JP2009060954A - 放射線撮像装置 - Google Patents
放射線撮像装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009060954A JP2009060954A JP2007228955A JP2007228955A JP2009060954A JP 2009060954 A JP2009060954 A JP 2009060954A JP 2007228955 A JP2007228955 A JP 2007228955A JP 2007228955 A JP2007228955 A JP 2007228955A JP 2009060954 A JP2009060954 A JP 2009060954A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- image
- subtraction
- voltage value
- ray
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 65
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 144
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 95
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 52
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 34
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 23
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 21
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 24
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 16
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 238000002601 radiography Methods 0.000 description 11
- 206010047571 Visual impairment Diseases 0.000 description 8
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 210000004872 soft tissue Anatomy 0.000 description 5
- 210000000988 bone and bone Anatomy 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 4
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 4
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 3
- 238000002600 positron emission tomography Methods 0.000 description 3
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 239000013013 elastic material Substances 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 1
- 210000001519 tissue Anatomy 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
Images
Abstract
【解決手段】サブトラクション処理のための高圧画像および低圧画像を取得するためにX線管から高電圧値に応じたX線および低電圧値に応じたX線を照射するサブトラクション撮影モードBのときに光源をOFFにするように制御することで、サブトラクション処理手段で処理されたサブトラクション画像は、例えば画像の上下に輝度差が軽減されるなどのように、画像を適正に出力することができる。
【選択図】図7
Description
すなわち、請求項1に記載の発明は、被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段と、前記被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段とを備え、検出された放射線に基づいて放射線画像を得ることで放射線撮像を行う放射線撮像装置であって、前記放射線照射手段が高電圧値に応じた放射線およびそれよりも低い低電圧値に応じた放射線を照射するように構成するとともに、前記放射線検出手段が前記高電圧値に応じた放射線および前記低電圧値に応じた放射線を検出して、高電圧値に応じた放射線検出信号および低電圧値に応じた放射線検出信号を出力するように構成し、その放射線検出手段は、放射線の入射により前記放射線の情報を電荷情報に変換する半導体層を有した基板と、その基板の放射線入射側とは逆側に配設された光源と、前記電荷情報を読み出すことで放射線を検出する読み出し手段とを備え、前記装置は、前記高電圧値に応じた放射線検出信号に基づいて得られる高圧画像および前記低電圧値に応じた放射線検出信号に基づいて得られる低圧画像に基づいてサブトラクション処理を行うサブトラクション処理手段と、前記サブトラクション処理のための高圧画像および低圧画像を取得するために放射線照射手段から高電圧値に応じた放射線および低電圧値に応じた放射線を照射するときに前記光源をOFFにするように制御する制御手段とを備えることを特徴とするものである。
図1は、実施例に係るX線撮像装置のブロック図であり、図2は、X線撮影装置に用いられるフラットパネル型X線検出器の概略断面図であり、図3は、側面視したフラットパネル型X線検出器の等価回路であり、図4は、平面視したフラットパネル型X線検出器の等価回路である。本実施例では放射線検出手段としてフラットパネル型X線検出器(以下、「FPD」と略記する)を例に採るとともに、放射線撮像装置としてX線撮像装置を例に採って説明する。
3 … フラットパネル型X線検出器(FPD)
9a … 高低圧画像取得部
9c … サブトラクション処理部
31 … ガラス基板
32 … スイッチング素子
33 … キャリア収集電極
34 … X線感応型半導体
36 … ゲートバスライン
39 … データバスライン
41 … 光源
43 … 第2FPD制御部
A … 通常のX線撮影モード
B … サブトラクション撮影モード
M … 被検体
Claims (5)
- 被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段と、前記被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段とを備え、検出された放射線に基づいて放射線画像を得ることで放射線撮像を行う放射線撮像装置であって、前記放射線照射手段が高電圧値に応じた放射線およびそれよりも低い低電圧値に応じた放射線を照射するように構成するとともに、前記放射線検出手段が前記高電圧値に応じた放射線および前記低電圧値に応じた放射線を検出して、高電圧値に応じた放射線検出信号および低電圧値に応じた放射線検出信号を出力するように構成し、その放射線検出手段は、放射線の入射により前記放射線の情報を電荷情報に変換する半導体層を有した基板と、その基板の放射線入射側とは逆側に配設された光源と、前記電荷情報を読み出すことで放射線を検出する読み出し手段とを備え、前記装置は、前記高電圧値に応じた放射線検出信号に基づいて得られる高圧画像および前記低電圧値に応じた放射線検出信号に基づいて得られる低圧画像に基づいてサブトラクション処理を行うサブトラクション処理手段と、前記サブトラクション処理のための高圧画像および低圧画像を取得するために放射線照射手段から高電圧値に応じた放射線および低電圧値に応じた放射線を照射するときに前記光源をOFFにするように制御する制御手段とを備えることを特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項1に記載の放射線撮像装置において、前記電荷情報を読み出す信号線および電荷情報を走査する走査線を前記基板上に格子状に配置するとともに、電荷情報の読み出しのON/OFFを切り換えるスイッチング素子および画素ごとに電荷情報を収集する画素電極を基板上に単位格子ごとに2次元マトリックス状配列で配置して前記放射線検出手段は構成されていることを特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項1または請求項2に記載の放射線撮像装置において、前記制御手段を前記放射線検出手段側に備えることを特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項1から請求項3のいずれかに記載の放射線撮像装置において、前記高圧画像に対して画像処理を行うことで前記放射線画像を出力するとともに、その高圧画像を用いて前記サブトラクション処理手段で処理された画像を前記サブトラクション画像とすることでサブトラクション画像を出力し、1つの高圧画像で放射線画像およびサブトラクション画像を取得することを特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項1から請求項4のいずれかに記載の放射線撮像装置において、前記制御手段は、前記放射線画像を取得するために前記放射線照射手段から放射線を照射するときに前記光源をONにして光を照射し、放射線画像の取得後に、光源をOFFにした状態で前記サブトラクション処理のための放射線照射手段による放射線の照射を行うように制御することを特徴とする放射線撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007228955A JP5007632B2 (ja) | 2007-09-04 | 2007-09-04 | 放射線撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007228955A JP5007632B2 (ja) | 2007-09-04 | 2007-09-04 | 放射線撮像装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009060954A true JP2009060954A (ja) | 2009-03-26 |
JP5007632B2 JP5007632B2 (ja) | 2012-08-22 |
Family
ID=40556124
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007228955A Expired - Fee Related JP5007632B2 (ja) | 2007-09-04 | 2007-09-04 | 放射線撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5007632B2 (ja) |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10260259A (ja) * | 1997-03-18 | 1998-09-29 | Toshiba Corp | 画像入出力装置 |
JP2000323698A (ja) * | 1999-03-11 | 2000-11-24 | Sharp Corp | アクティブマトリクス基板、その製造方法、及び、該基板を用いたイメージセンサ |
JP2001264495A (ja) * | 2000-03-16 | 2001-09-26 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線エネルギー分離フィルタ、固体センサおよびこれらを用いた放射線画像情報取得装置並びに放射線画像情報取得方法 |
JP2004033659A (ja) * | 2002-07-08 | 2004-02-05 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
JP2004146769A (ja) * | 2002-08-30 | 2004-05-20 | Shimadzu Corp | 放射線検出器 |
JP2004281882A (ja) * | 2003-03-18 | 2004-10-07 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
JP2005283261A (ja) * | 2004-03-29 | 2005-10-13 | Shimadzu Corp | 放射線検出器 |
JP2005287773A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Canon Inc | 画像撮影装置及び画像撮影システム |
JP2006322746A (ja) * | 2005-05-17 | 2006-11-30 | Shimadzu Corp | 2次元放射線検出器 |
JP2007159790A (ja) * | 2005-12-13 | 2007-06-28 | Canon Inc | 放射線撮影装置及び放射線撮影システム |
JP2007165081A (ja) * | 2005-12-13 | 2007-06-28 | Shimadzu Corp | X線発生装置およびこれを備えたx線診断装置 |
-
2007
- 2007-09-04 JP JP2007228955A patent/JP5007632B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10260259A (ja) * | 1997-03-18 | 1998-09-29 | Toshiba Corp | 画像入出力装置 |
JP2000323698A (ja) * | 1999-03-11 | 2000-11-24 | Sharp Corp | アクティブマトリクス基板、その製造方法、及び、該基板を用いたイメージセンサ |
JP2001264495A (ja) * | 2000-03-16 | 2001-09-26 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線エネルギー分離フィルタ、固体センサおよびこれらを用いた放射線画像情報取得装置並びに放射線画像情報取得方法 |
JP2004033659A (ja) * | 2002-07-08 | 2004-02-05 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
JP2004146769A (ja) * | 2002-08-30 | 2004-05-20 | Shimadzu Corp | 放射線検出器 |
JP2004281882A (ja) * | 2003-03-18 | 2004-10-07 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
JP2005283261A (ja) * | 2004-03-29 | 2005-10-13 | Shimadzu Corp | 放射線検出器 |
JP2005287773A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Canon Inc | 画像撮影装置及び画像撮影システム |
JP2006322746A (ja) * | 2005-05-17 | 2006-11-30 | Shimadzu Corp | 2次元放射線検出器 |
JP2007159790A (ja) * | 2005-12-13 | 2007-06-28 | Canon Inc | 放射線撮影装置及び放射線撮影システム |
JP2007165081A (ja) * | 2005-12-13 | 2007-06-28 | Shimadzu Corp | X線発生装置およびこれを備えたx線診断装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5007632B2 (ja) | 2012-08-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4462349B2 (ja) | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 | |
JP5816316B2 (ja) | 放射線画像検出装置およびその作動方法、並びに放射線撮影装置 | |
US7953207B2 (en) | Radiation conversion panel and method of capturing radiation image therewith | |
JP4858616B2 (ja) | 放射線撮像装置 | |
US9322931B2 (en) | Radiation imaging system | |
US7983390B2 (en) | Energy subtraction processing apparatus, method, and radiation image diagnosis system | |
JPWO2008072310A1 (ja) | 撮像装置 | |
JP2008246022A (ja) | 放射線撮影装置 | |
JP4941558B2 (ja) | 放射線撮像装置 | |
JP2006304213A (ja) | 撮像装置 | |
JP4924717B2 (ja) | 放射線撮像装置 | |
JP2006055393A (ja) | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 | |
JP2009165705A (ja) | 放射線撮像装置 | |
JP5007632B2 (ja) | 放射線撮像装置 | |
JP4998279B2 (ja) | 放射線撮像装置 | |
JP2008167854A (ja) | 放射線撮像装置 | |
WO2008072312A1 (ja) | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 | |
JP2009240420A (ja) | 放射線画像処理装置 | |
JPWO2007049348A1 (ja) | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 | |
JP4968364B2 (ja) | 撮像装置 | |
US11185303B2 (en) | Image processing apparatus, radiography system, image processing method, and image processing program | |
JP4905460B2 (ja) | 撮像装置 | |
US8742355B2 (en) | Radiation image capturing system and method of adjusting same | |
JP2012148143A (ja) | 放射線撮像装置 | |
US10932742B2 (en) | Image processing apparatus, radiography system, image processing method, and image processing program |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20091116 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110810 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110816 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111011 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120501 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120514 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150608 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |