JPH04275643A - プログラムのテストシステム - Google Patents

プログラムのテストシステム

Info

Publication number
JPH04275643A
JPH04275643A JP3034958A JP3495891A JPH04275643A JP H04275643 A JPH04275643 A JP H04275643A JP 3034958 A JP3034958 A JP 3034958A JP 3495891 A JP3495891 A JP 3495891A JP H04275643 A JPH04275643 A JP H04275643A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
storage means
program
test
variable
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3034958A
Other languages
English (en)
Inventor
Tatsushige Bito
尾藤 龍茂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP3034958A priority Critical patent/JPH04275643A/ja
Publication of JPH04275643A publication Critical patent/JPH04275643A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はプログラムのテストシス
テムに関し、特にプログラムテストの網羅度を測定する
テストシステムに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のプログラムのテストシス
テムでは、プログラムテストの網羅度を測定するとき、
プログラムテストの手順の網羅度のみを対象としていた
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のプログ
ラムのテストシステムでは、プログラムの手順の網羅度
のみを対象としていたので、入力変数の値の範囲によっ
て、出力条件が異るプログラムでは、テストの網羅度を
測定することができないという欠点を有していた。
【0004】本発明の目的は、テストの網羅度を測定す
ることができるプログラムのテストシステムを提供する
ことにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明のプログラムのテ
ストシステムは、テストに用いられるデータとしての変
数を格納するデータ格納手段とテストの手順を制御する
手続き手段とを備えたプログラムのテストシステムにお
いて、 (A)前記プログラムの同一出力条件に対応する前記変
数の値の範囲を示す同値クラスの情報を記憶するデータ
範囲定義記憶手段、 (B)前記手続き手段によりプログラムのテスト手順の
制御が実行されるごとに、データ格納手段内の各変数の
値が、前記データ範囲定義記憶手段内の同値クラスのい
ずれかに該当するかを判定するデータ範囲判定手段、(
C)前記データ範囲判定手段の判定結果に従って、前記
データ格納手段内の各変数ごとにどの同値クラスが有効
になったかを示す情報を蓄積するデータ網羅度記憶手段
、 を備えて構成されている。
【0006】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0007】図1は本発明のプログラムのテストシステ
ムの一実施例を示すブロック図である。
【0008】本実施例のプログラムのテストシステムは
、図1に示すように、テストに用いられるデータとして
の変数を格納するデータ格納手段1、テストの手順を制
御する手続き手段2、プログラムの同一出力条件に対応
する変数の値の範囲を示す同値クラスを、データ格納手
段に格納された各変数ごとに記憶するデータ範囲定義記
憶手段3、手続き手段2によりプログラムのテスト手順
の制御が実行されるごとに、データ格納手段1内の各変
数の値が、データ範囲定義記憶手段3内の同値クラスの
いずれかに該当するかを判定するデータ範囲判定手段4
、データ範囲判定手段4の判定結果に従って、データ格
納手段1内の各変数ごとにどの同値クラスが有効になっ
たかを示す情報を蓄積するデータ網羅度記憶手段5、デ
ータ網羅度記憶手段5に蓄積された情報を表示するデー
タ網羅度表示手段6から構成されている。
【0009】次に、動作を説明する。
【0010】図1において、プログラムのテストが開始
されると、手続き手段2は、テストに用いられるデータ
としての変数をデータ格納手段1から読み出して、プロ
グラムのテストの手順を制御し、あらかじめ定められた
手順に従って各種のテスト項目を実行していく。
【0011】このとき、データ範囲判定手段4は、手続
き手段2によりプログラムのテスト手順の制御が実行さ
れるごとに、プログラムの同一出力条件に対応する変数
の値の範囲を示す同値クラスの情報を参照して、データ
格納手段1内の各変数の値が、データ範囲定義記憶手段
3内の同値クラスのいずれかに該当するか否かを判定す
る。また、データ範囲判定手段4は、判定結果である、
データ格納手段1内の各変数ごとに、どの同値クラスが
有効になったかを示す情報をデータ網羅度記憶手段5に
蓄積していく。
【0012】そして、データ網羅度記憶手段5に蓄積さ
れた情報は、データ網羅度表示手段6によって読み出さ
れ表示される。
【0013】このように、プログラム内の変数ごとに同
値クラスを定義して記憶し、テストにより同値クラスが
どこまで網羅されたかを調べることにより、プログラム
テストの網羅度を測定することができる。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のプログラ
ムのテストシステムは、プログラム内の変数ごとに同値
クラスを定義し、テストによる同値クラスの網羅度を測
定することにより、プログラムのテストの網羅度を測定
することができるという効果を有している。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のプログラムのテストシステムの一実施
例を示すブロック図である。
【符号の説明】
1    データ格納手段 2    手続き手段 3    データ範囲定義記憶手段 4    データ範囲判定手段 5    データ網羅度記憶手段 6    データ網羅度表示手段

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  テストに用いられる変数を格納するデ
    ータ格納手段とテストの手順を制御する手続き手段とを
    備えたプログラムのテストシステムにおいて、(A)前
    記プログラムの同一出力条件に対応する前記変数の値の
    範囲を示す同値クラスの情報を記憶するデータ範囲定義
    記憶手段、 (B)前記手続き手段によりプログラムのテスト手順の
    制御が実行されるごとに、データ格納手段内の各変数の
    値が、前記データ範囲定義記憶手段内の同値クラスのい
    ずれに該当するかを判定するデータ範囲判定手段、(C
    )前記データ範囲判定手段の判定結果に従って、前記デ
    ータ格納手段内の各変数ごとにどの同値クラスが有効に
    なったかを示す情報を蓄積するデータ網羅度記憶手段、 を備えたことを特徴とするプログラムのテストシステム
JP3034958A 1991-03-01 1991-03-01 プログラムのテストシステム Pending JPH04275643A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3034958A JPH04275643A (ja) 1991-03-01 1991-03-01 プログラムのテストシステム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3034958A JPH04275643A (ja) 1991-03-01 1991-03-01 プログラムのテストシステム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04275643A true JPH04275643A (ja) 1992-10-01

Family

ID=12428662

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3034958A Pending JPH04275643A (ja) 1991-03-01 1991-03-01 プログラムのテストシステム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04275643A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009301129A (ja) * 2008-06-10 2009-12-24 Toyota Motor Corp カバレージ測定装置、カバレージ測定方法、カバレージ測定プログラム
JP2012133721A (ja) * 2010-12-24 2012-07-12 Internatl Business Mach Corp <Ibm> テストの網羅性を評価する装置及び方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009301129A (ja) * 2008-06-10 2009-12-24 Toyota Motor Corp カバレージ測定装置、カバレージ測定方法、カバレージ測定プログラム
JP2012133721A (ja) * 2010-12-24 2012-07-12 Internatl Business Mach Corp <Ibm> テストの網羅性を評価する装置及び方法
US9164878B2 (en) 2010-12-24 2015-10-20 International Business Machines Corporation Evaluating coverage of a software test

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR910016015A (ko) 조작자에 의해서 실행되는 작동에 의해서 일어나는 상태변화를 감시하기 위한 방법 및 시스템
JPH04275643A (ja) プログラムのテストシステム
JP2877075B2 (ja) 計測器制御装置および方法
KR900019185A (ko) 자동화된 매개 변수 검사 장비용 제어 시스템 및 이의 제어 방법
JP3640109B2 (ja) 測定装置の自動レンジ切換え装置
CN111291239A (zh) 机组测试方法、装置、设备和存储介质
JP2595082B2 (ja) プログラマブルコントローラの動作状態監視装置
JP3565414B2 (ja) 波形観測装置
CN109614306A (zh) 硬盘性能检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质
JP2780057B2 (ja) 酸化還元電極良否判定装置
JPS6321344B2 (ja)
JPH0599965A (ja) パルス波形測定システム
JPS6378023A (ja) 電子天びん
JPH03129442A (ja) Cpu性能測定装置
JPS62125442A (ja) プログラム性能測定方式
JPH10171682A (ja) プログラム動作情報の生成方法
JPS59205613A (ja) シ−ケンスモニタ装置
JPH10160786A (ja) 半導体試験装置及び半導体試験方法
JPH0218634A (ja) プログラム実行率測定装置
CN115774654A (zh) 基于移动终端和测试盒的显示模组测试方法、装置及终端
JPH1030922A (ja) 測定データ解析装置
JPH0627172A (ja) 実際の作動特性曲線を求める方法
JPH02226441A (ja) ソフトウェアテスト装置
JPH1048260A (ja) 波形記録計
JPH0312528A (ja) 有限要素法における要素分割評価装置