JP3256582B2 - 測定装置における測定モードの設定方法 - Google Patents
測定装置における測定モードの設定方法Info
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- JP3256582B2 JP3256582B2 JP31612292A JP31612292A JP3256582B2 JP 3256582 B2 JP3256582 B2 JP 3256582B2 JP 31612292 A JP31612292 A JP 31612292A JP 31612292 A JP31612292 A JP 31612292A JP 3256582 B2 JP3256582 B2 JP 3256582B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は測定装置における測定
モードの設定方法に係り、さらに詳しく言えば、同一の
操作部にて比較測定モードと偏差測定モードとを設定し
得る測定モードの設定方法に関するものである。
モードの設定方法に係り、さらに詳しく言えば、同一の
操作部にて比較測定モードと偏差測定モードとを設定し
得る測定モードの設定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】測定装置には本来の測定モードに加え
て、入力測定データと所定の上限値および下限値とを比
較して、その結果を例えばＨｉ，ＧＯ，Ｌｏなどにて表
示する比較測定モードや所定の基準値に対する入力測定
データの偏差を測定して、その結果を例えばそのカウン
ト差もしくはパーセントにて表示するようにした偏差測
定モードを備えたものがある。
て、入力測定データと所定の上限値および下限値とを比
較して、その結果を例えばＨｉ，ＧＯ，Ｌｏなどにて表
示する比較測定モードや所定の基準値に対する入力測定
データの偏差を測定して、その結果を例えばそのカウン
ト差もしくはパーセントにて表示するようにした偏差測
定モードを備えたものがある。
【０００３】その場合、比較測定モードにするには、モ
ードセレクトスイッチにて比較測定モードを選択した
後、数値設定手段にて上限値と下限値とをそれぞれ設定
する。
ードセレクトスイッチにて比較測定モードを選択した
後、数値設定手段にて上限値と下限値とをそれぞれ設定
する。
【０００４】また、偏差測定モードにする場合には、モ
ードセレクトスイッチにて偏差測定モードを選択した
後、同じく数値設定手段にてその基準値を設定するとと
もに別途に表示方法などを設定するようにしている。図
３（Ａ）には比較測定モードに設定する際の手順が示さ
れており、また、同図（Ｂ）には偏差測定モードに設定
する際の手順が示されている。
ードセレクトスイッチにて偏差測定モードを選択した
後、同じく数値設定手段にてその基準値を設定するとと
もに別途に表示方法などを設定するようにしている。図
３（Ａ）には比較測定モードに設定する際の手順が示さ
れており、また、同図（Ｂ）には偏差測定モードに設定
する際の手順が示されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】数値設定手段としては
操作上からすればテンキーが好ましいが、例えば比較的
小型の携帯形測定器などにあっては、その取付スペース
およびコスト的な問題、さらには測定器自体と比較して
テンキーの機能が過剰気味であるなどの理由により、こ
の種の携帯形測定器などにおいては、例えば設定桁数に
対応する多連のロータリー式数値設定スイッチが用いら
れている。
操作上からすればテンキーが好ましいが、例えば比較的
小型の携帯形測定器などにあっては、その取付スペース
およびコスト的な問題、さらには測定器自体と比較して
テンキーの機能が過剰気味であるなどの理由により、こ
の種の携帯形測定器などにおいては、例えば設定桁数に
対応する多連のロータリー式数値設定スイッチが用いら
れている。
【０００６】しかしながら、これによると上限値設定
用、下限値設定用および基準値設定用として３つの数値
設定スイッチが必要であるほかに、モードセレクトスイ
ッチとしても比較測定モード用と偏差測定モード用とを
別々に必要とするため、部品点数や組立性などの面にお
いてなお改善すべき点が残されている。
用、下限値設定用および基準値設定用として３つの数値
設定スイッチが必要であるほかに、モードセレクトスイ
ッチとしても比較測定モード用と偏差測定モード用とを
別々に必要とするため、部品点数や組立性などの面にお
いてなお改善すべき点が残されている。
【０００７】なお、テンキーが用いられたとしても、比
較測定モードと偏差測定モードとではその設定手順が異
なるため、その操作に戸惑うことがある。
較測定モードと偏差測定モードとではその設定手順が異
なるため、その操作に戸惑うことがある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この発明は上記従来の事
情に鑑みなされたもので、その構成上の特徴は、閾値設
定手段を備え同閾値設定手段にて設定された上限値およ
び下限値と入力測定データとを比較する比較測定モード
と、所定の基準値に対する上記入力測定データの偏差を
測定する偏差測定モードとを有する測定装置において、
測定モードとして、上記閾値設定手段にて設定された上
限値と下限値とが等しくない場合には上記比較測定モー
ドが設定され、上記上限値と下限値とが等しい場合には
その値を上記基準値とする上記偏差測定モードが設定さ
れるようにしたことにある。
情に鑑みなされたもので、その構成上の特徴は、閾値設
定手段を備え同閾値設定手段にて設定された上限値およ
び下限値と入力測定データとを比較する比較測定モード
と、所定の基準値に対する上記入力測定データの偏差を
測定する偏差測定モードとを有する測定装置において、
測定モードとして、上記閾値設定手段にて設定された上
限値と下限値とが等しくない場合には上記比較測定モー
ドが設定され、上記上限値と下限値とが等しい場合には
その値を上記基準値とする上記偏差測定モードが設定さ
れるようにしたことにある。
【０００９】
【作用】上記構成によると、比較測定モードにする場合
には従来と同様にその上限値と下限値を設定すれば良
い。これに対して、偏差測定モードにするにはその上限
値と下限値を等しく、すなわち同上限値と下限値にそれ
ぞれ基準値を置数すれば良い。これにより、自動的に偏
差測定モードが設定される。
には従来と同様にその上限値と下限値を設定すれば良
い。これに対して、偏差測定モードにするにはその上限
値と下限値を等しく、すなわち同上限値と下限値にそれ
ぞれ基準値を置数すれば良い。これにより、自動的に偏
差測定モードが設定される。
【００１０】
【実施例】以下、この発明の実施例を説明する。図１に
はこの測定装置のブロック線図が概略的に示されてい
る。これによると、同装置は入力測定信号をディジタル
の測定データに変換するＡ／Ｄコンバータ１１と、同Ａ
／Ｄコンバータ１１から出力される測定データを所定の
モードにしたがって演算処理する中央演算処理ユニット
としてのＣＰＵ１２と、その処理結果を表示するディス
プレイ１３と、ＣＰＵ１２に対して各種の処理要求信号
を与える操作部１４とを備えている。
はこの測定装置のブロック線図が概略的に示されてい
る。これによると、同装置は入力測定信号をディジタル
の測定データに変換するＡ／Ｄコンバータ１１と、同Ａ
／Ｄコンバータ１１から出力される測定データを所定の
モードにしたがって演算処理する中央演算処理ユニット
としてのＣＰＵ１２と、その処理結果を表示するディス
プレイ１３と、ＣＰＵ１２に対して各種の処理要求信号
を与える操作部１４とを備えている。
【００１１】詳しくは図示されていないが、操作部１４
には測定ファンクション設定スイッチやレンジ切換スイ
ッチとともに、比較測定モードスイッチおよびその閾値
設定手段としての上限値設定スイッチおよび下限値設定
スイッチが設けられている。なお、この上限値設定スイ
ッチ、下限値設定スイッチは先に説明した多連のロータ
リー式スイッチでも良いし、テンキーであっても良い。
には測定ファンクション設定スイッチやレンジ切換スイ
ッチとともに、比較測定モードスイッチおよびその閾値
設定手段としての上限値設定スイッチおよび下限値設定
スイッチが設けられている。なお、この上限値設定スイ
ッチ、下限値設定スイッチは先に説明した多連のロータ
リー式スイッチでも良いし、テンキーであっても良い。
【００１２】この発明によると、比較測定モードの設定
手順にて偏差測定モードを設定することができ、これに
ついて図２のフローチャートを参照しながら説明する。
手順にて偏差測定モードを設定することができ、これに
ついて図２のフローチャートを参照しながら説明する。
【００１３】まず、比較測定モードスイッチを押して同
モードを選択し、ステップＳＴ１で上限値を設定し、ま
た次のステップＳＴ２で下限値を設定する。ステップＳ
Ｔ３でこの設定が終了したと判断されると、ステップＳ
Ｔ４でその上限値と下限値とが保存される。
モードを選択し、ステップＳＴ１で上限値を設定し、ま
た次のステップＳＴ２で下限値を設定する。ステップＳ
Ｔ３でこの設定が終了したと判断されると、ステップＳ
Ｔ４でその上限値と下限値とが保存される。
【００１４】そして、次のステップＳＴ５でこのまま比
較測定モードを実行するか、もしくは偏差測定モードに
変更かが判断される。すなわち、同ステップＳＴ５では
上限値と下限値とが等しいかが判断され、ＮＯであれば
ステップＳＴ６でコンパレータの実行フラグがセットさ
れる。
較測定モードを実行するか、もしくは偏差測定モードに
変更かが判断される。すなわち、同ステップＳＴ５では
上限値と下限値とが等しいかが判断され、ＮＯであれば
ステップＳＴ６でコンパレータの実行フラグがセットさ
れる。
【００１５】これに対して、上限値と下限値とが等しく
ＹＥＳの場合には、ステップＳＴ７に移行し、偏差測定
の実行フラグがセットされ、その上限値（下限値）を基
準値として偏差測定モードに入る。
ＹＥＳの場合には、ステップＳＴ７に移行し、偏差測定
の実行フラグがセットされ、その上限値（下限値）を基
準値として偏差測定モードに入る。
【００１６】すなわち、偏差測定モードにしたいのであ
れば、ステップＳＴ１とステップＳＴ２で上限値と下限
値を設定する際、基準値となる値をそれぞれ設定するこ
とにより、自動的に偏差測定モードが選択されることに
なる。
れば、ステップＳＴ１とステップＳＴ２で上限値と下限
値を設定する際、基準値となる値をそれぞれ設定するこ
とにより、自動的に偏差測定モードが選択されることに
なる。
【００１７】なお、上記実施例では当初に比較測定モー
ドとし、ステップＳＴ５で偏差測定モードにするかを判
断するようにしているが、これとは反対に当初は偏差測
定モードとして、ステップＳＴ５で比較測定モードにす
るかを判断するようにしても良い。
ドとし、ステップＳＴ５で偏差測定モードにするかを判
断するようにしているが、これとは反対に当初は偏差測
定モードとして、ステップＳＴ５で比較測定モードにす
るかを判断するようにしても良い。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、操作的には同じ手順にて比較測定モードと偏差測定
モードを選択的に設定することができる。また、構造的
には一方の測定モードである例えば偏差測定モードの設
定に必要とされたセレクトスイッチや基準値設定スイッ
チが不要となるなどの効果が奏される。
ば、操作的には同じ手順にて比較測定モードと偏差測定
モードを選択的に設定することができる。また、構造的
には一方の測定モードである例えば偏差測定モードの設
定に必要とされたセレクトスイッチや基準値設定スイッ
チが不要となるなどの効果が奏される。
【図１】この発明を実施する上で必要な測定装置の概略
的なブロック線図。
的なブロック線図。
【図２】この発明の動作を説明するためのフローチャー
ト。
ト。
【図３】従来のモード設定方法に関するフローチャー
ト。
ト。
【符号の説明】 １１ Ａ／Ｄコンバータ １２ ＣＰＵ １３ ディスプレイ １４ 操作部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01D 9/00
Claims (1)
- 【請求項１】 閾値設定手段を備え同閾値設定手段にて
設定された上限値および下限値と入力測定データとを比
較する比較測定モードと、所定の基準値に対する上記入
力測定データの偏差を測定する偏差測定モードとを有す
る測定装置において、 測定モードとして、上記閾値設定手段にて設定された上
限値と下限値とが等しくない場合には上記比較測定モー
ドが設定され、上記上限値と下限値とが等しい場合には
その値を上記基準値とする上記偏差測定モードが設定さ
れるようにしたことを特徴とする測定装置における測定
モードの設定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31612292A JP3256582B2 (ja) | 1992-10-30 | 1992-10-30 | 測定装置における測定モードの設定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31612292A JP3256582B2 (ja) | 1992-10-30 | 1992-10-30 | 測定装置における測定モードの設定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06147932A JPH06147932A (ja) | 1994-05-27 |
| JP3256582B2 true JP3256582B2 (ja) | 2002-02-12 |
Family
ID=18073497
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31612292A Expired - Fee Related JP3256582B2 (ja) | 1992-10-30 | 1992-10-30 | 測定装置における測定モードの設定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3256582B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4879059A (en) * | 1986-09-02 | 1989-11-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Liquid crystal device |
| WO2000013058A1 (fr) | 1998-08-26 | 2000-03-09 | Nissan Chemical Industries, Ltd. | Agent de traitement pour couche d'alignement du cristal liquide et dispositif a cristaux liquide l'utilisant, et procede d'alignement du cristal liquide |
-
1992
- 1992-10-30 JP JP31612292A patent/JP3256582B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06147932A (ja) | 1994-05-27 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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