JP2009088521A - 窒化ガリウム系発光ダイオード素子 - Google Patents

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Abstract

【課題】LEDチップとサブマウントとの接合時、単一元素よりなる複数の金属層を接着層として用いて各々に半田付け工程を適用することによって、熱抵抗特性及び信頼性を向上することができる窒化ガリウム系LED素子及びその製造方法を提供する
【解決手段】LEDチップ100と、該LEDチップ100が接着層300を介して共融ボンディングされたサブマウント200とを含み、該接着層300は、第1の金属層310及び第2の金属層320が順に積層されている複数の金属層が半田付けされることによって構成され、該第2の金属層320はペースト状でなされる。
【選択図】 図2

Description

本発明は、窒化ガリウム系発光ダイオード素子に関するものであって、より詳細には、LEDチップとサブマウントとのダイ接着(die attach)工程の際に熱的に安定させることができる窒化ガリウム系発光ダイオード素子及びその製造方法に関するものである。
一般に、窒化ガリウム系(GaN)などのIII−V窒化物半導体は、優れた物理的/化学的特性によりフルカラーディスプレイ、イメージスキャナ、各種信号システム及び光通信機器において、光源に供される緑色または青色発光ダイオード(light emitting diode:以下「LED」と称す)素子に広く使われている。このようなLED素子は、電子と正孔との再結合原理を用いる活性層から光を生成して放出させる。
最近、このような窒化ガリウム系LED素子は、照明光源として用いるための高輝度化の要求が高く、高輝度化を達成するために、大電流での動作が可能な高出力窒化ガリウム系LED素子が製作されている。
このような窒化ガリウム系LED素子は、水平構造LED(laterally structured light emitting diodes)と垂直構造LED(vertically structured light emitting diodes)に大別される。
水平構造の窒化ガリウム系LED素子は、トップエミッション型LED(Top−Emitting Light Emitting Diodes)とフリップチップ用LED(Flip−Chip Light Emitting Diodes)とに分けられる。
前記トップエミッション型LEDは、p型窒化物半導体層と接触しているオーミック電極層を介して光が出射するように設けられ、前記フリップチップ用LEDは、サファイア基板を介して光が出射するように設けられている。
一方、このような前記窒化ガリウム系LED素子は、一般に、サブマウント(または、パッケージまたはリードフレーム:以下「サブマウント」と称す)上にダイ接着(dieattach)され、光が取り出され、該サブマウントにダイ接着されていないLEDチップの一面を介して発散される。
以下、図1を参照して、従来技術による窒化ガリウム系LED素子のうち、フリップチップ型LED素子を挙げて詳細に説明する。
図1は、従来技術による窒化ガリウム系発光ダイオード素子を概略的に示した断面図である。
同図のように、従来技術による窒化ガリウム系LED素子は、一対の電極を有するLEDチップ100と、サブマウント200と、該LEDチップ100と該サブマウント200とをフリップボンディングさせた接着層300とを含む。
一方、従来技術による前記接着層300は、透明エポキシ、銀(Ag)などのペースト(paste)から成っている。
すなわち、従来技術による窒化ガリウム系LED素子では、透明エポキシ、銀(Ag)等のペースト(paste)から成る接着層300が、高温にてリフロー(reflow)されることによって、LEDチップ100とサブマウント200とがボンディングする。
しかしながら、該接着層として透明エポキシが使われる場合、熱抵抗が高く(30K/W以上)、短波長の光による黄変によって光特性が低下するという問題があり、銀ペーストが使われる場合には、銀の移動による漏洩電流が発生し、素子の特性及び信頼性が低下するという不都合がある。
本発明は上記の問題点に鑑みて成されたものであって、LEDチップとサブマウントとの接合時、各々が単一元素よりなる複数の金属層を接着層として用いて半田付け工程を適用することによって、熱抵抗特性及び信頼性を向上することができる窒化ガリウム系LED素子を提供することを目的の一つとする。
また、本発明の他の目的は、該窒化ガリウム系LED素子の製造方法を提供することである。
上記目的を解決するために、本発明の好適な実施の形態によれば、LEDチップと、該LEDチップが接着層を介して共融ボンディングされたサブマウントとを含み、前記接着層は第1の金属層及び第2の金属層が順次積層されている複数の金属層が半田付けされることによって構成され、前記第2の金属層がペースト状でなされたことを特徴とする窒化ガリウム系発光ダイオード素子を提供する。
また、本発明の窒化ガリウム系LED素子において、前記第1の金属層は第2の金属層と同一の物質からなることができる。
また、本発明の窒化ガリウム系LED素子において、前記第1の金属層はSn、Ag、Au、Cuの群より選ばれる一つ以上の金属から成ることができる。
また、本発明の窒化ガリウム系LED素子において、前記第2の金属層はSnまたはAgを含む金属から成ることができる。
また、本発明の窒化ガリウム系LED素子において、前記LEDチップと前記接着層との間に設けられた透明層をさらに含むことが望ましく、前記透明層は、NiO、TiO、ITO、SiOの群より選ばれる一つ以上の酸化物またはSi、MgFからなることができる。
また、本発明の窒化ガリウム系LED素子において、前記透明層と前記接着層との間に設けられた反射層をさらに含むことが望ましく、前記反射層はAgまたはAlのうちの少なくともいずれか一つ以上を含む合金から成ることができる。
また、本発明の窒化ガリウム系LED素子において、前記反射層と前記接着層との間に設けられた拡散防止層をさらに含むことが望ましく、前記拡散防止層はNi、Pt、Cr、Ti、Wの群より選ばれる一つ以上の金属から成ることができる。
また、本発明の窒化ガリウム系LED素子において、前記LEDチップは、基板と、該基板上に設けられ、第1の領域及び第2の領域に区分されたn型窒化物半導体層と、前記n型窒化物半導体層の前記第1の領域上に設けられた活性層と、該活性層上に設けられたp型窒化物半導体層と、該p型窒化物半導体層上に設けられたp型電極と、前記n型窒化物半導体層の前記第2の領域上に設けられたn型電極とを含んで構成されるか、またはn型電極と、該n型電極の下面にn型窒化物半導体層、活性層及びp型窒化物半導体層が下方に順次積層されて設けられた発光構造物と、該発光構造物の下面に設けられたp型電極と、該p型電極の下面に設けられた構造支持層とを含んで構成されることができる。
上記目的を解決するために、本発明の他の好適な実施の形態によれば、LEDチップを準備するステップと、前記LEDチップの発光面の反対面に第1の金属層を設けるステップと、サブマウントを準備するステップと、前記LEDチップとボンディングされるべき前記サブマウントの一面に第2の金属層を設けるステップと、前記第1の金属層と前記第2の金属層とを半田付けして共融ボンディングするステップとを含み、前記第2の金属層はペースト状でなされたことを特徴とする窒化ガリウム系発光ダイオード素子の製造方法を提供する。
本発明によれば、サブマウント上に接着層を介して共融ボンディングされるLEDチップにおいて、該接着層が単一元素よりなる複数の金属層をそれぞれ半田付けして構成されることによって、合金の組成比の変化を最小にすると共に、熱抵抗及び漏洩電流を減少させることができる。
そのため、本発明では安定した熱的特性を有し、信頼性の向上した窒化ガリウム系LED素子及びその製造方法を実現することができる。
本発明のさらなる目的、本発明によって得られる利点は、以下において図面を参照して説明される実施の形態から一層明らかになるであろう。
図面において、幾つかの層及び領域を明確に表すために厚さを拡大して示した。また明細書全体に渡って同一部分に対しては同一符号を付して示す。
<窒化ガリウム系LED素子の構造>
図2を参照して、本発明の一実施の形態による窒化ガリウム系LED素子について詳細に説明する。図2は、本発明の一実施の形態による窒化ガリウム系LED素子の構造を概略的に示した断面図である。
図2に示すように、本発明の一実施の形態による窒化ガリウム系LED素子は、LEDチップ100と、サブマウント200と、LEDチップ100とサブマウント200とを共融ボンディングさせた接着層300とを含む。
LEDチップ100は、光透過性を有する基板110上にバッファ層(図示せず)とn型窒化物半導体層120とが順に積層されて構成される。ここで、n型窒化物半導体層120は、第1の領域及び第2の領域に区分され、該第1の領域は発光面であると定義されている。そのため、該第1の領域の面積を第2の領域の面積より大きく設けて、素子の輝度特性を向上させることが望ましい。
より詳細には、基板110は、窒化物半導体単結晶を成長させるに適した基板であって、望ましくはサファイアを含む透明な材料が用いられてもよく、サファイアの他にジンクオキサイド(zinc oxide:ZnO)、窒化ガリウム(gallium nitride:GaN)、シリコンカーバイド(silicon carbide:SiC)及びアルミニウムニトリド(AlN)が用いられてもよい。
前記バッファ層は、基板110上にn型窒化物半導体層120を成長させる前に、基板110との格子整合を向上させるための層であって、工程条件及び素子特性によって省略が可能である。
n型窒化物半導体層120は、組成式InAlGa1−X−YN(ここで、0≦X、0≦Y、X+Y≦1)を有する半導体物質からなる。より詳しくは、n型窒化物半導体層120は、n型導電型不純物がドープされたGaN層またはGaN/AlGaN層から成ることができ、n型導電型不純物としては例えば、Si、Ge、Snなどを用い、望ましくはSiを主に用いる。
そして、n型窒化物半導体層120の第1の領域上には、活性層130及びp型窒化物半導体層140が順に積層されて発光構造物を構成する。
活性層130は、多重量子井戸(Multi−Quantum Well)構造のInGaN/GaN層から構成されることができる。
p型窒化物半導体層140は、組成式InAlGa1−X−YN(ここで、0≦X、0≦Y、X+Y≦1)を有する半導体物質からなる。より詳しくは、p型窒化物半導体層140は、p型導電型不純物がドープされたGaN層またはGaN/AlGaN層から構成されることができ、p型導電型不純物としては例えば、Mg、Zn、Beなどを用い、望ましくはMgを主に用いる。
p型窒化物半導体層140上には、p型電極150が設けられている。p型電極150は、反射電極、オーミックコンタクト電極及び透明電極の群より選ばれる一つ以上の層からなることが望ましい。例えば、p型電極150は、反射電極、オーミックコンタクト電極及び透明電極のいずれか一つから成る単一層、または反射電極/オーミックコンタクト電極、オーミックコンタクト電極/透明電極、オーミックコンタクト電極/透明電極/反射電極などから成る多数層を、工程条件及び素子の特性に合わせて選択して形成可能である。
n型窒化物半導体層120の第2の領域上にはn型電極160が設けられている。n型窒化物半導体層120の第2の領域は、発光面の一部がメサエッチングによって除去された領域である。
そして、サブマウント200には、熱伝導度が優れたシリコンウエハまたはAlNセラミック基板などが用いられる。
とりわけ、本発明による接着層300は、単一元素よりなる複数の金属層がそれぞれ積層された構造によって構成されている。
より詳しくは、接着層300は、前記LEDチップの発光面の反対面から第1の金属層310、320及び第2の金属層330が順次積層されて構成されている。本実施の形態においては、前記第1の金属層が2層で構成されている状態を示しているが、これに限定するものではなく、単一層で構成されてもよい。
第1の金属層310、320及び第2の金属層330は、サブマウント200の反射度がLEDチップ100の特性に影響を及ぼすことを防止するため、反射物質を含んでなされることが望ましく、同一の物質によって設けられてもよい。例えば、第1の金属層310、320及び第2の金属層330は、SnまたはAgの含まれた金属から成ることができる。
より詳しくは、第1の金属層310、320は、Sn、Ag、Au、Cuの群より選ばれる一つ以上の金属から成ることができ、第2の金属層330は、SnまたはAgを含む金属から成る。これは、LEDチップ100とサブマウント200とを共融ボンディングさせる役割をする。
従って、本発明による窒化ガリウム系LED素子は、接着層としてペーストまたは透明エポキシを用いて、リフローボンディングしていた従来の窒化ガリウム系LED素子に比べて熱的に安定すると共に、漏洩電流の発生を最小化し、信頼性を向上させることができる。
また、前記接着層は、単一元素よりなる複数の金属層がそれぞれ半田付けされることによって構成され、合金の組成比の変化が最小になるため、合金の組成比の制御が容易となる。
また、本発明による窒化ガリウム系LED素子は、図3に示すように、接着層300における第1の金属層310、320と第2の金属層330との合金形成による光の吸収を防止するために、サブマウント200とボンディングされるLEDチップ100の一面に、透明層(図示せず)と、反射層400と、反射層400を保護するための拡散防止層500とをさらに含むことが望ましい。
前記透明層は、NiO、TiO、ITO、SiOの群より選ばれる一つ以上の酸化物、またはSi、MgFからなり、反射層400は、AgまたはAlのうちの少なくともいずれか一つを含む合金から成り、拡散防止層500は、Ni、Pt、Cr、Ti、Wの群より選ばれる一つ以上の金属から成る。
図3は、本発明の一実施の形態による窒化ガリウム系LED素子の変形例を示した断面図である。
<窒化ガリウム系LED素子の製造方法>
本発明の一実施の形態による窒化ガリウム系LED素子の製造方法に対して、図4a及び図4bと前述の図2とを参照して詳細に説明する。
図4a及び図4bは、本発明の一実施の形態による窒化ガリウム系LED素子の製造方法を順次示した工程断面図である。
まず、図4aに示すように、LEDチップ100を準備する。LEDチップ100は、基板110と、該基板110上に設けられ、第1の領域及び第2の領域に区分されたn型窒化物半導体層120と、該n型窒化物半導体層120の第1の領域上に設けられた活性層130と、該活性層130上に設けられたp型窒化物半導体層140と、該p型窒化物半導体層140上に設けられたp型電極150と、n型窒化物半導体層120の第2の領域上に設けられたn型電極160と、から構成されている。
続いて、LEDチップ100のp型電極150及びn型電極160上に、第1の金属層310を設ける。ここで、第1の金属層310は、後述のサブマウントの反射度がLEDチップ100の特性に影響を及ぼすことを防止するために反射物質を含むことが望ましく、例として、Sn、Cu、Au、Agの群より選ばれるいずれか一つ以上の金属が含まれることができる。
次に、図4bに示すように、熱伝導性に優れたサブマウント200を準備する。続いて、LEDチップ100とボンディングされるべきサブマウント200の一面に、第2の金属層330を設ける。ここで、第2の金属層320はSnまたはAgを含む合金をペースト状に設ける。前述のように、第2の金属層330をペースト状で設けると、サブマウント200の表面が荒い場合、後述の共融ボンディングの際のボンディング工程が容易となる。
続いて、第2の金属層330と第1の金属層310とを半田付けし、LEDチップ100とサブマウント200とを共融ボンディングする(図2参照)。
一方、本実施の形態においては、窒化ガリウム系LED素子の水平構造LEDの一つであるフリップチップLED素子について説明したが、これに限定される訳ではなく、p型窒化物半導体層と接触しているp型電極層を介して光が出射されるように設けられたトップエミッション型LED(図5参照)及び垂直構造LED(図6参照)にも全て適用可能である。
図5及び図6は、本発明の他の実施の形態による窒化ガリウムLED素子を概略的に示した断面図であって、図5はトップエミッション型LEDの構造を示し、図6は垂直構造LEDの構造を示している。
ここで、図5及び図6中、トップエミッション型LEDと垂直構造LEDとの同一部分に対しては、フリップチップ型LED(図2参照)の符号と同一の符号を記した。また、図6中の符号190は、構造支持層を示す。
今回開示された実施の形態は例示にすぎず、制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施の形態の説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
従来技術による窒化ガリウム系LED素子を概略的に示した断面図である。 本発明の一実施の形態による窒化ガリウム系LED素子を概略的に示した断面図である。 本発明の一実施の形態による窒化ガリウム系LED素子の変形例を示した断面図である。 本発明の一実施の形態による窒化ガリウム系LED素子の製造方法を順次示した工程断面図である。 本発明の一実施の形態による窒化ガリウム系LED素子の製造方法を順次示した工程断面図である。 本発明の他の実施の形態による窒化ガリウムLED素子を概略的に示した断面図である。 本発明の他の実施の形態による窒化ガリウムLED素子を概略的に示した断面図である。
符号の説明
100 LEDチップ
200 サブマウント
300 接着層
310 第1の金属層
320 第2の金属層
330 第3の金属層
400 反射層
500 拡散防止層

Claims (24)

  1. LEDチップと、
    前記LEDチップが接着層を介して共融ボンディングされたサブマウントと、
    を含み、
    前記接着層は、第1の金属層及び第2の金属層が順に積層されている複数の金属層が半田付けされることによって構成され、前記第2の金属層はペースト状でなされたことを特徴とする窒化ガリウム系発光ダイオード素子。
  2. 前記第1の金属層が、前記第2の金属層と同一の物質から成ることを特徴とする請求項1に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子。
  3. 前記第1の金属層が、Sn、Ag、Au、Cuの群より選ばれる一つ以上の金属から成ることを特徴とする請求項1に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子。
  4. 前記第2の金属層が、SnまたはAgを含む合金から成ることを特徴とする請求項1に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子。
  5. 前記LEDチップと前記接着層との間に、さらに、透明層が設けられることを特徴とする請求項1に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子。
  6. 前記透明層は、NiO、TiO、ITO、SiOの群より選ばれる一つ以上の酸化物、またはSi、MgFから成ることを特徴とする請求項5に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子。
  7. 前記透明層と前記接着層との間に、さらに、反射層が設けられることを特徴とする請求項6に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子。
  8. 前記反射層が、AgまたはAlのうちの少なくともいずれか一つ以上を含む合金から成ることを特徴とする請求項7に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子。
  9. 前記反射層と前記接着層との間に、さらに、拡散防止層が設けられることを特徴とする請求項7に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子。
  10. 前記拡散防止層が、Ni、Pt、Cr、Ti、Wの群より選ばれる一つ以上の金属から成ることを特徴とする請求項9に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子。
  11. 前記LEDチップが、基板と、該基板上に設けられ、第1の領域及び第2の領域に区分されたn型窒化物半導体層と、該n型窒化物半導体層の前記第1の領域上に設けられた活性層と、該活性層上に設けられたp型窒化物半導体層と、該p型窒化物半導体層上に設けられたp型電極と、前記n型窒化物半導体層の前記第2の領域上に設けられたn型電極と、を含んで構成されることを特徴とする請求項1に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子。
  12. 前記LEDチップが、n型電極と、該n型電極の下面にn型窒化物半導体層、活性層及びp型窒化物半導体層が下方に順に積層されて設けられた発光構造物と、該発光構造物の下面に設けられたp型電極と、該p型電極の下面に設けられた構造支持層とを含んで構成されることを特徴とする請求項1に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子。
  13. LEDチップを準備するステップと、
    前記LEDチップの発光面の反対面に第1の金属層を設けるステップと、
    サブマウントを準備するステップと、
    前記LEDチップとボンディングされるべき前記サブマウントの一面に、第2の金属層を設けるステップと、
    前記第1の金属層と前記第2の金属層とを半田付けして共融ボンディングするステップとを含み、
    前記第2の金属層が、ペースト状であることを特徴とする窒化ガリウム系発光ダイオード素子の製造方法。
  14. 前記第1の金属層が、前記第2の金属層と同一の物質から成ることを特徴とする請求項13に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子の製造方法。
  15. 前記第1の金属層が、Sn、Ag、Au、Cuの群より選ばれる一つ以上の金属から成ることを特徴とする請求項13に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子の製造方法。
  16. 前記第2の金属層が、SnまたはAgを含む合金から成ることを特徴とする請求項13に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子の製造方法。
  17. 前記LEDチップの発光面の反対面に前記第1の金属層を設けるステップの前に、
    前記LEDチップの発光面の反対面に透明層を設けるステップを、さらに含むことを特徴とする請求項13に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子の製造方法。
  18. 前記透明層が、NiO、TiO、ITO、SiOの群より選ばれる一つ以上の酸化物、またはSi、MgFから成ることを特徴とする請求項17に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子の製造方法。
  19. 前記LEDチップの発光面の反対面に透明層を設けるステップの後に、
    前記透明層上に反射層を設けるステップを、さらに含むことを特徴とする請求項17に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子の製造方法。
  20. 前記反射層が、AgまたはAlのうちの少なくともいずれか一つ以上を含む合金から成ることを特徴とする請求項19に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子の製造方法。
  21. 前記LEDチップの発光面の反対面に反射層を設けるステップの後に、
    前記反射層上に拡散防止層を設けるステップを、さらに含むことを特徴とする請求項19に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子の製造方法。
  22. 前記拡散防止層が、Ni、Pt、Cr、Ti、Wの群より選ばれる一つ以上の金属から成ることを特徴とする請求項21に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子の製造方法。
  23. 前記LEDチップが、基板と、該基板上に設けられ、第1の領域及び第2の領域に区分されたn型窒化物半導体層と、該n型窒化物半導体層の前記第1の領域上に設けられた活性層と、該活性層上に設けられたp型窒化物半導体層と、該p型窒化物半導体層上に設けられたp型電極と、前記n型窒化物半導体層の前記第2の領域上に設けられたn型電極とを含んで構成されることを特徴とする請求項13に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子の製造方法。
  24. 前記LEDチップが、n型電極と、該n型電極の下面にn型窒化物半導体層、活性層及びp型窒化物半導体層が下方に順に積層されて設けられた発光構造物と、該発光構造物の下面に設けられたp型電極と、該p型電極の下面に設けられた構造支持層とを含んで構成されることを特徴とする請求項13に記載の窒化ガリウム系発光ダイオード素子の製造方法。
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