JPH055070B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、放射線量測定装置に係り、特に定期
的に調整を実施する線量率計測系のゲイン、バイ
アス調整に好適な調整手段に関する。

〔発明の背景〕

従来は、基礎原子力講座２「放射線（改訂版）」
（第188頁参照、コロナ社出版）に示される如く計
測系をアナログ回路で構成している。すなわち、
第４図に示す如く、アナログ演算部２５において
検出器１からの信号を演算増幅器で演算し線量率
信号として出力するものであり、ゲイン、バイア
スは可変抵抗によりバイアスとゲインを相互に調
整して２点の校正信号が目標値を指示するよう合
せ込み調整する。このように、従来の装置は、ア
ナログ回路で計測系を構成しており、計測系のゲ
イン、バイアス調整は、可変抵抗器により出力指
示値が目標値に一致するよう、ゲイン抵抗とバイ
アス抵抗を交互に何回もくり返し操作し合わせこ
んでいる。このようなゲイン、バイアスの調整方
法が第５図に示されている。すなわち、第５図Ｂ
のステツプ201において、模擬信号発生部より出
力指示値A₀に相当する模擬入力I_Aを入力する。
すると、ステツプ202において、バイアス調整可
変抵抗により出力指示がA₀になる様に調整する。
次にステツプ203において、出力指示値B₀に相当
する模擬入力I_Bを入力する。この入力値によつて
ステツプ204において、出力指示Ｂをゲイン調整
可変抵抗により、出力指示がB₀になるように調
整し、これが、模擬入力I_Aの出力指示値ＡがA₀
に、模擬入力I_Bの出力指示値ＢがB₀になるまで何
回もくり返す。

このように、従来は、アナログ回路方式で計測
系を構成しているため、ゲイン、バイアスの調整
を可変抵抗を操作することにより行つているが、
校正用模擬信号が固定された２点のため、ゲイン
とバイアスは、相当に影響を及ぼしゲインを調整
するバイアスの再調整が必要となるため、交互に
調整をくり返し２点の校正用模擬信号に対し、出
力が目標値に一致するように合せ込んでおり運転
量の保守調整が大変であつた。

〔発明の目的〕

本発明の目的は、１回の模擬信号入力（又は、
実照射）により簡単にゲイン、バイアス調整を行
い保守点検時の調整作業時間を短縮することがで
きる線量率計の自動調整装置を提供することにあ
る。

〔発明の概要〕

本発明は、校正用模擬信号入力時の出力指示信
号と目標とする指示値（校正用基準値）を記憶し
ておき、一次方程式を解くことにより調整すべき
ゲイン、バイアス値を演算し自動設定することに
より１回の模擬信号入力により簡単にゲイン、バ
イアス調整を行い保守点検時の調整作業時間を短
縮しようというものである。

〔発明の実施例〕

以下、本発明の実施例について説明する。

第１図には、本発明の一実施例が示されてい
る。

図において、検出器１は、電離箱検出器やGM
管検出器のような放射線量に感応する放射線検出
器であり電流信号又はパルス信号を発生するもの
である。

増幅部２、入力部３は、検出器１からの信号を
演算部４で処理しやすい様、対数増幅及び、波形
整形等を行なうものである。また、演算部４は、
入力信号ｘに対し、出力ｙをｙ＝ａ・ｘ＋ｂの演
算を行なつて出力するものである。すなわち、検
光器１からの検出信号ｘがｘ＝x₀の場合に演算部
４は、前記の如き演算を行つて出力値ｙとしてｙ
＝ax₀＋ｂという値を出力する。

この様に演算された出力ｙは、出力表示部５に
線量率として表示する。

また、模擬信号発生部１０は、放射線外側系を
簡易的に校正するもので、実際に検出器１に照射
した時の検出器からの出力と等価な信号を電気的
に発生するものであり、校正信号（模擬信号）は
２点以上有する。通常２点で校正する。もちろ
ん、検出器１に実照射を２点行ない校正すること
も可能である。

以下の説明では、模擬信号発生部１０からI_Aと
I_Bの信号が発生できるものとして説明する。

I_Aは検出器にA₀ｍＲ／ｈの照射を模擬する値
であり、I_Bは検出器１にB₀ｍＲ／ｈの照射を模擬
した値である。

記憶部６は、目標値設定部７から設定された
A₀，B₀の値と、I_aを入力した時の出力値Ａと、I_B
を入力した時の出力値Ｂを記憶しておく。

偏差補正部８は、記憶部６に入力される演算部
４から出力されるＡ，Ｂの値から計測系の特性を
求め演算部４の出力信号ｙが、目標値設定部７か
ら出力されるA₀，B₀と同じA₀，B₀となるよう
に、演算部４のゲインａ及びバイアスｂの値を算
出し設定するものである。この設定は自動調整指
令９により実行されゲイン、バイアス自動調整を
行なう。

次に第２図を用いて具体的調整方法を説明す
る。

調整前のデイジタル演算部４の入出力特性をｙ
＝a₁・ｘ＋b₁とすると、模擬入力値I_Aを入力した
時出力はｙ＝Ａとなる。また、模擬入力値I_Bを入
力した時はｙ＝Ｂとなる。しかし、模擬入力値I_A
はもともと出力ｙ＝A₀となるべき値として設定
されたものであり、模擬入力値I_Bはもともと出力
ｙ＝B₀となるべき値として設定されたものであ
る。従つてこれら模擬入力値I_A，I_Bに対し正規の
出力ｙ＝A₀、ｙ＝B₀をする様に、演算部４のゲ
イン、バイアスを調整し、第２図Ａ図示ｙ＝a₀・
ｘ＋b₀にする必要がある。この様な出力のズレ
は、放射線検出器１が物理現象を検出するもので
あり、放射線下における感度変化及び増幅部２の
経年変化に起因するものであり、定期的校正が必
要である。

記憶部６へは、目標値設定部７の設定及び、模
擬信号（又は実照射）入力時においてSET信号
を与える事により記憶する。記憶値A₀，B₀，Ａ，
Ｂは、偏差補正部８へ入力する。偏差補正部８に
おいて、Ａ＝a₁・I_A＋b₁、Ｂ＝a₁・I_B＋b₁、A₀＝
a₀・I_A＋b₀、B₀＝a₀・I_B＋b₀より、 a₀＝a₁・（A₀−B₀）／（Ａ−Ｂ） b₀＝A₀−（A₀−B₀）・（Ａ−b₁）／（Ａ／Ｂ） とし、目標ゲイン、バイアス値を演算算出し演算
部４の設定を行なう。

第２図Ｂを用いてゲイン、バイアスの調整方法
について説明する。

まず、ステツプ101において、模擬信号（又は
既知の値の実照射）入力時に出力指示すべき値
A₀，B₀を予め記憶部に入力しておく。次に、ス
テツプ102において、模擬信号（又は実照射）を
実際に入力し、そのときの出力指示値Ａ，Ｂを記
憶部へ入力する。そこで、ステツプ103において、
模擬信号（又は実照射）入力によつて出された値
Ａ，Ｂの値より現状の特性 ｙ＝a₁x＋b₁ を算出する。

次にステツプ104において、模擬信号（又は実
照射）値の入力に対して、正常な出力指示値を示
すように、すなわち、ステツプ101で記憶した設
定値に一致するように演算部のゲインａとバイア
スｂを変更し、 ｙ＝a₀x＋b₀ となるようにする。

第３図には、第１図図示偏差補正部８の詳細が
示されている。

この偏差補正部８は、記憶部６に格納されてい
るデータＡ，Ｂ，A₀，B₀と、現在演算部４に設
定されているゲインa₁、バイアスb₁の値より、加
算部１５、割算部１６、乗算部１７により新ゲイ
ンa₀、新バイアスb₀を演算し、データ設定部１８
に入力する。

a₀＝a₁・（A₀−B₀）／（Ａ−Ｂ） b₀＝A₀−（A₀−B₀）・（Ａ−b₁）／（Ａ−Ｂ） データ設定部１８には、自動調整指令９により
新データa₀，b₀が格納され演算部４に新データを
設定する。

尚、第１図に示す演算部４、記憶部、目標設定
部７、偏差補正部８の機能をハード回路で実現す
ることはもちろん、マイクロコンピユータを用い
てソフト処理することも本発明の範囲内である。

したがつて、本実施例によれば、放射線計測装
置の校正におけるゲイン、バイアス調整が容易に
実施でき運転員の負担を従来の約1/10に低減でき
るとともにシステムの運転効率向上の効果があ
る。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明によれば、１回の
模擬信号入力（又は実照射入力）により簡単にゲ
イン、バイアス調整を行い保守点検時の調整作業
時間を短縮することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の実施例を示す回路構成図、
第２図は、本発明におけるゲイン、バイアス調整
の方法と過程を示す図、第３図は、本発明におけ
る偏差補正部８の詳細ブロツク図、第４図は、従
来方式の回路構成を示す図、第５図は、従来方式
のゲイン、バイアス調整の方法と過程を示す図で
ある。 ４……演算部、６……記憶部、７……目標値設
定部、８……偏差補正部、９……自動調整指令、
１５…加算部、１６……割算部、１７……乗算
部、１８……データ設定部。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 放射線検出器と該検出器からの信号を増幅す
   る増幅器と該増幅器の信号を放射線量率に換算す
   る演算部と放射線量率信号を出力する出力指示部
   より成る放射線量率測定装置において、校正用の
   模擬信号を供給する校正信号発生手段と、前記校
   正信号に相当する線量率の値を記憶する記憶部
   と、前記記憶部に記憶された値の加減乗除演算に
   より実際に校正信号を入力したときの出力値を前
   記記憶部に記憶された線量率に一致させるように
   上記演算部のゲインとバイアス値を調整する手段
   を設けたことを特徴とする線量率計の自動調整装
   置。