JPS5882173A - ガンマカメラの校正方法及び校正装置を具えるガンマカメラ - Google Patents
ガンマカメラの校正方法及び校正装置を具えるガンマカメラInfo
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- JPS5882173A JPS5882173A JP57107000A JP10700082A JPS5882173A JP S5882173 A JPS5882173 A JP S5882173A JP 57107000 A JP57107000 A JP 57107000A JP 10700082 A JP10700082 A JP 10700082A JP S5882173 A JPS5882173 A JP S5882173A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
- A61B6/4258—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector for detecting non x-ray radiation, e.g. gamma radiation
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ガンマカメラのシンチレーション結晶の前に
点放射源を配置してシンチレーション結晶、複数個の光
電子増倍管及び各光電子増倍管に接続された増幅６器を
介して電気信号を発生させ、これら電気信号からレスポ
ンス依存信号を−り出し、この信号を使用して光電子増
倍管を校正するガンマカメラの校正方法に関するもので
ある。
点放射源を配置してシンチレーション結晶、複数個の光
電子増倍管及び各光電子増倍管に接続された増幅６器を
介して電気信号を発生させ、これら電気信号からレスポ
ンス依存信号を−り出し、この信号を使用して光電子増
倍管を校正するガンマカメラの校正方法に関するもので
ある。
本発明は、更に、シンチレーション結晶と、′各々増幅
器に接続された複数個の光電子増倍管と、点放射源を用
いて前記シンチレーション結晶、光電子増倍管及び増幅
器を介して電気信号を発生させてこれら信号からレスポ
ンス依存信号を取り出す校正装置と、該レスポンス依存
信号により光電子増倍管及び／又は増幅器の利得を校正
する調整装置とを具えるガンマカメラにも関するもので
ある。
器に接続された複数個の光電子増倍管と、点放射源を用
いて前記シンチレーション結晶、光電子増倍管及び増幅
器を介して電気信号を発生させてこれら信号からレスポ
ンス依存信号を取り出す校正装置と、該レスポンス依存
信号により光電子増倍管及び／又は増幅器の利得を校正
する調整装置とを具えるガンマカメラにも関するもので
ある。
ガンマカメラの光電子増倍管町校正する方法及び装置は
欧州特許出願公告第ｏｏｇ’ａ’ａ、ａｏ号により既知
である。この既知の装置においては、コリメートした細
いガンマ線ビームを発生する放射源を１つの光電子増倍
管の中心の前方に正確に配置し、斯る後に全ての光電子
増倍管により発生された電気信号を用いて既知の方法で
、シンチレーション結晶によりインタ、−七プトされた
ガンマ線のエネルギー量を表わす２信１号を取り出す。
欧州特許出願公告第ｏｏｇ’ａ’ａ、ａｏ号により既知
である。この既知の装置においては、コリメートした細
いガンマ線ビームを発生する放射源を１つの光電子増倍
管の中心の前方に正確に配置し、斯る後に全ての光電子
増倍管により発生された電気信号を用いて既知の方法で
、シンチレーション結晶によりインタ、−七プトされた
ガンマ線のエネルギー量を表わす２信１号を取り出す。
この２信号を高、基準値及び低基準値と比較する。得ら
れた比較値から、・・点放射源に対向して位置する光電
子増倍管の利−又は高電圧が高すぎるか、低すぎるか、
適正であるかを示すレスポンス依存信号を得る。
れた比較値から、・・点放射源に対向して位置する光電
子増倍管の利−又は高電圧が高すぎるか、低すぎるか、
適正であるかを示すレスポンス依存信号を得る。
この光電子増倍管の利得を必要゛、に応じ再調整後、点
放射源を次の光電子増倍管に対向配置して上述の処理を
くり返えし、以下同様にして全ての光電、子増倍管の利
得を決定し、必要に応じ再調整する。。
放射源を次の光電子増倍管に対向配置して上述の処理を
くり返えし、以下同様にして全ての光電、子増倍管の利
得を決定し、必要に応じ再調整する。。
全ての光電子増倍管の電気信号から導出される２信号に
の信号には検査中の当該光電子増倍管の出力は約８０％
寄与する）は高及び低基準信号と比較されるため、検査
中のそれぞれの光電子増倍管／増幅器対の調整後に各光
電子増倍管／増幅器対の利得が全（同一の所望値に調整
されることはあり得ない。また、２信号を決定する際に
各光電子増倍管／増幅器対の利得は同一であるものと仮
定している。このことは、６対の利得は一般に正しいは
ずがないので２信号の決定が不正確になる結果を生じ、
従って各光電子増倍管の電気信号が寄与するＸ、Ｙ座標
信号の決定が不正確になる結果を生ずる。１更に、非直
線性が存在するためにどｅように補正しても斯る不正確
は低減する代りに増大する傾向がある。
の信号には検査中の当該光電子増倍管の出力は約８０％
寄与する）は高及び低基準信号と比較されるため、検査
中のそれぞれの光電子増倍管／増幅器対の調整後に各光
電子増倍管／増幅器対の利得が全（同一の所望値に調整
されることはあり得ない。また、２信号を決定する際に
各光電子増倍管／増幅器対の利得は同一であるものと仮
定している。このことは、６対の利得は一般に正しいは
ずがないので２信号の決定が不正確になる結果を生じ、
従って各光電子増倍管の電気信号が寄与するＸ、Ｙ座標
信号の決定が不正確になる結果を生ずる。１更に、非直
線性が存在するためにどｅように補正しても斯る不正確
は低減する代りに増大する傾向がある。
更に、１基準の点放射源の移動（一つの光電子増倍管の
中心に対向する位置から次の光電子増倍管の中心に対向
する位置への移動）は精密に行なう必要があり、めんど
うである。
中心に対向する位置から次の光電子増倍管の中心に対向
する位置への移動）は精密に行なう必要があり、めんど
うである。
達する増幅器の利得の正確な調整（校正）ができると共
にこの校正を行なうのに点放射源の移動が必要ないガン
マカメラ校正方法及び校正装置を具えるガンマカメラを
提供せんとするーにある。
にこの校正を行なうのに点放射源の移動が必要ないガン
マカメラ校正方法及び校正装置を具えるガンマカメラを
提供せんとするーにある。
この目的のために、本発明ガンマカメラの校正方法ニお
いては、点放射源とシンチレーシ四ン結晶との間に、ガ
ンマ線を透過する複数個の区域が設けられた絞りを配置
し、条ガンマ線透過区域は各光電子増倍管の中心の前面
に配置し、次いで各光電子増倍管の出力信号をサンプリ
ングし、各光電子増倍管についてその光電子増倍管と関
連する出力信号のす、ンプルの平均振幅を決定し、次に
その平均振幅を基準値と比較して当該光電子増倍管及び
／又は関連する増幅器の利得を制御する制御信号を発生
させることを特徴とする。
いては、点放射源とシンチレーシ四ン結晶との間に、ガ
ンマ線を透過する複数個の区域が設けられた絞りを配置
し、条ガンマ線透過区域は各光電子増倍管の中心の前面
に配置し、次いで各光電子増倍管の出力信号をサンプリ
ングし、各光電子増倍管についてその光電子増倍管と関
連する出力信号のす、ンプルの平均振幅を決定し、次に
その平均振幅を基準値と比較して当該光電子増倍管及び
／又は関連する増幅器の利得を制御する制御信号を発生
させることを特徴とする。
更に、本発明ガンマカメラは校正装置を具え、蒙校正装
置は前記光電子増倍管の配列に一致するよう配列された
放射線透迩区域を有する絞りと、前記増幅器の出力信号
をサンプリングするサンプ、リング回路と、サンプリン
グされた出力信号のサンプルを蓄積するメモリと、 選択した光電子増倍管／増幅器対から得られた蓄積サン
プルからこの光電子増倍管／増幅器対と関連する平均振
幅を決定し、この平均振幅を基準値と比較してこの光電
子増倍管／増幅器対についてのにスボンス依存信号を得
てこの対の光電子増倍管及び／又は増幅器の利得を調整
する調整装置を制御する演算装置とを具えることを特徴
とする。
置は前記光電子増倍管の配列に一致するよう配列された
放射線透迩区域を有する絞りと、前記増幅器の出力信号
をサンプリングするサンプ、リング回路と、サンプリン
グされた出力信号のサンプルを蓄積するメモリと、 選択した光電子増倍管／増幅器対から得られた蓄積サン
プルからこの光電子増倍管／増幅器対と関連する平均振
幅を決定し、この平均振幅を基準値と比較してこの光電
子増倍管／増幅器対についてのにスボンス依存信号を得
てこの対の光電子増倍管及び／又は増幅器の利得を調整
する調整装置を制御する演算装置とを具えることを特徴
とする。
本発明方法及び本発明ガンマカメラによれば、校正中点
放射源を光電子増倍管に対し移動させる必要がない。更
に、各光電子増倍管の出力信号自前を測定し基準値と比
較するため各光電子増倍Ｖ増幅器対の利得の補正の決定
が他の光電子増倍管め出力信号により妨害されることが
ない。
放射源を光電子増倍管に対し移動させる必要がない。更
に、各光電子増倍管の出力信号自前を測定し基準値と比
較するため各光電子増倍Ｖ増幅器対の利得の補正の決定
が他の光電子増倍管め出力信号により妨害されることが
ない。
図面につき本発明を説明する。
第１図は本発明校正装置３を具えるガンマカメラｌを線
図的に示したものである。ガンマカメラｌはライシガイ
ド番とシンチレーシ習ン結晶Ｓに対向配置された複数個
の光電子増倍管８を具えて、いる。図には１個の光電子
増倍管８１．・・・、８１．・・・。
図的に示したものである。ガンマカメラｌはライシガイ
ド番とシンチレーシ習ン結晶Ｓに対向配置された複数個
の光電子増倍管８を具えて、いる。図には１個の光電子
増倍管８１．・・・、８１．・・・。
８、のみを示しであるが、実際には１９個から６１個、
或は９１個もの光電子増倍管を６角形配置して使用する
ことができる。各光電子増倍管８１は増幅器６１に接続
される。これら増幅器６の出力端子フは検出ガンマ線の
ｘ、Ｙ座標信号とそのエネルギー量を表わす２信号を発
生させるために既知のようにインピーダンス回路網Ｃ図
示せず、）に接続される。これら増幅器６の出力端子ツ
は校正装置３、即ちスイッチング装置８にも接続され、
このスイッチング装置は各増幅器６１をサンプリング回
路９に接続する。このサンプリング回路９は演算装置１
０に接続され、この演算装置はサンプリング囲路９で得
られたサンプルをメモリ１１に蓄積する。演算装置１０
は制御パネル１２により駆動される。メモリ１１に蓄積
されたサンプルに基づいて演算装置１′０により増幅器
の新しい設定が決定されると、制御信号が別のスイッチ
ング装置８′を経て関連する増幅器６に供給される。こ
の制御信号は利得を調整し、この目的のために増幅器６
は後述する調整装置を具えている。
或は９１個もの光電子増倍管を６角形配置して使用する
ことができる。各光電子増倍管８１は増幅器６１に接続
される。これら増幅器６の出力端子フは検出ガンマ線の
ｘ、Ｙ座標信号とそのエネルギー量を表わす２信号を発
生させるために既知のようにインピーダンス回路網Ｃ図
示せず、）に接続される。これら増幅器６の出力端子ツ
は校正装置３、即ちスイッチング装置８にも接続され、
このスイッチング装置は各増幅器６１をサンプリング回
路９に接続する。このサンプリング回路９は演算装置１
０に接続され、この演算装置はサンプリング囲路９で得
られたサンプルをメモリ１１に蓄積する。演算装置１０
は制御パネル１２により駆動される。メモリ１１に蓄積
されたサンプルに基づいて演算装置１′０により増幅器
の新しい設定が決定されると、制御信号が別のスイッチ
ング装置８′を経て関連する増幅器６に供給される。こ
の制御信号は利得を調整し、この目的のために増幅器６
は後述する調整装置を具えている。
校正装置３は点放射源１８と絞り１４も具える。
点放射源３はガンマ線を放射し、このガンマ線は絞り１
４の透過区域又は孔ＩＩＩを通るガンマ線を除いて絞り
１４で阻止される。絞り１４はガンマカメラ１の前面に
、ガンマカメラに通常使用されるコリメータと同一の方
法で取り付ける（このコリメータは校正を行なうときは
取外してオく）。
４の透過区域又は孔ＩＩＩを通るガンマ線を除いて絞り
１４で阻止される。絞り１４はガンマカメラ１の前面に
、ガンマカメラに通常使用されるコリメータと同一の方
法で取り付ける（このコリメータは校正を行なうときは
取外してオく）。
絞り１４は８−の厚さを有する鉛板で構成することがで
き、ガンマ線透過区域又は孔は８〜ｌ ｌｆｉの直径と
する。点放射源ｌｓと絞り１４との間の距離は約ＩＩＩ
とするうこの点放射源１８の位置は絞り１４に垂直な方
向にも、これと直交する方向にも厳密にする必要はない
。１透過”ガンマ線を図に１６で示しである。透過ガン
マ線により燭生きれるシンチレーシ冒ンは光電子増倍管
８により検出される。１つの光電子増倍管８１により検
出されたガンマ線により発生された出力信号のみを増幅
器６１及びスイッチング装置８ｔ−経てサンプリング回
路−に供給する。サンプルされた信号をそれらの振幅値
に応じてメモＩＪ ｌ １の種★のレジスタに記憶する
。しかし、これらレジスタにはこれらの振幅値をそのま
ま記憶するのではなく、サンプルされた信号（以後単に
サンプルと言う）が所定の振幅範囲内に発生した頻度Ｃ
回数）として記憶する。従って、メモリ１１には増幅器
６１のサンプル出力信号の振幅スベク）ルが蓄積される
。
き、ガンマ線透過区域又は孔は８〜ｌ ｌｆｉの直径と
する。点放射源ｌｓと絞り１４との間の距離は約ＩＩＩ
とするうこの点放射源１８の位置は絞り１４に垂直な方
向にも、これと直交する方向にも厳密にする必要はない
。１透過”ガンマ線を図に１６で示しである。透過ガン
マ線により燭生きれるシンチレーシ冒ンは光電子増倍管
８により検出される。１つの光電子増倍管８１により検
出されたガンマ線により発生された出力信号のみを増幅
器６１及びスイッチング装置８ｔ−経てサンプリング回
路−に供給する。サンプルされた信号をそれらの振幅値
に応じてメモＩＪ ｌ １の種★のレジスタに記憶する
。しかし、これらレジスタにはこれらの振幅値をそのま
ま記憶するのではなく、サンプルされた信号（以後単に
サンプルと言う）が所定の振幅範囲内に発生した頻度Ｃ
回数）として記憶する。従って、メモリ１１には増幅器
６１のサンプル出力信号の振幅スベク）ルが蓄積される
。
第１８！ｉＩは斯るスペクトルを示す。この図において
横軸はレジスタの識別番号ＮＲを示し、縦軸は発生回数
ｙを示す。レジスタの番号が大きいほど、このレジスタ
にその発生回数が蓄積されるサンプルの振幅が大きい。
横軸はレジスタの識別番号ＮＲを示し、縦軸は発生回数
ｙを示す。レジスタの番号が大きいほど、このレジスタ
にその発生回数が蓄積されるサンプルの振幅が大きい。
図ではスペクトルを連続線で示しであるが、実際にはス
ペクトルは不連続なステップで表わされる。レジスタの
識別番号及びレジスタに蓄積される発生回数はともに正
の整数で。
ペクトルは不連続なステップで表わされる。レジスタの
識別番号及びレジスタに蓄積される発生回数はともに正
の整数で。
ある。光電子増倍管８１に対向する孔１ｂを通るガンマ
線量は、その出力信号がサンプルされてスペクトルに矢
ｓＯで示すピークを生ずる、この光電子増倍管は周囲の
孔１５を通るガンマ線によって発生されるシンチレーシ
曹ンも検出し、この周囲の孔ｌｌｆｔ通るガンマ線によ
って発生されるシンチレーシ曹ンは数が多いが相当低い
振幅の出力信号を発生するので、スベタシル図の左側に
１大きな”ピークを生ずる。矢１０で示すピークの位置
（レジスタ番号ＮＲ）は点歓射源として使用する放射性
同位元素により決まる。これがため、このピークは各光
電子増倍管３１及び増幅器６１から成る光電子増倍管／
増幅器対の実際の利得を決めるための信頼できる尺度と
なる。
線量は、その出力信号がサンプルされてスペクトルに矢
ｓＯで示すピークを生ずる、この光電子増倍管は周囲の
孔１５を通るガンマ線によって発生されるシンチレーシ
曹ンも検出し、この周囲の孔ｌｌｆｔ通るガンマ線によ
って発生されるシンチレーシ曹ンは数が多いが相当低い
振幅の出力信号を発生するので、スベタシル図の左側に
１大きな”ピークを生ずる。矢１０で示すピークの位置
（レジスタ番号ＮＲ）は点歓射源として使用する放射性
同位元素により決まる。これがため、このピークは各光
電子増倍管３１及び増幅器６１から成る光電子増倍管／
増幅器対の実際の利得を決めるための信頼できる尺度と
なる。
第８図は本発明校正装置１の電気回路部、特に演算装置
１０及びメモリ１１とガンマカメラ１の１部のプリッタ
図を示す。ＩＩＩＭの演算装置１０は！イダ賞ブー竜ツ
サ（ＩＮＴＩＬＩＩＯ１ｌ！ｉム）、クロツタパルス発
生器１１ （ＩＮＴＫＬ ８８ハ）、アドレスメモリバ
ッフγｍ ８ （Ｉ賢ＴＫＬｓｍｘｍ）、アドレスデコ
ーダ回路Ｓ−（ＩＮＴｇＬ ！１１８１８１）、入出力
ゲート制御回路（ＩＮ’ｌ’ｌＬ８ｍ６６ム）及び入出
力ゲー） Ｉｌｌ、 ｌ’Ｆ及び！８（ＩＮテＩＬ！１
１８６）を具える。メモリ装置１１（第１図）は読取専
用メモリ（ＲＯＭ）１９ （ＩＮＴ１１ｉ１６１６）及
びｌｊ）ンダＡＴり七スｌ’＆す（ＲＡＭ＞８０（ＩＮ
ＴＩＣＬ Ｐａ１１４） ｅ具エル。
１０及びメモリ１１とガンマカメラ１の１部のプリッタ
図を示す。ＩＩＩＭの演算装置１０は！イダ賞ブー竜ツ
サ（ＩＮＴＩＬＩＩＯ１ｌ！ｉム）、クロツタパルス発
生器１１ （ＩＮＴＫＬ ８８ハ）、アドレスメモリバ
ッフγｍ ８ （Ｉ賢ＴＫＬｓｍｘｍ）、アドレスデコ
ーダ回路Ｓ−（ＩＮＴｇＬ ！１１８１８１）、入出力
ゲート制御回路（ＩＮ’ｌ’ｌＬ８ｍ６６ム）及び入出
力ゲー） Ｉｌｌ、 ｌ’Ｆ及び！８（ＩＮテＩＬ！１
１８６）を具える。メモリ装置１１（第１図）は読取専
用メモリ（ＲＯＭ）１９ （ＩＮＴ１１ｉ１６１６）及
びｌｊ）ンダＡＴり七スｌ’＆す（ＲＡＭ＞８０（ＩＮ
ＴＩＣＬ Ｐａ１１４） ｅ具エル。
前記マイクロブ冒セッサｌＮ％メモリ（ｌｌ！９．８０
）、制御回路（１４，ｌｆｉ）及びゲー） （８６，！
？、 ｆｆ１８）はそれぞれデータ、アドレス及び制御
バス８１．８Ｌ８８で既知のように接続される。
）、制御回路（１４，ｌｆｉ）及びゲー） （８６，！
？、 ｆｆ１８）はそれぞれデータ、アドレス及び制御
バス８１．８Ｌ８８で既知のように接続される。
校正プロシージャは制御パネルδ４からのスタート信号
（スタートボタン８５）により入出力ゲー）８８を駆動
してスタートする（第！Ｉｖ！Ｊの７四−チャード参照
）。校正プ田シージャの第１ステツプにおいて、振幅ス
ペクトルを蓄積するのに使用されるレジスタがクリアさ
れる。更に、既に、校正された光電子増倍管の数を計数
するカウンタが零にリセットされる。光電子増倍管８□
と増幅器６□の第１対の利得を校正すべきことを指示す
る制御信号が制御回路ＩＳ及び入出力ゲー）２８を経て
選択回路８６に供給される。そのデジタル制御信号は回
路８６で復号される。選択回路８６は出力端子δ７１か
ら選択信号を出力して増幅器６１の出力端子を接続［８
８を経てサンプリング回路９に接続する。サンプリング
回路９はピーク検出器８９とアナｐグーデジタル変換器
４０を具える。
（スタートボタン８５）により入出力ゲー）８８を駆動
してスタートする（第！Ｉｖ！Ｊの７四−チャード参照
）。校正プ田シージャの第１ステツプにおいて、振幅ス
ペクトルを蓄積するのに使用されるレジスタがクリアさ
れる。更に、既に、校正された光電子増倍管の数を計数
するカウンタが零にリセットされる。光電子増倍管８□
と増幅器６□の第１対の利得を校正すべきことを指示す
る制御信号が制御回路ＩＳ及び入出力ゲー）２８を経て
選択回路８６に供給される。そのデジタル制御信号は回
路８６で復号される。選択回路８６は出力端子δ７１か
ら選択信号を出力して増幅器６１の出力端子を接続［８
８を経てサンプリング回路９に接続する。サンプリング
回路９はピーク検出器８９とアナｐグーデジタル変換器
４０を具える。
光電子増倍管δ□がガン！量を検出すると、発生した電
気パルスのビータ値が検出器８９により保持される。ア
ナログ−デジタル質換器４０はそのピーク値をデジタル
値に変換し１斯る後に変換器４０はマイク四プロセッサ
８１に対し信号ムＤＲＤＹ（Ａ／Ｉ変換レディ）を発生
してサンプルをスペクトルレジスタを有するメモリ８０
に蓄積せしめる。
気パルスのビータ値が検出器８９により保持される。ア
ナログ−デジタル質換器４０はそのピーク値をデジタル
値に変換し１斯る後に変換器４０はマイク四プロセッサ
８１に対し信号ムＤＲＤＹ（Ａ／Ｉ変換レディ）を発生
してサンプルをスペクトルレジスタを有するメモリ８０
に蓄積せしめる。
即ち、この信号ムＤＲＤＹはプロセッサ！１の割込入力
端子に供給して”待ち”ルーチン１０Ｇを割込ませてプ
ロセッサ１１１１を開始ステップ１０Ｑ後にこのルーチ
ンで動件させる（第！１図参照）。変換器４０で発生さ
れたデジタル値はプ１セッサＳｌで読取られ（第１ｖＡ
のステップ８００）、メモリ３０内のレジスタのアドレ
スとされるつこれがため、対応するレジスタの内容が値
”１”だけ増加される。次いで、そのレジスタが１満杯
”であるか否かについての検査、即ち所定振幅のサンプ
ルが所定数測定されたか否かについての検査が行なわれ
る（第す図のステップ８００）。メモリ８０内の一つの
レジスタが満杯になると同時にその後のサンプルはプロ
レジスタが満杯でない場合はプロセッサｉｔは待ちルー
チン（第６図のステップ２００）に戻り、アナ罎ログ〜
デジタル変換＠４０が次のムＤＲＤＹ信号を発生したら
ステップ８００をくり返ニス。
端子に供給して”待ち”ルーチン１０Ｇを割込ませてプ
ロセッサ１１１１を開始ステップ１０Ｑ後にこのルーチ
ンで動件させる（第！１図参照）。変換器４０で発生さ
れたデジタル値はプ１セッサＳｌで読取られ（第１ｖＡ
のステップ８００）、メモリ３０内のレジスタのアドレ
スとされるつこれがため、対応するレジスタの内容が値
”１”だけ増加される。次いで、そのレジスタが１満杯
”であるか否かについての検査、即ち所定振幅のサンプ
ルが所定数測定されたか否かについての検査が行なわれ
る（第す図のステップ８００）。メモリ８０内の一つの
レジスタが満杯になると同時にその後のサンプルはプロ
レジスタが満杯でない場合はプロセッサｉｔは待ちルー
チン（第６図のステップ２００）に戻り、アナ罎ログ〜
デジタル変換＠４０が次のムＤＲＤＹ信号を発生したら
ステップ８００をくり返ニス。
メモリ８０内のレジスタの一つが所望数にて満杯になる
と、その後のサンプルは入力されず（ステップ４００）
、蓄積されたサンプルの平均振幅ｉが決定される（第
す図のステップ８００）。この平均振幅τは次式に従っ
て計算されるっ Ｔ−、土、Ｎ１／±町 この式において、１はレジスターのアドレスＮＲであり
、Ｎｌはレジスターに蓄積されたサンプルの飯である。
と、その後のサンプルは入力されず（ステップ４００）
、蓄積されたサンプルの平均振幅ｉが決定される（第
す図のステップ８００）。この平均振幅τは次式に従っ
て計算されるっ Ｔ−、土、Ｎ１／±町 この式において、１はレジスターのアドレスＮＲであり
、Ｎｌはレジスターに蓄積されたサンプルの飯である。
第２図から明らかなように矢２ｏで示すピークの振幅に
関するサンプルの数が主として平均振幅Ｉを決定する。
関するサンプルの数が主として平均振幅Ｉを決定する。
小振幅を有するサンプルの数Ｎｌは多いけれど、これら
の各サンプルの振幅は小さいため、平均振幅はこれらサ
ンプルによりあまり影蕃されない。第１の平均振幅ム□
の計算後に、更に同様の計算を例えば次に取り込まれた
サンプルを用いて行なってガンマ線の検出の統計的変化
による誤差を補正する二とができる。これらの計算には
（仮の）平均振幅１０に対し対称な所定の振幅範囲内に
ある振幅に対応するレジスタの内容のみを使用する。こ
れを第３図に示す。
の各サンプルの振幅は小さいため、平均振幅はこれらサ
ンプルによりあまり影蕃されない。第１の平均振幅ム□
の計算後に、更に同様の計算を例えば次に取り込まれた
サンプルを用いて行なってガンマ線の検出の統計的変化
による誤差を補正する二とができる。これらの計算には
（仮の）平均振幅１０に対し対称な所定の振幅範囲内に
ある振幅に対応するレジスタの内容のみを使用する。こ
れを第３図に示す。
第８図において、平均振幅τ、は横軸上にプロンＦして
あり、この振幅範囲は輸１ｎとムＷａＸの間である。
あり、この振幅範囲は輸１ｎとムＷａＸの間である。
平均振幅■が決定されると、この平均振幅ｉｔシンチレ
ーシ曹ンを検出した光電子増倍管８１と関連する基準値
と比較される。これにより相対課差値が得られ、この誤
差値はメモリ８０内に蓄積されている関連する増幅器６
１の実際の利得と共にこの増幅器の新しい利得の設定値
を決定するのに使用される（第６図のステップ６００）
。利得の新設定値は制御回路１１６、出力ゲー）８マ、
ｓ８及び選択回路３６及びバス４８１経て増幅＠６１に
供給される（第！１図のステップマ０６）。この利得設
定値が増幅−６１の利得の最大許容制御範囲外に位置す
る場合には、これを制御パネル８４上に音声又は光信号
４１によって表示する（第２１図のステップ８００）。
ーシ曹ンを検出した光電子増倍管８１と関連する基準値
と比較される。これにより相対課差値が得られ、この誤
差値はメモリ８０内に蓄積されている関連する増幅器６
１の実際の利得と共にこの増幅器の新しい利得の設定値
を決定するのに使用される（第６図のステップ６００）
。利得の新設定値は制御回路１１６、出力ゲー）８マ、
ｓ８及び選択回路３６及びバス４８１経て増幅＠６１に
供給される（第！１図のステップマ０６）。この利得設
定値が増幅−６１の利得の最大許容制御範囲外に位置す
る場合には、これを制御パネル８４上に音声又は光信号
４１によって表示する（第２１図のステップ８００）。
当該増幅器の新利得設定値への調整処理の終了後に、既
に校正された光電子増倍管／増幅器対（８１，６１）の
数をカウントするカウンタの計数値が検査される（１１
５図のステップ９００）。校正されてない光電子増倍管
／増幅器対がある限り、カウンタの計数値゛はｌ″だけ
増加され、次の対の校正プロシージャが開始される（ス
テップ１００）。
に校正された光電子増倍管／増幅器対（８１，６１）の
数をカウントするカウンタの計数値が検査される（１１
５図のステップ９００）。校正されてない光電子増倍管
／増幅器対がある限り、カウンタの計数値゛はｌ″だけ
増加され、次の対の校正プロシージャが開始される（ス
テップ１００）。
全ての光電子増倍管／増幅器対が校正されると、プルシ
ージャは停止するＣステップ１０００）。
ージャは停止するＣステップ１０００）。
第４図は光電子増倍管８１に接続される増幅器６１の詳
細回路図を示す。、この増幅器は利得を調整する調整装
置を具え１この調整装置はスイッチング装置５２（例え
ばスイッチングトランジスタ）と抵抗６１を具え、増幅
回路ｂ８の利得を既知のように調整することができる。
細回路図を示す。、この増幅器は利得を調整する調整装
置を具え１この調整装置はスイッチング装置５２（例え
ばスイッチングトランジスタ）と抵抗６１を具え、増幅
回路ｂ８の利得を既知のように調整することができる。
スイッチング装置ｂ８はラッチ７リツブ７ｐツブ５５の
出力で制御される。制御ライン８７１上の（選択回路８
６がらの）パルスにより７リツプ７０ツブＢＢの内容が
バス４δを経て供給される値にされる。ライン８マ１上
のパルスはスイッチ８ｉ（スイッチングＦランジスタ）
を駆動して増幅器６１の出力端子マ１を制御ライン８８
（従って第ａｌｉ！ｆｆのサンプリング＠＠ １１ ）
に接続するのにも使用される。
出力で制御される。制御ライン８７１上の（選択回路８
６がらの）パルスにより７リツプ７０ツブＢＢの内容が
バス４δを経て供給される値にされる。ライン８マ１上
のパルスはスイッチ８ｉ（スイッチングＦランジスタ）
を駆動して増幅器６１の出力端子マ１を制御ライン８８
（従って第ａｌｉ！ｆｆのサンプリング＠＠ １１ ）
に接続するのにも使用される。
第１図は本発明による校正装置を具えるガンマカメラを
示す４１図、 第８図は光−子増倍管により与えられる信号スペクトル
図、 ＠Ｓ図は校正装置の電気回路のプ■ツタ図、第４図は光
電子増惰管に接続される増幅器の詳細回路図、 Ｗｇｓ図は本発明による校正プ宵シージャの７０−チヤ
ーシである。 ｌ・・・ガンマカメラ、＊−・・校正装［，８１ｓ・・
・８゜…光電子増信管、４−ライトガイド、５・・・シ
ンチレー？冒ン結晶、６１．・・・６１・・増幅器、８
．８’−・・スイッチング装置、９・・・サンプリング
回路、１０・・・１８・・・点放射源、１４・・・絞り
、１５＝放射線透過孔、１６・・・透ａガンマ線、８１
・・・マイクロブ胃セッサ、８１・・・クロックパルス
発生器、２８・・・アドレスメモリバッファ、ｎ・・・
アドレスデコーダ、２５・・・入出力ゲート制御回路、
ｍｆＪ＊ ！１７＊ ２Ｂ・・・入出力ゲート、１９−
ＦＲＯＭ、 ８０ ・ＲＡＭ、 ８１．８２．８８ 用
データ。 アドレス、制御バス、８４・・・制御パネル、８５−’
・ス、８６・・・選択回路、８９・・・ピーク検出回路
、４０・・・ム／Ｄ変換器％４８川制御バス。 Ｗ 許出願人 工ヌ魯ベー・フィリップス・フルーイ
ランベンファプリケン
示す４１図、 第８図は光−子増倍管により与えられる信号スペクトル
図、 ＠Ｓ図は校正装置の電気回路のプ■ツタ図、第４図は光
電子増惰管に接続される増幅器の詳細回路図、 Ｗｇｓ図は本発明による校正プ宵シージャの７０−チヤ
ーシである。 ｌ・・・ガンマカメラ、＊−・・校正装［，８１ｓ・・
・８゜…光電子増信管、４−ライトガイド、５・・・シ
ンチレー？冒ン結晶、６１．・・・６１・・増幅器、８
．８’−・・スイッチング装置、９・・・サンプリング
回路、１０・・・１８・・・点放射源、１４・・・絞り
、１５＝放射線透過孔、１６・・・透ａガンマ線、８１
・・・マイクロブ胃セッサ、８１・・・クロックパルス
発生器、２８・・・アドレスメモリバッファ、ｎ・・・
アドレスデコーダ、２５・・・入出力ゲート制御回路、
ｍｆＪ＊ ！１７＊ ２Ｂ・・・入出力ゲート、１９−
ＦＲＯＭ、 ８０ ・ＲＡＭ、 ８１．８２．８８ 用
データ。 アドレス、制御バス、８４・・・制御パネル、８５−’
・ス、８６・・・選択回路、８９・・・ピーク検出回路
、４０・・・ム／Ｄ変換器％４８川制御バス。 Ｗ 許出願人 工ヌ魯ベー・フィリップス・フルーイ
ランベンファプリケン
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ ガンマカメラのシンチレーション結晶の前に点放射
源を配置してシンチレーション結晶、複数個の光電子増
信管及び各光電子増倍管に −接続された増幅器勘弁し
て電気信号を発生させ、これら電気信８号から各光電子
増倍管／増幅器対を校正する制御信号を得るようにした
ガンマカメラの校正方法において、前記点放射源とシン
チレーション結晶との間に、傭数個の放射線透過区域を
具える絞りを配置し、その各放射線透過区域を各光電子
増倍管の中心の前面に位置させ、斯る後に各光電子増倍
管の出力信号をサンプルし、各光電子増倍管について当
該光電子増倍管と関連する出力信号のサンプルの平均振
幅を決定し、斯る後にこの平均振幅を基準値と比較して
当該光電子増倍管及び／又は関連する増−器の利得を制
御する制御信号を得ることを特徴とするガンマカメラの
校正方法。 龜 特許請求の範囲ｌ記載の方法において、前記絞りは
シンチレーション結晶に平行にできるだけ近く配置し、
前記点放射源は２個の隣接する光電子増倍管の中心間隔
の少くとも１０倍の距離だけ前記絞りから離して配置す
ることを！黴とするガンマカメラの校正方法。 ４ 特許請求の範囲１記載の方法において、各光電子増
倍管毎にその出方信号の一連のサンプルを順次記憶し、
デジタル化し、蓄積することを特徴とするガンマカメラ
の校正方法。 本 特許請求の範囲１．２又は８記載の方法において、
前記サンプルは振幅弁別し、その振幅ニ従ッて蓄積し、
出力信号のサンプリング処理はある振幅範囲内にあるサ
ンプルが所定数になると同時に終了させることを特徴と
するガンマカメラの校正方法。 翫 特許請求の範囲４記載の方法において、前記平均振
幅は、最も頻繁に測定される振幅を中心とする振幅室内
にある振幅を有するサンプルの振幅の和をこの振幅範囲
内のサンプルの数で割った商により決定することを特徴
とするガンマカメラの校正方法。 亀 シンチレーション結晶と、各々増幅器に接続された
複数個の光電子増倍管と、点放射源を用いて前記シンチ
レーション結晶、光電子増倍管及び増幅器を介して電気
信号を発生させ、これら信号からレスポンス依存信号を
得る校正装置と、該レスポンス依存信号により前記光電
子増倍管及び／又は増幅器の利得を校正する調整装置と
を具え６ガンマカメラにおいて、前記校正装置は、更に
、 前記光電子増倍管の配列に一致するよう配列された放射
線透過区域を有する絞りと、両町増幅器の出力信号をサ
ンプリングする゛ サンプリング回路と、 サンプリングされた出力信号のサンプルを蓄積するメモ
リと、 選択した光電子増倍管／増幅器対から得られた蓄積サン
プルからこの光電子増倍管／増幅器対と関連する平均振
幅を決定し、この平均振幅を基準値と比較してこの光電
子増倍器／増幅器対についてのレスポンス依存信号を得
てこの対の光電子増倍管及び／又は増幅器の利得を調整
する調整装置を制御する演算装置とを具えることを特徴
とするガンマカメラ。 ｔ 特許請求の範囲６記載のガンマカメラにおいて、前
記サンプリング回路は選択回路で駆動し得るスイッチン
グ装置を介して選択した増幅器の出力端子に接続し得る
ようにしたことを特徴とするガンマカメラ。 ａ 特許請求の範囲７記載のガンマカメラにおイテ、前
記演算装置はプログラムドマイクロプｐセッサ、これに
接続された入出力ゲート制御回路及び入出力ゲートで構
成し、マイクロプロセッサは前記メモリに接続し、前記
サンプリング回路は前記入出力ゲートの入力ゲートに接
続し、前記選択回路は前記入出力ゲートの少くとも１個
の出力ゲートに接続したことを特徴とするガンマカメラ
。 １ 特許請求の範囲８記載のガンマカメラにおいて１前
記メモリは複数個の振幅レジスタを具え、各レジスタは
レジスタと関連する振幅室内に含まれる振幅を有するサ
ンプルの個数を記憶するために同一の記憶容量を有する
ことを特徴とするガンマカメラ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8103058A NL8103058A (nl) | 1981-06-24 | 1981-06-24 | Werkwijze voor het calibreren van een gammakamera en gammakamera met een calibratieinrichting. |
| NL8103058 | 1981-06-24 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5882173A true JPS5882173A (ja) | 1983-05-17 |
| JPH0259434B2 JPH0259434B2 (ja) | 1990-12-12 |
Family
ID=19837689
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57107000A Granted JPS5882173A (ja) | 1981-06-24 | 1982-06-23 | ガンマカメラの校正方法及び校正装置を具えるガンマカメラ |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4517460A (ja) |
| EP (1) | EP0068581B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5882173A (ja) |
| CA (1) | CA1187627A (ja) |
| DE (1) | DE3273435D1 (ja) |
| DK (1) | DK158412C (ja) |
| IL (1) | IL66136A (ja) |
| IT (1) | IT1152982B (ja) |
| NL (1) | NL8103058A (ja) |
Cited By (1)
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| JP2012253024A (ja) * | 2011-06-06 | 2012-12-20 | Toshiba Corp | 光センサ、ガンマ線検出器、及び陽電子放出コンピュータ断層撮影装置 |
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- 1982-06-23 DE DE8282200777T patent/DE3273435D1/de not_active Expired
- 1982-06-23 EP EP82200777A patent/EP0068581B1/en not_active Expired
- 1982-06-24 IL IL66136A patent/IL66136A/xx not_active IP Right Cessation
- 1982-06-24 CA CA000405892A patent/CA1187627A/en not_active Expired
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