JP2009004754A - 部品実装方法、部品実装機、実装条件決定方法、実装条件決定装置およびプログラム - Google Patents

部品実装方法、部品実装機、実装条件決定方法、実装条件決定装置およびプログラム Download PDF

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Abstract

【課題】部品実装基板の品質不良となる原因を早期に検出することにより生産効率を向上させることが可能な部品実装方法を提供する。
【解決手段】前記実装ヘッドにより所定の基板に対し部品の実装を繰り返す実装ステップと、実装すべき部品が所定の部品か否かを判定する判定ステップと、前記判定ステップにおいて前記実装すべき部品が前記所定の部品と判断された場合に、(i)前記所定の部品の装着が終了した後に、前記所定の部品の装着状態を検査する、および(ii)前記所定の部品の装着が開始されるまでの間に、前記所定の部品に関する実装面状態を検査する、の少なくとも一方を実行する検査ステップとを含む。
【選択図】図10

Description

本発明は、基板に部品を実装する部品実装方法に関する。
基板に部品が実装された部品実装基板を生産する実装基板生産システムは、基板にはんだを印刷する印刷機、はんだが印刷された基板に部品を実装する部品実装機、実装した部品をはんだ付けするリフロー機などにより構成される。
部品実装の対象となる基板は、前記実装基板生産システムの中を一連のコンベアにより搬送され流れ作業により実装基板として生産されていく。つまり、各機械において、基板上にはんだを印刷し、大小様々な多数の部品を基板に実装し、はんだ付けするといった各工程が基板に対して実行される。実装基板は、このような各機械による一連の生産工程を経て生産される。このようにして生産された実装基板は、家電製品などの最終製品に搭載される。
前記実装基板生産システムにおいて、部品実装基板の不良品が生産される場合がある。品質不良の原因はさまざまであるが、その1つに、はんだの印刷不良がある。例えば、はんだ印刷の不良があるにもかかわらず、その基板に後続する工程を実行すること、すなわち、部品を実装し、はんだ付けをすることは、実装基板生産システムの使用、部品の消費など多くの無駄を生じさせる。
不良品の生産数量を減らし、実装基板生産システムの無駄な工程の実行を減らすためには、一連の生産工程の途中で不良が発生した場合、早期に不良の発生を検知し、対策を講じる技術が有効である。
従来、印刷機によりはんだが印刷された基板について後続工程に配設された検査装置にて印刷状態を検査する技術、部品実装機により部品が実装された基板について後続工程に配設された検査装置にて部品の実装状態を検査する技術、さらには部品実装機に設けられたカメラにより上方から撮影された画像に基づき部品を実装する前にはんだの印刷状態を検査し、検出されたはんだの位置ずれに基づいて部品の装着位置を補正する技術が提案されている(例えば、特許文献1参照)。また、同様の技術により、装着位置の補正では対処できない程はんだの位置ずれが大きい場合には、その基板を通路から取り除くなどをして、その基板に対する以降の工程を終了させることも考えられる。
特許第3656533号公報
しかしながら、上記技術のように、部品実装機などの機械の間に検査装置を配置すると検査精度は向上し不良品の発生率は低下するものの、実装基板生産システム自体が長大となり、検査に要する時間がスループットに悪影響を与えることになる。
また、同一の機械内で発生した不具合に対しては、当該機械での全行程が終了した後でしか検査できない。例えば、実装中に部品が基板上に落下し、不必要な部分が短絡してしまう場合である。なお、特許文献1に記載されているような部品実装機に設けられたカメラで印刷状態を検査する技術を用いても、実装中の部品の落下を検出することはできない。
さらに、実装中に微細な部品が落下し、その後に装着されるCSP(Chip Size Package)などの比較的大きな部品と基板との間に前記微細な部品が挟まれることがある。このような大きな部品が微細な部品を挟みこむという不良(以下、「挟みこみ不良」という。)は、生産された実装基板の上方から撮像された画像に基づいて判断するだけでは困難な場合も多い。そのため、良品として実装基板生産システムを通過し、挟みこみ不良があるにもかかわらず、前記実装基板が家電製品などの最終製品に組み込まれることがある。そして家電製品としての機能を検査する段階で前記実装基板が不良であることが検出される。これでは、大きい部品の実装以降の実装基板生産システムにおける工程だけでなく、その基板が搭載された最終製品に関連するあらゆる工程が無駄になる。このように挟みこみ不良は不良が生じた後に多くの工程が実行されることが多く、生産効率の低下の原因となる。
また、挟みこみ不良は大きな部品を破壊し、再利用を不可能にする場合もある。例えば、CSPなどの大きな部品は、挟みこまれた小さな部品のためにショートし、破壊されることもある。破壊された部品は再利用できないため、挟み込み不良はコストロスの原因になる。
本発明は、上記の問題を解決するためになされたもので、部品実装基板の品質不良となる原因を早期に検出することにより生産効率を向上させることが可能な部品実装方法の提供を目的とする。
上記目的を達成するために、本発明に係る部品実装方法は、基板に部品を実装する部品実装方法であって、所定の基板に対し部品の実装を繰り返す実装ステップと、実装すべき部品が所定の部品か否かを判定する判定ステップと、前記判定ステップにおいて前記実装すべき部品が前記所定の部品と判断された場合に、(i)前記所定の部品の装着が終了した後に、前記所定の部品の装着状態を検査する、および(ii)前記所定の部品の装着が開始されるまでの間に、前記所定の部品に関する実装面状態を検査する、の少なくとも一方を実行する検査ステップとを含むことを特徴とする。
このように、部品実装機における実装の途中で基板の表面状態が検査される。これにより、基板の表面状態を任意のタイミングで検査することができる。したがって、部品実装中に生じた不良の原因や不良を直ちに検出することが可能になる。
また、吸着または搬送の間に検査する。これにより、実装と、検査とを並行して実行することができる。そのため、部品実装機における部品実装の所要時間をほとんど変えることなく、検査することが可能になる。
また、CSPのような所定の部品が装着される直前に、その所定の部品が装着される位置近傍に他の部品が落下しているか否かを検査する。これにより、部品の落下が検出された場合にはその基板を生産ラインから排除するなどの対処ができるため、部品の挟みこみによる不良を防止することが可能になる。
好ましくは、前記部品実装方法は、相互に対向して配置され独立して移動可能な、基板に部品を実装する実装ヘッドと、基板の表面状態を検査する検査ヘッドとを備える部品実装機に適用され、前記実装ヘッドは、複数の部品を一度に保持できるマルチノズルヘッドであり、前記実装ステップでは、前記実装ヘッドにより、一度に保持する部品を吸着し、吸着した前記部品を基板上方まで搬送し、搬送した前記部品を基板へ装着する一連の行為をタスクとした場合に、前記実装ヘッドにより、当該タスクが繰り返され、前記検査ステップでは、前記検査ヘッドが、前記タスクの終了後であって、前記実装ヘッドが行う部品の吸着または搬送の間に、前記基板の表面状態の一つである前記所定の部品の装着状態を検査することを特徴とする。
このように、実装ステップに含まれる各タスクの終了後に検査ステップが実行される。これにより、検査ヘッドは、実装ヘッドが部品を吸着する間に、基板の表面状態を検査できる。すなわち、実装ヘッドが基板に対する工程を実行していない間に、基板を検査することができる。したがって、部品実装機における部品実装の所要時間をほとんど変えることなく、部品実装基板の品質不良を減らすことが可能になる。
また、検査ステップでは、基板の表面状態として部品の装着状態を検査する。これにより、各タスクで装着された部品の装着位置のずれ、各タスクで装着されるべき部品が実際に装着されたか否かなどを検出できる。そのため、検出されたずれ量をフィードバックして次のタスクの装着位置を補正することができる。したがって、リアルタイムで位置ずれを補正することが可能になる。また、部品が装着されていないことが検出できれば、ノズルの交換や、装着の再トライなどを実行することができる。
さらに好ましくは、前記部品実装方法は、相互に対向して配置され独立して移動可能な、基板に部品を実装する実装ヘッドと、基板の表面状態を検査する検査ヘッドとを備える部品実装機に適用され、前記実装ヘッドは、複数の部品を一度に保持できるマルチノズルヘッドであり、前記実装ステップでは、前記実装ヘッドにより、一度に保持する部品を吸着し、吸着した前記部品を基板上方まで搬送し、搬送した前記部品を基板へ装着する一連の行為をタスクとした場合に、前記実装ヘッドにより、当該タスクが繰り返され、前記検査ステップでは、前記検査ヘッドが、前記タスクの開始前であって、前記実装ヘッドが行う部品の吸着または搬送の間に、前記基板の表面状態の一つである前記所定の部品が実装されるべき実装面状態を検査することを特徴とする。
このように、マルチノズルヘッドにより実行される各タスクの開始前に基板の表面状態を検査する。これにより、次のタスクで実装される複数の部品の装着位置近傍に落下している部品の有無を検査することができる。次のタスクで実装される部品の装着位置近傍に落下している部品が検出された場合には、その落下している部品を除去した後に装着する、またはその基板に対して次のタスクでの実装を実行しないなどの対応ができる。これにより、挟みこみ不良を防ぐことが可能になる。
さらに好ましくは、前記部品実装方法は、相互に対向して配置され独立して移動可能な、基板に部品を実装する実装ヘッドと、基板の表面状態を検査する検査ヘッドとを備える部品実装機に適用され、前記実装ステップでは、前記実装ヘッドにより、一度に保持する部品を吸着し、吸着した前記部品を基板上方まで搬送し、搬送した前記部品を基板へ装着する一連の行為をタスクとした場合に、前記実装ヘッドにより、当該タスクが繰り返され、前記検査ステップでは、前記実装ステップにおいて前記実装ヘッドにより実行されている各タスクの途中の、前記所定の部品の直前の部品が装着されてから前記所定の部品の部品が装着されるまでの間において、前記検査ヘッドが、前記基板の表面状態の一つである前記所定の部品が実装されるべき実装面状態を検査することを特徴とする。
このように、所定の部品が装着された直後に、装着状態を検査する。これにより、装着時に発生する不良の原因を装着後直ちに検出することができ、早期の不良検出が可能になる。
なお、本発明は、このような部品実装方法に含まれるステップを手段とする部品実装機として実現することもできる。また、部品実装方法に含まれるステップをコンピュータに実行させるプログラムとして実現することもできる。そして、そのようなプログラムは、CD−ROM(Compact Disc−Read Only Memory)等の記録媒体やインターネット等の通信ネットワークを介して流通させることができる。
「タスク」とは、マルチノズルヘッドが複数部品を保持し、保持した部品を装着位置へ搬送し、搬送された部品を基板に装着する一連の動作を含む。1つのタスクにおける搬送と装着とは、そのタスクにおいて保持された部品の装着が終了するまで繰り返される。
「CSP」とは、電子部品の1種であるチップ・サイズ・パッケージ(Chip Size Package)のことであり、DIP(Dual In−Line Package)、SOP(Small Outline Package)、BGA(Ball Grid Array)などを含む。
本発明によると、実装途中に不良の原因の発生や不良の発生を検出することができ、早期の不良検出が可能になる。したがって、生産効率の向上を図ることが可能になる。
本発明の一実施の形態について、図を参照して説明する。
図1は、部品実装機の外観を示す斜視図である。
部品実装機100は、コンベア(図示しない)によりX方向に搬送される基板20に部品を実装し、また基板20の表面状態を検査する機械である。部品実装機100は、部品が実装された半製品としての部品実装基板を生産する装置を構成する機械群の1つである。
部品実装機100は、基板20の表面状態を検査した結果を表示するための表示部102を備える。表示部102は、CRT(Cathode‐Ray Tube)やLCD(Liquid Crystal Display)などである。
図2は、部品実装機が備える機構の概要を示す平面図である。
部品実装機100は、基板20に部品を実装する実装ヘッド108と、基板20表面を検査する検査ヘッド110と、部品を供給する部品供給部106aとを備える。
実装ヘッド108は、部品供給部106aから供給される部品群を吸着し、XY方向に移動させる機構により移動しながら吸着した部品を搬送し、搬送した部品を基板20に装着するマルチノズルヘッドである。
検査ヘッド110は、XY方向に移動させる機構により移動することにより、基板20上を撮像するカメラである。
実装ヘッド108と検査ヘッド110とは、基板20の搬送路を挟んで対向するようにほぼ同一水平面上に配置されている。また、実装ヘッド108と検査ヘッド110とは、独立して移動可能である。
部品供給部106aには、部品を順次供給することのできるフィーダ106が複数個取り付けられる。
実装ヘッド108について、図3を参照して説明する。
図3は、実装ヘッド108およびフィーダ106の外観を示す斜視図である。
フィーダ106は、多数の部品を保持する部品テープが巻き付けられる部品リール107が取り付けられ、部品テープに保持される部品を順次実装ヘッド108による吸着位置に供給する装置である。なお、部品供給部106aは、多数の部品を保持する部品トレイが取り付けられても良い。
実装ヘッド108は、その先端にノズル群108aを備える。ノズル群108aを構成する各ノズルは、部品供給部106aに供給される部品を真空吸引により吸着する。1本のノズルにつき1つの部品を保持することが可能であり、実装ヘッド108は、ノズル群108aを構成するノズルの本数に応じた数量の部品を1度に保持することが可能となる。同図に記載される実装ヘッド108のノズル群108aはノズルを10本備えているため、最大10個の部品を一度に保持することができる。また、実装ヘッド108に取り付けられるノズル群108aを構成する各ノズルの形状や大きさなどを部品の大きさや重量、形状によって変更することにより、さまざまな大きさや形状の部品を実装ヘッド108で保持することができる。
次に、検査ヘッド110について、図4と図5を参照して説明する。
図4は、検査ヘッド110の外観を示す斜視図である。
また図5は、検査ヘッド110の内部を一部断面で示す側面図である。
検査ヘッド110は、基台120を備え、その基台120に取り付けられた2つのカメラ112、116を備える。第1のカメラ112と第2のカメラ116とは解像度が異なり、第1のカメラ112は低解像度のカメラであり、第2のカメラ116は高解像度のカメラである。第1のカメラ112と第2のカメラ116とは、それぞれ先端にリング照明118を備える。
第1のカメラ112と第2のカメラ116とは、部品の大きさに応じて使い分けられる。部品の大きさが所定の閾値以下である小さな部品が基板上に落下しているかを検査する場合や、小さな部品の装着位置のずれを検査する場合には、高解像度のカメラである第2のカメラ116を使用する。また、部品の大きさが所定の閾値を越える大きな部品の装着位置のずれを検査する場合には、低解像度のカメラである第1のカメラ112を使用する。
一般に、低解像度のカメラは高解像度のカメラよりも視野が広い。そのため、解像度が異なるカメラを部品サイズに応じて使い分けることにより、小さな部品に関する正確な検査と、広い視野による効率的な検査との両立を図ることが可能になる。
なお、第1のカメラ112と第2のカメラ116とは、ズーム機構を備える1つのカメラにより実現されてもよい。
また、第1のカメラ112と第2のカメラ116とのそれぞれが備えるリング照明118は、第1のカメラ112と第2のカメラ116とのレンズをそれぞれ取り囲むようにリング状に配置されたLED(Light Emitting Diode)により構成される。リング照明118は、光量の調整が可能である。リング照明118の光量は、カメラ116(112)での検査時に、カメラの解像度や、基板20、部品22などの被写体の状態に応じて調整される。
これにより、検査に適した画像を撮影することができ、検査の精度を向上させることが可能になる。
図6は、部品実装機100が備える構成を示すブロック図である。
部品実装機100は、入力部103と、機構部130と、記憶部134と、制御部132と、通信I/F部136と、表示部102とを備える。
入力部103は、キーボード、タッチパネル、マウスなど、後述する検査条件などを入力や変更可能なインタフェースである。
記憶部134は、基板に実装する部品に関する情報を含む実装データ134a、検査ヘッド110による検査領域や使用するカメラの種類などを特定するための条件を含む検査条件134bなどを記憶する記憶媒体である。
図7は、実装データ134aの一部を示す図である。
本図に示す実装データ134aは、1つの実装工程において実装される部品、すなわち1つの部品実装機100において1つの基板20に実装する部品に関する情報であり、「装着番号」と、「タスク番号」と、「部品種」と、「装着点座標」と、「部品サイズ」とを含む。実装ヘッド108は、実装データ134aに従って、部品の実装動作を行なう。
「装着番号」は、各装着点を識別するための情報である。
「タスク番号」は、1つの実装工程に含まれる各タスクを識別するための情報である。ここで、「タスク」とは、実装ヘッドにより、一度に保持する部品を吸着し、吸着した前記部品を基板上方まで搬送し、搬送した前記部品を基板へ装着する一連の動作または当該一連動作により基板20に実装される部品群をいう。
「部品種」は、各装着点(装着番号)において実装される部品の種類を示す情報である。
「装着点座標」は、各部品を装着すべき基板上の位置を示す情報である。「装着点座標」は、部品の中央が装着されるべき基板上の位置を示す。
「部品サイズ」は、部品の大きさを示す情報である。
なお、「装着点座標」と「部品サイズ」とを合わせて、部品が装着されるべき基板上の領域、つまり基板上における部品の占有領域を算出可能であり、算出された情報を「装着領域情報」として実装データ134aに含ませてもよい。また、実装データ134aには、本図に示す情報の他に、部品ライブラリが含まれてもよい。
本図では、各タスク内で装着する部品群の一部のみを例示しており、各タスクでは実装ヘッド108が備えるノズル群108aにより装着される部品群に関する実装データ134aが含まれる。本実施の形態では、上記のように実装ヘッド108のノズル群108aはノズルを10本備えているため、各タスクでは最大10個の装着位置に対応する実装データ134aが含まれる。
本図に示す実装データ134aは、例えば、「装着番号」が「1」である部品は、「タスク番号」が「1」であるタスクにおいて、基板上の基準位置からX方向に「10」ミリメートル、Y方向に「20」ミリメートルの位置に実装されることを示す。また、「装着番号」が「1」である部品は、「部品種」が「A1」であり、その大きさがX方向に「0.3」ミリメートル、Y方向に「0.6」ミリメートルであることを示す。
このような実装データ134aを参照することにより、実装が終了した部品の装着状態の検査、これから部品が装着される基板の表面状態である実装面状態の検査などにおいて、基板上のどの部分を検査すればよいかを判断することが可能になる。
図8は、検査条件134bの一例を示す図である。
検査条件は、上記のように検査ヘッド110による検査のタイミングや検査領域等を特定するための条件である。検査条件には、例えば、装着前検査および装着後検査での検査対象となる部品を特定するための情報などが含まれる。
本実施の形態の検査条件134bには、装着前検査の検査対象となる部品を特定するための情報としての「対象部品種」が「CSP1」であり、検査領域は、特定された部品の「装着位置」およびその「周囲3mm」(ミリメートル)であることが示されている。すなわち、本実施の形態の装着前検査の検査領域は、装着位置を中心とした部品外形の更に外側に3mm広げた領域である。このように、装着前検査の対象部品を設定することにより、設定した対象部品種「CSP1」の部品についてのみ装着前検査を行なうが、それ以外の部品については装着前検査を行なわないようにすることができる。
さらに、検査条件134bには、装着後検査の検査対象となる部品を特定するための情報としての「対象部品種」が「A1」であり、検査領域は、特定された部品の「装着位置」であることが示されている。このように、装着後検査の対象部品を設定することにより、設定した対象部品種「A1」の部品についてのみ装着後検査を行なうが、それ以外の部品については装着後検査を行なわないようにすることができる。
なお、検査条件134bは、装着前検査および装着後検査のいずれか一方のみの検査条件を設定するものであっても構わない。その場合、検査条件を設定しない側の検査については、検査対象とする部品がないものとするものであっても構わないし、すべての部品を検査対象の部品とするものであっても構わない。
図9は、検査条件134bにより特定される基板20上の検査領域の一例を示す図である。基板20に「CSP1」が装着位置24に1つ装着される場合、検査領域は、装着位置24(装着部品の外形)の周囲3mmを示す外点線枠26の内部となる。
このような検査条件134bは、入力部103から入力された情報である。なお、検査条件134bは、予め設定されていてもよく、また、ネットワークを介して取得された情報でもよい。
ここから、図6を参照して部品実装機100が備える機能を説明する。
機構部130は、上述の実装ヘッド108と検査ヘッド110とを有する。
制御部132は、部品実装機100を制御する処理部であり、例えば、CPU(Central Processing Unit)などである。制御部132は、記憶部134が記憶している情報を参照し、機構部130を制御し、実装ヘッド108に基板20へ部品を実装させ、検査ヘッド110に基板20の表面状態を検査させる。制御部132が実行する処理の詳細は、後述する。
通信I/F(インタフェース)部136は、実装基板生産システムを構成する他の機械やホストコンピュータ(図示せず)などと通信するためのインタフェースであり、例えば、LAN(Local Area Network)アダプタなどである。
表示部102は、上記のように基板20の表面状態を検査した結果などを表示する。
以上のような機能を部品実装機100が備えることにより、実装の途中に基板20の表面状態を検査することが可能になる。
部品実装機100が実行する処理の流れについて図を参照して説明する。
図10は、部品実装機100が実行する処理の流れを示す図である。
本図は、部品実装機100が図7に示す実装データ134aに基づいて、基板20に部品を実装する工程を示す。
また、本実施の形態の検査条件は、図8に示す検査条件134bである。図8に示す検査条件134bによれば、「対象部品種(装着前検査の対象部品種)」は「CSP1」であり、「対象部品種(装着後検査の対象部品種)」は「A1」である。図7に示す実装データ134aから分かるように、装着前検査の「対象部品種」である「CSP1」の部品サイズは、「A1」、「B1」のような他の部品種の部品サイズよりも大きい。
このような検査条件に基づいて、装着前検査においては、制御部132は、部品種が「CSP1」である部品群の各々の「装着位置」およびそれぞれの「周囲3mm」を検査領域として特定する。ここで、上記の図9に示す外点線枠26は、部品種が「CSP1」である部品群のうちの1つの部品に関する検査領域を示す。なお、装着後検査においては、制御部132は、部品種が「A1」である部品群の各々の「装着位置」を検査領域として特定する。
制御部132は、記憶部134が記憶している実装データ134aを参照し、第1番目に「タスク番号」が「1」であるタスクを実行する。
第1番目に実行されるタスクでは、「部品種」が「A1」である部品(以下、適宜「部品A1」という。)が実装される。図8に示した検査条件134bに従い、部品種「A1」が装着後検査の対象部品種となっているため、部品A1について、タスク終了後の検査が行われる。
第1番目に実行されるタスクの最初の部品群が実装ヘッド108に吸着される。吸着された部品は、基板上方に搬送され、移動と装着とを繰り返して、基板20に実装され、次の部品群を吸着するために部品供給部106aに移動する。一方、検査ヘッド110は、実装ヘッド108が部品供給部106aに移動するとほぼ同時に基板20上方に向かって移動を開始し、第1番目のタスクで装着された複数の部品A1について検査処理が実行される。
このように、実装ヘッド108が部品供給部106aに向かう時間、すなわち、実装ヘッド108が部品の実装に直接寄与していない時間を利用して部品の装着状態を検査することができ、検査する装着状態も1タスク分(本実施形態では最大10箇所)を検査するだけであるため、タクトタイムを大きく犠牲にすることなく、実装基板の品質を向上させることが可能となる。
しかも、部品の実装は、できる限り実装ヘッド108の動きが少なくなるような順番で装着していくため、当該装着順に検査を行っていけば、できる限り検査ヘッド110の動きが少なくなるような順番で検査することが可能となる。
ここで、装着後検査処理の詳細を図を参照して説明する。
図11は、部品実装機100が備える制御部132が実行する装着後検査処理の詳細を示すフローチャートである。装着後検査処理とは、部品を実装した後に装着状態を検査する処理である。
制御部132は、1タスクの装着が終了したか否かを判断する(S1)。当該判断は、機構部130からの信号に基づきなされる。
装着が終了していないと判断された場合(S1でNo)、すなわち、1タスク最後の装着命令に対する装着終了の信号が機構部130から帰ってきていない場合、制御部132は、装着終了判断処理(S1)を継続する。
装着が終了したと判断された場合(S1でYes)、すなわち、前記装着終了の信号が帰ってきた場合、制御部132は、検査条件に基づいて、装着処理が終了したタスクに所定部品が含まれるか否か判断する(S2)。例えば、第1番目のタスクが終了した時点では、制御部132は、第1番目のタスクで装着された部品の部品種が「A1」であり、検査条件の装着後検査の「対象部品種」である「A1」と同じであるため、装着処理が終了したタスクに所定部品A1が含まれている判断する。
所定部品が含まれないと判断した場合(S2でNo)、制御部132は、装着終了判断処理(S1)を継続する。
所定部品が含まれると判断した場合(S2でYes)、制御部132は、装着処理が終了したタスクの実装データ134aに基づいて、各所定部品の装着状態を検査ヘッド110に検査させる(S3)(なお、前記装着終了の信号が帰ってくれば、装着ヘッドは次のタスクのために部品供給部106aに向かう。)。例えば、制御部132は、検査ヘッド110に第1番目のタスクにおける部品A1の各装着位置を撮像させることにより、各装着位置における部品A1の実装状態を検査する。この場合、制御部132は、複数の装着位置を含む視野位置へ検査ヘッド110を移動させる。これにより、検査ヘッド110から得られる1枚の画像に基づいて、複数の装着位置における部品A1の実装状態を検査することができる。そのため、高速に実装状態を検査することができる。なお、制御部132は、装着位置毎に検査ヘッド110を移動させてもよい。これにより、1つの装着位置における部品A1の実装状態の検査を、検査ヘッド110から得られる1枚の画像に基づいて行なうことができる。この方法によると、各装着位置において高解像度の画像を得ることができ、高精度で部品A1の実装状態の検査を行なうことができる。
制御部132は、検査ヘッド110から得られる装着状態を示す画像に基づいて、装着位置に部品が装着されているか否かを判断する(S4)。
装着位置に部品が装着されていない場合、つまり部品の欠品がある場合(S4でYes)、制御部132は、その基板20に対する処理を終了する。また、その旨を表示部102に表示すると共に、通信I/F部136を介して実装基板生産システムを構成する機器、及び、ホストコンピュータに送信する。また、欠品した部品の部品種および装着位置はホストコンピュータに送信される。これにより、本部品実装機100以降の工程で行なわれる処理はキャンセルされ、不具合発生の有無及びずれ量がホストコンピュータに記録される。ホストコンピュータは当該ずれ量を統計処理し、フィードバック制御に用いても構わない。
制御部132は、検査ヘッド110から得られる装着状態を示す画像に基づいて、装着位置のずれが許容範囲を超えるか否かを判断する(S5)。ここで、装着位置のずれの許容範囲は予め設定され、部品実装機100が実装データ134aの一つとして記憶保持している。
許容範囲を超える実装位置のずれがあると判断された場合(S5でYes)、制御部132は、その基板20に対する処理を終了する。また、その旨を表示部102に表示すると共に、通信I/F部136を介して実装基板生産システムを構成する機器、及び、ホストコンピュータに送信する。また、ずれ量はホストコンピュータに送信される。これにより、本部品実装機100以降の処理はキャンセルされ、不具合発生の有無及びずれ量がホストコンピュータに記録される。ホストコンピュータは当該ずれ量を統計処理し、フィードバック制御に用いても構わない。
許容範囲を超える実装位置のずれがないと判断された場合(S5でNo)、部品実装機100における全タスクが終了したか否かを判断する(S6)。
全タスクが終了したと判断された場合(S6でYes)、制御部132は、その基板20に対する処理を終了する。
また、全タスクが終了していないと判断された場合(S6でNo)、制御部132は、装着終了判断処理(S1)に戻る。
このように、後に装着される大きな部品(例えば、CSP)の装着位置に落下し挟み込み不良になるおそれがある微小部品については、欠品が発生しているか否かを装着直後に検出することができる。このため、挟み込み不良を回避することができる。
また、高い装着精度が要求される部品(例えば、微小部品、狭リードピッチ部品)については、位置ずれ不良が発生しているか否かを装着直後に検出することができる。このため、位置ずれ不良のある基板に対して後工程で行う作業の無駄を回避できる。
さらに、上記のような所定部品のみについて装着後検査を行ない、他の部品については装着後検査を行なわないので、装着後検査を必要に応じて実施することができる。このため、無駄な検査をなくし、効率的な部品実装を行うことができる。
なお、装着後検査処理では、装着状態を示す画像に基づき、装着位置のずれに代えて、または装着位置のずれに加えて、他の不良の原因や不良状態の有無が判断されてもよい。例えば、実装されるべき部品が基板20上に落下していないかどうかなどが判断されてもよい。
また、本発明によると、実装されるべき部品が基板20上に落下している場合、基板20上のどこに落下しているかを示す落下位置情報を表示部102などに表示することにより、利用者に知らせることができる。
また、図11に示した装着後検査処理では、各タスクの終了後に所定部品の装着後検査をまとめて行なっているが、所定部品の装着直後、つまり所定部品が装着されてから次の部品が装着されるまでの間に、個別に所定部品の装着後検査を行うものであっても構わない。この場合、所定部品をまとめて装着後検査する場合と比べて検査タクトが追加されるが、所定部品の装着不良を装着直後に検出することができる。このため、装着不良の検出以降に実装される予定の部品を実装することがなくなり、これらの部品の無駄を回避することができる。
再度、図10を用いて、部品実装機100が実行する処理について説明する。
第1番目に実行されるタスクでは、実装される部品種が「CSP1」ではないため、後述する装着前検査処理により、装着前検査は実行されない。
次に、制御部132は、記憶部134が記憶している実装データ134aを参照し、第2番目に「タスク番号」が「2」であるタスクを実行する。
第2番目に実行されるタスクでは、「部品種」が「CSP1」である部品が実装される。
第2番目に実行されるタスクの最初に部品群が実装ヘッド108に吸着される。
このとき制御部132は、実装ヘッド108による吸着と並行して、上記の第2番目のタスクの前の検査ヘッド110による装着前検査処理を実行させる。このように、実装ヘッド108により実行される工程の一部である吸着と、検査ヘッド110による検査とを並行して実行する。これにより、部品実装の所要時間をほとんど変えることなく、基板20を検査することができ、部品実装基板の品質不良を減らすことが可能になる。
ここで、装着前検査処理の詳細を図を参照して説明する。
図12は、部品実装機100が備える制御部132が実行する装着前検査処理を示すフローチャートである。装着前検査処理とは、各タスクにおいて、特定の部品を装着する前に、検査条件から特定される基板の検査領域の実装面状態を検査する処理である。
制御部132は、検査条件に基づいて、これから装着される部品が所定部品であるか否かを判断する(S11)。制御部132は、装着される部品種が「CSP1」であり、検査条件134bの装着前検査の「対象部品種」である「CSP1」と同じであるため、これから装着される部品が所定の部品であると判断する。
所定部品であると判断した場合(S11でYes)、制御部132は、検査ヘッド110に所定部品の装着位置を撮像させることにより、その所定部品の各装着位置を検査する(S12)。つまり、制御部132は、検査ヘッド110を基板20の所定の位置(装着前検査の対象部品の装着位置)まで移動させ、実装面状態を撮像する。そして、得られた基板20の検査領域の実装面状態を示す画像情報に基づいて、その部品の装着が可能か否かを判断する。判断は、正常に印刷された状態の画像と、取得した画像とをパターンマッチングし、両画像の相違から装着可能か否かを判断する。
装着位置検査処理(S12)において、制御部132が、基板20上の検査領域への部品の落下や、許容値を超えるはんだの位置ずれを検出した場合には、装着が可能ではないと判断し(S13でNo)、その基板20に対する処理を終了する。より具体的には、例えば、制御部132は基板生産システムを停止させる。基板20は基板生産システムのラインから作業者により、または、自動的に取り除かれる。
また、制御部132は、基板20上の検査領域に部品の落下や、許容値を超えるはんだの位置ずれが検出されない場合に、装着が可能であると判断し(S13でYes)、実装ヘッド108による1タスク分の部品の装着が終了したか否かを判断する(S14)。また、これから装着される部品が所定部品でないと判断された場合にも(S11でNo)、制御部132は、装着終了判断処理(S14)を実行する。
1タスク分の部品の装着が終了していないと判断された場合には(S14でNo)、制御部132は、所定部品判断処理(S11)を継続する。
1タスク分の部品の装着が終了したと判断された場合には(S14でYes)、制御部132は、部品実装機100における全タスクが終了したか否かを判断する(S15)。
全タスクが終了していないと判断された場合(S15でNo)、制御部132は、所定部品判断処理(S11)を継続する。
全タスクが終了していると判断された場合(S15でYes)、制御部132はその基板20に対する処理を終了する。
以上、図12を用いて説明した装着前検査処理は、所定部品毎に、当該所定部品の装着の直前に、個別に所定部品に対する装着前検査を行なうものである。このように、個別に所定部品に対する装着前検査を行なうことにより、検査によるタクトロスは発生するものの、部品装着の直前に装着位置を検査することができる。このため、直前の装着により微小部品が落下したことによる挟み込み不良を回避することができる。
なお、装着前検査は、各タスクの開始前に、当該タスクに含まれるすべての所定部品に対してまとめて行うものであってもよい。図13は、タスクの開始前に、部品実装機100が備える制御部132が実行する装着前検査処理を示すフローチャートである。
制御部132は、検査条件に基づいて、これから開始されるタスクに所定部品が含まれるか否かを判断する(S21)。例えば、これから開始されるタスクが第2番目のタスクの場合には、第2番目のタスクで装着される部品の部品種は「CSP1」であり、検査条件の装着前検査の「対象部品種」である「CSP1」と同じであるため、これから開始されるタスクに所定部品CSP1が含まれていると判断する。
所定部品が含まれていると判断した場合(S21でYes)、制御部132は、検査ヘッドに所定部品の装着位置を撮像させることにより、各装着位置を検査する(S22)。装着位置検査処理(S22)は、装着位置検査処理(図12のS12)と同様の処理である。ただし、図11を示して説明した装着後検査処理と同様に、複数の装着位置の画像を一度に撮像し検査を行なうものであってもよいし、装着位置毎に画像を撮像し検査を行うものであってもよい。
装着位置検査処理(S22)において、制御部132が、基板20上の検査領域への部品の落下や、許容値を超えるはんだの位置ずれを検出した場合には、装着が可能ではないと判断し(S23でNo)、その基板20に対する処理を終了する。より具体的には、例えば、制御部132は基板生産システムを停止させる。基板20は基板生産システムのラインから作業者により、または、自動的に取り除かれる。
また、制御部132は、基板20上の検査領域に部品の落下や、許容値を超えるはんだの位置ずれが検出されない場合に、装着が可能であると判断し(S23でYes)、実装ヘッド108による1タスク分の部品の装着が終了するまで待機する(S24)。
1タスク分の部品の装着が終了したと判断された場合には(S24でYes)、制御部132は、部品実装機100における全タスクが終了したか否かを判断する(S25)。
全タスクが終了していないと判断された場合(S25でNo)、制御部132は、所定部品判断処理(S21)を継続する。
全タスクが終了していると判断された場合(S25でYes)、制御部132はその基板20に対する装着前検査処理を終了する。
以上、図13を用いて説明した装着前検査処理は、タスクの開始前に、所定部品に対する装着前検査をまとめて行なうものである。このように、タスクの開始前に所定部品に対する装着前検査をまとめて行なうことにより、実装ヘッド108が部品を吸着し、認識カメラが実装ヘッド108により吸着された部品を認識する間に、検査ヘッド110により装着前検査を行なうことができる。このため、装着前検査を実施することによるタクトロスが発生しない。
なお、図12に示したフローチャートに従い所定部品毎に、所定部品の装着直前に装着前検査を行なうか、図13に示したフローチャートに従いタスクの開始前にまとめて所定部品に対する装着前検査を行なうかの判断は以下のように行ってもよい。つまり、同一タスク内において、所定部品を実装する前に微小チップ部品を実装する場合には、挟み込みを確実に検出するために、所定部品毎に、所定部品の装着直前に装着前検査を行うようにしてよい。また、同一タスク内において、所定部品を実装する前に微小チップ部品を実装しない場合には、挟み込みの問題は生じにくいため、タスクの開始前にまとめて所定部品に対する装着前検査を行なうようにしてもよい。
このように、装着前検査処理では、次に装着する部品の装着領域(占有領域)に部品が落下していないかどうか、次に部品が装着される装着位置のはんだの印刷状態は不良でないかどうかなどが、検査ヘッド110から得られる画像に基づいて検査される。
そして、検査領域に部品の落下がなく、はんだの印刷状態が良好である場合、部品は実装ヘッド108により搬送され、装着される。以後、吸着されたすべての部品が実装されるまで、はんだ検査処理、搬送および装着が繰り返される。
制御部132は、記憶部134が記憶している実装データ134aを参照し、「タスク番号」が「N」であるタスクまで、このようなタスク処理を繰り返し実行する。部品実装機100が基板20に実装する予定であるすべての部品に対してタスクが実行された後に、部品実装機100における基板20に対する実装工程は終了する。
このように、装着前検査処理は、タスク内の部品の実装途中もしくはタスク内の部品の実装前に実行される。これにより、小さな部品の挟みこみなどを防止し、また、装着位置のずれなどの不良をタスク毎に検出することが可能になる。
また、装着後検査処理で検出された装着位置のずれにより、次のタスクでの装着位置を補正することができる。このようにリアルタイムでの位置ずれの補正ができるため、正確な位置に装着することが可能になる。
また、所定部品のみに対して装着前検査を行なうことにより、微小部品が所定部品の装着位置に落下することにより挟み込み不良となるおそれがある大きな部品(例えば、CSP)に対して、装着直前に装着前検査を行なうことができる。このため、挟み込み不良を回避することができる。
また、所定部品のみに対して装着前検査を行ない、他の部品に対しては装着前検査を行なわないので、装着前検査を必要に応じて実施することができる。このため、無駄な検査をなくし、効率的な部品実装を行うことができる。
以上、本発明の実施の形態に係る部品実装機および部品実装方法について説明したが、本発明は、この実施の形態に限定されるものではない。
例えば、実装ヘッドは、1つの部品のみを実装するものであってもよい。
例えば、実装ヘッドはノズルの代わりにチャックを備え、それにより部品を保持してもよい。
例えば、実施の形態において、1つのタスクで装着される部品の種類は1つであるとしたが、複数個の異なる種類の部品を実装ヘッドが保持し、順次基板に装着してもよい。
図12を参照して説明した実装前検査での所定部品判断処理(S11)および装着位置検査処理(S12)を実行するタイミングは、以下のいずれでもよい。
所定部品判断処理(S11)および装着位置検査処理(S12)は、そのタスクでの装着部品のうち検査対象である部品のすべてについてまとめて実行されてもよい。この処理のフローチャートが図13に示したものである。
このようにタスク内の検査対象の部品についてまとめて実行することにより、所定部品判断処理(S11)および装着位置検査処理(S12)を実行することによるタクトロスを抑えることができる。
また、図12を参照して説明した実装前検査での所定部品判断処理(S11)および装着位置検査処理(S12)は、検査対象である各部品が装着される直前に実行されても良い。ここで、部品が装着される直前とは、検査対象である部品(以下、「検査対象部品」という)の1つ前の部品が装着されたのち、検査対象部品が装着されるまでの間をいう。この処理のフローチャートが図12に示したものである。
このように、装着する直前に毎回、所定部品判断処理(S11)および装着位置検査処理(S12)を実行する。これにより、検査対象部品よりも前に装着されるべき部品が検査対象部品の装着位置またはその近傍に落下した場合に、それらの部品の落下を検出することができる。したがって、装着位置への部品の落下を確実に検出することが可能になる。
さらに、図12を参照して説明した実装前検査での所定部品判断処理(S11)および装着位置検査処理(S12)は、そのタスクでの装着部品のうち検査対象である部品のすべてについてまとめて実行し、そのタスクに含まれる検査対象部品を先に装着した後に、検査対象ではない部品を装着してもよい。
このように、タスク内の検査対象の部品についてまとめて実行することにより、所定部品判断処理(S11)および装着位置検査処理(S12)を実行することによるタクトロスを抑えることができる。また、基板表面の状態が判断された後に、基板上に装着される部品数を最小限に抑えることができるため、検査対象部品が装着されるまでに基板の装着位置に部品が落下する危険を最小限に抑えることが可能になる。
例えば、検査条件(装着前検査もしくは装着後検査の検査条件)には、検査対象となる部品を特定するための情報として部品の大きさの閾値が含まれてもよい。例えば、大きな部品は、装着後に部品の挟みこみを検出することが困難である。部品の大きさの閾値を検査条件とすることにより、閾値よりも大きな部品を所定部品として検査対象にすることができる。したがって、大きな部品が他の小さな部品を基板との間に挟みこむことによる不良を防止することが可能になる。
また、本実施の形態では、装着前検査の対象の部品としてCSPを挙げたが、対象の部品はこれに限定されるものはなく、例えば、QFP(Quad Flat Package)であってもよい。この場合、例えば、検査条件には、検査対象となる部品を特定するための情報としてQFP(Quad Flat Package)である部品の部品種が含まれてもよい。さらに、その近傍を画するための閾値とが含まれてもよい。これによりQFPを装着する前に、QFPの装着位置近傍に落下する部品の有無やはんだの状態などを検査できる。したがって、QFPのリードと部品とのショートによる不良を防止することが可能になる。なお、CSPやQFP以外であっても、装着位置周辺の領域に微小チップ部品が落下するとショートの可能性がある大きな部品であれば、どのような部品であっても装着前検査の対象とすることができる。
また、検査条件には、QFP(Quad Flat Package)である部品の部品種に加えて、その部品の装着位置の近傍領域内に他の部品が装着されるか否かを示す情報が含まれても良い。ここで、近傍領域とは、部品の装着位置から予め設定された長さだけ外側に広げた領域をいう。さらに、他の部品は、特に、QFPに挟み込まれるような小さな部品であることが好ましい。
このように、近傍に部品が装着されるQFPは、近傍の部品の装着ミスなどにより挟み込みが発生しやすい。このように、挟み込みが発生しやすい領域のみを検査することにより、効率的な検査が可能になる。
例えば、検査条件には、検査対象となる部品を特定するための情報として部品のリードの間隔であるピッチに関する閾値が含まれてもよい。この場合、実装データ134aには、さらに、各部品のピッチを示す情報が含まれる。これにより、特にピッチが狭い部品でのはんだの印刷不良を検査することができる。そのため、ピッチが狭い部品で発生し易い、はんだによるショートを原因とする不良を防止することが可能になる。
なお、前のタスクが終了してから次のタスクが開始されるまでの間に検査を行ったが、これに限定されるわけではない。例えば、タスクの途中であっても、次に所定部品が装着されるタイミングの直前に検査を行っても構わない。
この場合、同一タスク内で所定部品の前に装着されたであろう部品が落下しており、挟み込みの原因となっていた場合でも当該状態を検出することができる。
また、直後でも構わない。例えば、落下率の高い部品を装着した直後に装着状態を検査することで、落下の有無をリアルタイムに検出することができ、不具合が発生した場合にはその後の工程をキャンセルすることが可能となる。
また、終了直後のタスクに対する装着後検査とこれから開始されるタスクに対する装着前検査とが実施される場合に、それらの装着後検査と装着前検査とをまとめて行ってもよい。つまり、実装ヘッド108が部品の吸着を行ない、認識カメラが実装ヘッド108により吸着された部品の認識を行なっている間に、装着後検査と装着前検査とを行ない。このとき、装着後検査の検査領域と装着前検査の検査領域とが検査ヘッド110の同一の視野に収まるのであれば、両方の検査領域を含む1つの視野で基板表面を撮像した画像に基づいて、装着前検査および装着後検査が行なわれる。また、上記設定した視野位置を含めた、装着後検査の対象領域および装着前検査の対象領域を撮像する検査ヘッド110の移動経路が最短になるような検査ヘッド110の移動経路が算出される。検査ヘッド110は、算出された経路に従い移動する。
また、本実施の形態では、実装ヘッド108と検査ヘッド110とが交互動作する部品実装機100を例に挙げて部品実装処理について説明を行ったが、本実施の形態が対象とする部品実装機は、この部品実装機100には限られない。つまり、タスクに含まれる部品が所定部品か否かを判断し、所定部品と判断された場合に装着前検査または装着後検査を行なうものであれば、実装ヘッドと独立して動作しながら検査を行なう検査ヘッドに限られず、どのような検査手段で検査するものであっても構わない。例えば、実装ヘッドに検査カメラを設けて、検査カメラが検査対象領域を撮像可能な位置に実装ヘッドを移動させて、その検査カメラにより装着前検査および装着後検査を行なうものであっても構わない。
また、POP実装と呼ばれる、装着された第1部品の上面に、第2部品を装着する部品の実装方法についても本実施の形態を適用することができる。つまり、第2部品の装着前に第1部品の上面を検査領域として、その検査領域に異物や異常がないか等を検査することにより、第2部品に対する装着前検査を行なうこともできる。
また、本発明は、上述の実施の形態で説明した実装方法の実装条件を決定する実装条件決定装置として実現することも可能である。実装条件決定装置は、CPU、メモリ等を備える通常のコンピュータ上でプログラムを実行することにより実現される。
本発明は、部品実装機に適用できる。
部品実装機の外観を示す斜視図である。 部品実装機が備える機構の概要を示す平面図である。 実装ヘッドおよびフィーダの外観を示す斜視図である。 検査ヘッドの外観を示す斜視図である。 検査ヘッドの詳細を示す側面図である。 部品実装機が備える構成を示すブロック図である。 実装データの一部を示す図である。 検査条件の一例を示す図である。 検査条件により特定される基板20上の検査領域の一例を示す図である。 部品実装機が実行する処理の流れをまとめた図である。 部品実装機が備える制御部が実行する装着後検査処理の詳細を示すフローチャートである。 部品実装機が備える制御部が実行するはんだ検査処理を示すフローチャートである。 部品実装機が備える制御部が実行するはんだ検査処理を示すフローチャートである。
符号の説明
20 基板
100 部品実装機
102 表示部
103 入力部
106 フィーダ
107 部品リール
108 実装ヘッド
110 検査ヘッド
130 機構部
132 制御部
134 記憶部
136 通信I/F部

Claims (10)

  1. 基板に部品を実装する部品実装方法であって、
    所定の基板に対し部品の実装を繰り返す実装ステップと、
    実装すべき部品が所定の部品か否かを判定する判定ステップと、
    前記判定ステップにおいて前記実装すべき部品が前記所定の部品と判断された場合に、(i)前記所定の部品の装着が終了した後に、前記所定の部品の装着状態を検査する、および(ii)前記所定の部品の装着が開始されるまでの間に、前記所定の部品に関する実装面状態を検査する、の少なくとも一方を実行する検査ステップとを含む
    ことを特徴とする部品実装方法。
  2. 前記部品実装方法は、相互に対向して配置され独立して移動可能な、基板に部品を実装する実装ヘッドと、基板の表面状態を検査する検査ヘッドとを備える部品実装機に適用され、
    前記実装ヘッドは、複数の部品を一度に保持できるマルチノズルヘッドであり、
    前記実装ステップでは、前記実装ヘッドにより、一度に保持する部品を吸着し、吸着した前記部品を基板上方まで搬送し、搬送した前記部品を基板へ装着する一連の行為をタスクとした場合に、前記実装ヘッドにより、当該タスクが繰り返され、
    前記検査ステップでは、前記検査ヘッドが、前記タスクの終了後であって、前記実装ヘッドが行う部品の吸着または搬送の間に、前記基板の表面状態の一つである前記所定の部品の装着状態を検査する
    ことを特徴とする請求項1に記載の部品実装方法。
  3. 前記部品実装方法は、相互に対向して配置され独立して移動可能な、基板に部品を実装する実装ヘッドと、基板の表面状態を検査する検査ヘッドとを備える部品実装機に適用され、
    前記実装ヘッドは、複数の部品を一度に保持できるマルチノズルヘッドであり、
    前記実装ステップでは、前記実装ヘッドにより、一度に保持する部品を吸着し、吸着した前記部品を基板上方まで搬送し、搬送した前記部品を基板へ装着する一連の行為をタスクとした場合に、前記実装ヘッドにより、当該タスクが繰り返され、
    前記検査ステップでは、前記検査ヘッドが、前記タスクの開始前であって、前記実装ヘッドが行う部品の吸着または搬送の間に、前記基板の表面状態の一つである前記所定の部品が実装されるべき実装面状態を検査する
    ことを特徴とする請求項1に記載の部品実装方法。
  4. 前記部品実装方法は、相互に対向して配置され独立して移動可能な、基板に部品を実装する実装ヘッドと、基板の表面状態を検査する検査ヘッドとを備える部品実装機に適用され、
    前記実装ステップでは、前記実装ヘッドにより、一度に保持する部品を吸着し、吸着した前記部品を基板上方まで搬送し、搬送した前記部品を基板へ装着する一連の行為をタスクとした場合に、前記実装ヘッドにより、当該タスクが繰り返され、
    前記検査ステップでは、前記実装ステップにおいて前記実装ヘッドにより実行されている各タスクの途中の、前記所定の部品の直前の部品が装着されてから前記所定の部品の部品が装着されるまでの間において、前記検査ヘッドが、前記基板の表面状態の一つである前記所定の部品が実装されるべき実装面状態を検査する
    ことを特徴とする請求項1に記載の部品実装方法。
  5. 前記部品実装方法は、相互に対向して配置され独立して移動可能な、基板に部品を実装する実装ヘッドと、基板の表面状態を検査する検査ヘッドとを備える部品実装機に適用され、
    前記検査ステップでは、前記検査ヘッドが、前記実装ヘッドが行う部品の吸着または搬送の間に、前記基板の表面状態の一つである前記所定の部品の装着状態を検査し、前記基板の表面状態の一つである前記所定の部品が実装されるべき実装面状態を検査する
    ことを特徴とする請求項1に記載の部品実装方法。
  6. 前記判定ステップでは、さらに、部品の装着状態を検査する第1の所定の部品と部品に関する実装面状態を検査する第2の所定の部品とを示した検査条件に従い、実装すべき部品が前記第1の所定の部品または前記第2の所定の部品に該当するか否かを判定し、
    前記検査ステップでは、前記判定ステップにおいて前記実装すべき部品が前記第1の所定の部品と判定された場合には、前記第1の所定の部品の装着後に前記第1の所定の部品の装着状態を検査し、前記判定ステップにおいて前記実装すべき部品が前記第2の所定の部品と判定された場合には、前記第2の所定の部品の装着前に前記第2の所定の部品に関する実装面状態を検査する
    ことを特徴とする請求項1に記載の部品実装方法。
  7. 基板に部品を実装する部品実装機であって、
    所定の基板に対し部品の実装を繰り返す実装手段と、
    実装すべき部品が所定の部品か否かを判定する判定手段と、
    前記判定手段において前記実装すべき部品が前記所定の部品と判断された場合に、(i)前記所定の部品の装着が終了した後に、前記所定の部品の装着状態を検査する、および(ii)前記所定の部品の装着が開始されるまでの間に、前記所定の部品に関する実装面状態を検査する、の少なくとも一方を実行する検査手段とを備える
    ことを特徴とする部品実装機。
  8. 基板に部品を実装する際の実装条件を決定する実装条件決定方法であって、
    所定の基板に対し部品の実装を繰り返させるための実装条件を決定するステップと、
    実装すべき部品が所定の部品か否かを判定させるための実装条件を決定するステップと、
    前記実装すべき部品が前記所定の部品と判断された場合に、(i)前記所定の部品の装着が終了した後に、前記所定の部品の装着状態を検査する、および(ii)前記所定の部品の装着が開始されるまでの間に、前記所定の部品に関する実装面状態を検査する、の少なくとも一方を実行させるための実装条件を決定するステップとを含む
    ことを特徴とする実装条件決定方法。
  9. 基板に部品を実装する際の実装条件を決定する実装条件決定装置であって、
    所定の基板に対し部品の実装を繰り返させるための実装条件を決定する手段と、
    実装すべき部品が所定の部品か否かを判定させるための実装条件を決定する手段と、
    前記実装すべき部品が前記所定の部品と判断された場合に、(i)前記所定の部品の装着が終了した後に、前記所定の部品の装着状態を検査する、および(ii)前記所定の部品の装着が開始されるまでの間に、前記所定の部品に関する実装面状態を検査する、の少なくとも一方を実行させるための実装条件を決定する手段とを備える
    ことを特徴とする実装条件決定装置。
  10. 基板に部品を実装する際の実装条件を決定するプログラムであって、
    所定の基板に対し部品の実装を繰り返させるための実装条件を決定するステップと、
    実装すべき部品が所定の部品か否かを判定させるための実装条件を決定するステップと、
    前記実装すべき部品が前記所定の部品と判断された場合に、(i)前記所定の部品の装着が終了した後に、前記所定の部品の装着状態を検査する、および(ii)前記所定の部品の装着が開始されるまでの間に、前記所定の部品に関する実装面状態を検査する、の少なくとも一方を実行させるための実装条件を決定するステップとを
    コンピュータに実行させるためのプログラム。
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