JP7126036B2 - 部品実装システムおよび実装基板の製造方法ならびに補正値算出方法 - Google Patents

部品実装システムおよび実装基板の製造方法ならびに補正値算出方法 Download PDF

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Description

本発明は、基板に部品を実装した実装基板を製造する部品実装システムおよび実装基板の製造方法ならびに基板に部品を実装する実装位置を補正する補正値の補正値算出方法に関する。
基板に部品を実装ヘッドで実装する部品実装装置では、実装ヘッドを移動させるビームなどの経時的な熱変形により部品を基板に実装する実装位置精度が悪化することが知られている(例えば、特許文献1)。特許文献1の部品実装システムでは、所定枚数の基板への部品実装が終了する毎に経時変化測定を行い、実装位置を補正する補正値を算出して実装位置精度の悪化を防止している。
特開2016-58603号公報
しかしながら、特許文献1の部品実装システムでは、一枚の基板に部品を実装している間に生じる実装位置精度の悪化は防止することができないという課題があった。
そこで本発明は、一枚の基板に部品を実装している間に生じる実装位置精度の悪化を防止することができる部品実装システムおよび実装基板の製造方法ならびに補正値算出方法を提供することを目的とする。
本発明の部品実装システムは、部品供給部から部品を取り出して基板に実装する実装ヘッドと、前記基板に実装された部品の実装状態を検査する検査ユニットと、前記検査ユニットの検査結果から、前記実装ヘッドが部品を前記基板に実装する実装位置を補正する補正値を算出する補正値算出部と、を備え、前記実装ヘッドを備える設備とは異なる設備が前記検査ユニットを備え、一枚の基板に部品を実装している間に所定の作業量が経過した場合に、前記検査ユニットによりその基板の検査が行われる
本発明の実装基板の製造方法は、部品供給部から部品を取り出して基板に実装する実装ヘッドと、前記基板に実装された部品の実装状態を検査する検査ユニットとを備える部品実装システムにおいて、前記実装ヘッドを備える設備とは異なる設備が前記検査ユニットを備え、一枚の基板に部品を実装している間に所定の作業量が経過した場合に、前記検査ユニットによりその基板に実装された部品の実装状態を検査し、前記検査ユニットの検査結果から、前記実装ヘッドが部品を前記その基板に実装する実装位置を補正する補正値を算出し、前記補正値に基づいて、前記実装位置を補正して前記実装ヘッドが部品を前記その基板に実装する。
本発明の補正値算出方法は、部品供給部から部品を取り出して基板に実装する実装ヘッドと、前記基板に実装された部品の実装状態を検査する検査ユニットとを備える部品実装システムにおいて、前記実装ヘッドを備える設備とは異なる設備が前記検査ユニットを備え、一枚の基板に部品を実装している間に所定の作業量が経過した場合に前記検査ユニットによりその基板に実装された部品の実装状態を検査し、前記検査ユニットの検査結果から、前記実装ヘッドが部品を前記その基板に実装する実装位置を補正する補正値を算出する。
本発明によれば、一枚の基板に部品を実装している間に生じる実装位置精度の悪化を防止することができる。
本発明の一実施の形態の部品実装システムの構成説明図 本発明の一実施の形態の部品実装装置の構成を示す平面図 本発明の一実施の形態の部品実装システムの制御系の構成を示すブロック図 本発明の一実施の形態の部品実装システムにおける実装基板の製造方法のフロー図 本発明の一実施の形態の部品実装システムにおける補正値算出方法のフロー図 (a)(b)(c)本発明の一実施の形態の部品実装システムにおける補正値算出方法の工程説明図 本発明の一実施の形態の他の部品実装システムの構成説明図 本発明の一実施の形態の部品実装検査装置の構成を示す平面図 本発明の一実施の形態の他の部品実装システムの制御系の構成を示すブロック図 本発明の一実施の形態の他の部品実装システムにおける補正値算出方法のフロー図 (a)(b)(c)本発明の一実施の形態の他の部品実装システムにおける補正値算出方法の工程説明図
以下に図面を用いて、本発明の一実施の形態を詳細に説明する。以下で述べる構成、形状等は説明のための例示であって、部品実装システム、部品実装装置、検査装置の仕様に応じ、適宜変更が可能である。以下では、全ての図面において対応する要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。図2、及び後述する一部では、水平面内で互いに直交する2軸方向として、基板搬送方向のX方向(図2における左右方向)、基板搬送方向に直交するY方向(図2における上下方向)が示される。
まず図1を参照して、部品実装システム1の構成を説明する。部品実装システム1は、基板に部品を実装して実装基板を製造する機能を有するものであり、はんだ印刷装置M1、部品実装装置M2,M3および検査装置M4を備えている。これらの装置は通信ネットワーク2を介して管理コンピュータ3に接続されている。なお、部品実装システム1が備える部品実装装置M2,M3は2台に限定されることはなく、1台でも3台以上でも良い。
はんだ印刷装置M1は、実装対象の基板に部品接合用のクリームはんだをスクリーン印刷する。部品実装装置M2,M3は、部品実装機構12(図2参照)によってクリームはんだが印刷された基板の実装位置に部品供給部から取り出した部品を実装する実装動作を行う。部品実装装置M2,M3は、この実装動作を反復して実行する過程で生じる部品実装機構12の経時変化を測定する。
検査装置M4は、基板を隣接する装置から搬入し、内部に搬送し、隣接する装置に搬出する基板搬送機構と、検査用カメラを有して基板に実装された部品の実装状態を検査する検査ユニットを備えている。検査装置M4は、部品実装装置M2,M3によって基板に実装された部品の正規位置からの位置ずれ量などを検査する。管理コンピュータ3は、ライン管理機能と併せて、検査装置M4によって取得された検査結果と各部品実装装置で測定された経時変化の計測結果に基づいて、実装位置精度を改善するために各部品実装装置にフィードバックすべき補正値を算出する機能を有している。
次に図2を参照して、部品実装装置M2,M3の構成を説明する。基台4の上面の中央には、X方向に基板搬送機構5が配設されている。基板搬送機構5は、上流側装置から受け渡された基板6を搬送して、以下に説明する部品実装機構12による実装作業位置に位置決め保持する。また、基板搬送機構5は、部品実装作業が完了した基板6を下流側装置に搬出する。基板搬送機構5の両側方には部品供給部7が配置されており、部品供給部7には複数のテープフィーダ8が並設されている。テープフィーダ8は実装対象の部品を保持したキャリヤテープをピッチ送りすることにより、部品実装機構12による部品吸着位置に部品を供給する。
基台4の上面においてX方向の一方側の端部には、Y方向にリニア駆動機構を備えたY軸ビーム9が配設されている。Y軸ビーム9には、同様にリニア駆動機構を備えた2基のX軸ビーム10が、Y方向に移動自在に結合されている。2基のX軸ビーム10には、それぞれ実装ヘッド11がX方向に移動自在に装着されている。実装ヘッド11は、複数の保持ヘッドを備えており、それぞれの保持ヘッドの下端部には、部品を吸着して保持し個別に昇降可能な吸着ノズルが装着されている。
図2において、Y軸ビーム9、X軸ビーム10を駆動することにより、実装ヘッド11はX方向、Y方向に移動する。これにより2つの実装ヘッド11は、それぞれ対応した部品供給部7に配設されたテープフィーダ8の部品吸着位置から部品を吸着ノズルによって吸着し、保持する。そして、実装ヘッド11は、保持した部品を取り出して、基板搬送機構5に位置決めされた基板6の実装点に実装する。すなわち、Y軸ビーム9、X軸ビーム10および実装ヘッド11は、部品を保持した実装ヘッド11を移動させることにより、部品を基板6に移送して搭載する部品実装機構12を構成する。
部品供給部7と基板搬送機構5との間には、部品認識カメラ13が配設されている。部品供給部7から部品を取り出した実装ヘッド11が部品認識カメラ13の上方を移動する際に、部品認識カメラ13は実装ヘッド11に保持された状態の部品を撮像して認識する。実装ヘッド11にはX軸ビーム10の下面側に位置して、それぞれ実装ヘッド11と一体的に移動する基板認識カメラ14が装着されている。実装ヘッド11が移動することにより、基板認識カメラ14は基板搬送機構5に位置決めされた基板6の上方に移動し、基板6に設けられた基板マーク(図示せず)を撮像して基板6の位置を認識する。実装ヘッド11による基板6への実装動作においては、部品認識カメラ13による部品の認識結果と、基板認識カメラ14による基板認識結果とを加味して実装位置補正が行われる。
図2において、基台4の上面には、基板搬送機構5に位置決めされた状態の基板6を周囲から囲む配置で、経時変化を検出するための4つの位置基準ポスト15が立設されている。位置基準ポスト15には、時計回りに(1)~(4)の番号が付番されており、それぞれを個別に特定できるようになっている。すなわち、基板認識カメラ14によって位置基準ポスト15(1)~15(4)の位置を認識することにより、Y軸ビーム9、X軸ビーム10などの熱変形により実装ヘッド11が正規状態から変位する経時変化を検出できるようになっている。
次に図3を参照して、部品実装システム1の制御系の構成を説明する。管理コンピュータ3、部品実装装置M2、M3および検査装置M4は、通信ネットワーク2を介して接続されている。部品実装装置M2、M3は、実装制御部20、基板搬送機構5、テープフィーダ8、部品実装機構12、部品認識カメラ13、基板認識カメラ14を備えている。実装制御部20は、実装記憶部21、認識処理部25、実装動作処理部26、経時変化算出部27、補正動作処理部28、通信部29を備えている。通信部29は、通信ネットワーク2を介して他の部品実装装置、検査装置M4、管理コンピュータ3との間でデータの送受信を行う。
実装記憶部21は記憶装置であり、実装データ記憶部22、測定結果記憶部23、補正値記憶部24を備えている。実装データ記憶部22には、基板6に実装される部品の部品種、実装位置(XY座標)などのデータが製造する実装基板の種類ごとに記憶されている。
図3において、認識処理部25は、部品認識カメラ13、基板認識カメラ14による撮像結果を認識処理する。これにより、位置決めされた基板6や、実装ヘッド11に保持された状態の部品の位置認識が行われる。これとともに、基板認識カメラ14による位置基準ポスト15の撮像結果を認識処理することにより、部品実装機構12の経時変化を測定するための位置基準ポスト15の認識結果が取得される。
経時変化算出部27は、前述の位置基準ポスト15の認識結果に基づき、部品実装機構12の経時変化の状態を示す経時変化情報を算出する。すなわち、位置基準ポスト15、実装ヘッド11と一体的に移動して位置基準ポスト15を撮像する基板認識カメラ14、認識処理部25、経時変化算出部27は、実装ヘッド11を備える設備(部品実装装置M2,M3)の経時変化を測定する経時変化測定部を構成する。経時変化測定部による経時変化の測定結果は、測定結果記憶部23に格納されるとともに、管理コンピュータ3に送信される。
図3において、補正値記憶部24には、後述する管理コンピュータ3において算出されて送信される、実装ヘッド11が部品を基板6に実装する実装位置を補正する補正値が格納される。実装動作処理部26は、実装データ記憶部22に記憶された各種データ、補正値記憶部24に記憶された補正値、認識処理部25による実装ヘッド11に保持された部品の認識結果に基づいて実装位置を補正し、基板搬送機構5、テープフィーダ8、部品実装機構12を制御して実装動作を実行させる。また、実装動作処理部26は、部品実装の作業時間、実装ヘッド11が部品供給部7から部品を取り出して基板6に実装して再び部品供給部7まで戻る実装ターンの回数である実装ターン数を、随時、管理コンピュータ3に送信する。
補正動作処理部28は、基板搬送機構5、部品実装機構12、基板認識カメラ14を制御して、補正値を算出する際の部品実装装置M2,M3の補正動作を制御する。具体的には、補正動作処理部28は基板搬送機構5を制御して、検査対象の基板6を検査装置M4に搬出し、検査装置M4から検査後の基板6を受け取って再び実装作業位置に位置決め保持させる。また、補正動作処理部28は部品実装機構12、基板認識カメラ14を制御して、位置基準ポスト15(1)~15(4)を撮像させる。
また、補正動作処理部28は部品実装機構12を制御して、検査装置M4(検査ユニット)が基板6を検査している間に、実装ヘッド11を継続して移動させる。これによって、検査装置M4による検査前後の部品実装機構12の温度差を小さくし、新たに算出される補正値を使用する実装位置の補正精度を向上させることができる。なお、補正動作処理部28は、管理コンピュータ3からの指令に従って、補正動作を実行させる。
図3において、検査装置M4は、検査制御部30、基板搬送機構36、検査ユニット37を備えている。検査制御部30は、検査記憶部31、検査処理部34、通信部35を備えている。通信部35は、通信ネットワーク2を介して部品実装装置M2,M3、管理コンピュータ3との間でデータの送受信を行う。検査記憶部31は記憶装置であり、検査データ記憶部32、検査結果記憶部33を備えている。検査データ記憶部32には、基板6に実装された部品の状態を検査するために必要な部品の正規位置などの情報が格納されている。
基板搬送機構36は、隣接する装置から基板6を搬入して検査ユニット37による検査作業位置に位置決め保持し、検査後の基板6を隣接する装置に搬出する。検査処理部34は検査データ記憶部32に記憶された各種データに基づいて検査ユニット37を制御し、検査カメラ37aによって基板6に実装された部品を撮像して、基板6に実装された部品の実装状態を検査する。検査結果は、検査結果記憶部33に格納されるとともに、管理コンピュータ3に送信される。
図3において、管理コンピュータ3は、管理処理部40を備えている。管理処理部40は、管理記憶部41、作業量計測部45、補正値算出部46、通信部47を備えている。通信部47は、通信ネットワーク2を介して部品実装装置M2,M3、検査装置M4との間でデータの送受信を行う。管理記憶部41は記憶装置であり、測定結果記憶部42、検査結果記憶部43、補正値記憶部44を備えている。測定結果記憶部42には、部品実装装置M2,M3の経時変化測定部による経時変化の測定結果が送信されて格納されている。検査結果記憶部43には、検査装置M4の検査ユニットの検査結果が送信されて格納されている。
作業量計測部45は、部品実装装置M2,M3において、一枚の基板6に実装ヘッド11が部品を基板6に実装する作業量である作業時間または実装ターン数を計測する。そして、作業量計測部45は、一枚の基板6の作業量が所定(例えば、作業時間が1分以上、実装ターン数が150回以上)を経過すると、部品実装装置M2,M3および検査装置M4に、補正値を算出するための指令を送信する。具体的には、部品実装装置M2,M3では、補正動作処理部28による補正動作と、経時変化測定部による経時変化の測定が実行されて、測定結果が管理コンピュータ3に送信される。検査装置M4では、所定の作業量が経過した基板6が搬送され、検査ユニット37によりその基板6の検査が行われ、検査結果が管理コンピュータ3に送信される。
図3において、補正値算出部46は、検査結果記憶部43に格納された検査ユニット37の検査結果と、測定結果記憶部42に格納された経時変化測定部の測定結果に基づいて、実装ヘッド11が部品を基板6に実装する実装位置を補正する補正値を算出する。また、補正値算出部46は、部品実装装置M2,M3が経時変化測定部を備えていないなどの理由で測定結果がない場合は、検査ユニット37の検査結果から補正値を算出する。算出された補正値は、補正値記憶部44に格納されるとともに、その基板6に部品を実装している部品実装装置M2,M3に送信されて、実装記憶部21の補正値記憶部24に格納されている補正値が更新される。
次に図4のフローに沿って、部品実装システム1における実装基板の製造方法について説明する。ここでは、部品実装装置M2において所定の部品が実装された基板6に、更に部品実装装置M3において所定の部品を実装する工程について説明する。また、部品実装装置M3の補正値記憶部24には、前に部品実装された基板6において算出された補正値(更新前の補正値)が格納されているとする。
図4において、まず、部品実装装置M2より部品実装装置M3に基板6が搬入されて実装作業位置に位置決め保持される(ST1:基板搬入工程)。次いで経時変化測定部によって位置基準ポスト15の位置が測定される(ST2:初期ポスト測定工程)。これにより、部品実装作業前の部品実装装置M3における実装ヘッド11の初期状態が測定される。測定結果は、部品実装装置M3の測定結果記憶部23および管理コンピュータ3の測定結果記憶部42にそれぞれ格納される。次いで実装動作処理部26は、既に格納されている更新前の補正値に基づいて実装位置を補正して部品を基板6に実装させる(ST3:更新前部品実装工程)。
次いで作業量計測部45は、基板6に対する部品実装が所定の作業量を経過したか否かを判断する(ST4:作業量判断工程)。所定の作業量を経過していない場合(ST4においてNo)、更新前の補正値に基づく更新前部品実装工程(ST3)が繰り返し実行される。所定の作業量を経過すると(ST4においてYes)、検査装置M4において部品の実装状態が検査されて補正値算出部46によって補正値が算出される(ST5:補正値算出工程)。
すなわち、一枚の基板6に部品を実装している間に所定の作業量が経過した場合に(ST4においてYes)、検査ユニット37によりその基板6に実装された部品の実装状態が検査されて、実装ヘッド11が部品を基板6に実装する実装位置を補正する補正値が算出される(ST5)。算出された補正値は、管理コンピュータ3の補正値記憶部44および部品実装装置M3の補正値記憶部24に格納される。すなわち、補正値が更新される。
図4において、次いで実装動作処理部26は、更新された補正値に基づいて、実装位置を補正して実装ヘッド11によって部品を基板6に実装させる(ST6:更新後部品実装工程)。実装動作処理部26は、予定する全ての部品が基板6に実装されるまで(ST7においてNo)、更新後の補正値に基づく更新後部品実装工程(ST6)を繰り返し実行させる。全ての部品が実装されると(ST7においてYes)、基板6が下流の装置に搬出される(ST8:基板搬出工程)。以降、基板搬入工程(ST1)に戻って、次に実装対象となる基板6に、部品が実装される。
次に図5のフローに沿って、図6を参照しながら、検査装置M4と管理コンピュータ3によって補正値を算出する補正値算出工程(ST5)(補正値算出方法)の詳細について説明する。所定の作業量が経過した基板6は、部品実装装置M3から検査装置M4に移送される(ST11:基板移送工程)(図6(a)の矢印a)。次いで検査装置M4において、検査ユニット37の検査カメラ37aにより、その基板6に部品実装装置M3において実装された部品Dの状態が検査される(ST12:実装検査工程)(図6(b)参照)。検査結果は、検査装置M4の検査結果記憶部33および管理コンピュータ3の検査結果記憶部43に格納される。
また、検査ユニット37が基板6を検査している間に、補正動作処理部28は、部品実装装置M3における部品実装を模擬して実装ヘッド11を継続して移動させる(模擬部品実装工程)。これによって、検査装置M4による検査前後の部品実装機構12の温度差を小さくして、新たに算出される補正値を使用した実装位置の補正精度を向上させることができる。
次いで部品実装装置M3において、経時変化測定部によって位置基準ポスト15の位置が測定される(ST13:ポスト測定工程)(図6(b)参照)。測定結果は、部品実装装置M3の測定結果記憶部23および管理コンピュータ3の測定結果記憶部42にそれぞれ格納される。次いで経時変化算出部27は、測定結果に基づいて経時変化を算出する(ST14:経時変化算出工程)。
その際、正規状態の位置基準ポスト15(1)~15(4)の位置、初期ポスト測定工程(ST2)において測定された部品実装作業前の位置基準ポスト15(1)~15(4)の位置に基づいて、経時変化が算出される。算出された経時変化は、部品実装装置M3の測定結果記憶部23および管理コンピュータ3の測定結果記憶部42にそれぞれ格納される。
なお、ポスト測定工程(ST13)は、実装検査工程(ST12)の間に実行するようにしてもよい。すなわち、検査ユニット37が基板6を検査している間に、経時変化測定部が経時変化を測定するようにしてもよい。つまり、実装検査工程(ST12)の間、模擬部品実装工程を実行し、実装検査が終了するタイミングを見計らってポスト測定工程(ST13)を実行することにより、経時変化の測定による時間のロスをなくし、かつ、実装位置の補正精度を向上させることができる。
図5において、次いで補正値算出部46は、検査ユニット37の検査結果と経時変化測定部の測定結果に基づいて、補正値を算出する(ST15:補正値算出実行工程)。なお、補正値算出部46は、経時変化測定部の測定結果がない場合、検査ユニット37の検査結果に基づいて補正値を算出する。算出された補正値は、管理コンピュータ3の補正値記憶部44および部品実装装置M3の補正値記憶部24に格納される。次いで検査後の基板6は、検査装置M4から部品実装装置M3に返送される(ST16:基板返送工程)(図6(c)の矢印b)。部品実装装置M3に返送された基板6は、実装作業位置に位置決めされて、保持される。
なお、上述した実装基板の製造方法では、検査ユニット37による基板6の検査は、一枚の基板6に部品Dを実装している間に一回だけ実行する例で説明したが、検査ユニット37による検査は一回に限定されることはない。例えば、基板6に実装する部品数が多くて作業量が多い場合は、一枚の基板6に部品Dを実装している間に検査ユニット37による検査を2回以上実行するようにしてもよい。その場合、検査ユニット37は、前回の検査後に実装された部品Dの実装状態を検査する。また、実装基板の製造方法では、一枚の基板6の部品実装が完了した後にその基板6を検査ユニット37で検査して補正値を算出し、この補正値を次の基板6に対する補正値として部品実装を実行するようにしてもよい。
上記説明したように、本実施の形態の部品実装システム1は、部品供給部7から部品Dを取り出して基板6に実装する実装ヘッド11と、基板6に実装された部品Dの実装状態を検査する検査ユニット37と、検査ユニット37の検査結果から、実装ヘッド11が部品Dを基板6に実装する実装位置を補正する補正値を算出する補正値算出部46と、を備えている。そして、一枚の基板6に部品Dを実装している間に所定の作業量が経過した場合に、検査ユニット37によりその基板6の検査を実行している。これによって、一枚の基板6に部品Dを多数実装している間に生じる実装位置精度の悪化を防止することができる。
なお、部品実装システム1は、検査装置M4は部品実装装置M3の下流ではなく、部品実装装置M2と部品実装装置M3の間に配置する構成でも良い。これにより、部品実装装置M2において所定の作業量が経過した場合には基板6を下流に搬送して検査装置M4で検査し、部品実装装置M3において所定の作業量が経過した場合には基板6を上流に搬送して同じ検査装置M4で検査することができる。
次に図7を参照して、本発明の一実施の形態の他の部品実装システム50の構成を説明する。他の部品実装システム50は、部品実装装置M2,M3および検査装置M4の替わりに部品実装検査装置M5をはんだ印刷装置M1の下流に備えているところが上記の部品実装システム1とは異なる。部品実装検査装置M5は、基板6に部品Dを実装する機能と、基板6に実装された部品Dの実装状態を検査する機能を併せて有している。以下、同じ部分には同じ符号を付して説明は省略する。
次に図8を参照して、部品実装検査装置M5の構成を説明する。部品実装検査装置M5は、2つの実装ヘッド11の一方の代わりに検査カメラ51がX軸ビーム10に装着されているところが部品実装装置M2,M3とは異なる。検査カメラ51は、Y軸ビーム9、X軸ビーム10を駆動することによりX方向、Y方向に移動する。そして、検査カメラ51は、実装作業位置に位置決めされて、保持された基板6に実装された部品Dの実装状態を撮像して検査する。すなわち、Y軸ビーム9、X軸ビーム10および検査カメラ51は、基板6に実装された部品Dの状態を検査する検査ユニット52を構成する。
次に図9を参照して、他の部品実装システム50の制御系の構成を説明する。部品実装検査装置M5は、基板搬送機構5、テープフィーダ8、部品実装機構12、部品認識カメラ13、基板認識カメラ14の他、検査ユニット52、実装制御部53を備えている。実装制御部53は、認識処理部25、実装動作処理部26、経時変化算出部27、補正動作処理部28、通信部29の他、実装記憶部54、検査処理部57を備えている。実装記憶部54は記憶装置であり、実装データ記憶部22、測定結果記憶部23、補正値記憶部24の他、検査データ記憶部55、検査結果記憶部56を備えている。
検査データ記憶部55には、基板6に実装された部品Dの状態を検査するために必要な部品Dの正規位置などの情報が格納されている。検査処理部57は検査データ記憶部55に記憶された各種データに基づいて検査ユニット52を制御し、検査カメラ51によって基板6に実装された部品Dを撮像して、基板6に実装された部品Dの実装状態を検査する。検査結果は、検査結果記憶部56に格納されるとともに、管理コンピュータ3に送信される。管理コンピュータ3は、部品実装検査装置M5から送信される検査結果を検査結果記憶部43に格納し、補正値算出部46が算出した補正値を部品実装検査装置M5に送信する他は、部品実装システム1と同様である。
このように、部品実装システム1は、実装ヘッド11を備える設備(部品実装装置M2,M3)とは異なる設備(検査装置M4)が検査ユニット37を備えるのに対して、他の部品実装システム50は、実装ヘッド11を備える設備(部品実装検査装置M5)が検査ユニット52を備えている。
次に図4のフローに沿って、他の部品実装システム50における実装基板の製造方法について説明する。他の部品実装システム50では、基板搬入工程(ST1)においてはんだ印刷装置M1より部品実装検査装置M5に基板6が搬入されること、補正値算出工程(ST5)において部品実装検査装置M5が部品Dの実装状態を検査すること、以外は部品実装システム1と同様であり説明を省略する。
次に図10のフローに沿って、図11を参照しながら、部品実装検査装置M5と管理コンピュータ3によって補正値を算出する補正値算出工程(ST5)(補正値算出方法)の詳細について説明する。所定の作業量が経過した基板6は、部品実装検査装置M5において実装作業位置に位置決め保持されている状態で(図11(a)参照)、検査ユニット52の検査カメラ51により、その基板6に実装された部品Dの状態が検査される(ST21:実装検査工程)(図11(b)参照)。検査結果は、部品実装検査装置M5の検査結果記憶部56および管理コンピュータ3の検査結果記憶部43に格納される。
次いで部品実装検査装置M5において、経時変化測定部によって位置基準ポスト15の位置が測定される(ST22:ポスト測定工程)(図11(c)参照)。測定結果は、部品実装検査装置M5の測定結果記憶部23および管理コンピュータ3の測定結果記憶部42にそれぞれ格納される。次いで経時変化算出部27は、測定結果に基づいて経時変化を算出する(ST23:経時変化算出工程)。算出された経時変化は、部品実装検査装置M5の測定結果記憶部23および管理コンピュータ3の測定結果記憶部42にそれぞれ格納される。
次いで補正値算出部46は、検査ユニット52の検査結果と経時変化測定部の測定結果に基づいて、補正値を算出する(ST24:補正値算出実行工程)。算出された補正値は、管理コンピュータ3の補正値記憶部44および部品実装検査装置M5の補正値記憶部24に格納される。その後、実装作業位置に位置決め保持されている基板6に対して、更新された補正値で部品Dが実装される(ST6)。
本発明の部品実装システムおよび実装基板の製造方法ならびに補正値算出方法は、一枚の基板に部品を実装している間に生じる実装位置精度の悪化を防止することができるという効果を有し、部品を基板に実装する分野において有用である。
1 部品実装システム
6 基板
7 部品供給部
11 実装ヘッド
14 基板認識カメラ(経時変化測定部)
15 位置基準ポスト(経時変化測定部)
50 他の部品実装システム(部品実装システム)
52 検査ユニット
D 部品

Claims (15)

  1. 部品供給部から部品を取り出して基板に実装する実装ヘッドと、
    前記基板に実装された部品の実装状態を検査する検査ユニットと、
    前記検査ユニットの検査結果から、前記実装ヘッドが部品を前記基板に実装する実装位置を補正する補正値を算出する補正値算出部と、を備え、
    前記実装ヘッドを備える設備とは異なる設備が前記検査ユニットを備え、
    一枚の基板に部品を実装している間に所定の作業量が経過した場合に、前記検査ユニットによりその基板の検査が行われる、部品実装システム。
  2. 前記作業量は、前記実装ヘッドが部品を前記基板に実装する作業時間である、請求項1に記載の部品実装システム。
  3. 前記作業量は、前記実装ヘッドが部品を前記基板に実装する実装ターン数である、請求項1に記載の部品実装システム。
  4. 前記検査ユニットが前記基板を検査している間に、前記実装ヘッドを継続して移動させる、請求項1からのいずれかに記載の部品実装システム。
  5. 前記実装ヘッドを備える設備の経時変化を測定する経時変化測定部をさらに備え、
    前記検査ユニットが前記基板を検査している間に、前記経時変化測定部が前記経時変化を測定し、
    前記補正値算出部は、前記検査ユニットの検査結果と前記経時変化測定部の測定結果に基づいて、前記補正値を算出する、請求項1からのいずれかに記載の部品実装システム。
  6. 部品供給部から部品を取り出して基板に実装する実装ヘッドと、前記基板に実装された部品の実装状態を検査する検査ユニットとを備える部品実装システムにおいて、
    前記実装ヘッドを備える設備とは異なる設備が前記検査ユニットを備え、
    一枚の基板に部品を実装している間に所定の作業量が経過した場合に、前記検査ユニットによりその基板に実装された部品の実装状態を検査し、
    前記検査ユニットの検査結果から、前記実装ヘッドが部品を前記その基板に実装する実装位置を補正する補正値を算出し、
    前記補正値に基づいて、前記実装位置を補正して前記実装ヘッドが部品を前記その基板に実装する、実装基板の製造方法。
  7. 前記作業量は、前記実装ヘッドが部品を前記基板に実装する作業時間である、請求項に記載の実装基板の製造方法。
  8. 前記作業量は、前記実装ヘッドが部品を前記基板に実装する実装ターン数である、請求項に記載の実装基板の製造方法。
  9. 前記検査ユニットが前記基板を検査している間に、前記実装ヘッドを継続して移動させる、請求項からのいずれかに記載の実装基板の製造方法。
  10. 前記部品実装システムは、前記実装ヘッドを備える設備の経時変化を測定する経時変化測定部をさらに備え、
    前記検査ユニットが前記基板を検査している間に、前記経時変化測定部が前記経時変化を測定し、
    前記検査ユニットの検査結果と前記経時変化測定部の測定結果に基づいて、前記補正値が算出される、請求項からのいずれかに記載の実装基板の製造方法。
  11. 部品供給部から部品を取り出して基板に実装する実装ヘッドと、前記基板に実装された部品の実装状態を検査する検査ユニットとを備える部品実装システムにおいて、
    前記実装ヘッドを備える設備とは異なる設備が前記検査ユニットを備え、
    一枚の基板に部品を実装している間に所定の作業量が経過した場合に前記検査ユニットによりその基板に実装された部品の実装状態を検査し、
    前記検査ユニットの検査結果から、前記実装ヘッドが部品を前記その基板に実装する実装位置を補正する補正値を算出する、補正値算出方法。
  12. 前記作業量は、前記実装ヘッドが部品を前記基板に実装する作業時間である、請求項11に記載の補正値算出方法。
  13. 前記作業量は、前記実装ヘッドが部品を前記基板に実装する実装ターン数である、請求項11に記載の補正値算出方法。
  14. 前記検査ユニットが前記基板を検査している間に、前記実装ヘッドを継続して移動させる、請求項11から13のいずれかに記載の補正値算出方法。
  15. 前記部品実装システムは、前記実装ヘッドを備える設備の経時変化を測定する経時変化測定部をさらに備え、
    前記検査ユニットが前記基板を検査している間に、前記経時変化測定部が前記経時変化を測定し、
    前記検査ユニットの検査結果と前記経時変化測定部の測定結果に基づいて、前記補正値が算出される、請求項11から14のいずれかに記載の補正値算出方法。
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