JP2013186350A - 回折光学素子の構造データの算出方法、プログラムおよび製造方法 - Google Patents

回折光学素子の構造データの算出方法、プログラムおよび製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2013186350A
JP2013186350A JP2012052360A JP2012052360A JP2013186350A JP 2013186350 A JP2013186350 A JP 2013186350A JP 2012052360 A JP2012052360 A JP 2012052360A JP 2012052360 A JP2012052360 A JP 2012052360A JP 2013186350 A JP2013186350 A JP 2013186350A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light intensity
doe
intensity distribution
optical element
distribution
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2012052360A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2013186350A5 (ja
Inventor
Kosuke Asano
功輔 浅野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2012052360A priority Critical patent/JP2013186350A/ja
Priority to US13/787,971 priority patent/US9171107B2/en
Publication of JP2013186350A publication Critical patent/JP2013186350A/ja
Publication of JP2013186350A5 publication Critical patent/JP2013186350A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00Computer-aided design [CAD]
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems
    • G03F7/70091Illumination settings, i.e. intensity distribution in the pupil plane or angular distribution in the field plane; On-axis or off-axis settings, e.g. annular, dipole or quadrupole settings; Partial coherence control, i.e. sigma or numerical aperture [NA]
    • G03F7/70108Off-axis setting using a light-guiding element, e.g. diffractive optical elements [DOEs] or light guides
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems
    • G03F7/7015Details of optical elements
    • G03F7/70158Diffractive optical elements
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70483Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
    • G03F7/70491Information management, e.g. software; Active and passive control, e.g. details of controlling exposure processes or exposure tool monitoring processes
    • G03F7/705Modelling or simulating from physical phenomena up to complete wafer processes or whole workflow in wafer productions
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F17/00Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
    • G06F17/10Complex mathematical operations
    • G06F17/14Fourier, Walsh or analogous domain transformations, e.g. Laplace, Hilbert, Karhunen-Loeve, transforms
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/30Circuit design
    • G06F30/36Circuit design at the analogue level
    • G06F30/367Design verification, e.g. using simulation, simulation program with integrated circuit emphasis [SPICE], direct methods or relaxation methods

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Data Mining & Analysis (AREA)
  • Pure & Applied Mathematics (AREA)
  • Computational Mathematics (AREA)
  • Mathematical Analysis (AREA)
  • Mathematical Optimization (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Algebra (AREA)
  • Databases & Information Systems (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
  • Architecture (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

【課題】反復フーリエ変換法で光軸に点対称な光強度分布を効率的かつノイズを低減した状態で再生することが可能な回折光学素子の構造データの算出方法、プログラムおよび製造方法を提供すること。
【解決手段】像面において光軸に関して点対称な一組の光強度分布を形成する2段の回折光学素子10の構造のデータを算出する算出方法は、コンピュータを使用した反復フーリエ変換法によって、前記一組の光強度分布のうちの一方を除去した光強度分布に対して逆フーリエ変換を施すことによって前記像面とフーリエ変換の関係にある前記2段の回折光学素子の面における光強度分布と位相分布を算出するステップS120と、該算出された前記光強度分布および前記位相分布を形成する前記回折光学素子の構造のデータを算出するステップと、を有することを特徴とする。
【選択図】図1

Description

本発明は、回折光学素子(DiffractiveOptical Element:DOE)の製造方法に関する。本発明のDOEは、半導体露光装置、レーザー加工装置等に好適である。
従来から、半導体露光装置において、解像度を向上させる変形照明を行う照明光学系にDOEが用いられている(特許文献1)。また、レーザー加工装置において、加工精度やスループットを向上させるためのビーム整形素子やビーム分岐素子としてDOEが用いられている(特許文献2)。DOEは、透明基板上に微細な凹凸形状を形成した光学素子で、DOEを透過する光は基板材質の屈折率と空気の屈折率との差によって生じた位相分布で位相変調され、所定の強度分布に変換される。
DOEの凹凸形状は、一般的にリソグラフィとエッチングを繰り返すことによって形成される。n回のリソグラフィとエッチングによって2段数の構造を製作する。1回目のリソグラフィとエッチングでは2段構造になり、2回目のリソグラフィとエッチングでは4段構造となる。段数を増やすことによって、より性能の高い光学機能が得られる。しかしながら、段数を増やすと製造コストが増大するなどの問題がある。製造コストを抑えるために2段のDOEで目的の光学機能を得られることが望ましい。
また、従来、DOEの設計方法の一つである反復フーリエ変換法(Iterative Fourier Transform Algorithm;IFTA)は、収束速度が高速であることが知られている(非特許文献1)。
特開平7−201697号公報 特開2002−221614号公報
しかしながら、DOEを半導体露光装置やレーザー加工装置で用いる場合、DOEは再生像を軸上に結像する光学系に適用される場合が多い。この場合、再生像は光軸に対して点対称な強度分布であることが多く、IFTAで2段のDOEを設計すると回折効率が十分に高められず、ノイズも十分に低減できないという問題があった。
本発明は、反復フーリエ変換法で光軸に点対称な光強度分布を高い回折効率とノイズを低減した状態で再生することが可能な回折光学素子の構造データの算出方法、プログラムおよび製造方法を提供することを例示的な目的とする。
本発明の回折光学素子の構造データの算出方法は、像面において光軸に関して点対称な一組の光強度分布を形成する2段の回折光学素子の構造のデータを算出する算出方法であって、コンピュータを使用した反復フーリエ変換法によって、前記一組の光強度分布のうちの一方を除去した光強度分布に対して逆フーリエ変換を施すことによって前記像面とフーリエ変換の関係にある前記2段の回折光学素子の面における光強度分布と位相分布を算出するステップと、該算出された前記光強度分布および前記位相分布を形成する前記回折光学素子の構造のデータを算出するステップと、を有することを特徴とする。
本発明によれば、反復フーリエ変換法で光軸に点対称な光強度分布を高い回折効率とノイズを低減した状態で再生することが可能な回折光学素子の構造データの算出方法、プログラムおよび製造方法を提供することができる。
本実施形態の回折光学素子の製造方法を説明するためのフローチャートである。 目標とする像面における光強度分布と逆フーリエ変換の対象となる光強度分布との関係を示す図である。(実施例1) 本発明の製造方法と従来の製造方法を比較した結果である。(実施例1) 本実施形態の回折光学素子の断面図である。 目標とする像面における光強度分布と逆フーリエ変換の対象となる光強度分布との関係を示す図である。(実施例2) 本発明の製造方法と従来の製造方法を比較した結果である。(実施例2) 目標とする像面における光強度分布と逆フーリエ変換の対象となる光強度分布との関係を示す図である。(実施例3) 本発明の製造方法と従来の製造方法を比較した結果である。(実施例3) 目標とする像面における光強度分布と逆フーリエ変換の対象となる光強度分布との関係を示す図である。(実施例4) 本発明の製造方法と従来の製造方法を比較した結果である。(実施例4) 目標とする像面における光強度分布と逆フーリエ変換の対象となる光強度分布との関係を示す図である。(実施例5) 本発明の製造方法と従来の製造方法を比較した結果である。(実施例5)
本実施形態の回折光学素子(DOE)10は2段であり、図4(a)に示すように、矩形の凹凸が周期的に配列された断面形状を有する。図4(a)に示すDOEは、図4(b)に点線で示す鋸歯形状(三角形形状)の断面形状を有する格子パターンを近似したものと考えることができる。このため、図4(c)に示すように、段数を増やすことによって鋸歯形状に近づいてより性能の高い光学機能が得ることができる。
しかしながら、段数を増やすと製造コストが増大するので、本実施形態では、図4(a)に示すように、2段のDOEを使用し、DOEの形状を短時間で設計するために反復フーリエ変換法(IFTA)を使用する。なお、本実施形態のDOEは計算機ホログラム(ComputerGenerated Hologram:CGH)として構成されているが、CGHに限定されない。
ところが、2段のDOEを使用すると特に再生像が軸上に結像する光学系に適用された場合に回折効率を十分に高められないという問題がある。以下、その問題を解決し、2段のDOEの形状をIFTAを利用して短時間で設計するDOEの構造データの算出方法およびプログラムについて説明する。
まず、平行光がDOEに入射した場合の像面における回折光を考える。回折光学素子面(DOE面)の光の分布をuDOE(ξ,η)、像面での光の分布をuimage(x,y)すると、それぞれ次式で与えられる。
DOE(ξ,η)=ADOE(ξ,η)exp[iφDOE(ξ,η)]
image(x,y)=Aimage(x,y)exp[iφimage(x,y)]
DOE(ξ,η)=|ADOE(ξ,η)|
image(x,y)=|Aimage(x,y)|
ここで、ADOE(ξ,η)、φDOE(ξ,η)、IDOE(ξ,η)はそれぞれDOE面での振幅分布、位相分布、強度分布である。Aimage(x,y)、φimage(x,y)、Iimage(x,y)はそれぞれ像面での振幅分布、位相分布、光強度分布である。DOE面と像面はフーリエ変換の関係であるから、次式が成立する。
以下、図1のフローチャートを参照して、DOEの製造方法について説明する。図1において「S」はステップの略である。図1(b)は本実施形態のDOEの製造方法を説明するためのフローチャートである。
図1(b)に示すように、本実施形態のDOEの製造方法は、設計ステップS100と、リソグラフィS200と、エッチングステップS300と、を有する。設計ステップS100では、コンピュータとIFTAを用いて2段のDOEを設計するステップであり、図1(a)にその詳細が示されている。また、本実施形態では2段であるから、リソグラフィS200とエッチングステップS300はそれぞれ1回ずつ行われる。
図1(a)に示すフローチャートは、コンピュータ(プロセッサ)に各ステップの機能を実現させるためのプログラム(設計ツール等のソフトウェア)として具現化可能である。以下、図1(a)に従って本実施形態のDOEの製造方法およびそれをコンピュータに実行させるためのプログラムについて説明する。
S110において、コンピュータは、像面において目標となる強度分布Itarget’(x,y)を光強度分布Iin(x,y)として取得(入力)する。また、ランダムな位相分布φin(x,y)を初期入力として取得(入力)する。
従来は、結像光学系の像面で点対称な光強度分布が必要な場合に数式1に基づいてDOE面の光の分布をuDOE(ξ,η)として求めていた。即ち、従来の入力ステップではIin(x,y)=Itarget(x,y)であった。φin(x,y)は、本実施例と同様に、ランダムな位相分布である。
しかしながら、2段のDOEが光軸上に再生像を結像する光学系に適用されると、±1次回折光が発生する。そして、DOE面に点対称な強度分布を設定すると本来+1次回折光で像を形成すべきところが、−1次回折光もこれに重なって干渉する結果、回折効率が低下したり、ノイズが発生したりするなどの問題が発生する。
即ち、像面で点対称な光強度分布Itarget(x,y)は、Itarget(−x,−y)=Itarget(x,y)の性質があり、本実施形態では、光軸に対して点対称な強度分布Itarget(x,y)が設計対象である。本実施形態は、光学系の像面に点対称な一組の光強度分布がある場合に、一組の光強度分布の一方を除去した光強度分布を逆フーリエ変換することによってDOE面の光強度分布と位相分布を決定している。
本実施形態では、Iin(x,y)=Itarget (x,y)は、Itarget’(−x,−y)=Itarget(x,y)の時は0であり、かつ、Itarget’(−x,−y)=0の時はItarget(x,y)である。
結像光学系の像面で点対称な一組の光強度分布がコンピュータに入力されると、一組の光強度分布の一方を除去する処理を自動的に行ってもよい。
次に、S120において、コンピュータは、一組の光強度分布のうちの一方を除去した光強度分布Iin(x,y)に対して逆フーリエ変換を施す。そして、像面とフーリエ変換の関係にあるDOE面における光強度分布IDOE(ξ,η)と位相分布φDOE(ξ,η)を算出する。
次に、S130において、コンピュータは、DOE面での光強度分布IDOE(ξ,η)を1にし,位相分布φDOE(ξ,η)を2値化する拘束条件を与える。
次に、S140において、コンピュータは、光強度分布IDOE(ξ,η)と位相分布φDOE(ξ,η)をフーリエ変換して、像面の光強度分布Iimage(x,y)および位相分布φimage(x,y)を算出する。
次に、S150において、光強度分布Iimage(x,y)を目標の強度分布Itarget (x,y)にする拘束条件を与える。
次に、S160において、コンピュータは、逆フーリエ変換により,DOE面での強度分布IDOE(ξ,η)および位相分布φDOE(ξ,η)を算出する。
その後、コンピュータはS130〜S160を規定回数反復させる。
次に、コンピュータは、S170において、DOE面での強度分布IDOE(ξ,η)を1にし、位相分布φDOE(ξ,η)を2値化する拘束条件を与え、S180において、DOEの位相分布φDOE(ξ,η)を出力する。
そして、DOE面での強度分布および位相分布を実現する回折光学素子の凹凸の構造のデータを算出する。算出には周知の方法が適用できる。そして、加工機にそのデータが入力され、そのデータの構造となるように加工機を用いて回折光学素子を製造する。製造方法としては、リソグラフィとエッチングを繰り返す方法など周知の方法を用いることができる。
目標とする光強度分布が、図2(a)に示すように、光学系の像面において光学系の光軸に対して点対称な一組の光強度分布である場合を考える。黒い部分は光透過部で、白い部分は遮光部である。なお、開口角45度、内径27mm、外径34mmは単なる一例である。
なお、点対称な一組の光強度分布の形状は、図2(a)では二重極となっているが、これに限定されず、四重極など偶数の組である場合や輪帯、十字形状など連続していても2つに(例えば、図2(b)に示すように上下に)分けることができるものであれば足りる。
従来の設計ステップは、コンピュータが図2(a)に示す一組の光強度分布の両方を含む光強度分布Iin(x,y)をS120で逆フーリエ変換することによってDOE面の光強度分布と位相分布を取得している。これに対して、本実施例の設計ステップS100は、図2(b)に示すように、一組の光強度分布の一方のみを含む光強度分布をS120で逆フーリエ変換することによってDOE面の光強度分布と位相分布を取得している。
DOE面と像面が2f系となるようなDOE(CGH)をIFTAで設計する。使用される光源の波長は193nm、フーリエ変換レンズの焦点距離は237.7nm、DOEの画素数は1024画素×1024画素、DOEの単位画素の大きさは150nmである。
図3(a)は本実施形態の設計ステップS100で作成された結果であり、図3(b)は従来の設計方法で作成された結果を示している。図3(a)と図3(b)において、上側の図は像面における光強度分布を示しており、黒い部分は遮光部、白い部分が光透過部(照明部)である。従って、図3(a)と(b)では、共に像面において光軸に点対称な一組の光強度分布を再生し、二重極の変形照明が得られている。しかしながら、図3(a)と図3(b)の下側の図に示すように、両者の光強度分布は異なっている。図3(a)と図3(b)の下側の図(グラフ)において、横軸は、図3の上側の図の中心を原点にとって縦方向の断面位置を示しており、単位はmmである。縦軸は光強度分布が1に規格化されており、無単位である。二重極に対応する二箇所にピークがあることが分かる。
図3(b)の下のグラフではノイズが多く発生し、光強度分布のピークの立ち上がりまたは立ち下がりの形状も崩れていることが分かる。また、回折効率は、従来の設計方法では55%、本実施例の設計方法では75%であり、本実施例の回折効率の方が優れていることが分かる。
以上の結果から明らかなように、本実施形態は、像面において光軸に対して点対称な光強度分布を効率良く、かつ、少ないノイズで再生することのできる2段のDOEを提供することができる。
目標とする光強度分布が、図5(a)に示すように、光学系の像面において光学系の光軸に対して点対称な一組の(例えば上下の半円からなる)光強度分布(円形)である場合を考える。黒い部分は光透過部で、白い部分は遮光部である。なお、外径30mmは単なる一例である。
従来の設計ステップは、コンピュータが図5(a)に示す一組の光強度分布の両方を含む光強度分布Iin(x,y)をS120で逆フーリエ変換することによってDOE面の光強度分布と位相分布を取得している。これに対して、本実施例の設計ステップS100は、図5(b)に示すように、一組の光強度分布の一方のみを含む光強度分布をS120で逆フーリエ変換することによってDOE面の光強度分布と位相分布を取得している。
DOE面と像面が2f系となるようなDOE(CGH)をIFTAで設計する。使用される光源の波長は350nm、フーリエ変換レンズの焦点距離は100mm、DOEの画素数は512画素×512画素、DOEの単位画素の大きさは250nmである。
図6(a)は本実施形態の設計ステップS100で作成された結果であり、図6(b)は従来の設計方法で作成された結果を示している。図6(a)と図6(b)において、上側の図はDOEで形成される位相分布を示しており、本実施形態の設計方法で作成された結果と従来の設計方法で作成された結果を比べると異なっていることが見て分かる。また、図6(a)と図6(b)において、真ん中の図は像面(照明系の瞳面)における光強度分布を示しており、黒い部分は遮光部、白い部分が光透過部(照明部)である。従って、図6(a)と(b)では、共に像面において光軸に点対称な一組の光強度分布を再生し、円形状の変形照明が得られている。しかしながら、図6(a)と図6(b)の下側の図に示すように、両者の光強度分布は異なっている。図6(a)と図6(b)の下側の図(グラフ)において、横軸は、図6の真ん中の図の中心を原点にとって縦方向の断面位置を示しており、単位はmmである。縦軸は光強度分布が1に規格化されており、無単位である。円形状に対応する中央部にピークがあることが分かる。
図6(b)の下のグラフではノイズが多く発生し、光強度分布のピークの立ち上がりまたは立ち下がりの形状も崩れていることが分かる。また、回折効率は、従来の設計方法では52%、本実施例の設計方法では74%であり、本実施例の回折効率の方が優れていることが分かる。
以上の結果から明らかなように、本実施形態は、像面において光軸に対して点対称な光強度分布を効率良く、かつ、少ないノイズで再生することのできる2段のDOEを提供することができる。
目標とする光強度分布が、図7(a)に示すように、光学系の像面において光学系の光軸に対して点対称な一組(例えば上下の矩形からなる)の光強度分布(例えば正方形)である場合を考える。黒い部分は光透過部で、白い部分は遮光部である。なお、一辺の長さ30mmは単なる一例である。
従来の設計ステップは、コンピュータが図7(a)に示す一組の光強度分布の両方を含む光強度分布Iin(x,y)をS120で逆フーリエ変換することによってDOE面の光強度分布と位相分布を取得している。これに対して、本実施例の設計ステップS100は、図7(b)に示すように、一組の光強度分布の一方のみを含む光強度分布をS120で逆フーリエ変換することによってDOE面の光強度分布と位相分布を取得している。
DOE面と像面が2f系となるようなDOE(CGH)をIFTAで設計する。使用される光源の波長は350nm、フーリエ変換レンズの焦点距離は100mm、DOEの画素数は512画素×512画素、DOEの単位画素の大きさは250nmである。
図8(a)は本実施形態の設計ステップS100で作成された結果であり、図8(b)は従来の設計方法で作成された結果を示している。図8(a)と図8(b)において、上側の図はDOEで形成される位相分布を示しており、本実施形態の設計方法で作成された結果と従来の設計方法で作成された結果を比べると異なっていることが見て分かる。また、図8(a)と図8(b)において、真ん中の図は像面における光強度分布を示しており、黒い部分は遮光部、白い部分が光透過部(照明部)である。従って、図8(a)と(b)では、共に像面において光軸に点対称な一組の光強度分布を再生し、矩形状(例えば正方形状)の変形照明が得られている。しかしながら、図8(a)と図8(b)の下側の図に示すように、両者の光強度分布は異なっている。図8(a)と図8(b)の下側の図(グラフ)において、横軸は、図8の真ん中の図の中心を原点にとって縦方向の断面位置を示しており、単位はmmである。縦軸は光強度分布が1に規格化されており、無単位である。矩形状に対応する中央部にピークがあることが分かる。
図8(b)の下のグラフではノイズが多く発生し、光強度分布のピークの立ち上がりまたは立ち下がりの形状も崩れていることが分かる。また、回折効率は、従来の設計方法では51%、本実施例の設計方法では73%であり、本実施例の回折効率の方が優れていることが分かる。
以上の結果から明らかなように、本実施形態は、像面において光軸に対して点対称な光強度分布を効率良く、かつ、少ないノイズで再生することのできる2段のDOEを提供することができる。
目標とする光強度分布が、図9(a)に示すように、光学系の像面において光学系の光軸に対して点対称な一組(例えば輪帯形状を半分に分けた一対)の光強度分布である場合を考える。黒い部分は光透過部で、白い部分は遮光部である。なお、内径24mm、外径30mmは単なる一例である。
従来の設計ステップは、コンピュータが図9(a)に示す一組の光強度分布の両方を含む光強度分布Iin(x,y)をS120で逆フーリエ変換することによってDOE面の光強度分布と位相分布を取得している。これに対して、本実施例の設計ステップS100は、図9(b)に示すように、一組の光強度分布の一方のみを含む光強度分布をS120で逆フーリエ変換することによってDOE面の光強度分布と位相分布を取得している。
DOE面と像面が2f系となるようなDOE(CGH)をIFTAで設計する。使用される光源の波長は350nm、フーリエ変換レンズの焦点距離は100mm、DOEの画素数は512画素×512画素、DOEの単位画素の大きさは250nmである。
図10(a)は本実施形態の設計ステップS100で作成された結果であり、図10(b)は従来の設計方法で作成された結果を示している。図10(a)と図10(b)において、上側の図はDOEで形成される位相分布を示しており、本実施形態の設計方法で作成された結果と従来の設計方法で作成された結果を比べると異なっていることが見て分かる。また、図10(a)と図10(b)において、真ん中の図は像面における光強度分布を示しており、黒い部分は遮光部、白い部分が光透過部(照明部)である。従って、図10(a)と(b)では、共に像面において光軸に点対称な一組の光強度分布を再生し、輪帯形状の変形照明が得られている。しかしながら、図10(a)と図10(b)の下側の図に示すように、両者の光強度分布は異なっている。図10(a)と図10(b)の下側の図(グラフ)において、横軸は、図10の真ん中の図の中心を原点にとって縦方向の断面位置を示しており、単位はmmである。縦軸は光強度分布が1に規格化されており、無単位である。輪帯形状に対応する二箇所にピークがあることが分かる。
図10(b)の下のグラフではノイズが多く発生し、光強度分布のピークの立ち上がりまたは立ち下がりの形状も崩れていることが分かる。また、回折効率は、従来の設計方法では55%、本実施例の設計方法では72%であり、本実施例の回折効率の方が優れていることが分かる。
以上の結果から明らかなように、本実施形態は、像面において光軸に対して点対称な光強度分布を効率良く、かつ、少ないノイズで再生することのできる2段のDOEを提供することができる。
目標とする光強度分布が、図11(a)に示すように、光学系の像面において光学系の光軸に対して点対称な一組(例えば六重極を上下に分けた一対)の光強度分布である場合を考える。黒い部分は光透過部で、白い部分は遮光部である。なお、開口角45度、内径24mm、外径30mmは単なる一例である。
従来の設計ステップは、コンピュータが図11(a)に示す一組の光強度分布の両方を含む光強度分布Iin(x,y)をS120で逆フーリエ変換することによってDOE面の光強度分布と位相分布を取得している。これに対して、本実施例の設計ステップS100は、図11(b)に示すように、一組の光強度分布の一方のみを含む光強度分布をS120で逆フーリエ変換することによってDOE面の光強度分布と位相分布を取得している。
DOE面と像面が2f系となるようなDOE(CGH)をIFTAで設計する。使用される光源の波長は350nm、フーリエ変換レンズの焦点距離は100mm、DOEの画素数は512画素×512画素、DOEの単位画素の大きさは250nmである。
図12(a)は本実施形態の設計ステップS100で作成された結果であり、図12(b)は従来の設計方法で作成された結果を示している。図12(a)と図12(b)において、上側の図はDOEで形成される位相分布を示しており、本実施形態の設計方法で作成された結果と従来の設計方法で作成された結果を比べると異なっていることが見て分かる。また、図12(a)と図12(b)において、真ん中の図は像面における光強度分布を示しており、黒い部分は遮光部、白い部分が光透過部(照明部)である。従って、図12(a)と(b)では、共に像面において光軸に点対称な一組の光強度分布を再生し、六重極の変形照明が得られている。しかしながら、図12(a)と図12(b)の下側の図に示すように、両者の光強度分布は異なっている。図12(a)と図12(b)の下側の図(グラフ)において、横軸は、図12の真ん中の図の中心を原点にとって縦方向の断面位置を示しており、単位はmmである。縦軸は光強度分布が1に規格化されており、無単位である。六重極に対応する二箇所にピークがあることが分かる。
図12(b)の下のグラフではノイズが多く発生し、光強度分布のピークの立ち上がりまたは立ち下がりの形状も崩れていることが分かる。また、回折効率は、従来の設計方法では51%、本実施例の設計方法では72%であり、本実施例の回折効率の方が優れていることが分かる。
以上の結果から明らかなように、本実施形態は、像面において光軸に対して点対称な光強度分布を効率良く、かつ、少ないノイズで再生することのできる2段のDOEを提供することができる。
以上、本発明の好ましい実施例について説明したが、本発明はこれらの実施例に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
回折光学素子の製造方法は回折光学素子を製造する用途に適用することができ、回折格子は像を光軸上に形成する結像光学系に適用することができる。
10…回折光学素子、S100…設計ステップ、S120…逆フーリエ変換ステップ

Claims (4)

  1. 像面において光軸に関して点対称な一組の光強度分布を形成する2段の回折光学素子の構造のデータを算出する算出方法であって、
    コンピュータを使用した反復フーリエ変換法によって、前記一組の光強度分布のうちの一方を除去した光強度分布に対して逆フーリエ変換を施すことによって前記像面とフーリエ変換の関係にある前記2段の回折光学素子の面における光強度分布と位相分布を算出するステップと、
    該算出された前記光強度分布および前記位相分布を形成する前記回折光学素子の構造のデータを算出するステップと、
    を有することを特徴とする算出方法。
  2. 前記コンピュータを使用して、入力された前記一組の光強度分布から前記一組の光強度分布の一方を除去した光強度分布を算出するステップを更に有することを特徴とする請求項1に記載の算出方法。
  3. 請求項1に記載の算出方法をコンピュータによって実行させるためのプログラム。
  4. 請求項1に記載の算出方法を用いて前記回折光学素子の構造のデータを算出するステップと、
    該算出されたデータを用いて前記回折光学素子を製造するステップと、
    を有することを特徴とする回折光学素子の製造方法。
JP2012052360A 2012-03-08 2012-03-08 回折光学素子の構造データの算出方法、プログラムおよび製造方法 Pending JP2013186350A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012052360A JP2013186350A (ja) 2012-03-08 2012-03-08 回折光学素子の構造データの算出方法、プログラムおよび製造方法
US13/787,971 US9171107B2 (en) 2012-03-08 2013-03-07 Calculating method of structural data of diffractive optical element, program, and manufacturing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012052360A JP2013186350A (ja) 2012-03-08 2012-03-08 回折光学素子の構造データの算出方法、プログラムおよび製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013186350A true JP2013186350A (ja) 2013-09-19
JP2013186350A5 JP2013186350A5 (ja) 2015-04-23

Family

ID=49114854

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012052360A Pending JP2013186350A (ja) 2012-03-08 2012-03-08 回折光学素子の構造データの算出方法、プログラムおよび製造方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US9171107B2 (ja)
JP (1) JP2013186350A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104793336A (zh) * 2015-04-17 2015-07-22 中国科学院光电技术研究所 一种适用于多波长的衍射光学元件设计方法
JP2015215489A (ja) * 2014-05-12 2015-12-03 古河電子株式会社 回折光学素子の製造方法及び回折光学素子
WO2016185974A1 (ja) * 2015-05-15 2016-11-24 浜松ホトニクス株式会社 変調パターン算出装置、光制御装置、変調パターン算出方法、変調パターン算出プログラムおよび記憶媒体
WO2016185979A1 (ja) * 2015-05-15 2016-11-24 浜松ホトニクス株式会社 変調パターン算出装置、光制御装置、変調パターン算出方法、変調パターン算出プログラムおよび記憶媒体
KR20200105940A (ko) 2018-03-12 2020-09-09 아즈빌주식회사 거리 측정 장치 및 방법

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105205035B (zh) * 2015-10-13 2017-11-28 哈尔滨工程大学 一种非均匀弹性约束边界条件矩形板结构面内振动分析方法
CN105701313B (zh) * 2016-02-24 2018-09-18 福州大学 多层数据结构的虚植物冠层光合有效辐射分布模拟方法
CN107192537A (zh) * 2017-04-25 2017-09-22 中国科学院光电研究院 一种衍射光学元件激光整形效果的验证方法及系统

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10153943A (ja) * 1996-09-25 1998-06-09 Dainippon Printing Co Ltd ホログラムの作成方法およびホログラム
JP2001356673A (ja) * 2000-06-09 2001-12-26 Dainippon Printing Co Ltd 計算機ホログラムおよびその製造方法、計算機ホログラムを用いた反射板、並びに計算機ホログラムを用いた反射型液晶表示装置
JP2009164297A (ja) * 2007-12-28 2009-07-23 Canon Inc 計算機ホログラム、生成方法及び露光装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5610897A (en) * 1992-08-31 1997-03-11 Canon Kabushiki Kaisha Optical information reproducing apparatus
JPH07201697A (ja) 1993-12-28 1995-08-04 Hitachi Ltd 露光装置
JP3501127B2 (ja) 2001-01-29 2004-03-02 住友電気工業株式会社 回折型光学部品
JP5662762B2 (ja) * 2009-11-20 2015-02-04 キヤノン株式会社 有効光源を算出する方法及びプログラム、露光方法並びにデバイス製造方法
WO2011136382A1 (ja) * 2010-04-30 2011-11-03 浜松ホトニクス株式会社 観察装置
US8773599B2 (en) * 2011-10-24 2014-07-08 Google Inc. Near-to-eye display with diffraction grating that bends and focuses light

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10153943A (ja) * 1996-09-25 1998-06-09 Dainippon Printing Co Ltd ホログラムの作成方法およびホログラム
JP2001356673A (ja) * 2000-06-09 2001-12-26 Dainippon Printing Co Ltd 計算機ホログラムおよびその製造方法、計算機ホログラムを用いた反射板、並びに計算機ホログラムを用いた反射型液晶表示装置
JP2009164297A (ja) * 2007-12-28 2009-07-23 Canon Inc 計算機ホログラム、生成方法及び露光装置

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015215489A (ja) * 2014-05-12 2015-12-03 古河電子株式会社 回折光学素子の製造方法及び回折光学素子
CN104793336A (zh) * 2015-04-17 2015-07-22 中国科学院光电技术研究所 一种适用于多波长的衍射光学元件设计方法
CN104793336B (zh) * 2015-04-17 2017-03-29 中国科学院光电技术研究所 一种适用于多波长的衍射光学元件设计方法
WO2016185974A1 (ja) * 2015-05-15 2016-11-24 浜松ホトニクス株式会社 変調パターン算出装置、光制御装置、変調パターン算出方法、変調パターン算出プログラムおよび記憶媒体
WO2016185979A1 (ja) * 2015-05-15 2016-11-24 浜松ホトニクス株式会社 変調パターン算出装置、光制御装置、変調パターン算出方法、変調パターン算出プログラムおよび記憶媒体
JP2016218142A (ja) * 2015-05-15 2016-12-22 浜松ホトニクス株式会社 変調パターン算出装置、光制御装置、変調パターン算出方法および変調パターン算出プログラム
JP2016218141A (ja) * 2015-05-15 2016-12-22 浜松ホトニクス株式会社 変調パターン算出装置、光制御装置、変調パターン算出方法および変調パターン算出プログラム
US10218141B2 (en) 2015-05-15 2019-02-26 Hamamatsu Photonics K.K. Modulation pattern calculation device, light control device, modulation pattern calculation method, modulation pattern calculation program, and storage medium
US10989935B2 (en) 2015-05-15 2021-04-27 Hamamatsu Photonics K.K. Modulation pattern calculation device, light control device, modulation pattern calculation method, modulation pattern calculation program, and storage medium
KR20200105940A (ko) 2018-03-12 2020-09-09 아즈빌주식회사 거리 측정 장치 및 방법

Also Published As

Publication number Publication date
US9171107B2 (en) 2015-10-27
US20130238296A1 (en) 2013-09-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2013186350A (ja) 回折光学素子の構造データの算出方法、プログラムおよび製造方法
Chen et al. Will flat optics appear in everyday life anytime soon?
Arbabi et al. Increasing efficiency of high numerical aperture metasurfaces using the grating averaging technique
JP6387964B2 (ja) 計測装置
JP6424418B2 (ja) 光学素子、投影装置および計測装置並びに製造方法
Mohtashami et al. Light-emitting metalenses and meta-axicons for focusing and beaming of spontaneous emission
JP2017026662A (ja) 拡散板、表示装置、投影装置及び照明装置
TWI444787B (zh) 記錄產生遮罩資料之程式的記錄媒體、製造遮罩之方法、及曝光方法
JP2013186350A5 (ja)
Kopylov et al. GPC light shaping a supercontinuum source
Reddy et al. Robust design of diffractive optical elements for forming flat-top beams with extended depth of focus
Hao et al. Wide angle 2D beam splitter design based on vector diffraction theory
CN103370640B (zh) 制造具有基于相干电磁辐射散斑石版印刷术的表面纳-微织构的用于发光装置的改进的光学层的方法
Raeker et al. All‐Dielectric Meta‐Optics for High‐Efficiency Independent Amplitude and Phase Manipulation
Britton et al. Phase-modulated axilenses as ultracompact spectroscopic tools
Liu et al. Two-dimensional gratings of hexagonal holes for high order diffraction suppression
JP2019144537A (ja) データ作成装置、光制御装置、データ作成方法、及びデータ作成プログラム
JP2019133000A (ja) 回折素子の設計方法
JP2016012122A (ja) フォトマスク、光学素子アレイの製造方法、光学素子アレイ
Becker et al. High-precision laser beam shaping using binary-amplitude DLP spatial light modulators
Li et al. Experiment and theory of beam smoothing using induced spatial incoherence with a lens array
Hakko et al. Resolution enhancement with source-wavelength optimization according to illumination angle in optical lithography
JP6290704B2 (ja) 回折光学素子の製造方法
JP6765893B2 (ja) 光学素子、光学装置、およびランダム凹凸形状の形成方法
US20150185486A1 (en) Holographic imaging element operable to generate multiple different images of an object

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150306

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150306

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20151118

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20151124

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20160315