JP2009164297A - 計算機ホログラム、生成方法及び露光装置 - Google Patents

計算機ホログラム、生成方法及び露光装置 Download PDF

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Abstract

【課題】所望の形状及び偏光状態の光強度分布を形成することができる計算機ホログラムを提供する。
【解決手段】計算機ホログラム100は、入射光の偏光状態を変化させる複数の異方性セルと、入射光の偏光状態を変化させない等方性セルと、を有し、前記入射光の第1の方向の直線偏光成分が前記所定面PSに第1の光強度分布LI1を形成し、前記入射光の前記第1の方向に直交する第2の方向の直線偏光成分が前記所定面に前記第1の光強度分布とは異なる第2の光強度分布LI2を形成し、前記第1の光強度分布と前記第2の光強度分布とが重なり合う領域MAにおいて、前記第1の方向の直線偏光成分の位相と前記第2の方向の直線偏光成分の位相とが等しくなるように、又は、πずれるように、前記複数の異方性セル及び前記複数の等方性セルの寸法及び配列が設定されていることを特徴とする。
【選択図】図1

Description

本発明は、計算機ホログラム、生成方法及び露光装置に関する。
フォトリソグラフィー(焼き付け)技術を用いて半導体メモリや論理回路などの微細な半導体デバイスを製造する際に、投影露光装置が従来から使用されている。投影露光装置は、レチクル(マスク)に描画された回路パターンを投影光学系によってウエハ等の基板に投影して回路パターンを転写する。
投影露光装置の解像度Rは、露光光の波長λ、投影光学系の開口数(NA)及び現像プロセスなどによって定まるプロセス定数kを用いて、以下の数式1で与えられる。
従って、露光光の波長を短くすればするほど、或いは、投影光学系のNAを上げれば上げるほど、解像度はよくなる。但し、露光光の波長が短くなると硝材の透過率が低下するため、現在の露光光を更に短波長化することは困難である。また、投影光学系のNAに反比例して焦点深度が小さくなること、及び、高NAの投影光学系を構成するためのレンズの設計及び製造は困難であることから、投影光学系の高NA化を進めることも難しい。
そこで、プロセス定数kを小さくすることにより解像度の向上を図る超解像技術(RET:Resolution Enhanced Technology)が提案されている。かかるRETの1つとして、変形照明法(又は斜入射照明法)と呼ばれるものがある。
変形照明法は、一般的に、光学系の光軸上に遮光板を有する開口絞りを、均一な面光源を形成するオプティカルインテグレータの射出面近傍に配置することによって、レチクルに対して露光光を斜めに入射させる。変形照明法は、開口絞りの開口形状(即ち、光強度分布の形状)に応じて、輪帯照明法や四重極照明法などを含む。また、変形照明法においては、露光光の利用効率(照明効率)を向上させるため、開口絞りの代わりに計算機ホログラム(CGH:Computer Generated Hologram)を用いた技術も提案されている。
一方、投影光学系の高NA化に伴って、露光光の偏光状態を制御した偏光照明法も、投影露光装置の高解像度化には必要な技術となってきている。偏光照明法は、基本的に、S偏光とP偏光のうち、光軸に対して同心円方向成分を有するS偏光のみを用いてレチクルを照明する照明法である。
そこで、近年では、変形照明法(所望の形状(例えば、四重極形状)を有する光強度分布の形成)と偏光照明法(偏光状態の制御)とを同時に実現する技術が提案されている(特許文献1乃至3参照)。
例えば、特許文献1は、変形照明法及び偏光照明法を1つの素子で実現する技術を開示している。特許文献1では、光強度分布の形状(再生像)をCGHで制御すると共に、構造複屈折を用いて偏光状態を制御している。具体的には、同一の偏光方向の光に対応した複数のCGH(以下、「サブCGH」と称する)を並列に配置して1つのCGHを構成し、偏光方向に応じた構造複屈折をサブCGH毎に適用している。
特許文献2は、サブCGHに適用する偏光を制御する手段として偏光制御器を用いることで、所望の偏光を選択的に使用している。
特許文献3は、変形照明法及び偏光照明法で代表的に形成される四重極形状の光強度分布において、4つの極のバランスを制御することが可能な技術を開示している。具体的には、特許文献3は、CGHを4分割してサブCGHを構成し、入射光の強度分布を変化させることで、CGHによる再生像の極のバランスを変化させることを可能としている。
また、CGHの設計に関する技術についても従来から提案されている(非特許文献1参照)。
特開2006−196715号公報 特開2006−49902号公報 特開2006−5319号公報 "Synthesis of digital holograms by direct binary search" APPLIED OPTICS / Vol.26,No.14 / 15 July 1987 2788−2798
しかしながら、従来技術では、CGHによる再生像(ターゲット像)の偏光方向の数だけサブCGHの種類が必要であり、偏光方向が連続的に変化するターゲット像を形成することは非常に困難である。
また、1つのCGHを複数に分割してサブCGHを構成すると、入射光の強度分布がオプティカルインテグレータで補正しきれていない場合(例えば、CGHの一部にしか光が入射しない場合)、再生像に照度ムラが生じてしまう。
また、複数のサブCGHを組み合わせた場合、サブCGHの境界で生じる構造の不連続性から不要な回折光が発生してしまうため、CGHによる再生像を劣化させてしまう。そこで、サブCGHの境界で生じる構造の不連続性を設計で解消することも考えられるが、設計コストが非常に増大するという別の問題が生じてしまう。
また、偏光制御器で偏光を選択的に使用した場合、露光光の利用効率が著しく低下してしまう(即ち、光量損失が大きくなってしまう)。
本発明は、このような従来技術の課題に鑑みて、照度ムラ及び光量損失を抑えると共に、所望の形状及び偏光状態の光強度分布(例えば、偏光方向が連続的に変化する再生像)を形成することができる計算機ホログラムを提供することを例示的目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の一側面としての計算機ホログラムは、入射光の波面に位相分布を与えて所定面に光強度分布を形成する計算機ホログラムであって、入射光の偏光状態を変化させる異方性媒質を含む複数の異方性セルと、入射光の偏光状態を変化させない等方性媒質を含む複数の等方性セルと、を有し、前記入射光の第1の方向の直線偏光成分が前記所定面に第1の光強度分布を形成し、前記入射光の前記第1の方向に直交する第2の方向の直線偏光成分が前記所定面に前記第1の光強度分布とは異なる第2の光強度分布を形成し、前記第1の光強度分布と前記第2の光強度分布とが重なり合う領域において、前記第1の方向の直線偏光成分の位相と前記第2の方向の直線偏光成分の位相とが等しくなるように、又は、πずれるように、前記複数の異方性セル及び前記複数の等方性セルの寸法及び配列が設定されていることを特徴とする。
本発明の更なる目的又はその他の側面は、以下、添付図面を参照して説明される好ましい実施形態によって明らかにされるであろう。
本発明によれば、例えば、照度ムラ及び光量損失を抑えると共に、所望の形状及び偏光状態の光強度分布(例えば、偏光方向が連続的に変化する再生像)を形成する計算機ホログラムを提供することができる。
以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施形態について説明する。なお、各図において、同一の部材については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。
図1は、本発明の一側面としての計算機ホログラム100を説明するための図である。計算機ホログラム100は、図1に示すように、入射光の波面に位相分布を与えて所定面PS(例えば、アパーチャの位置)に光強度分布(再生像)ILを形成する。また、計算機ホログラム100は、第1の方向の直線偏光(第1の方向を偏向方向とする直線偏光)としてのX偏光の波面及び第2の方向の直線偏光(第2の方向を偏向方向とする直線偏光)としてのY偏光の波面に互いに異なる位相分布を与える。これにより、X偏光(入射光の第1の方向の直線偏光成分)が第1の光強度分布LIを形成し、Y偏光(入射光の第2の方向の直線偏光成分)が第1の光強度分布LIとは異なる第2の光強度分布LIを形成する。なお、X偏光とY偏光とは、互いに直交する偏光である。
計算機ホログラム100は、所定面PS上の第1の光強度分布LIと第2の光強度分布LIとが重なり合う領域MAにおいて、X偏光の偏光成分の位相とY偏光の偏光成分の位相とを、互いに等しくするように、又は、互いにπずれるように設定されている。これにより、計算機ホログラム100は、入射光がX偏光及びY偏光を含む直線偏光の場合には、所定面PS上の領域MAに、X偏光及びY偏光の偏光方向とは異なる偏光方向の直線偏光による光強度分布LI及びLIを形成することができる。なお、上述した第1の光強度分布LIと第2の光強度分布LIとが重なり合う領域MAとは、計算機ホログラム100の設計ターゲットとして、X偏光及びY偏光の偏光方向とは異なる偏光方向で形成する光強度分布(再生像)の領域である。換言すれば、第1の光強度分布LIと第2の光強度分布LIとが重なり合う領域MAとは、計算機ホログラム100の製造誤差や設計で補正しきれずに発生する微小な光強度分布によって形成される領域ではない。
以下、X偏光の波面及びY偏光の波面に互いに異なる位相分布を与える計算機ホログラム100について具体的に説明する。図2は、計算機ホログラム100を構成するセル構造を示す概略斜視図である。計算機ホログラム100は、図2に示すように、矩形形状の複数のセル110を有する。なお、複数のセル110は、後述するように、第1の光強度分布ILと第2の光強度分布ILとが重なり合う領域MAにおいて、X偏光の位相とY偏光の位相とが等しくなるように、又は、πずれるように、寸法及び配列が設定されている。
X偏光の波面及びY偏光の波面に互いに異なる位相分布を与えるためには、計算機ホログラム100は、各偏光方向に対して波面を独立に制御する必要がある。例えば、計算機ホログラム100として2段の計算機ホログラムを考えると、2つの偏光方向の各々に対して2値の位相を波面に与える必要がある。従って、計算機ホログラム100のセル110においては、4種類のセル構造が必要となる。図2に示すセル110a乃至110dの各々は、かかる4種類のセル構造のうちの1種類のセル構造を有する。計算機ホログラム100は、4種類のセル110を正方格子状に配列して構成されている。
複数のセル110の各々は、図2に示すように、入射光の偏光状態を変化させる異方性媒質112と、入射光の偏光状態を変化させない等方性媒質114とで構成される。具体的には、セル110aは異方性媒質112のみで構成され、セル110bは異方性媒質112及び等方性媒質114で構成され、セル110c及び110dは等方性媒質114のみで構成される。但し、等方性媒質114の説明における入射光の偏光状態を変化させないとは、異方性媒質112と比較して、入射光の偏光状態を変化させないという意味である。従って、本実施形態では、X偏光に対する屈折率とY偏光に対する屈折率との差が0以上0.001以下であれば等方性媒質とみなす。
セル110a乃至110dのZ方向の段差は、等方性媒質114の屈折率をn、異方性媒質112のX偏光に対する屈折率をn及び異方性媒質112のY偏光に対する屈折率nを用いて表すことができる。本実施形態では、n=n>nとなる場合の例を示している。
2段の計算機ホログラム100を構成する場合、位相をπずらす必要があり、これを実現するためには、セル110aにおける異方性媒質112の厚さ、及び、セル110cにおける等方性媒質114の厚さHは、以下の数式2を満足すればよい。
セル110bにおける等方性媒質114の厚さ、即ち、セル110cの厚さとセル110b又は110dの厚さとの差(セル110cにおける等方性媒質114の厚さとセル110dにおける等方性媒質114の厚さの差)Hは、以下の数式3を満足すればよい。
セル110cを基準として、セル110aに入射したX偏光の位相は基準と変わらない。また、セル110cを基準として、セル110aに入射したY偏光の位相はπずれる。
セル110cを基準として、セル110bに入射したX偏光の位相はπずれる。また、セル110cを基準として、セル110bに入射したY偏光の位相は基準と変わらない。
セル110cを基準として、セル110dに入射したX偏光の位相はπずれる。また、セル110cを基準として、セル110dに入射したY偏光の位相はπずれる。
このように、計算機ホログラム100は、図2に示す4種類のセル構造(セル110a乃至110d)によって、2つの偏光方向の各々の波面に対して2値の位相を与えることができる。換言すれば、図2に示す4種類のセル構造は、X偏光及びY偏光の波面に与えられる位相の組み合わせとして、(0、π)、(π、0)、(0、0)、(π、π)の4種類を位相の組み合わせを示している。
具体的な数値例として、n=n=1.6、n=1.4である場合を考える。この場合、厚さH及びHのそれぞれは、入射光の波長をλとして、2.5λ、0.833λとなり、波長の数倍の厚さに収まっている。かかる厚さは、計算機ホログラムの厚さとして現実的である。
図3は、X軸に対する偏光方向の角度PAが−45度である直線偏光を示す図である。図3に示す直線偏光を計算機ホログラム100に入射させた場合、上述した第1の光強度分布LIと第2の光強度分布LIとが重なり合う領域MAは、2つの位相領域を含む。かかる2つの位相領域は、X偏光(入射光の第1の方向の直線偏光成分)の位相とY偏光(入射光の第2の方向の直線偏光成分)の位相とが等しい等位相領域MAと、X偏光の位相とY偏光の位相とがπずれている反転位相領域MAである。図1に示すように、等位相領域MAに光強度分布LIを形成する直線偏光の偏光方向と、反転位相領域MAに光強度分布LIを形成する直線偏光の偏光方向とは互いに異なる。
具体的には、等位相領域MAにおけるX偏光の位相とY偏光の位相とが等しくなるように構成することで、等位相領域MAに光強度分布LIを形成する直線偏光の偏光方向と入射光の偏光方向とを等しくしている。換言すれば、図4に示すように、等位相領域MAに光強度分布LIを形成する直線偏光の偏光方向と入射光の偏光方向とが形成する角(鋭角)の間AGにX軸(第1の方向)及びY軸(第2の方向)が含まれないようにしている。これは、例えば、X軸に対する偏光方向の角度が−45度である直線偏光(図3参照)を入射光とした場合、等位相領域MAに光強度分布LIを形成する直線偏光のX軸に対する偏光方向が−90度より大きく0度より小さい範囲であることを意味する。ここで、図4は、等位相領域MAに光強度分布LIを形成する直線偏光の偏光方向と入射光の偏光方向との関係を示す図である。
また、反転位相領域MAにおけるX偏光の位相とY偏光の位相とが互いにπずれるように構成することで、反転位相領域MAに光強度分布LIを形成する直線偏光の偏光方向と入射光の偏光方向とを垂直の関係にしている。換言すれば、図5に示すように、反転位相領域MAに光強度分布LIを形成する直線偏光の偏光方向と入射光の偏光方向とが形成する角(鋭角)の間AGにX軸(第1の方向)及びY軸(第2の方向)が含まれるようにしている。これは、例えば、X軸に対する偏光方向の角度が−45度である直線偏光(図3参照)を入射光とした場合、反転位相領域MAに光強度分布LIを形成する直線偏光のX軸に対する偏光方向が0度より大きく90度より小さい範囲であることを意味する。ここで、図5は、反転位相領域に光強度分布LIを形成する直線偏光の偏光方向と入射光の偏光方向との関係を示す図である。
第1の光強度分布LIと第2の光強度分布LIとが重なり合う領域MAにおける直線偏光の偏光方向の角度はX偏光の振幅とY偏光の振幅との比で決定されるため、X偏光の振幅とY偏光の振幅とが等しい光を計算機ホログラム100に入射させればよい。具体的には、直線偏光、例えば、図3に示すようなX軸に対する偏光方向の角度PAが−45度である直線偏光を入射光とすればよい。
本実施形態では、計算機ホログラム100が、輪帯照明のように、X偏光とY偏光との割合が等しい光強度分布を形成する場合を想定し、X偏光の振幅とY偏光の振幅とが等しい直線偏光を入射光とした。但し、X偏光とY偏光との割合が異なる光強度分布を形成する場合には、高い高効率を得るために、X偏光の振幅とY偏光の振幅とが異なる偏光を入射光とし、それに対応した計算機ホログラムを設計することも可能である。また、円偏光を入射光とすることも可能であるが、この場合には、計算機ホログラム100の各セルの厚さを変更する必要がある。
異方性媒質112は、例えば、異方性層で構成される。図2に示す4つのセル110a乃至110dにおける光学軸が同じ方向である場合、少なくとも1つのセル(本実施形態では、セル110b)は、異方性層で構成された異方性媒質112と、等方性層で構成された等方性媒質114とを含む。ここで、光学軸とは、異方性媒質112において屈折率が一定になり、偏光していない光を入射させても複屈折を発生せず、通常光線と異常光線が一致する、或いは、ずれが最小となる方向の軸のことである。
また、異方性媒質112は、例えば、異方性セルで構成されてもよい。図6は、異方性セルを含む計算機ホログラム100を構成するセル構造を示す概略斜視図である。計算機ホログラム100を構成する4種類のセルにおいて、光学軸の方向を同じ方向に揃えない場合、即ち、セル毎に光学軸の方向を自由に選択する場合、4種類のセルの各々を、異方性媒質112又は等方性媒質114のみで構成することが可能となる。この場合、計算機ホログラム100は、図6に示すように、第1の異方性セル110a0と、第2の異方性セル110b0と、第1の等方性セル110c0と、第2の等方性セル110d0とで構成される。また、第1の異方性セル110a0及び第2の異方性セル110b0は、例えば、複屈折材料で構成される。第1の異方性セル110a0の光学軸OAの方向と第2の異方性セル110b0の光学軸OAの方向とは異なっており、例えば、図6に示すように垂直に交わるように構成される。
なお、図6に示す計算機ホログラム100の4種類のセル110a0乃至110d0において、入射光の2つの偏光方向の位相を等しくする、或いは、πずらすかの機能は、図2に示す計算機ホログラム100の4種類のセル110a乃至110dと同様である。
第1の異方性セル110a0及び第2の異方性セル110b0の厚さ(Z方向の厚さ)h、第1の等方性セル110c0の厚さh、第2の等方性セル110d0の厚さhは、以下の3種類の屈折率(第1の屈折率乃至第3の屈折率)を用いて表すことができる。第1の屈折率は、第1の異方性セル110a0のX偏光に対する屈折率及び第2の異方性セル110b0のY偏光に対する屈折率nである。第2の屈折率は、第1の異方性セル110a0のY偏光に対する屈折率及び第2の異方性セル110b0のX偏光に対する屈折率nである。第3の屈折率は、第1の等方性セル110c0及び第2の等方性セル110d0の屈折率nである。本実施形態では、n>nとなる場合の例を示している。
2段の計算機ホログラム100を構成する場合、位相をπずらす必要があり、これを実現するためには、第1の異方性セル110a0及び第2の異方性セル110b0の厚さhは、以下の数式4を満足すればよい。
また、第1の等方性セル110c0の厚さhは、第1の異方性セル110aのY偏光に対する屈折率及び第2の異方性セル110bのX偏光に対する屈折率nによる波面と揃える波面を形成するために、以下の数式5を満足すればよい。
また、第2の等方性セル110d0の厚さhは、第1の異方性セル110a0のX偏光に対する屈折率及び第2の異方性セル110b0のY偏光に対する屈折率nによる波面と揃える波面を形成するために、以下の数式6を満足すればよい。
具体的な数値例として、n=1.6、n=1.4、n=1.5である場合を考える。この場合、厚さh、h及びhのそれぞれは、入射光の波長をλとして、2.5λ、2λ、3λとなり、波長の数倍の厚さに収まっている。かかる厚さは、計算機ホログラムの厚さとして現実的である。
また、第1の異方性セル110a0及び第2の異方性セル110b0は、構造複屈折を生じる回折格子(凹凸構造)で構成されてもよい。図7は、構造複屈折を生じる回折格子で構成された異方性セルを含む計算機ホログラム100を構成するセル構造を示す概略斜視図である。図7に示す計算機ホログラム100は、第1の異方性セル110a1と、第2の異方性セル110b1と、第1の等方性セル110c1と、第2の等方性セル110d1とを有する。
第1の異方性セル110a1及び第2の異方性セル110b1は、上述したように、構造複屈折を生じる回折格子で構成される。第1の異方性セル110a1及び第2の異方性セル110b1は、例えば、0次以外の回折光の発生を防止するために、入射光の波長よりも小さいピッチPの周期構造を有する1次元回折格子で構成される。
第1の異方性セル110a1及び第2の異方性セル110b1は、第1の異方性セル110a1の周期構造の周期方向と第2の異方性セル110b1の周期構造の周期方向とが互いに異なるように構成されている。これにより、X偏光の波面をY偏光の波面よりも進ませるセルとX偏光の波面をY偏光の波面よりも遅らせるセルとを実現することができる。
なお、構造複屈折を生じる回折格子は、例えば、石英を用いた回折格子として特許文献1に開示されている。特許文献1は、石英は波長193nmでは1.56の屈折率を有し、構造複屈折領域の回折格子のデューティ比を1:1(=0.5)とすると、回折格子のピッチ方向の屈折率nは1.19、ピッチ直交方向の屈折率nIIは1.31となることを記載している。
異方性セルが構造複屈折を生じる回折格子で構成されている場合においても、第1の異方性セル110a1及び第2の異方性セル110b1の厚さh’は、hをh’に置き換えた数式4を満足すればよい。同様に、第1の等方性セル110c1の厚さh’及び第2の等方性セル110d1の厚さh’のそれぞれは、hをh’に置き換えた数式5及びhをh’に置き換えた数式6を満足すればよい。
具体的な数値例として、第1の異方性セル110a1及び第2の異方性セル110b1を波長λ=193nmに対応した石英で構成した場合を示す。上述したように、石英の屈折率を1.56、回折格子のピッチ方向の屈折率nを1.19、ピッチ直交方向の屈折率nIIを1.31とする。数式4乃至数式6を用いて、第1の異方性セル110a1及び第2の異方性セル110b1の厚さh’、第1の等方性セル110c1の厚さh’及び第2の等方性セル110d1の厚さh’を求めるには、nをnとし、nIIをnとすればよい。この場合、第1の異方性セル110a1及び第2の異方性セル110b1の厚さh’は、数式4から、4.17λとなる。かかる厚さは、波長板の1種類であるλ/2位相板の厚さと等しい。また、第1の等方性セル110c1の厚さh’及び第2の等方性セル110d1の厚さh’は、数式5及び6から、1.41λ及び2.31λとなり、第1の異方性セル110a1及び第2の異方性セル110b1の厚さh’よりも薄くなる。このように、第1の異方性セル110a1及び第2の異方性セル110b1の厚さh’、第1の等方性セル110c1の厚さh’及び第2の等方性セル110d1の厚さh’は、λ/2位相板の厚さに収まっている。厚さ4.17λは、計算機ホログラムの厚さとして現実的である。
本実施形態では、2段の計算機ホログラムである場合を例に説明したため、計算機ホログラム100は、1種類の厚さの異方性セルと、2種類の厚さの等方性セルとで構成されている。但し、本発明は2段の計算機ホログラムに限った技術ではなく、2段よりも多い多段の計算機ホログラムである場合には、1種類よりも多い複数種類の厚さの異方性セルと、2種類よりも多い複数種類の厚さの等方性セルとで構成される。
なお、本実施形態では、計算機ホログラム100のセル構造についてのみ説明したが、図2、図6及び図7に示すように、材質の異なる物質を結合させることは難しい。また、図7に示すように、構造複屈折を生じる回折格子で異方性セルを構成した場合には、かかる回折格子が宙に浮いた状態となっており、この状態を維持することは難しい。そこで、実際には、上述したセル構造は、例えば、石英などの基板上に配置されている。
以下、計算機ホログラム100の具体的な設計例について説明する。図8は、任意の偏光方向を含む光強度分布を形成する計算機ホログラム100を製造するためのデータを生成する生成方法を説明するためのフローチャートである。
図9に示すような光強度分布LIをターゲット像とする計算機ホログラム100の設計例について説明する。光強度分布LI5における偏光方向PDは複数の偏光方向を含み、各ピクセルにおいて偏光方向は同心円方向に沿っている(即ち、S偏光になっている)。ここで、図9は、計算機ホログラム100が形成する光強度分布(ターゲット像)の一例を示す図である。
図8を参照するに、ステップS1002において、計算機ホログラム100に入射させる光(入射光)の偏光方向(偏光状態)を決定する。本実施形態では、上述したように、X軸に対する偏光方向の角度が−45度である直線偏光(図3参照)を入射光と決定する。従って、図9に示すターゲット像は、X偏光の位相とY偏光の位相とが等しいターゲット像であると言える。
次に、ステップS1004において、ターゲット像をX偏光(X偏光成分)とY偏光(Y偏光成分)とに分割する。換言すれば、X偏光によるターゲット像とY偏光によるターゲット像に分割して、X偏光によるターゲット像の形状及びY偏光によるターゲット像の形状を決定する(第1の決定ステップ)。例えば、X偏光とY偏光との強度比に応じて、ターゲット像を分割する。本実施形態では、ターゲット像をX偏光とY偏光に分割しているが、ターゲット像は、偏光方向が直交する2つの方向に分割すればよい。なお、偏光方向が直交する2つの方向とは、分割された入射光のジョーンズ・ベクトルの内積が0であると表現することも可能である。
図10(a)は、図9に示すターゲット像をX偏光とY偏光とに分割した場合のX偏光の強度(光強度分布)を示している。また、図10(b)は、図9に示すターゲット像をX偏光とY偏光とに分割した場合のY偏光の強度(光強度分布)を示している。ターゲット像がX偏光による光強度分布及びY偏光による光強度分布のみで構成されているのであれば、図10(a)及び図10(b)に対応した計算機ホログラムを製造するためのデータを生成すればよい。但し、図9に示すターゲット像は、X偏光及びY偏光の両方を含む光強度分布LIで構成されているため、ターゲット像の強度(振幅)だけではなく、位相も考慮する必要がある。
次いで、ステップS1006において、入射光の偏光方向(図3参照)とターゲット像の偏光方向(図9参照)との関係に応じて、ステップS1004で分割した2つのターゲット像の位相を決定する(第2の決定ステップ)。本実施形態では、ターゲット像のX軸に対する偏光方向は、−90度より大きく0度より小さい範囲となっている。従って、図9に示すターゲット像は、ターゲット像の偏光方向と入射光の偏光方向が等しい、或いは、両偏光方向が形成する角(鋭角)の間にX偏光及びY偏光の偏光方向が含まれない、等位相領域の光強度分布LIで構成されている。そこで、X偏光によるターゲット像の位相とY偏光によるターゲット像の位相とを等しくすればよい。
図11(a)及び図11(b)は、図10(a)に示すX偏光によるターゲット像の位相と図10(b)に示すY偏光によるターゲット像の位相との組み合わせの一例を示す図である。図11(a)及び図11(b)を参照するに、本実施形態では、X偏光によるターゲット像の位相及びY偏光によるターゲット像の位相を全て0にしている。但し、これは、X偏光によるターゲット像の位相及びY偏光によるターゲット像の位相をランダムに決定することができるという意味ではなく、X偏光によるターゲット像の位相及びY偏光によるターゲット像の位相を0に揃えることを意味している。なお、図11(a)及び図11(b)は、位相の組み合わせの一例を示しているだけであり、等位相領域においてX偏光によるターゲット像の位相とY偏光によるターゲット像の位相が等しければ、位相の組み合わせは任意に選択してよい。
次に、ステップS1008において、ステップS1004で分割したX偏光によるターゲット像の形状及びステップS1006で決定したX偏光によるターゲット像の位相に対応する計算機ホログラムを規定する第1のデータを生成する。同様に、ステップS1010において、ステップS1004で分割したY偏光によるターゲット像の形状及びステップS1006で決定したY偏光によるターゲット像の位相に対応する計算機ホログラムを規定する第2のデータを生成する。
本実施形態のように、ターゲット像に位相情報が含まれる場合には、計算機ホログラムを規定するためのデータの生成(即ち、計算機ホログラムの設計)を、反復フーリエ変換法(IFTA)で行うことは困難である。これは、IFTAでは、ターゲット像の再現性を高める手段として、ターゲット像の位相を使用するからである。
そこで、本実施形態では、ダイレクト・バイナリー・サーチ(DBS)を用いて、X偏光によるターゲット像及び位相に対応する計算機ホログラムの設計、及び、Y偏光によるターゲット像及び位相に対応する計算機ホログラムの設計を行った。DBSとは、計算機ホログラムを構成する1つのセルの位相を変更し、ターゲット像の評価関数の値がよくなっていれば変更を採用し、悪くなっていれば変更を元に戻すという処理を、計算機ホログラムを構成する全てのセルに対して繰り返し行う手法である。なお、DBSについては、非特許文献1に開示されているため、ここでの詳細な説明は省略する。
また、現在では、DBSを改良したシミュレーティッド・アニーリングなどの様々な方法が提案されているが、本実施形態は、計算機ホログラム100の具体的な設計例を説明することが目的であるため、最も単純なDBSを用いた。従って、位相を含むターゲット像に対応した計算機ホログラムを設計することができるのであれば、DBSに限らず如何なる設計手法を用いてもよい。
図12(a)は、X偏光によるターゲット像(図10(a))及び位相(図11(a))に対応するように設計された計算機ホログラムの位相分布(第1のデータ)を示す図である。また、図12(b)は、Y偏光によるターゲット像(図10(b))及び位相(図11(b))に対応するように設計された計算機ホログラムの位相分布(第2のデータ)を示す図である。
次いで、ステップS1012において、ステップS1008で生成された第1のデータ(図12(a))及びS1010で生成された第2のデータ(図12(b))とを統合する。
計算機ホログラムにおけるX偏光の位相とY偏光の位相との組み合わせは、(0、π)、(π、0)、(0、0)及び(π、π)の4種類が存在する。このような4種類の位相の組み合わせに対応した計算機ホログラムのセル構造としては、図2、図6又は図7に示したセル構造を用いることができる。換言すれば、図9に示すターゲット像を形成する計算機ホログラムは、図2、図6又は図7に示したセル構造で構成される。
4種類の位相の組み合わせに対応した計算機ホログラムのセル構造を具体的に示す。例えば、X偏光の位相とY偏光の位相との組み合わせが(0、π)である場合は、図2に示すセル110a、図6に示すセル110a0又は図7に示すセル110a1を適用する。X偏光の位相とY偏光の位相との組み合わせが(π、0)である場合は、図2に示すセル110b、図6に示すセル110b0又は図7に示すセル110b1を適用する。X偏光の位相とY偏光の位相との組み合わせが(0、0)である場合は、図2に示すセル110c、図6に示すセル110c0又は図7に示すセル110c1を適用する。X偏光の位相とY偏光の位相との組み合わせが(π、π)である場合は、図2に示すセル110d、図6に示すセル110d0又は図7に示すセル110d1を適用する。
図13は、X偏光によるターゲット像に対応する計算機ホログラム(図12(a))とY偏光によるターゲット像に対応する計算機ホログラム(図12(b))とを統合した計算機ホログラムの厚さを示す図である。なお、図13に示す計算機ホログラムは、図7に示すセル構造で構成されているが、図2に示すセル構造又は図6に示すセル構造で構成することも可能である。
図13において、白黒の濃淡が各セルの厚さ(Z方向)を表しており、色が白に近い方が厚く、黒に近い方が薄いことを示している。図13に示す数値は、計算機ホログラムにおける第1の異方性セル110a1及び第2の異方性セル110b1の内部の厚さ、及び、第1の等方性セル110c1及び第2の等方性セル110d1の厚さを示しており、単位はμmである。但し、図13に示す数値は、波長193nmに対する屈折率が1.56の石英で第1の異方性セル110a1及び第2の異方性セル110b1を構成した場合の例である。
図13に示す計算機ホログラムは、図3に示すような直線偏光を入射させた場合に、図9に示すような光強度分布LI(即ち、S偏光によるダイポール)を形成することができる。なお、図9に示す光強度分布LIにおける偏光方向PDが、入射光の偏光方向と同じ方向のみである場合には、従来技術において等方性媒質のみで計算機ホログラムを構成することが可能である。但し、このような場合であっても、本実施形態のように、ターゲット像を2つの直交する偏光方向で分割し、それぞれの偏光方向に対応する計算機ホログラムを統合させてもよい。これにより、計算機ホログラムが形成する光強度分布(再生像)のスペックルを低減させることができる。
図14に示すような光強度分布LIをターゲット像とする計算機ホログラム100の設計例について説明する。光強度分布LIにおける偏光方向PDは複数の偏光方向を含み、各ピクセルにおいて偏光方向は同心円方向に沿っている(即ち、S偏光になっている)。なお、図14に示す光強度分布LIをターゲット像とする計算機ホログラム100の設計においても、図8に示す任意の偏光方向を含む光強度分布を形成する計算機ホログラム100を製造するためのデータを生成する生成方法を適用することができる。ここで、図14は、計算機ホログラム100が形成する光強度分布(ターゲット像)の一例を示す図である。
ステップS1002において、計算機ホログラム100に入射させる光(入射光)の偏光方向(偏光状態)を決定する。本実施形態では、上述したように、X軸に対する偏光方向の角度が−45度である直線偏光(図3参照)を入射光と決定する。従って、図14に示すターゲット像は、X偏光の位相とY偏光の位相とがπずれているターゲット像であると言える。
次に、ステップS1004において、ターゲット像をX偏光(X偏光成分)とY偏光(Y偏光成分)とに分割する。換言すれば、X偏光によるターゲット像とY偏光によるターゲット像に分割して、X偏光によるターゲット像の形状及びY偏光によるターゲット像の形状を決定する(第1の決定ステップ)。
図15(a)は、図14に示すターゲット像をX偏光とY偏光とに分割した場合のX偏光の強度(光強度分布)を示している。また、図15(b)は、図14に示すターゲット像をX偏光とY偏光とに分割した場合のY偏光の強度(光強度分布)を示している。
次いで、ステップS1006において、入射光の偏光方向(図3参照)とターゲット像の偏光方向(図14参照)との関係に応じて、ステップS1004で分割した2つのターゲット像の位相を決定する(第2の決定ステップ)。本実施形態では、ターゲット像のX軸に対する偏光方向は、0度より大きく90度より小さい範囲となっている。従って、図14に示すターゲット像は、ターゲット像の偏光方向と入射光の偏光方向とが垂直の関係にある、或いは、両偏光方向が形成する角(鋭角)の間にX偏光及びY偏光の偏光方向が含まれる、反転位相領域の光強度分布LIで構成されている。そこで、X偏光によるターゲット像の位相とY偏光によるターゲット像の位相とをπずらせばよい。
図16(a)及び図16(b)は、図15(a)に示すX偏光によるターゲット像の位相と図15(b)に示すY偏光によるターゲット像の位相との組み合わせの一例を示す図である。図15(a)及び図15(b)を参照するに、位相反転領域では、同じセルの位置で位相が反転している。但し、図15(a)及び図15(b)は、位相の組み合わせの一例を示しているだけであり、反転位相領域においてX偏光によるターゲット像の位相とY偏光によるターゲット像の位相とがπずれていれば、位相の組み合わせは任意に選択してよい。
次に、ステップS1008において、ステップS1004で分割したX偏光によるターゲット像の形状及びステップS1006で決定したX偏光によるターゲット像の位相に対応する計算機ホログラムを規定する第1のデータを生成する。同様に、ステップS1010において、ステップS1004で分割したY偏光によるターゲット像の形状及びステップS1006で決定したY偏光によるターゲット像の位相に対応する計算機ホログラムを規定する第2のデータを生成する。
図17(a)は、X偏光によるターゲット像(図15(a))及び位相(図16(a))に対応するように設計された計算機ホログラムの位相分布(第1のデータ)を示す図である。また、図17(b)は、Y偏光によるターゲット像(図15(b))及び位相(図16(b))に対応するように設計された計算機ホログラムの位相分布(第2のデータ)を示す図である。
次いで、ステップS1012において、ステップS1008で生成された第1のデータ(図17(a))及びS1010で生成された第2のデータ(図17(b))とを統合する。
図18は、X偏光によるターゲット像に対応する計算機ホログラム(図17(a))とY偏光によるターゲット像に対応する計算機ホログラム(図17(b))とを統合した計算機ホログラムの厚さを示す図である。なお、図18に示す計算機ホログラムは、図7に示すセル構造で構成されているが、図2に示すセル構造又は図6に示すセル構造で構成することも可能である。
図18において、白黒の濃淡が各セルの厚さ(Z方向)を表しており、色が白に近い方が厚く、黒に近い方が薄いことを示している。図18に示す数値は、計算機ホログラムにおける第1の異方性セル110a1及び第2の異方性セル110b1の内部の厚さ、及び、第1の等方性セル110c1及び第2の等方性セル110d1の厚さを示しており、単位はμmである。但し、図18に示す数値は、波長193nmに対する屈折率が1.56の石英で第1の異方性セル110a1及び第2の異方性セル110b1を構成した場合の例である。
図18に示す計算機ホログラムは、図3に示すような直線偏光を入射させた場合に、図14に示すような光強度分布LI(即ち、S偏光によるダイポール)を形成することができる。
図19に示すような光強度分布LIをターゲット像とする計算機ホログラム100の設計例について説明する。光強度分布LIにおける偏光方向PDは、複数の偏光方向PD乃至PDを含み、各ピクセルにおいて偏光方向は同心円方向に沿っている(即ち、S偏光になっている)。このように、光強度分布LIは、等位相領域と反転位相領域とを含む。なお、図19に示す光強度分布LIをターゲット像とする計算機ホログラム100の設計においても、図8に示す任意の偏光方向を含む光強度分布を形成する計算機ホログラム100を製造するためのデータを生成する生成方法を適用することができる。ここで、図19は、計算機ホログラム100が形成する光強度分布(ターゲット像)の一例を示す図である。
ステップS1002において、計算機ホログラム100に入射させる光(入射光)の偏光方向(偏光状態)を決定する。本実施形態では、上述したように、X軸に対する偏光方向の角度が−45度である直線偏光(図3参照)を入射光と決定する。
次に、ステップS1004において、ターゲット像をX偏光(X偏光成分)とY偏光(Y偏光成分)とに分割する。換言すれば、X偏光によるターゲット像とY偏光によるターゲット像に分割して、X偏光によるターゲット像の形状及びY偏光によるターゲット像の形状を決定する(第1の決定ステップ)。
図20(a)は、図19に示すターゲット像をX偏光とY偏光とに分割した場合のX偏光の強度(光強度分布)を示している。また、図20(b)は、図19に示すターゲット像をX偏光とY偏光とに分割した場合のY偏光の強度(光強度分布)を示している。ターゲット像が偏光方向PD及びPDを含んでいなければ、図20(a)及び図20(b)に対応した計算機ホログラムを製造するためのデータを生成すればよい。この場合、計算機ホログラムの設計に広く用いられている反復フーリエ変換法などを用いることができる。但し、図19に示すターゲット像は、偏光方向PD及びPDを含んでいるため、ターゲット像の強度(振幅)だけではなく、位相も考慮する必要がある。
次いで、ステップS1006において、入射光の偏光方向(図3参照)とターゲット像の偏光方向(図19参照)との関係に応じて、ステップS1004で分割した2つのターゲット像の位相を決定する(第2の決定ステップ)。ターゲット像のX軸に対する偏光方向が−90度より大きく0度より小さい範囲である場合(例えば、偏光方向PD)、即ち、等位相領域である場合、X偏光によるターゲット像の位相とY偏光によるターゲット像の位相とを等しくする。一方、ターゲット像のX軸に対する偏光方向が0度より大きく90度より小さい範囲である場合(例えば、偏光方向PD)、即ち、反転位相領域である場合、X偏光によるターゲット像の位相とY偏光によるターゲット像の位相とをπずらす。
図21(a)及び図21(b)は、図20(a)に示すX偏光によるターゲット像の位相と図20(b)に示すY偏光によるターゲット像の位相との組み合わせの一例を示す図である。なお、21(a)及び図21(b)は、位相の組み合わせの一例を示しているだけである。従って、等位相領域においてX偏光によるターゲット像の位相とY偏光によるターゲット像の位相が等しく、反転位相領域においてX偏光によるターゲット像の位相とY偏光によるターゲット像の位相がπずれていれば、位相の組み合わせは任意に選択してよい。
ターゲット像のX軸に対する偏光方向が0度である場合(例えば、偏光方向PD)又は90(−90)度である場合(例えば、偏光方向PD)、X偏光又はY偏光のみでターゲット像が形成されるため、位相を任意に選択することができる。また、スペックルを考慮して、隣り合う領域と位相を揃えてもよい。
次に、ステップS1008において、ステップS1004で分割したX偏光によるターゲット像の形状及びステップS1006で決定したX偏光によるターゲット像の位相に対応する計算機ホログラムを規定する第1のデータを生成する。同様に、ステップS1010において、ステップS1004で分割したY偏光によるターゲット像の形状及びステップS1006で決定したY偏光によるターゲット像の位相に対応する計算機ホログラムを規定する第2のデータを生成する。
図22(a)は、X偏光によるターゲット像(図20(a))及び位相(図21(a))に対応するように設計された計算機ホログラムの位相分布(第1のデータ)を示す図である。また、図22(b)は、Y偏光によるターゲット像(図20(b))及び位相(図21(b))に対応するように設計された計算機ホログラムの位相分布(第2のデータ)を示す図である。
次いで、ステップS1012において、ステップS1008で生成された第1のデータ(図22(a))及びS1010で生成された第2のデータ(図22(b))とを統合する。
図23は、X偏光によるターゲット像に対応する計算機ホログラム(図22(a))とY偏光によるターゲット像に対応する計算機ホログラム(図22(b))とを統合した計算機ホログラムの厚さを示す図である。なお、図23に示す計算機ホログラムは、図7に示すセル構造で構成されているが、図2に示すセル構造又は図6に示すセル構造で構成することも可能である。
図23において、白黒の濃淡が各セルの厚さ(Z方向)を表しており、色が白に近い方が厚く、黒に近い方が薄いことを示している。図23に示す数値は、計算機ホログラムにおける第1の異方性セル110a1及び第2の異方性セル110b1の内部の厚さ、及び、第1の等方性セル110c1及び第2の等方性セル110d1の厚さを示しており、単位はμmである。但し、図23に示す数値は、波長193nmに対する屈折率が1.56の石英で第1の異方性セル110a1及び第2の異方性セル110b1を構成した場合の例である。
図23に示す計算機ホログラムは、図3に示すような直線偏光を入射させた場合に、図19に示すような光強度分布LI(即ち、S偏光による輪帯)を形成することができる。
また、図23に示す計算機ホログラムに対してX偏光を入射すると、図20(a)に示す光強度分布(ターゲット像)が形成され、図23に示す計算機ホログラムに対してY偏光を入射すると、図20(b)に示す光強度分布(ターゲット像)が形成される。従って、設計過程が分らず、図23に示す計算機ホログラムのみが存在する場合でも、X偏光又はY偏光を入射させることで、各偏光方向に対してのターゲット像を特定することができる。また、計算機ホログラムがX偏光及びY偏光に対して設計されていない場合であっても、入射光の直線偏光の偏光方向を連続的に変化させることで、各偏光方向に対してのターゲット像を特定することができる。
従来技術では、ターゲット像の偏光方向の数だけ、サブCGHの種類が必要であり、偏光方向を各ピクセルで連続的に変化させることが困難であった。一方、本実施形態は、上述したように、各ピクセルでの偏光方向を連続的に変化させることができる計算機ホログラムを提供することができる。
なお、本実施形態では、計算機ホログラムを構成するセルの数が少ない場合を例に説明したが、計算機ホログラムのセルの数を増加させても所望の形状及び偏光状態の光強度分布を形成することができる。計算機ホログラムを構成するセルの数を増加させることで、光強度分布(ターゲット像)を分割するピクセルサイズが小さくなり、なめらかな形状の光強度分布を形成することが可能となる。
以下、図24を参照して、本発明に係る計算機ホログラム100を適用した露光装置1について説明する。図24は、本発明の一側面としての露光装置1の構成を示す図である。
露光装置1は、本実施形態では、ステップ・アンド・スキャン方式でレチクル20のパターンをウエハ40に露光する投影露光装置である。但し、露光装置1は、ステップ・アンド・リピート方式やその他の露光方式も適用することができる。
露光装置1は、図24に示すように、照明装置10と、レチクル20を支持するレチクルステージ(不図示)と、投影光学系30と、ウエハ40を支持するウエハステージ(不図示)とを有する。
照明装置10は、転写用の回路パターンが形成されたレチクル20を照明し、光源16と、照明光学系18とを有する。
光源16は、例えば、波長約193nmのArFエキシマレーザー、波長約248nmのKrFエキシマレーザーなどのエキシマレーザーを使用する。但し、光源16は、エキシマレーザーに限定されず、波長約157nmのFレーザーや狭帯域化した水銀ランプなどを使用してもよい。
照明光学系18は、光源16からの光を用いてレチクル20を照明する光学系であり、本実施形態では、所定の照度を確保しながら所定の偏光状態でレチクル20を変形照明する。照明光学系18は、引き回し光学系181と、ビーム整形光学系182と、偏光制御部183と、位相制御部184と、射出角度保存光学素子185と、リレー光学系186と、多光束発生部187と、偏光状態調整部194と、計算機ホログラム100とを含む。また、照明光学系18は、リレー光学系188と、アパーチャ189と、ズーム光学系190と、多光束発生部191と、開口絞り192と、照射部193とを含む。
引き回し光学系181は、光源16からの光を偏向してビーム整形光学系182に導光する。ビーム整形光学系182は、光源16からの光の断面形状の寸法の縦横比率を所望の値に変換して(例えば、断面形状を長方形から正方形にして)、光源16からの光の断面形状を所望の形状に整形する。ビーム整形光学系182は、多光束発生部187を照明するために必要な大きさ及び発散角を有する光束を形成する。
偏光制御部183は、直線偏光子などで構成され、不要な偏光成分を除去する機能を有する。偏光制御部183で除去(遮光)される偏光成分を最小限にすることで、光源16からの光を効率よく所望の直線偏光にすることができる。
位相制御部184は、偏光制御部183によって直線偏光となった光にλ/4の位相差を与えて円偏光に変換する。
射出角度保存光学素子185は、例えば、オプティカルインテグレータ(複数の微小レンズより構成されるハエの目レンズやファイバー束等)で構成され、一定の発散角度で光を射出する。
リレー光学系186は、射出角度保存光学素子185から射出した光を多光束発生部187に集光する。射出角度保存光学素子185の射出面と多光束発生部187の入射面は、リレー光学系186によって、互いにフーリエ変換の関係(物体面と瞳面又は瞳面と像面の関係)になっている。
多光束発生部187は、偏光状態調整部194及び計算機ホログラム100を均一に照明するためのオプティカルインテグレータ(複数の微小レンズより構成されるハエの目レンズやファイバー束等)で構成される。多光束発生部187の射出面は、複数の点光源からなる光源面を形成する。多光束発生部187から射出された光は、円偏光として偏光状態調整部194に入射する。
偏光状態調整部194は、位相制御部184によって円偏光となった光にλ/4の位相差を与えて所望の偏光方向となる直線偏光に変換する。偏光状態調整部194から射出された光は、直線偏光として計算機ホログラム100に入射する。
計算機ホログラム100は、リレー光学系188を介して、アパーチャ189の位置に、光強度分布(例えば、図1に示すような複数の偏光方向を含む光強度分布LI)を形成する。計算機ホログラム100は、上述した通りのいかなる形態をも適用可能であり、ここでの詳細な説明は省略する。
アパーチャ189は、計算機ホログラム100によって形成される光強度分布のみを通過させる機能を有する。計算機ホログラム100とアパーチャ189とは、互いにフーリエ変換面の関係になるように配置されている。
ズーム光学系190は、計算機ホログラム100によって形成される光強度分布を所定の倍率で拡大して多光束発生部191に投影する。
多光束発生部191は、照明光学系18の瞳面に配置され、アパーチャ189の位置に形成された光強度分布に対応した光源像(有効光源分布)を射出面に形成する。多光束発生部191は、本実施形態では、ハエの目レンズやシリンドリカルレンズアレイなどのオプティカルインテグレータで構成される。なお、多光束発生部191の射出面近傍には、開口絞り192が配置される。
照射部193は、コンデンサー光学系等を有し、多光束発生部191の射出面に形成される有効光源分布でレチクル20を照明する。
レチクル20は、回路パターンを有し、図示しないレチクルステージに支持及び駆動される。レチクル20から発せされた回折光は、投影光学系30を介して、ウエハ40に投影される。露光装置1は、ステップ・アンド・スキャン方式の露光装置であるため、レチクル20とウエハ40とを走査することによって、レチクル20のパターンをウエハ40に転写する。
投影光学系30は、レチクル20のパターンをウエハ40に投影する光学系である。投影光学系30は、屈折系、反射屈折系、或いは、反射系を使用することができる。
ウエハ40は、レチクル20のパターンが投影(転写)される基板であり、図示しないウエハステージに支持及び駆動される。但し、ウエハ40の代わりにガラスプレートやその他の基板を用いることもできる。ウエハ40には、レジストが塗布されている。
計算機ホログラム100は、上述したように、1つの偏光方向の波面だけではなく、全面にわたってX偏光の波面及びY偏光の波面に互いに異なる位相分布を与えるため、光量損失を実質的に発生させることなく、光強度分布LIを形成することができる。
露光において、光源16から発せられた光は、照明光学系18によってレチクル20を照明する。レチクル20のパターンを反映する光は、投影光学系30によってウエハ40上に結像する。露光装置1が使用する照明光学系18は、計算機ホログラム100によって、照明ムラ及び光量損失を抑えると共に、所望の形状及び偏光状態の光強度分布を形成することができる。従って、露光装置1は、高いスループットで経済性よく高品位なデバイス(半導体素子、LCD素子、撮像素子(CCDなど)、薄膜磁気ヘッドなど)を提供することができる。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されないことはいうまでもなく、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
本発明の一側面としての計算機ホログラムを説明するための図である。 図1に示す計算機ホログラムを構成するセル構造を示す概略斜視図である。 X軸に対する偏光方向の角度PAが−45度である直線偏光を示す図である。 等位相領域に光強度分布を形成する直線偏光の偏光方向と入射光の偏光方向との関係を示す図である。 反転位相領域に光強度分布を形成する直線偏光の偏光方向と入射光の偏光方向との関係を示す図である。 異方性セルを含む計算機ホログラムを構成するセル構造を示す概略斜視図である。 構造複屈折を生じる凹凸構造で構成された異方性セルを含む計算機ホログラムを構成するセル構造を示す概略斜視図である。 任意の偏光方向を含む光強度分布を形成する計算機ホログラムを製造するためのデータを生成する生成方法を説明するためのフローチャートである。 計算機ホログラムが形成する光強度分布(ターゲット像)の一例を示す図である。 図9に示すターゲット像をX偏光とY偏光とに分割した場合のX偏光の強度及びY偏光の強度を示す図である。 図10(a)に示すX偏光によるターゲット像の位相と図10(b)に示すY偏光によるターゲット像の位相との組み合わせの一例を示す図である。 X偏光によるターゲット像及び位相に対応するように設計された計算機ホログラムの位相分布、及び、Y偏光によるターゲット像及び位相に対応するように設計された計算機ホログラムの位相分布を示す図である。 X偏光によるターゲット像に対応する計算機ホログラムとY偏光によるターゲット像に対応する計算機ホログラムとを統合した計算機ホログラムの厚さを示す図である。 計算機ホログラムが形成する光強度分布(ターゲット像)の一例を示す図である。 図14に示すターゲット像をX偏光とY偏光とに分割した場合のX偏光の強度及びY偏光の強度を示す図である。 図15(a)に示すX偏光によるターゲット像の位相と図15(b)に示すY偏光によるターゲット像の位相との組み合わせの一例を示す図である。 X偏光によるターゲット像及び位相に対応するように設計された計算機ホログラムの位相分布、及び、Y偏光によるターゲット像及び位相に対応するように設計された計算機ホログラムの位相分布を示す図である。 X偏光によるターゲット像に対応する計算機ホログラムとY偏光によるターゲット像に対応する計算機ホログラムとを統合した計算機ホログラムの厚さを示す図である。 計算機ホログラムが形成する光強度分布(ターゲット像)の一例を示す図である。 図19に示すターゲット像をX偏光とY偏光とに分割した場合のX偏光の強度及びY偏光の強度を示す図である。 図20(a)に示すX偏光によるターゲット像の位相と図20(b)に示すY偏光によるターゲット像の位相との組み合わせの一例を示す図である。 X偏光によるターゲット像及び位相に対応するように設計された計算機ホログラムの位相分布、及び、Y偏光によるターゲット像及び位相に対応するように設計された計算機ホログラムの位相分布を示す図である。 X偏光によるターゲット像に対応する計算機ホログラムとY偏光によるターゲット像に対応する計算機ホログラムとを統合した計算機ホログラムの厚さを示す図である。 本発明の一側面としての露光装置の構成を示す図である。
符号の説明
1 露光装置
10 照明装置
16 光源
18 照明光学系
181 引き回し光学系
182 ビーム整形光学系
183 偏光制御部
184 位相制御部
185 射出角度保存光学素子
186 リレー光学系
187 多光束発生部
188 リレー光学系
189 アパーチャ
190 ズーム光学系
191 多光束発生部
192 開口絞り
193 照射部
194 偏光状態調整部
20 レチクル
30 投影光学系
40 ウエハ
100 計算機ホログラム
110、110a乃至110d セル
112 異方性媒質
114 等方性媒質
110a0及び110a1 第1の異方性セル
110b0及び110b1 第2の異方性セル
110c0及び110c1 第1の等方性セル
110d0及び110d1 第2の異方性セル

Claims (10)

  1. 入射光の波面に位相分布を与えて所定面に光強度分布を形成する計算機ホログラムであって、
    入射光の偏光状態を変化させる異方性媒質を含む複数の異方性セルと、
    入射光の偏光状態を変化させない等方性媒質を含む複数の等方性セルと、
    を有し、
    前記入射光の第1の方向の直線偏光成分が前記所定面に第1の光強度分布を形成し、
    前記入射光の前記第1の方向に直交する第2の方向の直線偏光成分が前記所定面に前記第1の光強度分布とは異なる第2の光強度分布を形成し、
    前記第1の光強度分布と前記第2の光強度分布とが重なり合う領域において、前記第1の方向の直線偏光成分の位相と前記第2の方向の直線偏光成分の位相とが等しくなるように、又は、πずれるように、前記複数の異方性セル及び前記複数の等方性セルの寸法及び配列が設定されていることを特徴とする計算機ホログラム。
  2. 前記等方性媒質は、前記第1の方向の直線偏光成分に対する屈折率と前記第2の方向の直線偏光成分に対する屈折率との差が前記入射光の波長に対して0以上0.001以下であることを特徴とする請求項1に記載の計算機ホログラム。
  3. 前記入射光は、前記第1の方向の直線偏光成分と、前記第2の方向の直線偏光成分とを含む直線偏光であり、
    前記第1の光強度分布と前記第2の光強度分布とが重なり合う領域に光強度分布を形成する光は、前記第1の方向の直線偏光成分及び前記第2の方向の直線偏光成分を含む偏光であることを特徴とする請求項1又は2に記載の計算機ホログラム。
  4. 前記第1の光強度分布と前記第2の光強度分布とが重なり合う領域は、前記第1の方向の直線偏光成分の位相と前記第2の方向の直線偏光成分の位相とが等しい等位相領域と、前記第1の方向の直線偏光成分の位相と前記第2の方向の直線偏光成分の位相とがπずれている反転位相領域とを含み、
    前記等位相領域に光強度分布を形成する直線偏光の偏光方向と前記反転位相領域に光強度分布を形成する直線偏光の偏光方向とが異なることを特徴とする請求項3に記載の計算機ホログラム。
  5. 前記等位相領域に光強度分布を形成する直線偏光の偏光方向と前記入射光の偏光方向とが等しい、又は、前記等位相領域に光強度分布を形成する直線偏光の偏光方向と前記入射光の偏光方向とが形成する鋭角の間に前記第1の方向及び前記第2の方向が含まれないことを特徴とする請求項4に記載の計算機ホログラム。
  6. 前記反転位相領域に光強度分布を形成する直線偏光の偏光方向と前記入射光の偏光方向とが垂直の関係にある、又は、前記反転位相領域に光強度分布を形成する直線偏光の偏光方向と前記入射光の偏光方向とが形成する鋭角の間に前記第1の方向及び前記第2の方向が含まれることを特徴とする請求項4に記載の計算機ホログラム。
  7. 前記入射光は、前記第1の方向の直線偏光成分の振幅と前記第2の方向の直線偏光成分の振幅とが等しい直線偏光であることを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれか1項に記載の計算機ホログラム。
  8. 前記異方性媒質は、複屈折材料、又は、構造複屈折を生じる凹凸構造を含むことを特徴とする請求項1乃至7のうちいずれか1項に記載の計算機ホログラム。
  9. 入射光の波面に位相分布を与えて所定面に光強度分布を形成する計算機ホログラムを製造するためのデータを生成する生成方法であって、
    前記所定面に形成するべき光強度分布を、第1の方向の直線偏光成分を含む第1の光強度分布と前記第1の方向に直交する第2の方向の直線偏光成分を含む第2の光強度分布とに分割して、前記第1の光強度分布の形状及び前記第2の光強度分布の形状を決定する第1の決定ステップと、
    前記入射光の偏光方向と前記所定面に形成するべき光強度分布の偏光方向との関係に応じて、前記第1の光強度分布の位相及び前記第2の光強度分布の位相を決定する第2の決定ステップと、
    前記第1の決定ステップで形状及び前記第2の決定ステップで位相が決定された前記第1の光強度分布を形成する計算機ホログラムを規定する第1のデータと、前記第1の決定ステップで形状及び前記第2の決定ステップで位相が決定された前記第2の光強度分布を形成する計算機ホログラムを規定する第2のデータとを生成する生成ステップと、
    前記生成ステップで生成された第1のデータと第2のデータとを統合する統合ステップと、
    を有することを特徴とする生成方法。
  10. 光源からの光でレチクルを照明する照明光学系と、
    前記レチクルのパターンを基板に投影する投影光学系と、
    を有し、
    前記照明光学系は、請求項1乃至8のうちいずれか1項に記載の計算機ホログラムを含むことを特徴とする露光装置。
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