JPH05232181A - 電気機器のインパルス耐電圧試験装置 - Google Patents
電気機器のインパルス耐電圧試験装置Info
- Publication number
- JPH05232181A JPH05232181A JP4036220A JP3622092A JPH05232181A JP H05232181 A JPH05232181 A JP H05232181A JP 4036220 A JP4036220 A JP 4036220A JP 3622092 A JP3622092 A JP 3622092A JP H05232181 A JPH05232181 A JP H05232181A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 判定精度が経験の有無に左右されることが殆
どなくなり、判定結果の信頼性を向上することができる
電気機器のインパルス耐電圧試験装置を提供すること。 【構成】 分圧器４もしくは分流器５を通して電気機器
本体３から取り出した電圧波形もしくは電流波形をディ
ジタル変換したのち入力されるメモリ１０と、演算処理
装置８とを備え、演算処理装置８はメモリ１０から比較
する２つの波形ディジタル値を読み出し、レベル調整し
たのちＣＲＴモニタの画面上に互いに異なる色で重ね表
示することを特徴とする。
どなくなり、判定結果の信頼性を向上することができる
電気機器のインパルス耐電圧試験装置を提供すること。 【構成】 分圧器４もしくは分流器５を通して電気機器
本体３から取り出した電圧波形もしくは電流波形をディ
ジタル変換したのち入力されるメモリ１０と、演算処理
装置８とを備え、演算処理装置８はメモリ１０から比較
する２つの波形ディジタル値を読み出し、レベル調整し
たのちＣＲＴモニタの画面上に互いに異なる色で重ね表
示することを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電気機器本体に低減電
圧と試験電圧を印加するインパルス電圧発生装置を備
え、上記電気機器から分圧器および分流器を通して取り
出した電圧波形相互および電流波形相互を比較する電気
機器のインパルス耐電圧試験装置に関する。
圧と試験電圧を印加するインパルス電圧発生装置を備
え、上記電気機器から分圧器および分流器を通して取り
出した電圧波形相互および電流波形相互を比較する電気
機器のインパルス耐電圧試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】変圧器などの電気機器のインパルス耐電
圧試験における絶縁破壊の有無の認定は、電気学会電気
規格調査会標準規格ＪＥＣ−０３０１に示されているよ
うに、低減電圧（故障の起こらない充分低い電圧とし、
故障判別の基準となる）と試験電圧で得られた電圧波形
間ならびに電流波形間の比較により行なわれている。
圧試験における絶縁破壊の有無の認定は、電気学会電気
規格調査会標準規格ＪＥＣ−０３０１に示されているよ
うに、低減電圧（故障の起こらない充分低い電圧とし、
故障判別の基準となる）と試験電圧で得られた電圧波形
間ならびに電流波形間の比較により行なわれている。
【０００３】図３は従来のインパルス耐電圧試験におけ
る試験電圧・電流測定回路を示す概略構成図であり、図
において、１はインパルス電圧発生装置、２は波形調整
器、３は供試器でる電気機器本体、４は電圧波形測定用
分圧器、５は電流波形測定用分流器、６は電圧・電流波
形観測用のオシロスコープである。
る試験電圧・電流測定回路を示す概略構成図であり、図
において、１はインパルス電圧発生装置、２は波形調整
器、３は供試器でる電気機器本体、４は電圧波形測定用
分圧器、５は電流波形測定用分流器、６は電圧・電流波
形観測用のオシロスコープである。
【０００４】従来は、図３の試験装置でオシロスコープ
６で得られた波形を写真に撮り、図４に示すように低減
電圧印加時の写真の波形と試験電圧印加時の写真の波形
とを目視比較して判定していた。図４において、（Ａ）
は低減電圧印加時の波形、（Ｂ）は試験電圧印加時の波
形をそれぞれ示す。
６で得られた波形を写真に撮り、図４に示すように低減
電圧印加時の写真の波形と試験電圧印加時の写真の波形
とを目視比較して判定していた。図４において、（Ａ）
は低減電圧印加時の波形、（Ｂ）は試験電圧印加時の波
形をそれぞれ示す。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来は、レベルの異な
る別々の写真の波形を目視比較するので、その相似の有
無の判定には充分な経験を必要とし、判定に個人差がで
ることが避けられないという問題があった。
る別々の写真の波形を目視比較するので、その相似の有
無の判定には充分な経験を必要とし、判定に個人差がで
ることが避けられないという問題があった。
【０００６】また、オシロスコープの減衰器を使用して
低減電圧と試験電圧の波形の高さを合わせ、写真のネガ
・フィルム上で比較する方法もあるが、波形投影装置を
必要とし、判定はやはり別々の写真の波形の目視比較で
あるから、個人差がでることは避けられず、判定精度の
向上は期待できない。
低減電圧と試験電圧の波形の高さを合わせ、写真のネガ
・フィルム上で比較する方法もあるが、波形投影装置を
必要とし、判定はやはり別々の写真の波形の目視比較で
あるから、個人差がでることは避けられず、判定精度の
向上は期待できない。
【０００７】本発明はこの問題を解消するためになされ
たもので、判定精度が経験の有無に左右されることが殆
どなくなり、判定結果の信頼性を向上することができる
電気機器のインパルス耐電圧試験装置を提供することを
目的とする。
たもので、判定精度が経験の有無に左右されることが殆
どなくなり、判定結果の信頼性を向上することができる
電気機器のインパルス耐電圧試験装置を提供することを
目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、電気機器本体に低減電圧と試験電圧を印加
するインパルス電圧発生装置を備え、上記電気機器から
分圧器および分流器を通して取り出した電圧波形相互お
よび電流波形相互を比較する電気機器のインパルス試験
装置において、分圧器もしくは分流器を通して電気機器
本体から取り出した電圧波形もしくは電流波形をディジ
タル変換したのち入力されるメモリと、演算処理装置と
を備え、この演算処理装置は上記メモリから、比較する
２つの波形ディジタル値を読み出し、レベル調整したの
ちＣＲＴモニタの画面上に互いに異なる色で重ね表示す
る構成とした。
するために、電気機器本体に低減電圧と試験電圧を印加
するインパルス電圧発生装置を備え、上記電気機器から
分圧器および分流器を通して取り出した電圧波形相互お
よび電流波形相互を比較する電気機器のインパルス試験
装置において、分圧器もしくは分流器を通して電気機器
本体から取り出した電圧波形もしくは電流波形をディジ
タル変換したのち入力されるメモリと、演算処理装置と
を備え、この演算処理装置は上記メモリから、比較する
２つの波形ディジタル値を読み出し、レベル調整したの
ちＣＲＴモニタの画面上に互いに異なる色で重ね表示す
る構成とした。
【０００９】
【作用】本発明では、比較する波形のレベルを調整して
同一画面上に異なる色で重ね合わせて表示させることが
できる。
同一画面上に異なる色で重ね合わせて表示させることが
できる。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の１実施例を図面を参照して説
明する。
明する。
【００１１】図１において、７はインパルス波形処理装
置であって、Ａ／Ｄ変換器、中央演算処理装置（ＣＰ
Ｕ）８、ＣＲＴモニタ９、メモリ１０、プリンタ１１を
備えている。他の構成は図３のものと同じである。
置であって、Ａ／Ｄ変換器、中央演算処理装置（ＣＰ
Ｕ）８、ＣＲＴモニタ９、メモリ１０、プリンタ１１を
備えている。他の構成は図３のものと同じである。
【００１２】この構成においては、分圧器４から取り出
された電圧波形はインパルス波形処理装置７でＡ／Ｄ変
換器でディジタル値に変換される。分流器５から取り出
された電流波形もインパルス波形処理装置７でＡ／Ｄ変
換器でディジタル値に変換される。上記各波形のディジ
タル値はメモリ１０に格納されるとともにＣＰＵ８で波
高等を処理されたのちＣＲＴモニタ９の画面上に表示さ
れる。
された電圧波形はインパルス波形処理装置７でＡ／Ｄ変
換器でディジタル値に変換される。分流器５から取り出
された電流波形もインパルス波形処理装置７でＡ／Ｄ変
換器でディジタル値に変換される。上記各波形のディジ
タル値はメモリ１０に格納されるとともにＣＰＵ８で波
高等を処理されたのちＣＲＴモニタ９の画面上に表示さ
れる。
【００１３】本実施例では、低減電圧印加時に分圧器４
から取り出された電圧波形のディジタル値、低減電圧印
加時に分流器５から取り出された電流波形のディジタル
値をメモリ１０に格納する。また、試験電圧印加時に分
圧器４から取り出された電圧波形のディジタル値、試験
電圧印加時に分流器５から取り出された電流波形のディ
ジタル値をメモリ１０に格納する。図２に示すようなＣ
ＲＴモニタ９の画面上への表示に際しては、メモリ１０
から低減電圧印加時の波形ディジタル値をＣＰＵ８へ読
み出して、ＣＲＴモニタ９で特定の色で波形表示させ、
次いで、試験電圧印加時の波形ディジタル値をＣＰＵ８
へ読み出してレベル処理等を行なったのちＣＲＴモニタ
９で、上記色とく異なる色で波形表示させる。
から取り出された電圧波形のディジタル値、低減電圧印
加時に分流器５から取り出された電流波形のディジタル
値をメモリ１０に格納する。また、試験電圧印加時に分
圧器４から取り出された電圧波形のディジタル値、試験
電圧印加時に分流器５から取り出された電流波形のディ
ジタル値をメモリ１０に格納する。図２に示すようなＣ
ＲＴモニタ９の画面上への表示に際しては、メモリ１０
から低減電圧印加時の波形ディジタル値をＣＰＵ８へ読
み出して、ＣＲＴモニタ９で特定の色で波形表示させ、
次いで、試験電圧印加時の波形ディジタル値をＣＰＵ８
へ読み出してレベル処理等を行なったのちＣＲＴモニタ
９で、上記色とく異なる色で波形表示させる。
【００１４】本実施例では、上記２つの波形を同一画面
上に重ね合わせて同時に表示させることができるので、
経験が充分でなくても、両波形の相似の有無を高精度に
判定することができる。
上に重ね合わせて同時に表示させることができるので、
経験が充分でなくても、両波形の相似の有無を高精度に
判定することができる。
【００１５】勿論、ＣＰＵ８に判定プログラムを持た
せ、同一時間軸上の値を比較させ、その偏差から両波形
の相似の有無を判定させることができる。
せ、同一時間軸上の値を比較させ、その偏差から両波形
の相似の有無を判定させることができる。
【００１６】
【発明の効果】本発明は以上説明した通り、比較する波
形のレベルを調整して同一画面上に重ね合わせて表示さ
せることができるので、従来の別々写真でかつレベルに
差がある波形を比較する場合に比して、充分な経験が無
くても、波形比較を容易に正確に行なうことができ、判
定精度が経験の有無に左右されることが殆どなくなり、
判定結果の信頼性を向上することができる。
形のレベルを調整して同一画面上に重ね合わせて表示さ
せることができるので、従来の別々写真でかつレベルに
差がある波形を比較する場合に比して、充分な経験が無
くても、波形比較を容易に正確に行なうことができ、判
定精度が経験の有無に左右されることが殆どなくなり、
判定結果の信頼性を向上することができる。
【図１】本発明の実施例を示すブロック構成図である。
【図２】本発明の実施例におけるＣＲＴモニタ上の波形
を示す図である。
を示す図である。
【図３】従来のインパルス耐電圧試験装置のブロック図
である。
である。
【図４】オシロスコープ上の波形を示す図である。
１ インパルス電圧発生装置 ２ 波形調整器 ３ 電気機器 ４ 分圧器 ５ 分流器 ６ オシロスコープ ７ インバルス波形調整装置 ８ ＣＰＵ ９ ＣＲＴモニタ １０ メモリ １１ プリンタ
Claims (1)
- 【請求項１】 電気機器本体に低減電圧と試験電圧を印
加するインパルス電圧発生装置を備え、上記電気機器か
ら分圧器および分流器を通して取り出した電圧波形相互
および電流波形相互を比較する電気機器のインパルス耐
電圧試験装置において、分圧器もしくは分流器を通して
電気機器本体から取り出した電圧波形もしくは電流波形
をディジタル変換したのち入力されるメモリと、演算処
理装置とを備え、この演算処理装置は上記メモリから、
比較する２つの波形ディジタル値を読み出し、レベル調
整したのちＣＲＴモニタの画面上に互いに異なる色で重
ね表示することを特徴とする電気機器のインパルス耐電
圧試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4036220A JPH05232181A (ja) | 1992-02-24 | 1992-02-24 | 電気機器のインパルス耐電圧試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4036220A JPH05232181A (ja) | 1992-02-24 | 1992-02-24 | 電気機器のインパルス耐電圧試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05232181A true JPH05232181A (ja) | 1993-09-07 |
Family
ID=12463689
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4036220A Pending JPH05232181A (ja) | 1992-02-24 | 1992-02-24 | 電気機器のインパルス耐電圧試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05232181A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009115505A (ja) * | 2007-11-02 | 2009-05-28 | Mitsubishi Electric Corp | 巻線の検査装置及び検査方法 |
| CN116908631A (zh) * | 2023-07-19 | 2023-10-20 | 苏州华电电气股份有限公司 | 一种集成式冲击试验平台 |
-
1992
- 1992-02-24 JP JP4036220A patent/JPH05232181A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009115505A (ja) * | 2007-11-02 | 2009-05-28 | Mitsubishi Electric Corp | 巻線の検査装置及び検査方法 |
| CN116908631A (zh) * | 2023-07-19 | 2023-10-20 | 苏州华电电气股份有限公司 | 一种集成式冲击试验平台 |
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