JP2009038139A - 半導体装置およびその製造方法 - Google Patents

半導体装置およびその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2009038139A
JP2009038139A JP2007199692A JP2007199692A JP2009038139A JP 2009038139 A JP2009038139 A JP 2009038139A JP 2007199692 A JP2007199692 A JP 2007199692A JP 2007199692 A JP2007199692 A JP 2007199692A JP 2009038139 A JP2009038139 A JP 2009038139A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
conductor
semiconductor device
lead
element electrode
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007199692A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuhiro Hamada
充弘 浜田
Koichi Tomita
光一 富田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2007199692A priority Critical patent/JP2009038139A/ja
Priority to US12/183,887 priority patent/US7839003B2/en
Publication of JP2009038139A publication Critical patent/JP2009038139A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/34Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/36Structure, shape, material or disposition of the strap connectors prior to the connecting process
    • H01L24/37Structure, shape, material or disposition of the strap connectors prior to the connecting process of an individual strap connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49517Additional leads
    • H01L23/49524Additional leads the additional leads being a tape carrier or flat leads
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/34Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/39Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
    • H01L24/40Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/34Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/39Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
    • H01L24/41Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of a plurality of strap connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/84Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a strap connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/34Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/39Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
    • H01L2224/40Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
    • H01L2224/4005Shape
    • H01L2224/4009Loop shape
    • H01L2224/40091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/4501Shape
    • H01L2224/45012Cross-sectional shape
    • H01L2224/45015Cross-sectional shape being circular
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45117Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
    • H01L2224/45124Aluminium (Al) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/838Bonding techniques
    • H01L2224/83801Soldering or alloying
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/84Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a strap connector
    • H01L2224/842Applying energy for connecting
    • H01L2224/84201Compression bonding
    • H01L2224/84205Ultrasonic bonding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/8534Bonding interfaces of the connector
    • H01L2224/85345Shape, e.g. interlocking features
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L24/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01013Aluminum [Al]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01022Titanium [Ti]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01028Nickel [Ni]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01029Copper [Cu]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01047Silver [Ag]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01078Platinum [Pt]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/014Solder alloys
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1306Field-effect transistor [FET]
    • H01L2924/13091Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]

Abstract

【課題】銅などの第1の導体の持つ導電率及び熱伝導性と、アルミニウムなどの第2の導体の持つ、素子電極とリード端子電極との電気的な接続を簡便にする機能を兼ね備える連結導体を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体素子4に設けられた複数個の素子電極5と、リードフレームに設けられた複数個のリード6を有し、前記素子電極5のうち、少なくとも1個の電極と、前記リード6のうち、少なくとも1個の電極とを電気的に接続する連結導体を備え、前記連結導体3は、金属を主体とする第1の導体1と第2の導体2からなり、前記第1の導体1と前記第2の導体2は電気的に接続され、前記素子電極5と前記リード端子電極6はそれぞれ前記第2の導体2と電気的に接続されていることを特徴とする。
【選択図】図1

Description

本発明は、半導体装置およびその製造方法に関し、特に半導体素子とリード端子を接続する連結導体、例えば半導体素子の一つであるMOSFETのソース電極とリード端子とを電気的に接続する連結導体に関するものである。
近年、半導体装置の消費電力の低減が望まれており、その手段の一つとして、半導体装置が動作時の実質的な抵抗成分であるオン抵抗の低減が進められている。このうち、半導体素子を保護するとともに外部接続端子としての役割を果たすパッケージの占めるオン抵抗の低減技術について説明する。
半導体装置の製造工程のうち、組立工程の一例は、以下のとおりである。まず、所望の素子領域および配線の形成されたウエハから切り出された半導体素子は、銅を主成分とする板状体を加工して形成され、アイランド部(半導体素子搭載部)と、このアイランド部に先端が近接するように形成されたリード端子からなるリード部とを備えたリードフレームのアイランド部に搭載される。次に、半導体素子の表面上に形成された素子電極は、金線やアルミニウム線などの連結導体を用いて、アイランド部の周縁に近接して設けられたリード端子と電気的に接続される。その後、半導体素子及びリードフレームは、リード端子の先端の一部を残して、樹脂等で封止されてパッケージ化され、半導体装置となる。ここでパッケージとは、リードを含むリードフレームと、封止樹脂とをあわせたものをいうこととする。図8は従来例の半導体装置を示す図である。
ここで、半導体素子とリードとの接続に、ボンディングワイヤと呼ばれる金線やアルミニウム線などの連結導体用いた場合、1本あたりの線径が数十から数百μm程度である。オン抵抗を低減するためには、数十から数百本の金線やアルミニウム線などを用いる必要があり、コストの増大や組立工程の複雑化を招く。
そのため、特許文献1では、金属細線に代えて銅からなる板状の連結導体を用いて、半導体素子とリード端子を電気的に接続する方法が記載されている。素子電極とリード端子とを連結導体で電気的に接続するために、半田などの導体が用いられている。
また、特許文献2には、アルミニウムからなる板状の連結導体を用いて、半導体素子とリード端子を電気的に接続する方法が記載されている。素子電極とリード端子とを連結導体で電気的に接続するために、半田などを用いる必要はなく、超音波接続により接続することが可能である。
銅またはアルミニウムからなる板状の連結導体を用いることで、パッケージの占めるオン抵抗の低減が可能であり、1ミリΩ以下の抵抗を実現できる。さらには、放熱性の観点から見れば、金線やアルミニウム線に比べて熱伝導度が高くなるため、半導体素子からリードフレームへの放熱性が良くなり、より高い電流容量を実現できる。
特開平8−148623(第4頁、図1) 特開2002−314018(第16頁、図2)
しかしながら、銅からなる板状の連結導体を用いた場合、素子電極とリード端子とを連結導体で電気的に接続するためには、半田などの導体で接続する必要がある。また、素子電極には半田濡れ性の良い金属材料を用いる必要があるために、一般的に素子電極の材料として用いられるアルミニウムを利用出来ないという問題を有していた。
他方、アルミニウムは銅の次に導電率が優れているものの、銅に比べて約6割低い導電率であるために、銅に比べて約2倍の厚い板状の電極を用いる必要がある。このため、半導体装置のパッケージの厚さが厚くなる欠点を有していた。さらに、アルミニウムの熱伝導性も銅に比べて約6割低いために、銅に比べて半導体素子からリードフレームへの熱伝導性が低下する欠点を有していた。
よって、本発明の目的は、銅の持つ導電率及び熱伝導性と、アルミニウムの持つ素子電極とリード端子との電気的な接続を簡便にする機能を兼ね備える連結導体を有する半導体装置を提供することにある。
前記目的を解決するために、本発明にかかる半導体装置は、所望の素子領域および素子電極が形成された半導体基板と、複数個のリードを備えたリード部と、前記素子電極と、前記リード部の前記素子電極に対応するリードとを電気的に接続する連結導体とを具備し、前記連結導体が、少なくとも、第1の導体と、前記素子電極あるいは前記リードとの当接する領域に配された第2の導体とを具備したことを特徴とする。
これにより、前記連結導体に任意の材料を組み合わせることができるため、前記連結導体に前記第1の導体と前記第2の導体の有する機能、すなわち、複数の機能を持たせることが可能である。例えば、第1の導体には導電性と機械的強度、第2の導体には、素子電極あるいはリードとの当接する領域における接合強度の向上などの機能を持たせることができる。
また本発明は、上記半導体装置において、前記連結導体が、第1の導体と、少なくとも前記素子電極あるいは前記リードと当接する領域で前記第1の導体に積層された第2の導体とで構成されたものを含む。
この構成により、第2の導体はそれ自体が十分な強度を持たない場合にも第1の導体によって強度を補償され、より強固な接合が可能となる。また、前記連結導体に、前記第1の導体のもつ高い導電率と熱伝導性、及び前記第2の導体のもつ前記半導体素子の素子電極と前記リードとの電気的な接続を簡便にする機能を持たせることができる。
また本発明は、上記半導体装置において、前記第1の導体は、銅を主体とする材料で形成されたものを含む。
また本発明は、上記半導体装置において、前記第2の導体は、アルミニウムを主成分とする材料で構成されたものを含む。
また本発明は、上記半導体装置において、前記第2の導体は、アルミニウム、銀、金、ニッケル、チタンなどの少なくとも1種の金属を含むものを含む。
また本発明は、上記半導体装置において、素子電極あるいは前記リードは、それぞれ前記第2の導体を介して超音波接続によって前記連結導体と電気的に接続されたものを含む。
また本発明は、上記半導体装置において、前記第2の導体は、表面に凹凸を有するものを含む。
また本発明は、上記半導体装置において、前記第1の導体は、湾曲面を有するものを含む。
これにより、前記素子電極と前記リードとを前記連結導体と電気的に接続する際に、前記半導体素子に電気的に接触することなく形成することができる。
また本発明は、上記半導体装置において、前記連結導体は複数に分割形成されたものを含む。
このように、前記連結導体を複数本用いて、前記素子電極及び前記リードを電気的に接続してもよい。これにより、前記連結導体を様々な大きさを有する前記素子電極及び前記リードに対して用いることができるため、コストの削減が可能である。また、1枚で幅広形状となるように形成する場合に比べて、複数に分割することで、取り扱いも容易で、ボンディング性も高く、曲げに対しても耐性を維持することができる。
また本発明は、所望の素子領域および素子電極が形成された半導体基板と、複数個のリードを備えたリード部と、前記素子電極と、前記リード部の前記素子電極に対応するリードとを電気的に接続する連結導体とを具備した半導体装置の製造方法であって、第1の導体と、第2の導体とを具備した連結導体を、少なくとも前記素子電極および前記リードと当接する領域に前記第2の導体を挟み、超音波接合する工程を含む。
これにより、半田などを用いなくとも、前記連結導体を前記素子電極及び前記リードに接続することができ、高い導電性及び高い熱伝導性を備えることができる。また、半田を用いる工程が不要となるため、組立工程の簡素化が可能である。さらに、前記連結導体に凹凸の形状を具備することにより、超音波接続時における強度を強めることなく密着性を高めることができる。
以上のように、本発明の半導体装置によれば、連結導体に任意の材料を組み合わせることができるため、連結導体に第1の導体と第2の導体の有する機能、すなわち、複数の機能を持たせることが可能である。例えば、第1の導体には導電性と機械的強度、第2の導体には、素子電極あるいはリードとの当接する領域における接合強度の向上などの機能を持たせることができる。一例としては、銅の持つ導電率及び熱伝導性と、アルミニウムの持つ素子電極とリードとの電気的な接続の簡便さを兼ね備えることができる。
以下本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1における半導体装置の斜視図である。図1において、半導体素子4は、リードフレームのリード6の一端に連結導体3を介して電気的に接続されており、第1の導体1は銅を主成分とする板状の導体であり、第2の導体2は、半導体素子4に設けられた素子電極5とリードフレームのリード6を電気的に接続するためのアルミニウム層である。この連結導体3は第1の導体1の一方の面に第2の導体2が積層されたもので、図1においては、第2の導体2の上に第1の導体1が電気的に接続されるように層状に形成されている。第2の導体2の、リード6と電気的に接続される側の面は平坦であるが、凹凸が形成されていてもよい。半導体素子4は、リードフレームの島状電極である半導体素子搭載部7の上に形成されている。なお、半導体素子4と半導体素子搭載部7は、半田などの導体を介して電気的に接続されている。
第2の導体2はアルミニウムで構成されているため、素子電極3及びリード6と超音波接続によって電気的に接続することができる。よって、連結導体3は、第1の導体の持つ高い伝導率と熱伝導性の機能と、第2の導体の持つ電気的な接続を簡便にする機能の2つの機能を有す。したがって、半導体素子4が動作する時のパッケージの占めるオン抵抗を低減でき、また、半導体素子4で発生する熱を効率良く外部に放出することが出来る。また、連結導体3を素子電極5とリード6とを電気的に接続する際、超音波接合により容易に接合可能であるため、半田接合を用いる場合に比べて、工法を簡素化することができる。
なおこの、連結導体は、厚さ0.1mm程度の銅板に、厚さ0.05mm程度のアルミニウム箔を接合し、所望の形状に切断して形成される。アルミニウムは超音波接合が容易であり、加工性も良好である。銅は導電性が高く、機械的強度も高いという特徴を有する。
また、第1の導体としての銅板に、スパッタリングやCVD法などを用いた薄膜形成によって第2の導体としてのアルミニウム薄膜を形成してもよいしまた、めっき法を用いてもよい。
以上、本発明の実施の形態1に係る半導体装置について説明したが、本発明は、この実施の形態に限定されるものではない。
例えば、前記実施の形態1において、第2の導体としてはアルミニウム層を用いたが、アルミニウムを主成分とする金属、銀、金、ニッケル、チタンなどの金属を用いてもよい。第2の導体としては、融点が低く超音波接合が容易であるものが望ましいが、リードあるいは素子電極との密着性の良好な材料であればよく、必要に応じて半田を介在させるようにしてもよい。
また、第1の導体は第2の導体の全面に渡って上側に形成されているが、第1の導体と第2の導体が電気的に接続されていれば、第1の導体の一部が第2の導体の下面に露出していてもよい。また、第2の導体は第1の導体と全面に渡って電気的に接続されているが、一部が電気的に接続されていなくても良い。さらに、第1の導体のみが連結導体3の一部に存在していても良い。
また前記実施の形態では、接続導体は湾曲形状をなすように構成したが、直線状であってもよい。例えば半導体素子搭載部7がリード6の端面よりも低い位置に配置され、素子電極5とリード6の高さが同一である場合には、接続導体は湾曲面を構成せず、平坦面であってもよい。
(実施の形態2)
図2は、本発明の実施の形態2における半導体装置の模式図である。前記実施の形態1と異なるのは、アルミニウム層で構成された第2の導体2が、素子電極3及びリード6と超音波接続によって電気的に接続される領域に対してのみ設けられた点である。なお、以下の実施の形態2の説明において、実施の形態1にて説明したものと同一要素には同一符号を付して、それらに関する詳しい説明は省略する。
この構成によれば、前記実施の形態1による作用効果に加え、湾曲形状となる部分は第1の導体1層構造であるため、折り曲げによる剥離を生じたりすることなく、機械的強度を維持することができる。
また湾曲形状となる部分は第1の導体1層で薄いため、形状加工が容易となる。
なおこの、連結導体は、厚さ0.1mm程度の銅板に、厚さ0.05mm程度のアルミニウム箔を接合し、フォトリソグラフィを用いてパターニングしアルミニウム箔の一部を残すように形成した後所望の形状に切断して形成される。
また、銅板への、アルミニウム層の形成は薄膜形成によって形成してもよいしまた、めっき法を用いてもよい。選択めっきを用いることで、工程の簡略化をはかることができる。
(実施の形態3)
図3は、本発明の実施の形態3における半導体装置の実装に用いられる連結導体の模式図である。なお、以下の実施の形態3の説明において、実施の形態1にて説明した半導体装置と同一要素には同一符号を付して、それらに関する詳しい説明は省略する。
図3において、第2の導体2は、凹凸、曲面及び平面の組み合わせからなる板状の導体で形成されている。図4はこの連結導体の第2の導体形成面側から見た平面図である。本実施の形態では、特に、第2の導体2と、素子電極5及びリード6を電気的に接続する領域に凹凸の形状を有する板状の導体を用いることで、超音波接続時における密着性を高めることができる。例えば、凹凸の表面の面積を、凹凸を持たない表面の面積の2倍にすれば、密着性を約2倍に高めることができる。または、超音波接続時の超音波の強度を小さくしても密着性を確保できるため、半導体素子4への超音波の衝撃を抑制し、電気的特性への影響を低減することができる。
以上、本発明の実施の形態3に係る半導体装置について説明したが、本発明は、この実施の形態に限定されるものではない。
例えば、実施の形態3において、図4に示すように、第2の導体2は四角形の格子状の凹凸を有する板状の導体で形成されているが、円状、非円形、多角形、無秩序に形成された幾何学模様上の形などでも良い。また、第1の導体1は、第2の導体2と素子電極5及びリード6とが接触する領域では、直接接触していないが、接触させる如く形成しても良い。この場合においても、超音波接続時の密着性を高めることができる。
なお、この凹凸は第2の導体2と素子電極5及びリード6とが接触する領域など一部においてのみ形成してもよく、先端が突出した形状をなすものであってもよい。
(実施の形態4)
図5は、本発明の実施の形態4における半導体装置に用いられる接続導体の断面図、図6は接合面側から見た平面図である。前記実施の形態3と異なるのは、前記実施の形態4では、一部の第1の導体1が接合面に露呈するようにしかつ、第2の導体を、第1の導体表面から突出するパターン形状をなすように形成した点である。なお、以下の実施の形態4の説明において、実施の形態3にて説明したと同一要素には同一符号を付して、それらに関する詳しい説明は省略する。
前記実施の形態3では、第1の導体1は、第2の導体2と素子電極5及びリード6と接触する領域では、直接接触していないが、本実施の形態4では、接続導体3と素子電極5及びリード6とが接触する領域では、第2の導体2がパターン形状をなすように形成されており、一部の第1の導体1が接合面に露呈しているため、第2の導体2が超音波により溶融し第1の導体1と素子電極5及びリード6との接触性を高めることができる。
(実施の形態5)
図7は、本発明の実施の形態4における半導体装置の斜視図である。なお、以下の実施の形態5の説明において、実施の形態1にて説明したと同一要素には同一符号を付して、それらに関する詳しい説明は省略する。
図7において、連結導体3は、素子電極5及びリード6と複数の連結導体3を用いて電気的に接続される。これにより、どのような面積を有する素子電極5に対しても、1種類の連結導体3で対応することができる。よって、連結導体3の部品の種類を1種類でまかなうことができるので、コストの削減と在庫の削減が可能である。
また、1枚で幅広形状となるように連結導体を形成する場合に比べて、複数に分割することで、取り扱いも容易で、ボンディング性も高く、曲げに対しても耐性を維持することができる。
以上、本発明の実施の形態5に係る半導体装置について説明したが、本発明は、この実施の形態に限定されるものではない。
例えば、実施の形態5において、図7においては、連結導体3の数は3個であるが、1個以上であれば何個でも良い。また、複数の連結導体3は等間隔に平行に接続されているが、等間隔である必要はなく、また、それぞれが平行の関係になくても良い。
本発明は、低抵抗でかつ接合強度の高い連結導体を構成することから、大電流の流れるパワーデバイスに適用可能であり、特にそのソース電極とリードなどの接合に有効である。
本発明の実施の形態1における半導体素子、リードフレーム及び連結導体を備えた半導体装置の斜視図 本発明の実施の形態2における半導体素子、リードフレーム及び連結導体を備えた半導体装置の斜視図 本発明の実施の形態3における連結導体の模式図 本発明の実施の形態3における連結導体の模式図 本発明の実施の形態4における連結導体の模式図 本発明の実施の形態4における連結導体の模式図 本発明の実施の形態5における半導体素子、リードフレーム及び連結導体を備えた半導体装置の斜視図 従来の半導体装置における半導体素子4と連結導体3およびリード端子6の接続構造を模式的に示す斜視図
符号の説明
1 第1の導体
2 第2の導体
3 連結導体
4 半導体素子
5 素子電極
6 リード端子
7 半導体素子搭載部

Claims (10)

  1. 所望の素子領域および素子電極が形成された半導体基板と、
    複数個のリードを備えたリード部と、
    前記素子電極と、前記リード部の前記素子電極に対応するリードとを電気的に接続する連結導体とを具備し、
    前記連結導体が、少なくとも、第1の導体と、前記素子電極あるいは前記リードとの当接する領域に配された第2の導体とを具備した半導体装置。
  2. 請求項1に記載の半導体装置であって、
    前記連結導体が、第1の導体と、少なくとも前記素子電極あるいは前記リードと当接する領域で前記第1の導体に積層された第2の導体とで構成された半導体装置。
  3. 請求項1または2に記載の半導体装置であって、
    前記第1の導体は、銅を主体とする材料で形成された半導体装置。
  4. 請求項1乃至3のいずれかに記載の半導体装置であって、
    前記第2の導体は、アルミニウムを主成分とする材料で構成された半導体装置。
  5. 請求項1乃至3のいずれかに記載の半導体装置であって、
    前記第2の導体は、アルミニウム、銀、金、ニッケル、チタンなどの少なくとも1種の金属を含む半導体装置。
  6. 請求項1乃至5のいずれかに記載の半導体装置であって、
    素子電極あるいは前記リードは、それぞれ前記第2の導体を介して超音波接続によって前記連結導体と電気的に接続された半導体装置。
  7. 請求項1乃至6のいずれかに記載の半導体装置であって、
    前記第2の導体は、表面に凹凸を有する半導体装置。
  8. 請求項1乃至7のいずれかに記載の半導体装置であって、
    前記第1の導体は、湾曲面を有する半導体装置。
  9. 請求項1乃至8のいずれかに記載の半導体装置であって、
    前記連結導体は複数に分割形成された半導体装置。
  10. 所望の素子領域および素子電極が形成された半導体基板と、
    複数個のリードを備えたリード部と、
    前記素子電極と、前記リード部の前記素子電極に対応するリードとを電気的に接続する連結導体とを具備した半導体装置の製造方法であって、
    第1の導体と、第2の導体とを具備した連結導体を、少なくとも前記素子電極および前記リードと当接する領域に前記第2の導体を挟み、超音波接合する工程を含む半導体装置の製造方法。
JP2007199692A 2007-07-31 2007-07-31 半導体装置およびその製造方法 Pending JP2009038139A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007199692A JP2009038139A (ja) 2007-07-31 2007-07-31 半導体装置およびその製造方法
US12/183,887 US7839003B2 (en) 2007-07-31 2008-07-31 Semiconductor device including a coupling conductor having a concave and convex

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007199692A JP2009038139A (ja) 2007-07-31 2007-07-31 半導体装置およびその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009038139A true JP2009038139A (ja) 2009-02-19

Family

ID=40430950

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007199692A Pending JP2009038139A (ja) 2007-07-31 2007-07-31 半導体装置およびその製造方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7839003B2 (ja)
JP (1) JP2009038139A (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012053131A1 (ja) * 2010-10-18 2012-04-26 パナソニック株式会社 半導体装置及びその製造方法
JP2013051366A (ja) * 2011-08-31 2013-03-14 Hitachi Ltd パワーモジュール及びその製造方法
JP2016139635A (ja) * 2015-01-26 2016-08-04 三菱電機株式会社 電力用半導体装置
JP2017139304A (ja) * 2016-02-03 2017-08-10 三菱電機株式会社 電極端子、半導体装置及び電力変換装置
JP2017147411A (ja) * 2016-02-19 2017-08-24 株式会社村田製作所 モジュール
CN107615464A (zh) * 2015-06-11 2018-01-19 三菱电机株式会社 电力用半导体装置的制造方法以及电力用半导体装置
US11532966B2 (en) 2019-04-24 2022-12-20 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Terminal connection structure for rotary machine

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5799974B2 (ja) * 2013-05-23 2015-10-28 株式会社デンソー 電子装置
US20220189855A1 (en) * 2020-12-10 2022-06-16 Infineon Technologies Ag Leadframe package with adjustable clip

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0590350A (ja) * 1991-09-25 1993-04-09 Sony Corp 半導体装置
JP2001102404A (ja) * 1999-09-29 2001-04-13 Nec Kansai Ltd 半導体装置
JP2002151554A (ja) * 2000-08-31 2002-05-24 Nec Corp 半導体装置
JP2002313851A (ja) * 2001-04-18 2002-10-25 Kaga Toshiba Electron Kk 半導体装置の製造方法
JP2004336043A (ja) * 2003-05-02 2004-11-25 Orthodyne Electronics Corp リボンボンディング
JP2005183495A (ja) * 2003-12-17 2005-07-07 Hitachi Ltd 電力変換装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4937653A (en) * 1988-07-21 1990-06-26 American Telephone And Telegraph Company Semiconductor integrated circuit chip-to-chip interconnection scheme
JPH08148623A (ja) 1994-11-24 1996-06-07 Rohm Co Ltd 半導体装置
KR20000057810A (ko) * 1999-01-28 2000-09-25 가나이 쓰토무 반도체 장치
JP4112816B2 (ja) * 2001-04-18 2008-07-02 株式会社東芝 半導体装置および半導体装置の製造方法
JP2007220704A (ja) * 2006-02-14 2007-08-30 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0590350A (ja) * 1991-09-25 1993-04-09 Sony Corp 半導体装置
JP2001102404A (ja) * 1999-09-29 2001-04-13 Nec Kansai Ltd 半導体装置
JP2002151554A (ja) * 2000-08-31 2002-05-24 Nec Corp 半導体装置
JP2002313851A (ja) * 2001-04-18 2002-10-25 Kaga Toshiba Electron Kk 半導体装置の製造方法
JP2004336043A (ja) * 2003-05-02 2004-11-25 Orthodyne Electronics Corp リボンボンディング
JP2005183495A (ja) * 2003-12-17 2005-07-07 Hitachi Ltd 電力変換装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012053131A1 (ja) * 2010-10-18 2012-04-26 パナソニック株式会社 半導体装置及びその製造方法
JP2013051366A (ja) * 2011-08-31 2013-03-14 Hitachi Ltd パワーモジュール及びその製造方法
JP2016139635A (ja) * 2015-01-26 2016-08-04 三菱電機株式会社 電力用半導体装置
CN107615464A (zh) * 2015-06-11 2018-01-19 三菱电机株式会社 电力用半导体装置的制造方法以及电力用半导体装置
CN107615464B (zh) * 2015-06-11 2020-03-17 三菱电机株式会社 电力用半导体装置的制造方法以及电力用半导体装置
JP2017139304A (ja) * 2016-02-03 2017-08-10 三菱電機株式会社 電極端子、半導体装置及び電力変換装置
US10714447B2 (en) 2016-02-03 2020-07-14 Mitsubishi Electric Corporation Electrode terminal, semiconductor device, and power conversion apparatus
JP2017147411A (ja) * 2016-02-19 2017-08-24 株式会社村田製作所 モジュール
US11532966B2 (en) 2019-04-24 2022-12-20 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Terminal connection structure for rotary machine

Also Published As

Publication number Publication date
US7839003B2 (en) 2010-11-23
US20090065910A1 (en) 2009-03-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2009038139A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP6139710B2 (ja) 電極端子、電力用半導体装置、および電力用半導体装置の製造方法
JP6433590B2 (ja) 電力用半導体装置の製造方法および電力用半導体装置
JP2008117825A (ja) パワー半導体デバイス
JP2009026969A (ja) 積層型半導体装置及びその製造方法
JP6226068B2 (ja) 半導体装置
JP2010251374A (ja) 半導体装置およびその製造方法
KR101644913B1 (ko) 초음파 용접을 이용한 반도체 패키지 및 제조 방법
JP2018022772A (ja) リードフレーム
JP6129090B2 (ja) パワーモジュール及びパワーモジュールの製造方法
WO2011030368A1 (ja) 半導体装置とその製造方法
JP2012182241A (ja) 連結導体及びこれを用いた半導体装置
JP2011204968A (ja) 半導体装置及び半導体装置の製造方法
JP6509602B2 (ja) 半導体装置
JP2008294219A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP6459618B2 (ja) リードフレーム基板およびその製造方法、ならびに半導体装置およびその製造方法
JP2004296837A (ja) 半導体装置
KR200483254Y1 (ko) 반도체 패키지
JP2010050288A (ja) 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP6679799B2 (ja) 発光装置
JPH06104369A (ja) 多層リードフレーム
JP2007201251A (ja) 半導体パッケージ及び半導体パッケージの製造方法
JP4749181B2 (ja) 半導体装置とその製造方法
JP2013102233A (ja) 半導体装置
JP5267283B2 (ja) パワーモジュール

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100617

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111122

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20120403