JPH1114409A - 計測システム - Google Patents
計測システムInfo
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- JPH1114409A JPH1114409A JP16564797A JP16564797A JPH1114409A JP H1114409 A JPH1114409 A JP H1114409A JP 16564797 A JP16564797 A JP 16564797A JP 16564797 A JP16564797 A JP 16564797A JP H1114409 A JPH1114409 A JP H1114409A
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Abstract
ことが可能な計測システムを実現する。 【解決手段】 制御手段を使用した計測システムにおい
て、複数の測定対象の出力信号を取り込む多チャンネル
測定装置と、多チャンネル測定装置を制御すると共に多
チャンネルのデータを同時に取り込み並列処理する各実
験毎の測定期間及び測定周期に基づき多チャンネルのデ
ータを間引いて格納する制御手段とを設ける。
Description
制御手段を使用した計測システムに関し、特に複数の測
定対象から並列してデータ収集が可能な計測システムに
関する。
した計測システムは測定対象からの入力データを測定装
置で取り込むと共に上位のコンピュータにより必要な処
理を行っていた。
一例を示す構成ブロック図であり、図11において1は
実験回路等の測定対象、2は測定装置、3はコンピュー
タである。また、2及び3は計測システム50を構成し
ている。
れ、測定装置2の出力はコンピュータ3に接続される。
に説明する。実験回路等の測定対象1からは電圧信号、
電流信号等の様々な信号が複数出力される。測定装置2
は複数のチャンネルを備えており、この複数のチャンネ
ルでこれらの信号を取り込む。
装置であるコンピュータ3において適宜必要な演算処理
等が行われ表示装置に表示されたり、記憶装置に格納さ
れたりする。
計測システムの構成では実験により測定対象が複数にな
った場合には、それぞれの測定対象により測定期間や測
定周期等の条件が異なるので、1つの測定対象に対して
1つの計測システムが必要になると言った問題点があっ
た。
ても各々の実験内容が異なる場合にはやはり測定期間や
測定周期等の条件が異なってしまい、1つの測定対象に
対して1つの計測システムが必要になる。
る場合には複数のコンピュータ間での測定データの移動
が必要となりデータ管理が複雑になってしまう。従って
本発明が解決しようとする課題は、複数の測定対象から
並列にデータ収集を行うことが可能な計測システムを実
現することにある。
るために、本発明の第1では、制御手段を使用した計測
システムにおいて、複数の測定対象の出力信号を取り込
む多チャンネル測定装置と、前記多チャンネル測定装置
を制御すると共に多チャンネルのデータを同時に取り込
み並列処理する各実験毎の測定期間及び測定周期に基づ
き前記多チャンネルのデータを間引いて格納する制御手
段とを備えたことを特徴とするものである。
の第2では、本発明の第1において、データが格納され
る記憶回路と、データ表示をする表示回路と、前記多チ
ャンネル測定装置、前記記憶回路及び前記表示回路を制
御すると共に多チャンネルのデータを同時に取り込み並
列処理する各実験毎の測定期間及び測定周期に基づき前
記多チャンネルのデータを間引いて前記記憶回路に格納
する制御回路とから構成される前記制御手段を用いるこ
とを特徴とするものである。
の第3では、本発明の第1において、前記制御手段によ
り指定される前記多チャンネル測定装置のチャンネルを
グループ化してこのグループに並行処理する各実験を割
り振ることを特徴とするものである。
の第4では、本発明の第1において、チャンネル相対番
号を用いて前記制御手段により指定される前記多チャン
ネル測定装置のチャンネルと測定開始条件及び測定終了
条件とをそれぞれグループ化することを特徴とするもの
である。
説明する。図1は本発明に係る計測システムの一実施例
を示す構成ブロック図である。
実験回路等の測定対象、5は多チャンネル測定装置、6
は制御回路、7は記憶回路、8は表示回路である。ま
た、6,7及び8はコンピュータ等の制御手段51を構
成している。
チャンネル測定装置5の各入力チャンネルに接続され、
多チャンネル測定装置5の出力は制御回路6に接続され
る。また、制御回路6の入出力は記憶回路7に接続さ
れ、制御回路6からの制御信号は表示回路8に接続され
る。
び図3を用いて説明する。図2は実験毎の測定期間等を
示す説明図、図3は制御回路6の動作を説明するフロー
図である。
同一実験回路であり実験内容が異なるものとする。図2
において”イ”,”ロ”,”ハ”,”ニ”,”ホ”,”
ヘ”及び”ト”は前記測定対象に行われる実験A,B,
C,D,E,F及びGを示しており、横軸は時間軸、縦
軸は多チャンネル測定装置5の入力チャンネルである。
に多チャンネル測定装置5のチャンネル1及び2で測定
処理等が行われ、また、「実験B」に関しては図2中”
リ”の期間に多チャンネル測定装置5のチャンネル3〜
5で測定処理等が行われることになる。さらに、「実験
G」に関しては図2中”ヌ”の期間に多チャンネル測定
装置5のチャンネル(n−1)及びnで測定処理等が行
われることになる。
回路6は多チャンネル測定装置5を制御して全チャンネ
ルのデータを取り込む。そして、図3(b)に示すよう
に制御回路6は「実験A」に関して処理をする。
ルーチンを処理する。即ち、図3(c)に示すように制
御回路6は図2中”チ”に示す「実験A」の測定期間に
一致しているかどうかを判断し、もし、一致していなけ
ればサブルーチン処理を終了する。
定期間に一致していれば図3(d)に示すように制御回
路6は指定されているチャンネル1及び2のデータに必
要な演算処理等を加える。
6は現在の時間が「実験A」の測定周期に一致している
かどうかを判断し、もし、「実験A」の測定周期に一致
していなければサブルーチン処理を終了する。
れば図3(f)に示すように制御回路6はデータを「実
験A」のデータとして記憶回路7に格納する。
すように制御回路6は「実験B」から「実験G」までに
関連する処理である図3中”イ”に示すようなサブルー
チン処理を行う。
示すように制御回路6は図2中”リ”に示す「実験B」
の測定期間に一致しているかどうかを判断し、もし、一
致していなければサブルーチン処理を終了する。
定期間に一致していれば図3(d)に示すように制御回
路6は指定されているチャンネル3〜5のデータに必要
な演算処理等を加える。
の時間が「実験B」の測定周期に一致しているかどうか
を判断し、もし、「実験B」の測定周期に一致していな
ければサブルーチン処理を終了する。
れば図3(f)に示すように制御回路6はデータを「実
験B」のデータとして記憶回路7に格納する。
に示すように制御回路6は図2中”ヌ”に示す「実験
G」の測定期間に一致しているかどうかを判断し、も
し、一致していなければサブルーチン処理を終了する。
定期間に一致していれば図3(d)に示すように制御回
路6は指定されているチャンネル(n−1)及びnのデ
ータに必要な演算処理等を加える。
の時間が「実験G」の測定周期に一致しているかどうか
を判断し、もし、「実験G」の測定周期に一致していな
ければサブルーチン処理を終了する。
れば図3(f)に示すように制御回路6はデータを「実
験G」のデータとして記憶回路7に格納する。
6は図3(b)、(g)及び(h)で記憶回路7に格納
されたデータ等を表示回路8に表示し、図3(j)に示
すように制御回路6は測定処理が終了か否かを判断し、
終了でなければ図3(a)に示す処理に戻る。
多チャンネルのデータを同時に取り込み並列処理する各
実験毎の測定期間及び測定周期に基づきデータを間引い
て取り込むことにより、複数の測定対象から並列にデー
タ収集を行うことが可能になる。
a〜4dに対して多チャンネル測定装置5の複数のチャ
ンネル割り当てるため、特に、複数の実験を並列して行
う場合には実験毎にチャンネルを指定しなければなら
ず、また、チャンネル管理が難しくなる。
「実験B」及び「実験D」が多チャンネル測定装置5の
チャンネル3〜5が共に割り当てられた場合でも、図1
等に示す実施例では実験毎に指定されたチャンネルのデ
ータに必要な演算処理等を行っていた。
を解決する他の実施例を示すものであり、図4は指定さ
れたチャンネルをグループ化した関係を示す表である。
1及び2を、「グループ2」はチャンネル3,4及び5
を、「グループ3」はチャンネル1,2及び3を、「グ
ループn」はチャンネル(n−1)及びnをそれぞれ指
定している。
に示す「実験A」は「グループ1」に、図2中”ロ”及
び”ニ”に示す「実験B」及び「実験D」は「グループ
2」、図2中”ハ”に示す「実験C」は「グループ3」
に、図2中”ト”に示す「実験G」は「グループn」に
それぞれ割り振られる。
計測システムの制御回路6の動作を説明するフロー図で
ある。
ャンネル測定装置5を制御して全チャンネルのデータを
取り込む。そして、図5(b)に示すように制御回路6
は図4の「グループ1」に関する処理をする。
て指定しているので制御回路6は指定されているチャン
ネル1及び2のデータに必要な演算処理等を加える。
割り振られているので制御回路6は「実験A」の測定期
間や測定周期に基づき演算処理等されたデータを間引い
て「実験A」のデータとして記憶回路7に格納等する。
6は図4の「グループ2」に関する処理をする。
しているチャンネル1〜3のデータに必要な演算処理等
を加える。
り振られている「実験B」及び「実験D」の測定期間や
測定周期に基づき演算処理等されたデータを間引いて
「実験B」若しくは「実験D」のデータとして記憶回路
7に格納等する。
6は図4の「グループn」に関する処理をし、図5
(e)に示すように記憶回路7に格納されたデータ等を
表示回路8に表示し、図5(f)に示すように制御回路
6は測定処理が終了か否かを判断し、終了でなければ図
5(a)に示す処理に戻る。
しておき、前記グループに実験を割り振ることにより、
実験毎にチャンネルの指定が不要で、トレンド表示、条
件設定やデータファイルの格納等チャンネル管理がし易
くなる。また、グループ毎に測定の開始や終了を行えば
操作性が改善される。
れる各実験毎に測定期間が予め分かっていたが、トリガ
条件等により実験の測定開始や測定終了が制御される場
合がある。この場合、従来では各実験毎に指定チャンネ
ルや測定開始条件及び測定終了条件等の設定条件が管理
されていた。
条件及び測定終了条件の組み合わせの一例を示す表であ
る。
3,4及び5、チャンネル11,12,13,14及び
15、チャンネル21,22,23,24及び25、チ
ャンネル31,32,33,34及び35の4種類があ
り、また、測定開始条件及び測定終了条件として「実験
a」、「実験b」及び「実験c」の3種類がある。
し同じ内容の実験であっても指定されるチャンネルが異
なる場合には、別個に設定条件を管理しなければなら
ず、管理しなければならない設定条件数が多くなってし
まう。
件の一部を変更する場合であっても全ての指定チャンネ
ルに対応しての変更が必要であった。
始条件を”5V以上”から”6V以上”に変更する場合
には図6中”イ”、”ロ”、”ハ”及び”ニ”に示す全
ての設定条件を変更しなければならず作業が煩雑になっ
てしまう。
のような問題点を解決する他の実施例を示すものであ
る。図7は指定されたチャンネルをグループ化した関係
を示す表、図8は実験毎の測定開始条件及び測定終了条
件を示す表、図9は図7及び図8の組み合わせを示す説
明図、図10は制御回路6の動作を説明するフロー図で
ある。
ル1〜5を指定すると共に、それぞれチャンネル1〜5
をチャンネル相対番号”G1”,”G2”,”G
3”,”G4”及び”G5”に対応させる。
3’」及び「グループ4’」はチャンネル11〜15、
チャンネル21〜25及びチャンネル31〜35を指定
すると共にチャンネル11〜15、チャンネル21〜2
5及びチャンネル31〜35をそれぞれチャンネル相対
番号”G1”,”G2”,”G3”,”G4”及び”G
5”に対応させる。
番号を用いて「実験a」は”G2”が”5V以上”で測
定開始、”G4”が”4V以下”で測定終了、「実験
b」は”G2”が”4V以上”で測定開始、”G4”
が”3V以下”で測定終了、「実験c」は”G3”が”
5V以上”で測定開始、”G5”が”4V以下”で測定
終了と各条件が設定される。
番号を用いることにより実験条件が指定されるチャンネ
ルに依存しないので図9に示す組み合わせが可能にな
る。
るためには図9中”イ”に示すような「グループ4’」
の指定チャンネルと「実験a」の条件との組み合わせを
用いれば良いことになる。言い換えれば12種類必要で
あった設定条件が3種類に減少したことになる。
ステムの制御回路6の動作を説明する。図10(a)に
示すように制御回路6は多チャンネル測定装置5を制御
して全チャンネルのデータを取り込む。そして、図10
(b)に示すように制御回路6は「グループ1’」に関
して処理をする。
ブルーチンを処理する。即ち、図10(c)に示すよう
に制御回路6は「グループ1’」で指定されたチャンネ
ル相対番号から実際に指定されているチャンネルを求め
て当該チャンネルに切換えると共に測定開始条件及び測
定終了条件を設定する。
路6は測定開始条件が成立するかどうかを判断する。例
えば、設定条件が「グループ1’」と「実験a」との組
み合わせだとすれば、チャンネル相対番号”G2”であ
るチャンネル2が”5V以上”かどうかを判断する。
条件が成立すれば、制御回路6は図10(e)に示すよ
うに測定開始処理を行い、一方、前記測定開始条件が成
立しなければ図10(f)の処理にスキップする。
路6は測定終了条件が成立するかどうかを判断する。上
述のように設定条件は「グループ1’」と「実験a」と
の組み合わせであるので、チャンネル相対番号”G4”
であるチャンネル4が”4V以下”かどうかを判断す
る。
条件が成立すれば、制御回路6は図10(g)に示すよ
うに測定終了処理を行い、一方、前記測定終了条件が成
立しなければサブルーチン処理を終了する。
に示すように制御回路6は「グループ2’」から「グル
ープ4’」までに関連する処理である図10中”イ”に
示すようなサブルーチン処理を行う。
路6は測定処理が終了か否かを判断し、終了でなければ
図10(a)に示す処理に戻る。
定チャンネルと測定開始条件及び測定終了条件とをそれ
ぞれグループ化することにより、管理しなければならな
い設定条件数が減少し、また、実験の測定開始条件及び
測定終了条件の一部を変更する場合であっても全ての指
定チャンネルに対応しての変更が不要になる。
本発明によれば次のような効果がある。多チャンネル測
定装置により多チャンネルのデータを同時に取り込み並
列処理する各実験毎の測定期間及び測定周期に基づきデ
ータを間引いて取り込むことにより、複数の測定対象か
ら並列にデータ収集を行うことが可能な計測システムが
実現できる。
おき、前記グループに実験を割り振ることにより、実験
毎にチャンネルの指定が不要で、チャンネル管理がし易
くなり、グループ毎に測定の開始や終了を行えば操作性
が改善される。
チャンネルと測定開始条件及び測定終了条件とをそれぞ
れグループ化することにより、管理しなければならない
設定条件数が減少し、また、実験の測定開始条件及び測
定終了条件の一部を変更する場合であっても全ての指定
チャンネルに対応しての変更が不要になる。
成ブロック図である。
示す表である。
定終了条件の組み合わせの一例を示す表である。
示す表である。
表である。
る。
る。
ク図である。
Claims (4)
- 【請求項1】制御手段を使用した計測システムにおい
て、 複数の測定対象の出力信号を取り込む多チャンネル測定
装置と、 前記多チャンネル測定装置を制御すると共に多チャンネ
ルのデータを同時に取り込み並列処理する各実験毎の測
定期間及び測定周期に基づき前記多チャンネルのデータ
を間引いて格納する制御手段とを備えたことを特徴とす
る計測システム。 - 【請求項2】データが格納される記憶回路と、 データ表示をする表示回路と、 前記多チャンネル測定装置、前記記憶回路及び前記表示
回路を制御すると共に多チャンネルのデータを同時に取
り込み並列処理する各実験毎の測定期間及び測定周期に
基づき前記多チャンネルのデータを間引いて前記記憶回
路に格納する制御回路とから構成される前記制御手段を
用いることを特徴とする特許請求の範囲請求項1記載の
計測システム。 - 【請求項3】前記制御手段により指定される前記多チャ
ンネル測定装置のチャンネルをグループ化してこのグル
ープに並行処理する各実験を割り振ることを特徴とする
特許請求の範囲請求項1記載の計測システム。 - 【請求項4】チャンネル相対番号を用いて前記制御手段
により指定される前記多チャンネル測定装置のチャンネ
ルと測定開始条件及び測定終了条件とをそれぞれグルー
プ化することを特徴とする特許請求の範囲請求項1記載
の計測システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16564797A JP3381762B2 (ja) | 1997-06-23 | 1997-06-23 | 計測システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16564797A JP3381762B2 (ja) | 1997-06-23 | 1997-06-23 | 計測システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1114409A true JPH1114409A (ja) | 1999-01-22 |
JP3381762B2 JP3381762B2 (ja) | 2003-03-04 |
Family
ID=15816343
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16564797A Expired - Fee Related JP3381762B2 (ja) | 1997-06-23 | 1997-06-23 | 計測システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3381762B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100454213B1 (ko) * | 2002-05-03 | 2004-10-26 | 한전기공주식회사 | 복수의 입력채널을 가진 회로시험기 |
JP2007327745A (ja) * | 2006-06-06 | 2007-12-20 | Hioki Ee Corp | 測定装置 |
JP2016057665A (ja) * | 2014-09-05 | 2016-04-21 | 日置電機株式会社 | データロガー |
-
1997
- 1997-06-23 JP JP16564797A patent/JP3381762B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100454213B1 (ko) * | 2002-05-03 | 2004-10-26 | 한전기공주식회사 | 복수의 입력채널을 가진 회로시험기 |
JP2007327745A (ja) * | 2006-06-06 | 2007-12-20 | Hioki Ee Corp | 測定装置 |
JP2016057665A (ja) * | 2014-09-05 | 2016-04-21 | 日置電機株式会社 | データロガー |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3381762B2 (ja) | 2003-03-04 |
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