力信号17を得る。
トレーリングエツジパイルアップ及びリーディングエツ
ジパイルアップが発生するとアンプ8は19a及び19
bの様な形状の出力信号15を出力すると同時に、パイ
ルアップが発生した点でリジェクト信号16を出力する
。リジェクト信号16は20a、20bの様にパイルア
ップが終了するまで出力する。このパイルアップ発生中
に半導体検出器1のタイミングが信号であるディスクリ
ミネータ出力信号17は21a、21bに示すように、
γ線が2コ入った事を表す2コのパルスを出力する。従
って、パイルアップ中に於ける入力γ線数を計測するた
めには、リジェクト信号16をデュアルカウンタ5の計
数可能状態にするゲート信号に用いカウンタ5でディス
クリミネータ信号17を計数する。この状態では一個の
γ線を数え落ししているため、リジェクト信号16をワ
ンショットパルス発生器6に入力し、デュアルカウンタ
5で計数可能な信号・パルス発生器出力信号18の22
a、22bの様な信号を生成させ計数する。このように
、半導体検出器1に入力したγ線のスペクトルを多重波
高分析器9により測定し、総計数をデュアルカウンタ5
で測定する。
ジパイルアップが発生するとアンプ8は19a及び19
bの様な形状の出力信号15を出力すると同時に、パイ
ルアップが発生した点でリジェクト信号16を出力する
。リジェクト信号16は20a、20bの様にパイルア
ップが終了するまで出力する。このパイルアップ発生中
に半導体検出器1のタイミングが信号であるディスクリ
ミネータ出力信号17は21a、21bに示すように、
γ線が2コ入った事を表す2コのパルスを出力する。従
って、パイルアップ中に於ける入力γ線数を計測するた
めには、リジェクト信号16をデュアルカウンタ5の計
数可能状態にするゲート信号に用いカウンタ5でディス
クリミネータ信号17を計数する。この状態では一個の
γ線を数え落ししているため、リジェクト信号16をワ
ンショットパルス発生器6に入力し、デュアルカウンタ
5で計数可能な信号・パルス発生器出力信号18の22
a、22bの様な信号を生成させ計数する。このように
、半導体検出器1に入力したγ線のスペクトルを多重波
高分析器9により測定し、総計数をデュアルカウンタ5
で測定する。
分析器9及びカウンタ5の測定値を演算器10に送り後
述するデータ処理を施すことにより被検体12の放射能
を定量する。この結果は、VDT、あるいは、プリンタ
等からなる出力装置11から出力される。
述するデータ処理を施すことにより被検体12の放射能
を定量する。この結果は、VDT、あるいは、プリンタ
等からなる出力装置11から出力される。
なお、リジェクト信号16は多重波高分析器9にも入力
されており、多重波高分析器9上のパイルアップのキャ
ンセル用に使用されている。また、第2図の出力信号1
5の19c、及び、ディスクリミネータ出力信号17の
21cは正常のγ線計測状態を示したものである。
されており、多重波高分析器9上のパイルアップのキャ
ンセル用に使用されている。また、第2図の出力信号1
5の19c、及び、ディスクリミネータ出力信号17の
21cは正常のγ線計測状態を示したものである。
次に、この様に動作する放射能測定装置を用いて、被検
体12の放射能が放出するγ線の定量方法を説明する。
体12の放射能が放出するγ線の定量方法を説明する。
被検体周囲で測定したγ線強度から被検体のγ線放出核
種の放射能を求めるには、測定系の検出効率に基づいて
測定γ線強度を補正する必要がある。そのため、被検体
の放射能を測定・定量する前に、被検体12.コリメー
タ13及び半導体検出器1からなる測定系の幾何条件の
設定を実施する。
種の放射能を求めるには、測定系の検出効率に基づいて
測定γ線強度を補正する必要がある。そのため、被検体
の放射能を測定・定量する前に、被検体12.コリメー
タ13及び半導体検出器1からなる測定系の幾何条件の
設定を実施する。
また、コリメータ13は放射線検鏡バックグランドノイ
ズを低減させるためにも設置する。
ズを低減させるためにも設置する。
被検体12の無い状態で装置回りの放射線環境バックグ
ランドノイズを測定した後、被検体12を装置に設置す
る。
ランドノイズを測定した後、被検体12を装置に設置す
る。
次に、被検体12から放出するγ線を半導体検出器1で
γ線スペクトル、及び、全計数値を求める。従って、パ
イルアップの発生率を半導体検出器1に入射するγ線の
数の一次の線形で表わすとすれば、多重波高分析器9で
測定したγ線スペクトルの計数値をM J (jは波高
分析器9内のチャネル番号;チャネル番号はγ線エネル
ギ強度に対応する)、デュアルカウンタ5の総カウント
値をCとすれば、パイルアップ補正後のγ線スペクトル
NJは次式で表わすことが可能である。
γ線スペクトル、及び、全計数値を求める。従って、パ
イルアップの発生率を半導体検出器1に入射するγ線の
数の一次の線形で表わすとすれば、多重波高分析器9で
測定したγ線スペクトルの計数値をM J (jは波高
分析器9内のチャネル番号;チャネル番号はγ線エネル
ギ強度に対応する)、デュアルカウンタ5の総カウント
値をCとすれば、パイルアップ補正後のγ線スペクトル
NJは次式で表わすことが可能である。
但し、mはγ線スペクトルの最大チャネル番号である。
なお、M、は上述バックグランドノイズ測定値を用いて
バンクグランドノイズの影響を除外しであるものとする
。
バンクグランドノイズの影響を除外しであるものとする
。
被検体12内のγ線放出核種に対する光電ピークエリア
(γ線ピークエリア)を補正したγ線スペクトルNJ
より求め、コリメータ13の開口度と被検体12.半導
体検出器1との位置関係より決定する検出効率を掛は合
わせることにより、被検体12のγ線放出核種の放射能
を定量することができる。
(γ線ピークエリア)を補正したγ線スペクトルNJ
より求め、コリメータ13の開口度と被検体12.半導
体検出器1との位置関係より決定する検出効率を掛は合
わせることにより、被検体12のγ線放出核種の放射能
を定量することができる。
なお、被検体12自身による自己じゃへい効果は無視で
きるものとするにの自身しやへい効果が無視できない場
合は、被検体12の密度分布から求められる被検体12
のγ線吸収率分布を算出し、自己しやへい効果の補正を
実施する必要かある。
きるものとするにの自身しやへい効果が無視できない場
合は、被検体12の密度分布から求められる被検体12
のγ線吸収率分布を算出し、自己しやへい効果の補正を
実施する必要かある。
以上示した演算過程を演算器10に実施させることで、
被検体12のγ線放出核種の放射能をワイドレンジ、か
つ、短時間に定量することができる。
被検体12のγ線放出核種の放射能をワイドレンジ、か
つ、短時間に定量することができる。
本発明によれば、放射性被検体の放射能をワイドレンジ
、かつ、短測定時間で定量できる放射能測定装置を提供
することができる。
、かつ、短測定時間で定量できる放射能測定装置を提供
することができる。
また、放射線計測系では、構成パーツの簡略化が図られ
ているため低価格化の放射能測定装置を提供することが
できる。
ているため低価格化の放射能測定装置を提供することが
できる。
第1図は本発明の一実施例の放射線計測系及び演算制御
部のブロック線図、第2図は放射線計測系の動作を示す
タイムチャート図である。 1・・半導体検出器、5・・・デュアルカウンタ、8・
・・スペクトルスコピーアンプ、9・・・多重波高分析
器、10・・・演算器、12・・・被検体、16・・・
リジエクト信号、 13・・・コリメータ。 第 図
部のブロック線図、第2図は放射線計測系の動作を示す
タイムチャート図である。 1・・半導体検出器、5・・・デュアルカウンタ、8・
・・スペクトルスコピーアンプ、9・・・多重波高分析
器、10・・・演算器、12・・・被検体、16・・・
リジエクト信号、 13・・・コリメータ。 第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、被検体から放出された放射線を検出する放射線検出
器と、前記放射線検出器の前面に設置されたコリメータ
とを装備し、前記放射線のエネルギ別計数値を求める装
置と、前記放射線の総合計数値を求める装置と、前記エ
ネルギ別の計数値と前記総合計数値とから前記被検体の
放射能を定量することを特徴とする放射能測定装置。 2、放射線検出器の前面に設置されたコリメータから入
射される被検体からの放射線エネルギ別の計数値と前記
放射線の総合計数値と予め求めて置いた前記コリメータ
に対する前記放射線検出器の応答とから被検体の放射能
を定量することを特徴とする放射能測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1328482A JPH03189586A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 放射能測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1328482A JPH03189586A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 放射能測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03189586A true JPH03189586A (ja) | 1991-08-19 |
Family
ID=18210767
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1328482A Pending JPH03189586A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 放射能測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03189586A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0560870A (ja) * | 1991-09-05 | 1993-03-12 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線検出装置 |
EP0734076A2 (en) * | 1995-03-22 | 1996-09-25 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Wide range radiation detector |
EP2031409A3 (en) * | 2007-08-31 | 2010-09-22 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic multi-purpose analyser |
-
1989
- 1989-12-20 JP JP1328482A patent/JPH03189586A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0560870A (ja) * | 1991-09-05 | 1993-03-12 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線検出装置 |
EP0734076A2 (en) * | 1995-03-22 | 1996-09-25 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Wide range radiation detector |
EP0734076A3 (en) * | 1995-03-22 | 1998-08-12 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Wide range radiation detector |
EP2031409A3 (en) * | 2007-08-31 | 2010-09-22 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic multi-purpose analyser |
US8075840B2 (en) | 2007-08-31 | 2011-12-13 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic multi-purpose analyzer |
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