JP2013186350A - 回折光学素子の構造データの算出方法、プログラムおよび製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】像面において光軸に関して点対称な一組の光強度分布を形成する2段の回折光学素子10の構造のデータを算出する算出方法は、コンピュータを使用した反復フーリエ変換法によって、前記一組の光強度分布のうちの一方を除去した光強度分布に対して逆フーリエ変換を施すことによって前記像面とフーリエ変換の関係にある前記2段の回折光学素子の面における光強度分布と位相分布を算出するステップS120と、該算出された前記光強度分布および前記位相分布を形成する前記回折光学素子の構造のデータを算出するステップと、を有することを特徴とする。
【選択図】図1
Description
uimage(x,y)=Aimage(x,y)exp[iφimage(x,y)]
IDOE(ξ,η)=|ADOE(ξ,η)|2
Iimage(x,y)=|Aimage(x,y)|2
ここで、ADOE(ξ,η)、φDOE(ξ,η)、IDOE(ξ,η)はそれぞれDOE面での振幅分布、位相分布、強度分布である。Aimage(x,y)、φimage(x,y)、Iimage(x,y)はそれぞれ像面での振幅分布、位相分布、光強度分布である。DOE面と像面はフーリエ変換の関係であるから、次式が成立する。
Claims (4)
- 像面において光軸に関して点対称な一組の光強度分布を形成する2段の回折光学素子の構造のデータを算出する算出方法であって、
コンピュータを使用した反復フーリエ変換法によって、前記一組の光強度分布のうちの一方を除去した光強度分布に対して逆フーリエ変換を施すことによって前記像面とフーリエ変換の関係にある前記2段の回折光学素子の面における光強度分布と位相分布を算出するステップと、
該算出された前記光強度分布および前記位相分布を形成する前記回折光学素子の構造のデータを算出するステップと、
を有することを特徴とする算出方法。 - 前記コンピュータを使用して、入力された前記一組の光強度分布から前記一組の光強度分布の一方を除去した光強度分布を算出するステップを更に有することを特徴とする請求項1に記載の算出方法。
- 請求項1に記載の算出方法をコンピュータによって実行させるためのプログラム。
- 請求項1に記載の算出方法を用いて前記回折光学素子の構造のデータを算出するステップと、
該算出されたデータを用いて前記回折光学素子を製造するステップと、
を有することを特徴とする回折光学素子の製造方法。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104793336A (zh) * | 2015-04-17 | 2015-07-22 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种适用于多波长的衍射光学元件设计方法 |
JP2015215489A (ja) * | 2014-05-12 | 2015-12-03 | 古河電子株式会社 | 回折光学素子の製造方法及び回折光学素子 |
WO2016185974A1 (ja) * | 2015-05-15 | 2016-11-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 変調パターン算出装置、光制御装置、変調パターン算出方法、変調パターン算出プログラムおよび記憶媒体 |
WO2016185979A1 (ja) * | 2015-05-15 | 2016-11-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 変調パターン算出装置、光制御装置、変調パターン算出方法、変調パターン算出プログラムおよび記憶媒体 |
KR20200105940A (ko) | 2018-03-12 | 2020-09-09 | 아즈빌주식회사 | 거리 측정 장치 및 방법 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105205035B (zh) * | 2015-10-13 | 2017-11-28 | 哈尔滨工程大学 | 一种非均匀弹性约束边界条件矩形板结构面内振动分析方法 |
CN105701313B (zh) * | 2016-02-24 | 2018-09-18 | 福州大学 | 多层数据结构的虚植物冠层光合有效辐射分布模拟方法 |
CN107192537A (zh) * | 2017-04-25 | 2017-09-22 | 中国科学院光电研究院 | 一种衍射光学元件激光整形效果的验证方法及系统 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10153943A (ja) * | 1996-09-25 | 1998-06-09 | Dainippon Printing Co Ltd | ホログラムの作成方法およびホログラム |
JP2001356673A (ja) * | 2000-06-09 | 2001-12-26 | Dainippon Printing Co Ltd | 計算機ホログラムおよびその製造方法、計算機ホログラムを用いた反射板、並びに計算機ホログラムを用いた反射型液晶表示装置 |
JP2009164297A (ja) * | 2007-12-28 | 2009-07-23 | Canon Inc | 計算機ホログラム、生成方法及び露光装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5610897A (en) * | 1992-08-31 | 1997-03-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical information reproducing apparatus |
JPH07201697A (ja) | 1993-12-28 | 1995-08-04 | Hitachi Ltd | 露光装置 |
JP3501127B2 (ja) | 2001-01-29 | 2004-03-02 | 住友電気工業株式会社 | 回折型光学部品 |
JP5662762B2 (ja) * | 2009-11-20 | 2015-02-04 | キヤノン株式会社 | 有効光源を算出する方法及びプログラム、露光方法並びにデバイス製造方法 |
WO2011136382A1 (ja) * | 2010-04-30 | 2011-11-03 | 浜松ホトニクス株式会社 | 観察装置 |
US8773599B2 (en) * | 2011-10-24 | 2014-07-08 | Google Inc. | Near-to-eye display with diffraction grating that bends and focuses light |
-
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-
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10153943A (ja) * | 1996-09-25 | 1998-06-09 | Dainippon Printing Co Ltd | ホログラムの作成方法およびホログラム |
JP2001356673A (ja) * | 2000-06-09 | 2001-12-26 | Dainippon Printing Co Ltd | 計算機ホログラムおよびその製造方法、計算機ホログラムを用いた反射板、並びに計算機ホログラムを用いた反射型液晶表示装置 |
JP2009164297A (ja) * | 2007-12-28 | 2009-07-23 | Canon Inc | 計算機ホログラム、生成方法及び露光装置 |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015215489A (ja) * | 2014-05-12 | 2015-12-03 | 古河電子株式会社 | 回折光学素子の製造方法及び回折光学素子 |
CN104793336A (zh) * | 2015-04-17 | 2015-07-22 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种适用于多波长的衍射光学元件设计方法 |
CN104793336B (zh) * | 2015-04-17 | 2017-03-29 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种适用于多波长的衍射光学元件设计方法 |
WO2016185974A1 (ja) * | 2015-05-15 | 2016-11-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 変調パターン算出装置、光制御装置、変調パターン算出方法、変調パターン算出プログラムおよび記憶媒体 |
WO2016185979A1 (ja) * | 2015-05-15 | 2016-11-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 変調パターン算出装置、光制御装置、変調パターン算出方法、変調パターン算出プログラムおよび記憶媒体 |
JP2016218142A (ja) * | 2015-05-15 | 2016-12-22 | 浜松ホトニクス株式会社 | 変調パターン算出装置、光制御装置、変調パターン算出方法および変調パターン算出プログラム |
JP2016218141A (ja) * | 2015-05-15 | 2016-12-22 | 浜松ホトニクス株式会社 | 変調パターン算出装置、光制御装置、変調パターン算出方法および変調パターン算出プログラム |
US10218141B2 (en) | 2015-05-15 | 2019-02-26 | Hamamatsu Photonics K.K. | Modulation pattern calculation device, light control device, modulation pattern calculation method, modulation pattern calculation program, and storage medium |
US10989935B2 (en) | 2015-05-15 | 2021-04-27 | Hamamatsu Photonics K.K. | Modulation pattern calculation device, light control device, modulation pattern calculation method, modulation pattern calculation program, and storage medium |
KR20200105940A (ko) | 2018-03-12 | 2020-09-09 | 아즈빌주식회사 | 거리 측정 장치 및 방법 |
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