JPH1030922A - 測定データ解析装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 その評価条件とともに外部記憶装置に記憶さ
れた測定データを解析する解析装置において、その評価
条件の設定が容易で短時間でできる解析装置を提供す
る。 【解決手段】 外部記憶装置２１から入力された測定デ
ータを記憶する測定データ記憶部１１、外部記憶装置２
１から入力された評価条件を記憶する外部評価条件記憶
部１２、評価条件を記憶する内部評価条件記憶部１３、
評価条件を選択する切替えスイッチ１４、切替えスイッ
チ１４で選択された評価条件によって、測定データ記憶
部１１に記憶された測定データを解析する測定データ解
析部１５から構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ワークの表面粗さ
や輪郭形状等を求める測定機の測定データ解析装置に係
わり、特に、その評価条件とともに外部記憶装置に記憶
された測定データを解析する解析装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】ワークの表面粗さを求める測定機として
表面粗さ測定機、ワークの輪郭形状を求める測定機とし
て輪郭形状測定機がある。これらの測定機で測定して得
られた測定データはあらかじめ解析装置内に設定された
評価条件（カットオフ値、傾斜補正方法、フィルターの
種類等）で解析されるが、以前に測定し外部記憶装置に
記憶しておいた測定データについても、比較のために同
じ評価条件で解析することがある。

【０００３】その場合、外部記憶装置から測定データを
解析装置に入力すると、測定データと一緒に記憶されて
いた評価条件も同時に取り込まれるとともに、解析装置
内に設定されていた評価条件が、取り込まれた評価条件
に置換される。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】したがって、評価条件
を解析装置内に設定されていたものに替える場合は、そ
の都度改めてその評価条件を解析装置に入力するか、取
り込まれた評価条件を一つづつ修正する必要がある。し
たがって、評価条件の設定が面倒で時間がかかるという
問題がある。

【０００５】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、その評価条件とともに外部記憶装置に記憶され
ていた測定データを、解析装置内に設定されている評価
条件で解析する場合において、その評価条件の設定が容
易で短時間でできる解析装置を提供することを目的とす
る。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明は前記目的を達成
するために、測定データ解析装置を、外部記憶装置から
入力された評価条件を、内部に記憶された評価条件に切
替えスイッチによって切り替えることができるようにし
た。すなわち、測定データ解析装置を次のように構成す
る。 （イ）外部記憶装置から入力された測定データと評価条
件のうち、測定データを記憶する測定データ記憶部。 （ロ）外部記憶装置から入力された測定データと評価条
件のうち、評価条件を記憶する外部評価条件記憶部。 （ハ）評価条件を記憶する内部評価条件記憶部。 （ニ）評価条件を選択する切替えスイッチ。 （ホ）切替えスイッチで選択された評価条件によって、
測定データ記憶部に記憶された測定データを解析する測
定データ解析部。

【０００７】

【発明の実施の形態】本発明に係る測定データ解析装置
の実施の形態のブロック図を図１に示す。図１に示すよ
うに、測定データ解析装置１０は、外部記憶装置２１か
ら入力された測定データを記憶する測定データ記憶部１
１、外部記憶装置２１から入力された評価条件を記憶す
る外部評価条件記憶部１２、評価条件を記憶する内部評
価条件記憶部１３、評価条件を選択する切替えスイッチ
１４、切替えスイッチ１４で選択された評価条件によっ
て、測定データ記憶部１１に記憶された測定データを解
析する測定データ解析部１５から構成されている。この
場合、外部記憶装置２１としてはフロッピーディスク等
があるが、その中には測定データとともにその評価条件
（カットオフ値、傾斜補正方法、フィルターの種類等）
が記憶されている。

【０００８】解析方法は次のようにする。外部記憶装置
２１に記憶された測定データとその評価条件を測定デー
タ解析装置１０に入力すると、測定データと評価条件は
各々分離されて、測定データは測定データ記憶部１１
に、評価条件は外部評価条件記憶部１２に記憶される。
記憶された評価条件はＣＲＴ等の表示手段で見ることが
できる。

【０００９】次に、作業者は入力された評価条件を見
て、そのままでよければそれを選択するが、内部評価条
件記憶部１３に記憶された評価条件で解析する場合は、
切替えスイッチ１４により設定を切り替える。その後、
解析を指示すると測定データ記憶部１１に記憶された測
定データが、選択された評価条件によって測定データ解
析部１５で解析される。

【００１０】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、そ
の評価条件とともに外部記憶装置に記憶された測定デー
タを解析する解析装置において、外部記憶装置から入力
された評価条件を内部に記憶された評価条件にスイッチ
切り替えで容易に置換できるようにした。これによっ
て、評価条件の設定が容易で短時間でできるようにな
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る測定データ解析装置の実施の形態
のブロック図

【符号の説明】

１０……測定データ解析装置 １１……測定データ記憶部 １２……外部評価条件記憶部 １３……内部評価条件記憶部 １４……切替えスイッチ １５……測定データ解析部 ２１……外部記憶装置

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】その評価条件とともに外部記憶装置に記憶
   された測定データを解析する解析装置であって、 前記外部記憶装置から入力された前記測定データを記憶
   する測定データ記憶部と、 前記外部記憶装置から入力された前記評価条件を記憶す
   る外部評価条件記憶部と、 評価条件を記憶する内部評価条件記憶部と、 評価条件を選択する切替えスイッチと、 前記切替えスイッチで選択された評価条件によって、前
   記測定データ記憶部に記憶された測定データを解析する
   測定データ解析部と、から構成され、 前記外部記憶装置から入力された評価条件を、前記内部
   評価条件記憶部に記憶された評価条件に前記切替えスイ
   ッチによって切り替えることを特徴とする測定データ解
   析装置。