JPH0599965A - パルス波形測定システム - Google Patents

パルス波形測定システム

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Publication number
JPH0599965A
JPH0599965A JP26438491A JP26438491A JPH0599965A JP H0599965 A JPH0599965 A JP H0599965A JP 26438491 A JP26438491 A JP 26438491A JP 26438491 A JP26438491 A JP 26438491A JP H0599965 A JPH0599965 A JP H0599965A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
digital
pulse signal
waveform
pulse
wave shape
Prior art date
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Pending
Application number
JP26438491A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobutaka Seriguchi
信孝 芹口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH0599965A publication Critical patent/JPH0599965A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【目的】デジタルパルス信号の波形の正常性判定を容易
かつ確実に行えるようにする。 【構成】パーソナルコンピュータ1のデータ蓄積部2に
蓄積されたデジタルパルス信号波形の許容範囲を示すパ
ルスマスクデータに基づいて、デジタルオシロスコープ
5のスクリーン上にパルスマスクを描く。制御部3は、
パーソナルコンピュータ1の指示を受け、装置6からデ
ジタルパルス信号を発生させ、同様にデジタルオシロス
コープ5のスクリーンに波形表示させる。このデジタル
パルス信号の波形が、パルスマスク内に入っているか否
かにより、デジタルパルス信号の波形の正常性判定を行
う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はパルス波形測定システム
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のデジタルパルス信号のパルス波形
測定方法は、試験対象のパルス信号の時間軸に対する波
形をデジタルオシロスコープのスクリーン上に表示し、
波形の最大値,最小値,立ち上り時間,立ち下り時間等
を読み取り、規格との照合を行なって正常性を判定して
いる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この従来のパルス波形
測定方法では、デジタルパルス信号に対しての波形の正
常性をみるために、オシロスコープスクリーン上の波形
の立ち上り時間,立ち下り時間,ピーク値等の確認をそ
れぞれ目視により行なうと共に、測定対象に合わせてオ
シロスコープの各モード設定を手操作により設定しなけ
ればならず、オシロスコープの操作についての知識を必
要とし、また判定精度もばらつきがあった。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明のパルス波形測定
システムは、デジタルパルス信号を発生する装置を制御
し該デジタルパルス信号を発生させる制御手段と、前記
デジタルパルス信号の波形の規格上の許容範囲を示すパ
ルスマスクデータを蓄積したデータ蓄積手段と、前記デ
ジタルパルス信号及び前記パルスマスクデータの波形を
表示するデジタルオシロスコープに対し波形表示のため
の各種測定モードの設定を行う測定モード設定手段とを
備え、前記装置から出力されたデジタルパルス信号を前
記データ蓄積手段からの前記パルスマスクデータととも
に前記デジタルオシロスコープで波形表示し、このデジ
タルパルス信号の波形がこのパルスマスクデータで示さ
れる許容範囲に入っているかどうかにより正常性を判定
する構成である。
【0005】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。
【0006】図1は本発明の一実施例のブロック図であ
る。装置6はデジタルパルス信号を発生し、デジタルオ
シロスコープ5がスクリーン上にこのデジタルパルス信
号の波形を表示する。パーソナルコンピュータ1に、デ
ジタルパルス信号の規格限界を示すデジタルオシロスコ
ープ5上のパルスマスクデータを蓄積するデータ蓄積部
2と、デジタルオシロスコープ5の波形測定の各種モー
ド設定を行うモード設定部3とが設けられている。制御
部4は、パーソナルコンピュータ1からの指示を受け、
装置6からデジタルパルス信号を発生させる。
【0007】次に動作を説明する。
【0008】はじめに、パーソナルコンピュータ1のモ
ード設定部3により、装置6から出力されるデジタルパ
ルス信号の波形測定内容に対応してデジタルオシロスコ
ープ5の測定モードを合わせる。そして、データ蓄積部
2に蓄積されたパルスマスクデータの中からその測定内
容に対応したパルスマスクデータを取り出し、デジタル
オシロスコープ5に送出しスクリーン上に波形表示させ
る。
【0009】図2はデジタルオシロスコープ5のスクリ
ーン上の信号波形を示す図である。分図(a)はパルス
マスクの一例を示す。パルスマスク10は、規格の上限
値10−Aと規格の下限値10−Bとで囲まれた部分で
ある。
【0010】次に、パーソナルコンピュータ1から制御
部4に指示し、装置6からデジタルパルス信号を発生さ
せ、デジタルオシロスコープ5のスクリーン上にパルス
マスク10とともにこのデジタルパルス信号の波形を表
示させる。
【0011】図2(b)は正常なパルス信号波形の例を
示す図である。デジタルオシロスコープ5の水平ポジシ
ョンスイッチを調整して、第1のデジタルパルス信号の
波形20がパルスマスク10の中に入ることが確認でき
れば、この波形20は正常と判定する。
【0012】図2(c)は正常でないパルス信号波形の
例を示す図である。水平ポジションスイッチを調整して
も、第2のデジタルパルス信号の波形21がパルスマス
ク10の中に入らなければ、この波形21は正常でない
と判定する。
【0013】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、デジタル
パルス信号の規格上の許容範囲を示すパルスマスクデー
タを蓄積し、デジタルオシロスコープのスクリーンにパ
ルスマスクを描くことにより、装置より出力されるデジ
タルパルス信号の波形がパルスマスク内に入っているか
否か確認するだけで、パルス波形の正常性を容易にかつ
確実に行なうことができる効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のブロック図である。
【図2】本発明によるデジタルオシロスコープ上の信号
波形を示す図であり、分図(a)はパルスマスクの一例
を示す図、分図(b)は正常なパルス信号波形例を示す
図、分図(c)は正常でないパルス信号波形例を示す図
である。
【符号の説明】
1 パーソナルコンピュータ 2 データ蓄積部 3 モード設定部 4 制御部 5 デジタルオシロスコープ 6 装置 10 パルスマスク 20,21 デジタルパルス信号の波形

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 デジタルパルス信号を発生する装置を制
    御し該デジタルパルス信号を発生させる制御手段と、前
    記デジタルパルス信号の波形の規格上の許容範囲を示す
    パルスマスクデータを蓄積したデータ蓄積手段と、前記
    デジタルパルス信号及び前記パルスマスクデータの波形
    を表示するデジタルオシロスコープに対し波形表示のた
    めの各種測定モードの設定を行う測定モード設定手段と
    を備え、前記装置から出力されたデジタルパルス信号を
    前記データ蓄積手段からの前記パルスマスクデータとと
    もに前記デジタルオシロスコープで波形表示し、このデ
    ジタルパルス信号の波形がこのパルスマスクデータで示
    される許容範囲に入っているかどうかにより正常性を判
    定することを特徴とするパルス波形測定システム。
JP26438491A 1991-10-14 1991-10-14 パルス波形測定システム Pending JPH0599965A (ja)

Priority Applications (1)

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JP26438491A JPH0599965A (ja) 1991-10-14 1991-10-14 パルス波形測定システム

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JP26438491A JPH0599965A (ja) 1991-10-14 1991-10-14 パルス波形測定システム

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JPH0599965A true JPH0599965A (ja) 1993-04-23

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ID=17402409

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JP26438491A Pending JPH0599965A (ja) 1991-10-14 1991-10-14 パルス波形測定システム

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Cited By (4)

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