JP2009022917A - 塩素製造用触媒の賦活方法及び塩素の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】活性が低下した塩素製造用触媒を、一酸化炭素及び/又は水素を含有する還元性ガスで接触処理する。また、前記還元性ガスで接触処理した後、酸化性ガスで接触処理するとより効果的に触媒を賦活できる。塩素製造用触媒としては、ルテニウム触媒、特に酸化ルテニウムを含有する触媒が好適な対象となる。
【選択図】なし
Description
(a)新品触媒の調製
酸化チタン50重量部〔堺化学(株)製のSTR−60R、100%ルチル型〕、α−アルミナ100重量部〔住友化学(株)製のAES−12〕、チタニアゾル13.2重量部〔堺化学(株)製のCSB、チタニア含有量38重量%〕、及びメチルセルロース2重量部〔信越化学(株)製のメトローズ65SH−4000〕を混合し、次いで純水を加えて混練した。この混合物を直径3.0mmφの円柱状に押出し、乾燥した後、長さ4〜6mm程度に破砕した。得られた成型体を空気中、800℃で3時間焼成し、酸化チタンとα−アルミナの混合物からなる担体を得た。この担体に、塩化ルテニウムの水溶液を含浸し、乾燥した後、空気中、250℃で2時間焼成することにより、酸化ルテニウムが2重量%の担持率で上記担体に担持されてなる青灰色の担持酸化ルテニウムを得た。この担持酸化ルテニウム(新品触媒)をICP発光分析法により分析したところ、硫黄含有量は0.02重量%であった。
上記参考例1(a)で得た新品触媒を、反応器に充填した。次に、塩化水素(硫黄分を130体積ppb含む)と酸素とからなる原料ガスを、該反応器に供給しながら酸化反応を行うことにより、劣化触媒を調製した。かかる劣化触媒を抜き出し、ICP発光分析法により分析したところ、硫黄含有量は0.14重量%であった。
(a)劣化触媒の賦活処理
(還元性ガスによる接触処理)
参考例1(b)の劣化触媒1gを、内径13mmのニッケル製反応管に充填し、さらに触媒層のガス入口側に予熱層として、α−アルミナ球〔ニッカトー(株)製のSSA995〕12gを充填した。この中に、窒素ガスを80ml/minの速度で供給しながら、溶融塩〔硝酸カリウム/亜硝酸ナトリウム=1/1(重量比)〕を熱媒体とする塩浴に反応管を浸して、触媒層の温度を350℃にした。次いで、窒素ガスの供給を停止し、一酸化炭素ガスを3.2ml/min(0.009mol/h)、及び窒素ガスを28.8ml/min(0.08mol/h)の速度で供給し、2時間保持した。
上記(a)に引き続き、一酸化炭素ガスの供給を停止し、窒素ガスの供給を80ml/min(0.21mol/h)とした後、触媒層の温度を281〜282℃にした。次いで、窒素ガスの供給を停止し、塩化水素ガス(硫黄分を19体積ppb含む)を80ml/min(0.21mol/h)、及び酸素ガスを40ml/min(0.11mol/h)の速度で供給することにより、触媒層温度281〜282℃で酸化反応を行った。反応開始から1.5時間の時点で、反応管出口のガスを30重量%ヨウ化カリウム水溶液に流通させることによりサンプリングを20分間行い、ヨウ素滴定法により塩素の生成量を測定し、塩素の生成速度(mol/h)を求めた。この塩素の生成速度と上記の塩化水素の供給速度から、下式により塩化水素の転化率を計算し、表1に示した。
(a)劣化触媒の賦活処理
(還元性ガスによる接触処理)
参考例1(b)の劣化触媒1gを、内径13mmのニッケル製反応管に充填し、さらに触媒層のガス入口側に予熱層として、α−アルミナ球〔ニッカトー(株)製のSSA995〕12gを充填した。この中に、窒素ガスを80ml/minの速度で供給しながら、溶融塩〔硝酸カリウム/亜硝酸ナトリウム=1/1(重量比)〕を熱媒体とする塩浴に反応管を浸して、触媒層の温度を350℃にした。次いで、窒素ガスの供給を停止し、一酸化炭素ガスを3.2ml/min(0.009mol/h)、及び窒素ガスを28.8ml/min(0.08mol/h)の速度で供給し、2時間保持した。
上記還元性ガスによる接触処理に引き続き、一酸化炭素ガスの供給を停止し、酸素を40ml/min(0.009mol/h)、及び窒素ガスを160ml/min(0.43mol/h)の速度で供給し、350℃で2時間保持した。
上記(a)の酸化性ガスによる接触処理に引き続き、酸素の供給を停止し、窒素の供給を80ml/min(0.21mol/h)とした後、触媒層の温度を281〜282℃にした。次いで、窒素ガスの供給を停止し、塩化水素ガス(硫黄分を19体積ppb含む)を80ml/min(0.21mol/h)、及び酸素ガスを40ml/min(0.11mol/h)の速度で供給することにより、触媒層温度281〜282℃で酸化反応を行った。反応開始から1.5時間の時点で、反応管出口のガスを30重量%ヨウ化カリウム水溶液に流通させることによりサンプリングを20分間行い、ヨウ素滴定法により塩素の生成量を測定し、塩素の生成速度(mol/h)を求めた。この塩素の生成速度と上記の塩化水素の供給速度から、上述した式により塩化水素の転化率を計算した。結果を表1に示す。
(a)劣化触媒の賦活処理
実施例2(a)の還元性ガスによる接触処理において、触媒層の温度を300℃とした以外は、実施例2(a)と同様の条件で、触媒の賦活処理を行った。
上記(a)に引き続き、実施例2(b)と同様に、賦活触媒の評価を行った。結果を表1に示す。
(a)劣化触媒の賦活処理
実施例2(a)の還元性ガスによる接触処理において、触媒層の温度を400℃とした以外は、実施例2(a)と同様の条件で、触媒の賦活処理を行った。
上記(a)に引き続き、実施例2(b)と同様に、賦活触媒の評価を行った。結果を表1に示す。尚、本評価後の触媒をICP発光分析法により分析したところ、硫黄含有量は0.08重量%であった。
(a)劣化触媒の賦活処理
実施例2(a)の酸化性ガスによる接触処理において、触媒層の温度を280℃とした以外は、実施例2(a)と同様の条件で、触媒の賦活処理を行った。
上記(a)に引き続き、実施例2(b)と同様に、賦活触媒の評価を行った。結果を表1に示す。尚、本評価後の触媒をICP発光分析法により分析したところ、硫黄含有量は0.12重量%であった。
(a)劣化触媒の賦活処理
実施例2(a)の還元性ガスによる接触処理において、触媒層の温度を300℃とし、実施例2(a)の酸化性ガスによる接触処理において、触媒層の温度を400℃とした以外は、実施例2(a)と同様の条件で、触媒の賦活処理を行った。
上記(a)に引き続き、実施例2(b)と同様に、賦活触媒の評価を行った。結果を表1に示す。
(a)劣化触媒の賦活処理
実施例2(a)の酸化性ガスによる接触処理において、触媒層の温度を400℃とした以外は、実施例2(a)と同様の条件で、触媒の賦活処理を行った。
上記(a)に引き続き、実施例2(b)と同様に、賦活触媒の評価を行った。結果を表1に示す。
(a)劣化触媒の賦活処理
実施例2(a)の還元性ガスによる接触処理において、触媒層の温度を400℃とし、実施例2(a)の酸化性ガスによる接触処理において、触媒層の温度を400℃とした以外は、実施例2(a)と同様の条件で、触媒の賦活処理を行った。
上記(a)に引き続き、実施例2(b)と同様に、賦活触媒の評価を行った。結果を表1に示す。
(a)劣化触媒の賦活処理
(還元性ガスによる接触処理)
参考例1(b)の劣化触媒2.4gを、内径14mmの石英製反応管に充填した。この中に、窒素ガスを90ml/minの速度で供給しながら、電気炉にて、触媒層の温度を350℃にした。引き続き窒素ガスを同速度で供給しながら、水素ガスを10ml/min(0.027mol/h)の速度で供給し、1.5時間保持した。次いで、水素ガスの供給を停止した後、窒素ガスを供給しながら100℃以下にし、触媒を抜き出した。
上記還元性ガスによる接触処理により得られた触媒1gを、内径13mmのニッケル製反応管に充填し、さらに触媒層のガス入口側に予熱層として、α−アルミナ球〔ニッカトー(株)製のSSA995〕12gを充填した。この中に、窒素ガスを80ml/minの速度で供給しながら、溶融塩〔硝酸カリウム/亜硝酸ナトリウム=1/1(重量比)〕を熱媒体とする塩浴に反応管を浸して、触媒層の温度を350℃にした。次いで、酸素を40ml/min(0.009mol/h)、及び窒素ガスを160ml/min(0.43mol/h)の速度で供給し、2時間保持した。
上記(a)に引き続き、実施例2(b)と同様に、賦活触媒の評価を行った。結果を表1に示す。
(a)劣化触媒の賦活処理
実施例9(a)の還元性ガスによる接触処理において、触媒層の温度を200℃とし、保持時間を2時間とした以外は、実施例9(a)と同様の条件で、触媒の賦活処理を行った。
上記(a)に引き続き、実施例2(b)と同様に、賦活触媒の評価を行った。結果を表1に示す。
(a)劣化触媒の賦活処理
実施例9(a)の還元性ガスによる接触処理において、触媒層の温度を250℃とした以外は、実施例9(a)と同様の条件で、触媒の賦活処理を行った。
上記(a)に引き続き、実施例2(b)と同様に、賦活触媒の評価を行った。結果を表1に示す。尚、本評価後の触媒をICP発光分析法により分析したところ、硫黄含有量は0.09重量%であった。
(a)劣化触媒の賦活処理
実施例9(a)の還元性ガスによる接触処理において、触媒層の温度を400℃とした以外は、実施例9(a)と同様の条件で、触媒の賦活処理を行った。
上記(a)に引き続き、実施例2(b)と同様に、賦活触媒の評価を行った。結果を表1に示す。
(a)劣化触媒の賦活処理
実施例9(a)の還元性ガスによる接触処理において、触媒層の温度を400℃とし、実施例9(a)の酸化性ガスによる接触処理において、触媒層の温度を400℃とした以外は、実施例9(a)と同様の条件で、触媒の賦活処理を行った。
上記(a)に引き続き、実施例2(b)と同様に、賦活触媒の評価を行った。結果を表1に示す。
参考例1(b)の劣化触媒1gを、内径13mmのニッケル製反応管に充填し、さらに触媒層のガス入口側に予熱層として、α−アルミナ球〔ニッカトー(株)製のSSA995〕12gを充填した。この中に、窒素ガスを80ml/minの速度で供給しながら、溶融塩〔硝酸カリウム/亜硝酸ナトリウム=1/1(重量比)〕を熱媒体とする塩浴中に反応管を浸して、触媒層の温度を281〜282℃にした。次いで、15分経過後、窒素ガスの供給を停止し、塩化水素ガス(硫黄分を19体積ppb含む)を80ml/min(0.21mol/h)、及び酸素ガスを40ml/min(0.11mol/h)の速度で供給することにより、触媒層温度281〜282℃で酸化反応を行った。反応開始から1.5時間の時点で、実施例2(b)と同様に、サンプリングを行って塩素の生成速度を求め、塩化水素の転化率を計算した。結果を表1に示す。
(a)劣化触媒の賦活処理
参考例1(b)の劣化触媒1gを、内径13mmのニッケル製反応管に充填し、さらに触媒層のガス入口側に予熱層として、α−アルミナ球〔ニッカトー(株)製のSSA995〕12gを充填した。この中に、窒素ガスを80ml/minの速度で供給しながら、溶融塩〔硝酸カリウム/亜硝酸ナトリウム=1/1(重量比)〕を熱媒体とする塩浴に反応管を浸して、触媒層の温度を350℃に昇温した。次いで、酸素を40ml/min(0.009mol/h)、及び窒素ガスを160ml/min(0.43mol/h)の速度で供給し、2時間保持した。
上記(a)に引き続き、実施例2(b)と同様に、賦活触媒の評価を行った。結果を表1に示す。
(a)劣化触媒の賦活処理
参考例1(b)の劣化触媒1gを、内径13mmのニッケル製反応管に充填し、さらに触媒層のガス入口側に予熱層として、α−アルミナ球〔ニッカトー(株)製のSSA995〕12gを充填した。この中に、窒素ガスを80ml/minの速度で供給しながら、溶融塩〔硝酸カリウム/亜硝酸ナトリウム=1/1(重量比)〕を熱媒体とする塩浴中に反応管を浸して、触媒層の温度を350℃にした後、2時間保持した。
上記(a)に引き続き、窒素の供給を80ml/min(0.21mol/h)とした後、触媒層の温度を281〜282℃にした。次いで、窒素ガスの供給を停止し、塩化水素ガス(硫黄分を19体積ppb含む)を80ml/min(0.21mol/h)、及び酸素ガスを40ml/min(0.11mol/h)の速度で供給することにより、触媒層温度281〜282℃で酸化反応を行った。反応開始から1.5時間の時点で、実施例2(b)と同様に、サンプリングを行って塩素の生成速度を求め、塩化水素の転化率を計算した。結果を表1に示す。
(a)劣化触媒の賦活処理
(水による接触処理)
参考例1(b)の劣化触媒5gとイオン交換水50gとを容器に入れ、これらを混合し、25℃で14時間静置した後上澄み液をデカンテーションにより除去した。次いで、静置時間を20時間、94時間とした以外は先と同様の操作を2回繰り返した後、60℃で2時間乾燥して、水処理触媒を得た。
上記で得られた水処理触媒1gを、内径13mmのニッケル製反応管に充填し、さらに触媒層のガス入口側に予熱層として、α−アルミナ球〔ニッカトー(株)製のSSA995〕12gを充填した。この中に、窒素ガスを80ml/minの速度で供給しながら、溶融塩〔硝酸カリウム/亜硝酸ナトリウム=1/1(重量比)〕を熱媒体とする塩浴に反応管を浸して、触媒層の温度を350℃にした。次いで、窒素ガスの供給を停止し、一酸化炭素ガスを3.2ml/min(0.009mol/h)、及び窒素ガスを28.8ml/min(0.08mol/h)の速度で供給し、2時間保持した。
上記還元性ガスによる接触処理に引き続き、一酸化炭素ガスの供給を停止し、酸素を40ml/min(0.009mol/h)、及び窒素ガスを160ml/min(0.43mol/h)の速度で供給し、400℃で2時間保持した。
上記(a)に引き続き、実施例2(b)と同様に、賦活触媒の評価を行った。結果を表2に示す。
実施例14(a)の水処理触媒1gを、内径13mmのニッケル製反応管に充填し、さらに触媒層のガス入口側に予熱層として、α−アルミナ球〔ニッカトー(株)製のSSA995〕12gを充填した。この中に、窒素ガスを80ml/minの速度で供給しながら、溶融塩〔硝酸カリウム/亜硝酸ナトリウム=1/1(重量比)〕を熱媒体とする塩浴中に反応管を浸して、触媒層の温度を281〜282℃にした。次いで、窒素ガスの供給を停止し、塩化水素ガスを80ml/min(0.21mol/h)、及び酸素ガスを40ml/min(0.11mol/h)の速度で供給することにより、触媒層温度281〜282℃で酸化反応を行った。反応開始から1.5時間の時点で、実施例2(b)と同様に、サンプリングを行って塩素の生成速度を求め、塩化水素の転化率を計算した。結果を表2に示す。
Claims (9)
- 塩化水素を酸素で酸化する反応に使用される塩素製造用触媒の賦活方法であって、活性が低下した塩素製造用触媒を、一酸化炭素及び/又は水素を含有する還元性ガスで接触処理することを特徴とする塩素製造用触媒の賦活方法。
- 活性が低下した塩素製造用触媒を、前記還元性ガスで接触処理した後、酸化性ガスで接触処理する請求項1に記載の方法。
- 活性が低下した塩素製造用触媒を、水で接触処理した後、前記還元性ガスで接触処理し、次いで酸化性ガスで接触処理する請求項1又は2に記載の方法。
- 活性が低下した塩素製造用触媒を、前記還元性ガスで接触処理した後、水で接触処理し、次いで酸化性ガスで接触処理する請求項1又は2に記載の方法。
- 活性が低下した塩素製造用触媒を、前記還元性ガスで接触処理した後、酸化性ガスで接触処理し、次いで水で接触処理する請求項1又は2に記載の方法。
- 前記還元性ガスによる接触処理温度が150〜450℃である請求項1〜5のいずれかに記載の方法。
- 前記酸化性ガスによる接触処理温度が250〜450℃である請求項2〜6のいずれかに記載の方法。
- 塩素製造用触媒が、酸化ルテニウムを含有する触媒である請求項1〜7のいずれかに記載の方法。
- 請求項1〜8のいずれかに記載の方法により塩素製造用触媒を賦活し、この賦活触媒の存在下に塩化水素を酸素で酸化することを特徴とする塩素の製造方法。
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