JP2008538453A - 半導体パッケージピックアップ装置 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 107
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 89
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 64
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 5
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 5
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 5
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- 239000000047 product Substances 0.000 description 2
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 235000013372 meat Nutrition 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 1
- 239000011265 semifinished product Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
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- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6838—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices
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- H—ELECTRICITY
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- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
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- Power Engineering (AREA)
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
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Abstract
Description
本発明は、半導体パッケージピックアップ装置に関し、より詳しくは、個別に分離された半導体パッケージをピックアップして移動するか、積載テーブルなどに安着させる半導体パッケージ吸着用ピックアップ装置に関する。
一般に、半導体パッケージ製造工程は、FAB(Fabrication)工程とアセンブリー(Assembly)工程とに大別される。FAB工程では、シリコンウエハの上に集積回路を設計して半導体チップを形成し、アセンブリー工程では半導体チップにリードフレーム付着、上記半導体チップとリードフレームとの間の通電のためのワイヤボンディング(Wire bonding)あるいはソルダーボール(Solder ball)を形成するソルダリング工程、そしてエポキシなどのレジン(Resin)などを用いたモールディング工程などを順次に進行して半導体ストリップ(Strip)を作る。このように製作された半導体ストリップは、ストリップピッカーによりチャックテーブル(Chuck table)に安着して切断装置へ移送されて切断刃(回転ブレード)により個別的なパッケージ形態で切断され、切断された各々のパッケージは、洗浄及び乾燥された後、積載テーブルに積載されたままにビジョン検査装置へ移送される。
〔発明が解決しようとする課題〕
本発明は、上記のような問題点を解決するために案出したものであって、本発明の目的は、パッケージのサイズが小さい場合にも乾燥完了したパッケージを確実に真空吸着するか、真空吸着されたパッケージを確実に積載テーブルの第1及び第2積載部に順次に下ろすことができる半導体パッケージピックアップ装置を提供することにある。
上記の目的を達成するために、本発明によるパッケージピックアップ装置は、空圧を提供する空圧ラインと連結され、複層構造で配置された第1及び第2主供給孔が形成されたピッカーベースと、上記ピッカーベースの下部に結合され、上記第1及び第2主供給孔と連結された吸着孔が形成された吸着パッドを含むように構成され、上記第1及び第2主供給孔に供給される空圧は、各々独立的に制御されることを特徴とする。
以上、説明したように、本発明に従う半導体パッケージピックアップ装置は、パッケージのサイズが小さい場合にもパッケージを円滑にピックアップまたは積載できるパッケージピックアップ装置を提供している。
〔実施の形態1〕
以下、本発明の最良の実施形態に従うパッケージピックアップ装置を添付した図面を参照しつつ詳細に説明する。
以下、本発明の第2実施形態に従う半導体パッケージピックアップ装置を説明する。
以下、本発明の第3実施形態に従う半導体パッケージピックアップ装置を説明する。
以下、本発明の第4実施形態に従う半導体パッケージピックアップ装置を説明する。
以下、本発明の第5実施形態に従う半導体パッケージピックアップ装置を説明する。
以下、本発明の第6実施形態に従う半導体パッケージピックアップ装置を説明する。
以下、本発明の第7実施形態に従う半導体パッケージピックアップ装置を説明する。
100a、100b 上部及び下部ベース
110a、110b 第1及び第2空圧ライン
120a、120b 第1及び第2主供給孔
130a、130b 第1及び第2伝達孔
140a、140b 第1及び第2分配溝
150a、150b 第1及び第2連結孔
160 第3伝達孔
170 真空パイプ
200 パッドホルダー
210a、210b 第1及び第2貫通孔
300 吸着パッド
310a、310b 第1及び第2吸着孔
400 乾燥装置
410 熱線
500 積載テーブル
510、520 第1及び第2積載部
510a、520a 積載溝
510b、520b 余裕空間部
Claims (13)
- 空圧を提供する空圧ラインと連結され、複層構造で配置された第1及び第2主供給孔が形成されたピッカーベースと、
前記ピッカーベースの下部に結合され、前記第1及び第2主供給孔と連結された吸着孔が形成された吸着パッドを含むように構成され、
前記第1及び第2主供給孔に供給される空圧は、各々独立的に制御されることを特徴とする半導体パッケージピックアップ装置。 - 前記第1及び第2主供給孔は各々複数個で構成され、前記吸着パッドの吸着孔に均一に空圧が伝達できるように、前記複数の第1及び第2主供給孔は前記ピッカーベースの各平面上に均一に配置されることを特徴とする請求項1記載の半導体パッケージピックアップ装置。
- 前記第1及び第2主供給孔は、前記ピッカーベースの内部に貫通形成された第1及び第2伝達孔により前記吸着孔に各々連結され、かつ、前記第1及び第2伝達孔が互いに干渉しないように、互いに交互に配置されることを特徴とする請求項2記載の半導体パッケージピックアップ装置。
- 前記ピッカーベースの下面には、前記第1及び第2伝達孔と連結される第1及び第2分配溝が交互に形成され、前記第1及び第2伝達孔を通じて伝えられた空圧は前記第1及び第2分配溝を通じて前記吸着孔に伝えられることを特徴とする請求項3記載の半導体パッケージピックアップ装置。
- 前記第1及び第2伝達孔は各々複数個で構成され、前記第1及び第2主供給孔と第1及び第2分配溝を各々連結することを特徴とする請求項4記載の半導体パッケージピックアップ装置。
- 前記ピッカーベースの内部には、前記第1及び第2主供給孔を各々連結する第1及び第2連結孔が前記第1及び第2主供給孔と直交するように形成されていることを特徴とする請求項2記載の半導体パッケージピックアップ装置。
- 前記第1及び第2主供給孔は、前記ピッカーベースの長手方向に形成された1対の通孔からなり、
前記ピッカーベースには前記第1及び第2主供給孔と直交するように形成され、前記第1及び第2主供給孔を各々連結する複数の第1及び第2連結孔及び前記第1及び第2連結孔に各々連結された第1及び第2伝達孔が備えられ、
前記ピッカーベースの下面には前記第1及び第2伝達孔と各々連結された第1及び第2分配溝が交互に形成されることを特徴とする請求項1記載の半導体パッケージピックアップ装置。 - 前記ピッカーベースは、前記空圧ラインと連結された第1主供給孔が形成された上部ベースと前記空圧ラインと連結された第2主供給孔が形成された下部ベースからなることを特徴とする請求項1記載の半導体パッケージピックアップ装置。
- 前記上部ベースの内部には前記第1主供給孔と連結される第1伝達孔が形成され、前記上部ベースの下面には前記第1伝達孔と連結される第1分配溝が形成され、
前記下部ベースの内部には前記第2主供給孔と連結された第2伝達孔が形成され、前記上部ベースの下面には前記第2伝達孔と連結される第2分配溝と前記第1分配溝と連結される第3伝達孔が形成されることを特徴とする請求項7記載の半導体パッケージピックアップ装置。 - 前記第1及び第2分配溝は各々複数個で構成され、前記複数の第1及び第2分配溝は各々互いに連結されたことを特徴とする請求項8記載の半導体パッケージピックアップ装置。
- 前記第1及び第2主供給孔は各々複数個で構成され、
前記上部ベースの内部には前記第1主供給孔を連結する第1連結孔が前記第1主供給孔と直交するように形成され、
前記下部ベースの内部には前記第2主供給孔を連結する第2連結孔が前記第2主供給孔と直交するように形成されていることを特徴とする請求項7記載の半導体パッケージピックアップ装置。 - 前記ピッカーベースの下部には第1及び第2貫通孔が形成されたパッドホルダーが結合されており、
前記パッドホルダーの下部には前記吸着パッドが結合されることを特徴とする請求項1乃至10のうち、いずれか1項記載の半導体パッケージピックアップ装置。 - 第1空圧ラインと連結された第1主供給孔が形成され、その下面には前記第1主供給孔と連結された真空パイプが突出形成された上部ベースと、
前記上部ベースの下面に結合され、第2空圧ラインと連結された第2主供給孔が形成され、その内部には前記真空パイプが挿入されるパイプ孔と前記第2主供給孔と連結された伝達孔が形成された下部ベースと、
前記下部ベースの下部に結合され、前記第1及び第2主供給孔と連結された吸着孔が形成された吸着パッドを含むように構成され、
前記第1及び第2主供給孔に提供される空圧は各々独立的に制御されることを特徴とする半導体パッケージピックアップ装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050032858A KR100604098B1 (ko) | 2005-04-20 | 2005-04-20 | 반도체 패키지 픽업장치 |
PCT/KR2006/001436 WO2006112651A1 (en) | 2005-04-20 | 2006-04-18 | Semiconductor package pickup apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008538453A true JP2008538453A (ja) | 2008-10-23 |
JP4679638B2 JP4679638B2 (ja) | 2011-04-27 |
Family
ID=37115337
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008507545A Active JP4679638B2 (ja) | 2005-04-20 | 2006-04-18 | 半導体パッケージピックアップ装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8070199B2 (ja) |
JP (1) | JP4679638B2 (ja) |
KR (1) | KR100604098B1 (ja) |
CN (1) | CN100562979C (ja) |
DE (1) | DE112006000995T5 (ja) |
WO (1) | WO2006112651A1 (ja) |
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KR102346297B1 (ko) * | 2021-07-15 | 2022-01-04 | (주)알에프세미 | 가변 적층형 방열판 패키지 |
WO2023286966A1 (ko) * | 2021-07-15 | 2023-01-19 | 주식회사 알에프세미 | 가변 적층형 방열판 패키지 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP4679638B2 (ja) | 2011-04-27 |
US20090311087A1 (en) | 2009-12-17 |
DE112006000995T5 (de) | 2008-02-14 |
US8070199B2 (en) | 2011-12-06 |
KR100604098B1 (ko) | 2006-07-24 |
WO2006112651A1 (en) | 2006-10-26 |
CN100562979C (zh) | 2009-11-25 |
CN101194352A (zh) | 2008-06-04 |
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