JP2009505417A - テストハンドラー - Google Patents
テストハンドラー Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009505417A JP2009505417A JP2008526872A JP2008526872A JP2009505417A JP 2009505417 A JP2009505417 A JP 2009505417A JP 2008526872 A JP2008526872 A JP 2008526872A JP 2008526872 A JP2008526872 A JP 2008526872A JP 2009505417 A JP2009505417 A JP 2009505417A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transfer
- customer tray
- tray
- test
- loading plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/68—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/67745—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber characterized by movements or sequence of movements of transfer devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2893—Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
- H01L21/67271—Sorting devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67763—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H01L21/67778—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving loading and unloading of wafers
Abstract
【解決手段】顧客トレーを移送させるための第1乃至第3トランスファーと、前記第1乃至第3トランスファーを水平移動させる第1乃至第3水平移動装置を含んで、前記第1乃至第3水平移動装置を相互独立的に作動するようにすることによって、前記第1乃至第3トランスファーが相互独立的に水平移動を遂行できるようにし、かつ、第1乃至第3トランスファーの役割を各々割り当てることによって窮極的にデバイスのテスト処理速度を向上させることができる技術が開示される。
【選択図】図2
Description
第1トランスファー200'は、ローディングプレート61の下側に位置するスタッカー71で移送待機状態にある被試験デバイスが入れられた顧客トレー81を把持した後ローディングプレート61の周りで待機するようになる<S41>〔図面上には把持部21がローディングプレート61のすぐ左側に位置されるものとして図示されている〕。 この後、ローディングプレート61からテストトレー(図示せず)にローディングが完了した空の顧客トレーが後述のごとく第2トランスファー200''によってローディングプレート61から除去されたら、第1トランスファー200'は把持していた顧客トレー81をローディングプレート61に定着<S42>させた後、続けて前記動作を第1区間内で繰り返すようになる。
第2トランスファー200''は、ローディングプレート61上からテストトレーにローディングが完了して移送待機状態になった空の顧客トレーを把持した後、アンローディングプレート62の周りに待機する<S51>[図面上には把持部21がアンローディングプレート62の左側のすぐそばに位置されるものとして図示されている]。この後、アンローディングプレート62でテストトレーからアンローディングが完了した顧客トレーが後述のごとく、第3トランスファー200'''によってアンローディングプレート62から除去されたら第2トランスファー200''は把持していた空の顧客トレーをアンローディングプレート62に定着<S52>させた後、またローディングプレート61の周りに移動し待機<S53>するようになり、〔図面上には把持部21がローディングプレートの右側すぐそばに位置されるものとして図示されている]。続けて第2区間内で前記した動作を繰り返すようになる。
もちろん、応用によっては別途の収納空間に収納させるように具現する。
第3トランスファー200'''は、アンローディングプレート62の周りに待機している途中〔図面上には把持部21がアンローディングプレート62の右側のすぐそばに待機している〕、アンローディングプレート62でテストトレーからアンローディングが完了して移送待機状態になった顧客トレーが発生すると、アンローディングが完了した顧客トレーを把持<S61>した後、アンローディングプレート62の下側に位置するスタッカー72に積載<S62>させた後、続けて前記の動作を第3区間内で繰り返す。
21 把持部
22 垂直移動装置
22a 垂直ガイドレール
22b モーター
22c 移送軸
22d フリー
22e モーターフリー
22f ベルト
22g 支持板
300'、300''、300''' 第1乃至第3水平移動装置
31a、31b 水平ガイドレール
32' 第1モーター
32'' 第2モーター
32''' 第3モーター
33'a 第1フリー
33'b 第1'フリー
33''a 第2フリー
33''b 第2'フリー
33'''a 第3フリー
33'''b 第3'フリー
34' 第1ベルト
34'' 第2ベルト
34''' 第3ベルト
Claims (9)
- 顧客トレーを選択的に把持及び把持解除する把持部と、前記把持部を垂直移動させる垂直移動装置を各々具備して水平方向に順次的に配列された第1乃至第3トランスファーと、
前記第1トランスファーを第一区間内で水平移動させる第1乃至第3水平移動装置を包含し、
前記第1乃至第3水平移動装置は相互独立的に作動することを特徴とするテストハンドラー。 - 前記第1トランスファーは、第1区間内で水平移動し、前記第3トランスファーは前記第1区間と区分された第3区間内で水平移動することを特徴とする請求項1記載のテストハンドラー。
- 被試験デバイスが入れられた顧客トレーを把持し前記顧客トレーをローディングプレートに定着させる第1トランスファーと、
前記ローディングプレートからテストトレーにローディングを完了した空の顧客トレーを把持してアンローディングプレートに定着させる第2トランスファーと、
前記アンローディングプレートでテストトレーからアンローディングを完了した顧客トレーを把持してスタッカーに定着させる第3トランスファーを包含し、
記第1乃至第3トランスファーは各々独立的に水平移動することを特徴とするテストハンドラー。 - 前記第1トランスファーが被試験デバイスが入れられた顧客トレーを把持した状態で前記ローディングプレートの周りに待機した状態で、前記第2トランスファーが前記ローディングプレートからテストトレーにローディングを完了した空の顧客トレーを把持した後は、前記第1トランスファーは前記被試験デバイスが入れられた顧客トレーを前記ローディングプレートに定着させることを特徴とする請求項3記載のテストハンドラー。
- 前記第2トランスファーが前記ローディングプレートからテストトレーにローディングを完了した空の顧客トレーを把持した後前記アンローディングプレートの周りに待機した状態で前記第3トランスファーが前記アンローディングプレートからテストトレーからアンローディングを完了した顧客トレーを把持した後は、前記第2トランスファーは前記空の顧客トレーを前記アンローディングプレートに定着させることを特徴とする請求項3または4記載のテストハンドラー。
- 被試験デバイスが入れられた顧客トレーをスタッカーから把持した後、ローディングプレートの周りに待機していて、前記ローディングプレートからテストトレーにローディングが完了した空の顧客トレーが前記ローディングプレートから除去されたら、前記被試験デバイスが入れられた顧客トレーを前記ローディングプレートに定着させてさらに前記スタッカーに移動し被試験デバイスが入れられた他の顧客トレーを把持した後、前記ローディングプレートの周りにまた待機する第1トランスファーと、
前記ローディングプレートからテストトレーにローディングが完了した空の顧客トレーを把持した状態で前記アンローディングプレートの周りに待機していて、前記アンローディングプレートでテストトレーからアンローディングが完了した顧客トレーが前記アンローディングプレートから除去されたら前記空の顧客トレーを前記アンローディングプレートに定着させた後、前記ローディングプレートからテストトレーにローディングが完了する他の顧客トレー把持するために再度前記ローディングプレートの周りに待機する第2トランスファーと、
前記アンローディングプレートの周りに待機していて、前記アンローディングプレートでテストトレーからアンローディングが完了した顧客トレーが発生すると前記アンローディングが完了した顧客トレーを把持し、前記スタッカーに定着させた後、前記アンローディングプレートでテストトレーからアンローディングが完了する他の顧客トレーを把持するために、さらに前記アンローディングプレートの周りに待機する第3トランスファーを包含し、
前記第1乃至し第3トランスファーは各々独立的に水平移動することを特徴とするテストハンドラー。 - 顧客トレーを選択的に把持及び把持を解除する把持部と、前記把持部を垂直移動させる垂直移動装置を各々備えることによって、移送待機状態にある顧客トレーを移送位置に移送させることができる少なくとも二つ以上のトランスファーと、
前記少なくとも二つ以上のトランスファーに対応されるように設けられ、前記少なくとも二つ以上のトランスファーを水平移動させる少なくとも二つ以上の水平移動装置と、
前記少なくとも二つ以上のトランスファーに各々備わる垂直移動装置の作動を各々独立的に制御し、前記少なくとも二つ以上の水平移動装置が相互独立的に作動するようにすることによって、前記少なくとも二つ以上のトランスファーが相互独立的に水平移動できるように制御するコントローラーを包含することを特徴とするテストハンドラー。 - 前記少なくとも二つ以上のトランスファーは、
顧客トレーをスタッカーからローディングプレートに移送させるための第1トランスファーと、
前記ローディングプレートでローディングが完了した空の顧客トレーをアンローディングプレートに移送させるための第2トランスファーと、
前記アンローディングプレートでアンローディングが完了した顧客トレーをスタッカーに移送させるための第3トランスファーを包含することを特徴とする請求項7記載のテストハンドラー。 - 被試験デバイスが入れられた顧客トレーをステッカーから把持した後ローディングプレートの周囲に待機していて、前記ローディングプレートからテストトレーにローディングが完了した空の顧客トレーが前記ローディングプレートから除去されたら前記被試験デバイスが入れられた顧客トレーを前記ローディングプレートで定着させ、また前記ステッカーに移動し被試験デバイスが入れられた他の顧客トレーを把持した後前記ローディングプレートの周囲にまた待機する第1トランスファーを包含することを特徴とするテストハンドラー。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050075534A KR100706330B1 (ko) | 2005-08-18 | 2005-08-18 | 테스트 핸들러 |
KR10-2005-0075534 | 2005-08-18 | ||
PCT/KR2006/003178 WO2007021112A1 (en) | 2005-08-18 | 2006-08-14 | Test handler |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009505417A true JP2009505417A (ja) | 2009-02-05 |
JP5064392B2 JP5064392B2 (ja) | 2012-10-31 |
Family
ID=37757746
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008526872A Active JP5064392B2 (ja) | 2005-08-18 | 2006-08-14 | テストハンドラー |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7948255B2 (ja) |
JP (1) | JP5064392B2 (ja) |
KR (1) | KR100706330B1 (ja) |
MY (1) | MY144919A (ja) |
TW (1) | TWI314996B (ja) |
WO (1) | WO2007021112A1 (ja) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100861006B1 (ko) | 2007-02-28 | 2008-09-30 | (주)테크윙 | 테스트핸들러용 테스트트레이 이송장치 |
KR101327454B1 (ko) * | 2007-09-18 | 2013-11-11 | 세메스 주식회사 | 테스트 핸들러용 트레이 이송장치 및 이를 이용한 트레이이송방법 |
KR100946335B1 (ko) * | 2008-01-25 | 2010-03-09 | 세크론 주식회사 | 커스터머 트레이 이송 유닛, 커스터머 트레이 이송 방법 및커스터머 트레이 이송 유닛을 포함하는 테스트 핸들러 |
KR101040308B1 (ko) * | 2008-10-24 | 2011-06-10 | 세크론 주식회사 | 트레이 이송 장치 |
CA2870452C (en) | 2011-04-15 | 2020-03-10 | Dominion Energy Technologies, Inc. | System and method for single and multi zonal optimization of utility services delivery and utilization |
WO2013009420A1 (en) | 2011-06-09 | 2013-01-17 | Power Tagging Technologies, Inc. | System and method for grid based cyber security |
US9380545B2 (en) | 2011-08-03 | 2016-06-28 | Astrolink International Llc | System and methods for synchronizing edge devices on channels without carrier sense |
KR101137995B1 (ko) | 2011-10-12 | 2012-04-23 | 주식회사 에스제이이노테크 | 웨이퍼 위치 교체 장치 |
US10097240B2 (en) | 2013-02-19 | 2018-10-09 | Astrolink International, Llc | System and method for inferring schematic and topological properties of an electrical distribution grid |
KR101880227B1 (ko) | 2013-02-25 | 2018-08-17 | (주)테크윙 | 테스트핸들러용 트랜스퍼 모듈 |
TWI616963B (zh) * | 2013-02-25 | 2018-03-01 | 泰克元有限公司 | 用於測試處理機的振動裝置 |
KR101452095B1 (ko) * | 2013-03-27 | 2014-10-17 | 세메스 주식회사 | 트레이 이송 장치 |
US9438312B2 (en) | 2013-06-06 | 2016-09-06 | Astrolink International Llc | System and method for inferring schematic relationships between load points and service transformers |
WO2014201410A1 (en) | 2013-06-13 | 2014-12-18 | Astrolink International Llc C/O Lockheed Martin Corporation | Inferring feeder and phase powering a transmitter |
WO2014201348A1 (en) | 2013-06-13 | 2014-12-18 | Astrolink International Llc C/O Lockheed Martin Corporation | Non-technical losses in a power distribution grid |
KR102053081B1 (ko) * | 2013-10-08 | 2019-12-06 | (주)테크윙 | 테스트핸들러 |
CA2964365A1 (en) | 2014-10-30 | 2016-05-06 | Jerritt Harold HANSELL | System and methods for assigning slots and resolving slot conflicts in an electrical distribution grid |
CN107003346B (zh) | 2014-10-30 | 2019-10-25 | 艾斯通林克国际有限责任公司 | 网格位置的系统、方法和装置 |
KR102483359B1 (ko) * | 2015-12-09 | 2023-01-02 | (주)테크윙 | 반도체소자 테스트용 핸들러 및 그의 정보처리 방법 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06300816A (ja) * | 1993-04-19 | 1994-10-28 | Advantest Corp | Ic試験装置用ローダ・アンローダ |
JPH0989982A (ja) * | 1995-09-28 | 1997-04-04 | Toshiba Corp | Icハンドラ |
JP2003262658A (ja) * | 2002-03-07 | 2003-09-19 | Yamaha Motor Co Ltd | 電子部品検査装置 |
JP2003270294A (ja) * | 2002-03-11 | 2003-09-25 | Yamaha Motor Co Ltd | 電子部品検査装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5307011A (en) | 1991-12-04 | 1994-04-26 | Advantest Corporation | Loader and unloader for test handler |
JPH11297791A (ja) | 1998-04-14 | 1999-10-29 | Advantest Corp | トレイ移送アーム及びこれを用いたトレイの移載装置、ic試験装置並びにトレイの取り廻し方法 |
KR100272257B1 (ko) | 1998-07-31 | 2000-12-01 | 윤종용 | 반도체 패키지 분류 수납 설비 |
KR100376772B1 (ko) * | 2000-10-10 | 2003-03-19 | 미래산업 주식회사 | 수평식 디바이스 테스트 핸들러 및 그의 작동방법 |
KR100491304B1 (ko) * | 2003-09-18 | 2005-05-24 | 미래산업 주식회사 | 번인 테스터용 소팅 핸들러 |
TWI275814B (en) | 2005-07-22 | 2007-03-11 | King Yuan Electronics Co Ltd | Electronic component testing apparatus |
-
2005
- 2005-08-18 KR KR1020050075534A patent/KR100706330B1/ko active IP Right Grant
-
2006
- 2006-08-14 WO PCT/KR2006/003178 patent/WO2007021112A1/en active Application Filing
- 2006-08-14 US US11/997,974 patent/US7948255B2/en active Active
- 2006-08-14 JP JP2008526872A patent/JP5064392B2/ja active Active
- 2006-08-16 MY MYPI20063954A patent/MY144919A/en unknown
- 2006-08-16 TW TW095130164A patent/TWI314996B/zh active
-
2011
- 2011-02-23 US US13/033,262 patent/US8058890B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06300816A (ja) * | 1993-04-19 | 1994-10-28 | Advantest Corp | Ic試験装置用ローダ・アンローダ |
JPH0989982A (ja) * | 1995-09-28 | 1997-04-04 | Toshiba Corp | Icハンドラ |
JP2003262658A (ja) * | 2002-03-07 | 2003-09-19 | Yamaha Motor Co Ltd | 電子部品検査装置 |
JP2003270294A (ja) * | 2002-03-11 | 2003-09-25 | Yamaha Motor Co Ltd | 電子部品検査装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20070021357A (ko) | 2007-02-23 |
US7948255B2 (en) | 2011-05-24 |
TWI314996B (en) | 2009-09-21 |
US20110138934A1 (en) | 2011-06-16 |
US20080193271A1 (en) | 2008-08-14 |
MY144919A (en) | 2011-11-30 |
JP5064392B2 (ja) | 2012-10-31 |
WO2007021112A1 (en) | 2007-02-22 |
KR100706330B1 (ko) | 2007-04-13 |
US8058890B2 (en) | 2011-11-15 |
TW200722770A (en) | 2007-06-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5064392B2 (ja) | テストハンドラー | |
JP5295361B2 (ja) | 記憶装置試験システムへの記憶装置のバルク供給 | |
JP4636379B2 (ja) | 懸垂式昇降搬送台車における物品の授受方法並びに装置 | |
JP2007096140A (ja) | 懸垂式昇降搬送台車における物品の授受方法並びに装置 | |
CN104507646A (zh) | 搬运系统及搬运系统的搬运方法 | |
KR20140089604A (ko) | 기판 유지 장치 | |
JP2011051048A (ja) | 搬送システム,ロボット装置及び搬送方法 | |
JP2008026301A (ja) | テストハンドラー | |
JP5393321B2 (ja) | 自動分析装置 | |
KR20190009371A (ko) | 반송 시스템 | |
TWM569331U (zh) | 物品取放裝置 | |
JPH10339761A (ja) | ハンドラシステムのマガジン上に積載されたトレイを移送させるためのトランスファ装置 | |
JP6661367B2 (ja) | 生産装置モジュール、生産装置ライン、および物品の製造方法 | |
TWI548026B (zh) | Electronic components handling unit and its application equipment | |
JP2005118930A (ja) | 加工セル | |
JPH11330189A (ja) | 搬送装置 | |
JP2008265907A (ja) | 作業装置 | |
KR100715469B1 (ko) | 테스트핸들러의 트랜스퍼 헤드 | |
JP7193971B2 (ja) | 基板保持装置 | |
KR100934031B1 (ko) | 사이드도킹식 테스트핸들러의 작동방법 및 사이드도킹식 테스트핸들러용 자세변환장치 | |
KR102264858B1 (ko) | 대상물 이송 시스템 및 방법 | |
CN220787318U (zh) | 散热器上下料设备 | |
CN110312415B (zh) | 基板输送装置及电子部件安装装置 | |
KR20170092034A (ko) | 운송 설비 | |
KR20210008463A (ko) | 라벨링 장비 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090722 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110810 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110928 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111227 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120328 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120626 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120718 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120808 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5064392 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150817 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |