JP2008520834A - 金属カルボニル前駆体から金属層を堆積する方法 - Google Patents

金属カルボニル前駆体から金属層を堆積する方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2008520834A
JP2008520834A JP2007543036A JP2007543036A JP2008520834A JP 2008520834 A JP2008520834 A JP 2008520834A JP 2007543036 A JP2007543036 A JP 2007543036A JP 2007543036 A JP2007543036 A JP 2007543036A JP 2008520834 A JP2008520834 A JP 2008520834A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
substrate
precursor
carbon monoxide
process chamber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007543036A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008520834A5 (ja
JP4980234B2 (ja
Inventor
健二 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Publication of JP2008520834A publication Critical patent/JP2008520834A/ja
Publication of JP2008520834A5 publication Critical patent/JP2008520834A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4980234B2 publication Critical patent/JP4980234B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/71Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
    • H01L21/768Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
    • H01L21/76838Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the conductors
    • H01L21/76841Barrier, adhesion or liner layers
    • H01L21/76843Barrier, adhesion or liner layers formed in openings in a dielectric
    • H01L21/76846Layer combinations
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/06Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of metallic material
    • C23C16/16Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of metallic material from metal carbonyl compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/28Manufacture of electrodes on semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/268
    • H01L21/283Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current
    • H01L21/285Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation
    • H01L21/28506Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation of conductive layers
    • H01L21/28512Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation of conductive layers on semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table
    • H01L21/28556Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation of conductive layers on semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table by chemical means, e.g. CVD, LPCVD, PECVD, laser CVD

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Abstract

一酸化炭素ガス及び希釈ガスを用いる金属カルボニル前駆体(52、152)からの金属層(440、460)の堆積速度を増加する方法(300)及び堆積システム(1、100)に関する。この方法(300)は、堆積システム(1、100)のプロセスチャンバ(10、110)に基板(25、125、400、402)を用意し、金属カルボニル前駆体の気相原料と一酸化炭素ガスとを含むプロセスガスを生成し、プロセスチャンバ(10、110)においてプロセスガスを希釈し、基板(25、125、400、402)を希釈されたプロセスガスに晒して、熱化学気相堆積プロセスにより、基板に金属層(440、460)を堆積する。堆積システム(1、100)は、気相原料分散システム(30、130)を有するプロセスチャンバ(10、110)で基板(25、125、400、402)を支持し加熱するよう構成される基板ホルダ(20、120)と、金属カルボニル前駆体の気相原料と一酸化炭素ガスとを含むプロセスガスを生成し、これを気相原料分散システム(30、130)へ導入するよう構成される前駆体供給システム(105)と、プロセスチャンバ(10、110)にてプロセスガスに希釈ガスを加えるよう構成される希釈ガス源(37、137)と、基板(25、125、400、402)を希釈プロセスガスに晒して金属層(440、460)を熱化学気相堆積プロセスにより堆積する間、堆積システム(1、100)を制御するよう構成される制御器(165)とを含む。

Description

本発明は、半導体プロセスに関し、特に金属カルボニル前駆体からの金属層の堆積速度を増加する方法および堆積システムに関する。
本発明は、「金属カルボニル前駆体からの金属層の堆積速度を増加する方法」という名称の米国特許出願第10/996,145号に関連し、その内容のすべてをここに援用する。この関連出願は共有ではない。
集積回路の製造のための多層メタライゼーション工程に銅(Cu)を導入する場合には、拡散バリア/ライナを使用して、Cu層の成長と密着性を促進し、Cuが誘電体材料中へ拡散するのを防止することが必要となる。誘電体材料上に堆積されるバリア/ライナは、タングステン(W)、モリブデン(Mo)およびタンタル(Ta)等の高融点材料を含んでよい。これらは、Cuに対する非反応性および非混和性を有し、かつ、低い電気抵抗を有する。Cuメタライゼーションと誘電体材料とを統合する今日のインテグレーション工程においては、約400℃から500℃までの間、またはそれ以下の基板温度におけるバリア/ライナ堆積プロセスが必要となる。
たとえば、130nm以下の技術ノードのCuインテグレーション工程では、誘電定数の低い(low−k)層間誘電体と、その後に続く物理的堆積(PVD)法によるTa層またはTaN/Ta層と、その後に続くPVD法によるCuシード層と、電解堆積(ECD)法によるCu埋め込みとが利用される。Ta層は一般にその密着性(すなわち、low−k膜への密着性能)から選択され、Ta/TaN層は一般にそのバリア性(すなわち、low−k膜へのCuの拡散の防止性能)から選択される。
上述のように、Cu拡散バリアとしての遷移金属薄層の研究において、または実現に向けて多大な努力がなされてきた。その研究は、クロム、タンタル、モリブデンおよびタングステンを対象としている。これらの材料の各々は、Cuへの混和性が低い。従来の高融点金属と同様な挙動が期待されることから、近年、ルテニウム(Ru)やロジウム(Rh)などの他の材料が潜在的なバリア層として挙げられている。Ru又はRhを使用すると、たとえばTa/TaNのような2層とは対照的に、バリア層はただ一層で済む。この所見は、これらの金属の密着性およびバリア性による。たとえば、一つのRu層は、Ta/TaN層に取って代わることができる。さらに、現在の研究成果によれば、一つのRu層はCuシード層に更に取って代わることができ、Cuのバルク埋め込みはRuの堆積に直接に引き続いて実施され得ることがわかった。この所見は、Cu層とRu層との間の密着性が良いためである。
従来、Ru層は、熱化学的気相堆積(TCVD)法において、ルテニウムカルボニル前駆体などのルテニウムを含む前駆体を熱分解することにより形成されている。ルテニウムカルボニル前駆体(たとえば、Ru(CO)12)の熱分解により堆積されたRu層の材料的性質は、基板温度が約400℃より低くなると劣化する。その結果、堆積温度が低いと、Ru層の(電気)抵抗が増加し、表面モフォロジーが悪化(たとえば、ノジュールの発生)する。これは、熱堆積されたRu層へ混入する反応副生成物が増加することが原因と考えられている。これらの結果は、ルテニウムカルボニル前駆体の熱分解から生じる一酸化炭素の離脱速度が、約400℃より低い基板温度では、低下することにより説明される。
また、ルテニウムカルボニル又はレニウムカルボニルなどの金属カルボニルを使用する場合、これらの蒸気圧が低くいため堆積速度が低くなり、また、これらに関連した輸送の問題が生じる。一般に、発明者らは、現在の堆積システムには、堆積速度が低いという問題があり、そのため、そのような金属膜が非実用的であることを理解している。
米国特許出願公開第2006/0110530号明細書
本発明は、金属カルボニル前駆体から堆積される金属層の堆積速度を増加する方法および堆積システムを提供する。
本発明の実施形態は、金属を含む前駆体の蒸発温度を上げて金属カルボニル前駆体の蒸気圧を高くし、もって、金属カルボニル前駆体の気相原料のプロセスチャンバへの輸送を増大し、基板への金属の堆積速度を増加することができる。本発明の実施形態によれば、金属カルボニル前駆体の気相原料に対して一酸化炭素(CO)ガスが混合されて、金属カルボニル前駆体の気相原料が基板へ晒される前に生じる、金属カルボニル前駆体の気相原料の早期分解が減少される。さらに、プロセスチャンバ内でのCOガスおよび副生成物の分圧を制御し、減少するため、プロセスチャンバでプロセスガスに対して希釈ガスを加える。
したがって、この方法は、堆積システムのプロセスチャンバに基板を用意し、金属カルボニル前駆体の気相原料とCOガスとを含有するプロセスガスを生成し、このプロセスガスをプロセスチャンバに導入し、プロセスチャンバでプロセスガスに希釈ガスを加えて希釈プロセスガスを生成し、基板を希釈プロセスガスに晒して、熱化学堆積プロセスにより、基板に金属膜を堆積する。
本発明の実施形態には、一般式M(CO)で表される種々の金属カルボニル前駆体が含まれる。金属カルボニルには、これらに限定されるわけではないが、W(CO)、Ni(CO)、Mo(CO)、Co(CO)、Rh(CO)12、Re(CO)10、Cr(CO)、Ru(CO)12およびOs(CO)12が含まれる。
本発明の実施形態によれば、堆積システムのプロセスチャンバにパターン化基板を用意し、Ru(CO)12前駆体の気相原料とCOガスとからプロセスガスを生成し、このプロセスガスをプロセスチャンバに導入し、プロセスチャンバでプロセスガスに希釈ガスを加えて希釈プロセスガスを生成し、パターン化基板を希釈プロセスガスに晒して、熱化学堆積プロセスにより、パターン化基板にRu金属層を堆積するための方法が提供される。ここで、「パターン化」とは、1又は2以上のビアもしくはトレンチまたはこれらの組み合わせを含む基板をいう。
本発明の実施形態によれば、基板にメタル層を堆積する堆積システムが提供される。この堆積システムは、気相原料分散システムを有するプロセスチャンバに基板を支持し加熱するよう構成される基板ホルダと、金属カルボニル前駆体とCOガスを含むプロセスガスを生成し、このプロセスガスを気相原料分散システムへ導入するよう構成される前駆体供給システムと、プロセスチャンバでプロセスガスに対して希釈ガスを加えるよう構成される希釈ガス源と、基板を希釈プロセスガスに晒して、熱化学堆積プロセスにより、基板に金属層を堆積する間、堆積システムを制御するよう構成される制御器と、を含む。
以下の記載は、本発明の十分な理解を促進するための説明用のものであり、本発明を限定するものではなく、堆積システムの特定の形状や各種構成部品の記載など特定の詳細を示したものである。ただし、本発明は、これらの特定の細部とは異なる他の実施例で実施しても良いことを理解する必要がある。
以下、図面を参照すると、いくつかの図を通して、同一のまたは対応する部品には、同様の参照符号が付されている。図1に、金属カルボニル前駆体から基板に金属層を堆積するための一の実施形態による堆積システム1を示す。堆積システム1は、基板25を支持するよう構成された基板ホルダ20を有するプロセスチャンバ10を備える。基板25の上に金属層が形成される。プロセスチャンバ10は、気相前駆体供給システム40を介して金属前駆体蒸発システム50と結合されている。
プロセスチャンバ10はダクト36を介して真空ポンプシステム38と更に結合されている。真空ポンプシステム38は、基板25上に金属層を形成するのに適し、金属前駆体蒸発システム50における金属カルボニル前駆体52の蒸発に適する圧力にまで、プロセスチャンバ10、気相前駆体供給システム40および金属前駆体蒸発システム50を排気するよう構成されている。
図1を参照すると、金属前駆体蒸発システム50は、金属カルボニル前駆体52を貯蔵し、金属カルボニル前駆体52を蒸発させ金属カルボニル前駆体の気相原料を気相前駆体供給システム40に導入するに十分な温度まで金属カルボニル前駆体52を加熱するよう構成される。金属カルボニル前駆体52は、金属前駆体蒸発システム50において選択される加熱条件によっては、固体の場合がある。または、金属カルボニル前駆体52は液体の場合もある。以下、固体の金属カルボニル前駆体52を使用する場合を説明する。ただし、当業者であれば、本発明の範囲から逸脱することなく、ある加熱条件のもとで液相の金属カルボニル前駆体52が使用され得ることを理解するであろう。たとえば、金属カルボニル前駆体は、一般式M(CO)を有し、タングステンカルボニル、モリブデンカルボニル、コバルトカルボニル、ロジウムカルボニル、レニウムカルボニル、クロミウムカルボニル、もしくはオスミウムカルボニル、またはこれらの2つの組み合わせであってよい。これらの金属カルボニルは、これらに限定されるわけではないが、W(CO)、Ni(CO)、Mo(CO)、Co(CO)、Rh(CO)12、Re(CO)10、Cr(CO)、Ru(CO)12もしくはOs(CO)12、またはこれらの2又は3以上の組み合わせを含む。
金属カルボニル前駆体52を蒸発させる(または、固体の金属カルボニル前駆体52を昇華させる)所望の温度を実現するため、金属前駆体蒸発システム50は、蒸発温度を制御するよう構成される蒸発温度制御システム54と結合されている。たとえば、金属カルボニル前駆体52の温度は、ルテニウムカルボニルRu(CO)12を昇華させるため、従来のシステムでは、一般に、約40℃から45℃に上昇される。この温度においては、Ru(CO)12の蒸気圧は、たとえば、約1mTorr(0.133Pa)から約3mTorr(0.400Pa)までの範囲にある。金属カルボニル前駆体が加熱されて蒸発する(昇華する)際、金属カルボニル前駆体52の上もしくは中を、またはその両方をキャリアガスが流れる。キャリアガスは、たとえば、希ガスHe、Ne、Ar、Kr、もしくはXeのような、またはこれらの2又は3以上を組み合わせた不活性ガスを含んでよい。あるいは、他の実施形態では、キャリアガスを用いない場合も考えられる。
本発明の実施形態においては、一酸化炭素(CO)ガスがキャリアガスに加えられてよい。また、他の実施形態では、キャリアガスの代わりにCOガスが用いられる場合も考えられる。たとえば、ガス供給システム60が、金属前駆体蒸発システム50と結合されて、たとえば、キャリアガス、COガス、又はこれらの混合ガスを、供給ライン61を介して金属カルボニル前駆体52の下に、または供給ライン62を介して金属カルボニル前駆体52の上に供給するよう構成される。加えて又は代わりに、ガス供給システム60は金属前駆体蒸発システム50の下流側で供給ライン63を介して気相前駆体供給システム40に結合し、ガスが気相前駆体供給システム40に入ったとき、または入った後に、金属カルボニル前駆体52の気相原料へガスを供給する。図示しないが、ガス供給システム60は、キャリアガス源、COガス源、1又は2以上の制御バルブ、1又は2以上のフィルタ、およびマスフロコントローラを備えることができる。たとえば、キャリアガスの供給量は、約0.1標準立方センチメータ毎分(sccm)と約1000sccmとの間である。また、キャリアガスの供給量は、約10sccmと約500sccmとの間であってよい。さらに、キャリアガスの供給量は、約50sccmと約200sccmとの間であってもよい。本発明の実施形態によれば、COガスの供給量は、約0.1sccmから約1000sccmまでの範囲とすることができる。あるいは、COガスの供給量は、約1sccmと約100sccmとの間であってよい。
膜前駆体蒸発システム50より下流側において、金属前駆体の気相原料を含むプロセスガスは、気相前駆体供給システム40を通って流れ、プロセスチャンバ10と結合される気相原料分散システム30を介してプロセスチャンバ10に流入する。気相前駆体供給システム40は、気相原料ラインの温度を制御して金属カルボニル前駆体の気相原料の凝結と熱分解を防止するため、気相原料ライン温度制御システム42に結合してよい。
再び図1を参照すると、気相原料分散システム30は、プロセスチャンバ10に結合してプロセスチャンバ10の一部をなし、気相原料分散プレナム32を構成する。気相原料は気相原料分散プレナム32内で分散し、気相原料分散板34を通過し、基板25の上方のプロセスゾーン33に流入する。加えて、気相原料分散板34は、気相原料分散板34の温度を制御するよう構成される分散板温度制御システム35に結合してよい。
本発明の実施形態によれば、希釈ガス源37は、プロセスチャンバ10と結合され、金属カルボニル前駆体の気相原料とCOガスとを含むプロセスガスを希釈する希釈ガスを加えるよう構成される。図1に示すように、希釈ガス源37は、供給ライン37aを介して気相原料分散システム30に結合し、プロセスガスが気相原料分散板34を通してプロセスゾーン33に到達する前に、気相原料分散プレナム32においてプロセスガスに対して希釈ガスを加えるよう構成してよい。また、希釈ガス源37は、供給ライン37bを介してプロセスチャンバ10に結合し、プロセスガスが気相原料分散板34を通過した後に、基板25の上方のプロセスゾーン33においてプロセスガスに対して希釈ガスを加えるよう構成してもよい。さらにまた、希釈ガス源37は、供給ライン37cを介して気相原料分散システム30に結合し、気相原料分散板34において、プロセスガスに対して希釈ガスを加えるよう構成しても構わない。また、本発明の範囲から逸脱することなく、気相原料分散システム30およびプロセスチャンバ10の他の部位において希釈ガスをプロセスガスに加えてよいことは、当業者であれば理解されよう。
金属カルボニル前駆体の気相原料を含むプロセスガスがプロセスチャンバ10のプロセスゾーン33へ流入すると、その金属カルボニル前駆体の気相原料は、基板表面に吸着し、基板25の温度が上昇しているため熱分解する。そして、基板25上に薄膜が形成される。基板ホルダ20が基板温度制御システム22と結合されているため、基板ホルダ20は、基板25の温度を上昇するよう構成される。たとえば、基板温度制御システム22は、基板25の温度を約500℃まで上昇するよう構成してよい。加えて、プロセスチャンバ10は、チャンバ壁の温度を制御するよう構成されるチャンバ温度制御システム12に結合してよい。
上述の通り、たとえば、従来のシステムでは、より高い温度で生じる分解を防止するため、Ru(CO)12の場合、約40から45℃までの温度範囲内で、気相前駆体供給システム40と膜前駆体蒸発システム50とを作動させるものと考えられていた。たとえば、Ru(CO)12は、高い温度で分解し、以下に示すように副生成物を生成する。
Ru(CO)12(ad)⇔ Ru(CO)(ad)+(12−x)CO(g) (1)
または、
Ru(CO)(ad)⇔ 3Ru(s)+xCO(g) (2)
ここで、これらの副生成物は、堆積システム1の内表面上に吸着(ad)、すなわち凝結する。その表面上に金属が堆積すると、基板間でプロセス再現性などの問題が生じる。また、たとえば、Ru(CO)12は、堆積システムの内面に凝結する。すなわち、
Ru(CO)12(g)⇔ Ru(CO)(ad) (3)
要するに、いくつかの金属カルボニル前駆体(たとえば、Ru(CO)12)の蒸気圧が低く、かつ、そのプロセスウィンドウが狭いことから、基板25上の金属層の堆積速度は低くなる。
2004年11月23日に出願された「金属カルボニル前駆体からの金属層の堆積速度を増加する方法」という名称の係属中の関連米国特許出願第10/996,145号の発明者には、本願の発明者が含まれているが、金属カルボニル前駆体にCOガスを加えることで、基板への金属カルボニル前駆体への供給を制限する上述の問題を低減することを実現した。したがって、本発明の実施形態では、金属カルボニル前駆体の気相原料にCOガスを加えてガスラインにおいて金属カルボニル前駆体の気相原料が解離するのを低減し、もって、式(1)の平衡状態を左辺側へシフトさせ、金属カルボニル前駆体がプロセスチャンバ10へ供給される前に、気相前駆体供給システム40において金属カルボニル前駆体が早期に分解するのを低減する。金属カルボニル前駆体にCOガスを加えると、蒸発温度を約40℃から約150℃まで又は更に高く上げることができると考えられる。温度が上がると金属カルボニル前駆体の蒸気圧が高くなり、その結果、金属カルボニル前駆体のプロセスチャンバへの供給量が増大する。したがって、基板25への金属の堆積速度が上昇する。さらに、発明者らは、ArとCOガスとの混合ガスを金属カルボニル前駆体の上または金属カルボニル前駆体を通して流すことにより、金属カルボニル前駆体の早期分解が低減されることを認識している。
本発明の実施形態によれば、Ru(CO)12前駆体の気相原料にCOガスを加えると、Ru(CO)12前駆体の蒸発温度を約40℃から約150℃に維持することができる。また、蒸発温度を約60℃から約90℃に維持してもよい。
金属カルボニル前駆体の熱分解と、これに引き続く基板25上への金属の堆積とは、主として、基板25からCOが除去されCO副生成物が離脱することにより、進行すると考えられる。堆積中にCO副生成物が金属層へ混入するのは、金属カルボニル前駆体の不完全な分解と、金属層からのCOの不完全な除去と、プロセスチャンバ10から金属層上へのCO副生成物の再吸着とから生じる。
堆積中に金属層へCOが混入すると、金属層にはノジュールという形で表面荒れが生じることとなる。ノジュールの成長は、金属層へのCO副生成物の混入量が増大することにより、増進される。ノジュール数は、金属層が厚くなるに従って増加すると予想される。さらに、CO副生成物が金属層に混入すると、金属層の抵抗が増大する。
金属層へのCO副生成物の混入は、(1)プロセス圧力を下げることにより、(2)基板温度を上昇することにより低減する。本願発明者は、プロセスチャンバ10におけるCOガス副生成物およびCOガスの分圧を制御し低減するため、プロセスチャンバ10内で、金属カルボニル前駆体の気相原料とCOガスとを含むプロセスガスに対して希釈ガスを加えることにより、上述の問題が低減されることを実現した。したがって、本発明の実施形態では、金属層上のCO副生成物の分圧とプロセスチャンバ10内のCOの分圧とを調整し低減するため、希釈ガス源37からの希釈ガスをプロセスガスに加えることにより、平坦な金属層が形成される。希釈ガスは、たとえば、希ガスHe、Ne、Ar、Kr、もしくはXeのような、またはこれらの2又は3以上を組み合わせた不活性ガスを含んでよい。希釈ガスは、さらに、金属層の材料特性、たとえば電気抵抗を改善するため、還元性ガスを含んでいてよい。還元性ガスとしては、たとえば、H,シリコン含有ガス(たとえば、SiH、Si、もしくはSiCl)、ボロン含有ガス(BH、B、もしくはB)、または窒素含有ガス(たとえば、NH)を含んでよい。本発明の実施形態によれば、プロセスチャンバの圧力は約0.1mTorr(0.0133Pa)と約200mTorr(26.7Pa)との間であってよい。また、プロセスチャンバの圧力は約1mTorr(0.0133Pa)と約100mTorr(13.3Pa)との間であってもよい。さらにまた、プロセスチャンバの圧力は約2mTorr(0.0267Pa)と約50mTorr(6.67Pa)との間であっても構わない。
金属カルボニル前駆体の気相原料に対してCOガスを加えると金属カルボニル前駆体の熱的安定性が向上するため、プロセスガス中における金属カルボニル前駆体のCOガスに対する相対濃度を利用して、所定の温度での基板25上での金属カルボニル前駆体の分解速度を調整することができる。さらに、基板温度を利用して、基板25上への金属の分解速度(したがって堆積速度)を調整することができる。金属カルボニル前駆体の所望の蒸発温度を実現し、金属カルボニル前駆体の基板25上への所望の堆積速度を実現するため、それぞれCOガス量と基板温度を変化させることは、当業者であれば容易に理解されよう。
さらに、プロセスガス中のCOガス量は、動力学的限界温度領域において、金属が金属カルボニル前駆体から基板25上に堆積されるように選択することができる。たとえば、プロセスガス中のCOガス量は、金属の堆積プロセスが動力学的限界温度領域で生じるまで増加してよい。動力学的限界温度領域とは、基板表面上での化学気相堆積プロセスの堆積速度が化学反応の反応速度論により制限される堆積条件の範囲をいい、特に堆積速度の温度依存性が強いことで特徴づけられる。動力学的限界温度領域と異なり、物質移送制限温度領域は、通常より高い基板温度で観察され、基板表面への化学反応物質の流入により堆積速度が制限される堆積条件の範囲である。物質移送制限領域は、堆積速度が金属カルボニル前駆体の供給量に強く依存し、堆積温度には依存しないことにより特徴づけられる。動力学的制限温度領域における金属堆積は、通常、良好なステップカバレッジと、パターン化基板の金属層の良好なコンフォーマリティをもたらす。コンフォーマリティは、一般に、パターン化基板の構造のサイドウォール上における金属膜の最も薄い部分をそのサイドウォールにおける金属層の最も厚い部分で割ったものとして定義される。ステップカバレッジは、一般に、サイドウォールカバレッジ(サイドウォール上の金属層の厚さをその構造から離れた金属層の厚さで割ったもの)をボトムカバレッジ(構造の底部での金属層の厚さをその構造から離れた金属層の厚さで割ったもの)で割ったものとして定義される。
図1を更に参照すると、堆積システム1は、堆積システム1を作動させ、その動作を制御するよう構成される制御システム80を更に含むことができる。制御システム80は、プロセスチャンバ10、基板ホルダ20、基板温度制御システム22、チャンバ温度制御システム12、気相原料分散システム30、気相前駆体供給システム40、金属前駆体蒸発システム50、希釈ガス源37、およびガス供給システム60と結合される。
他の実施形態において、図2は、ルテニウム(Ru)などの金属膜を基板に堆積する堆積システム100を示す。堆積システム100はプロセスチャンバ110を備え、プロセスチャンバ110は、金属層が形成される基板125を支持するよう構成される基板ホルダ120を備える。プロセスチャンバ110は、金属カルボニル前駆体152を貯蔵し蒸発させるよう構成される金属前駆体蒸発システム150を有する前駆体供給システム105と、金属カルボニル前駆体152をプロセスチャンバ110に輸送するよう構成される気相前駆体供給システム140と結合されている。
プロセスチャンバ110は、上チャンバ部111、下チャンバ部112および排気チャンバ113を備える。下チャンバ部112に開口114が形成され、その底部に排気チャンバ113が結合されている。
図2を更に参照すると、基板ホルダ120は、プロセスの対象である基板(またはウェハ)125を支持して水平面を提供する。基板ホルダ120は、排気チャンバ113の下部から上向きに延びる円筒状支持部材122により支持される。さらに、基板ホルダ120は、基板ホルダ温度制御システム128と結合されるヒータ126を備える。ヒータ126は、たとえば、1又は2以上の抵抗加熱素子を含んでよい。また、ヒータ126は、たとえば、タングステン−ハロゲン電球などの輻射加熱システムを含んでもよい。基板ホルダ温度制御システム128は、1又は2以上の加熱素子へ電力を供給する電力源と、基板温度もしくは基板ホルダ温度または双方を測定する1又は2以上の温度センサと、基板または基板ホルダの温度の監視、調整、または制御の少なくとも一つを実行するよう構成される制御器と、を含んでよい。
プロセス中、加熱された基板125により、金属カルボニル前駆体の気相原料が熱分解し、基板125上に金属層が堆積される。一の実施形態においては、金属カルボニル前駆体152は、ルテニウムカルボニル前駆体、たとえばRu(CO)12とすることができる。熱CVDの技術分野の当業者であれば、本発明の範囲から逸脱することなく、他のルテニウムカルボニル前駆体を使用できることを理解するであろう。基板ホルダ120は、所望のRu金属層または他の金属層を基板125上に堆積するのに適した予め定めた温度にまで加熱される。また、チャンバ壁を予め定めた温度に加熱するため、チャンバ温度制御システム121と結合されるヒータ(図示せず)をプロセスチャンバ110の壁に埋め込むことができる。そのヒータは、プロセスチャンバ110の壁の温度を約40℃から約150℃に、または約40℃から約80℃に維持することができる。プロセス圧力を測定するため、圧力ゲージ(図示せず)が使用される。本発明の実施形態によれば、プロセスチャンバ圧力は約0.1mTorrと約200mTorrとの間とすることができる。また、プロセスチャンバ圧力は約1mTorrと約100mTorrとの間でよく、さらに、約2mTorrと約50mTorrとの間であってもよい。
図2にも示すように、気相原料分散システム130は、プロセスチャンバ110の上チャンバ部111と結合されている。気相原料分散システム130は気相原料分散板131を備える。気相原料分散板131は、1又は2以上のオリフィス134を通して気相原料分散プレナム132から基板125の上方のプロセスゾーン133へ前駆体の気相原料を導入するよう構成されている。
本発明の実施形態によれば、希釈ガス源137がプロセスチャンバ110と結合され、供給ライン137a、137bおよび137cまたはいずれか、バルブ197、1又は2以上のフィルタ(図示せず)、並びにマスフローコントローラ(図示せず)を用いて、希釈ガスを加えてCOガスおよび金属カルボニル前駆体を含むプロセスガスを希釈するよう構成される。図2に示すとおり、希釈ガス源137は、プロセスチャンバ110の気相原料分散システム130に結合し、プロセスガスが気相原料分散板131を通って基板125の上方のプロセスゾーン133へ到達する前に、供給ライン137aを介して気相原料分散プレナム132においてプロセスガスに希釈ガスを加えるよう構成される。または、希釈ガス源137は、供給ライン137cを介して気相原料分散板131内でプロセスガスに希釈ガスを加えるよう構成してよい。また、希釈ガス源137は、プロセスチャンバ110に結合し、プロセスガスが気相原料分散板131を通過した後に、供給ライン137bを介してプロセスゾーン133においてプロセスガスに希釈ガスを加えるよう構成してもよい。当業者であれば、本発明の範囲から逸脱することなく、プロセスチャンバ110の他の箇所において希釈ガスをプロセスガスに加えてよいことは、理解されるであろう。
さらに、気相前駆体供給システム140から気相原料分散プレナム132へ金属カルボニル前駆体を導入するため、上チャンバ部111に開口135が設けられている。また、冷却された又は加熱された流体を流すよう構成される同心円状流体チャネルなどの温度制御素子136が、気相原料分散システム130の温度を制御するために設けられ、もって、気相原料分散システム130内で金属カルボニル前駆体が分解したり凝結したりするのを防止する。たとえば、水などの流体が、気相原料分散温度制御システム138から流体チャネルへ供給される。気相原料分散温度制御システム138は、流体源と、熱交換器と、流体温度もしくは気相原料分散板の温度または双方を測定する1又は2以上の温度センサと、気相原料分散板131の温度を約20℃から約150℃に制御するよう構成される制御器とを含んでよい。
図2に示すとおり、金属前駆体蒸発システム150は、金属カルボニル前駆体152を保持し、金属カルボニル前駆体152の温度を上昇させることにより金属カルボニル前駆体152を蒸発(または昇華)させるよう構成される。金属カルボニル前駆体152を加熱するために前駆体ヒータ154が設けられ、金属カルボニル前駆体152の蒸気圧が所望の値となる温度に金属カルボニル前駆体152を維持する。前駆体ヒータ154は、金属カルボニル前駆体152の温度を制御するよう構成される蒸発温度制御システム156と結合されている。たとえば、前駆体ヒータ154は、金属カルボニル前駆体152の温度を約40℃から約150℃、または約60℃から約90℃に調整するよう構成される。
金属カルボニル前駆体152が加熱されて蒸発(または昇華)する際、キャリアガスが金属カルボニル前駆体152の上もしくは中を通過するか、またはその双方を通過する。キャリアガスは、たとえば、希ガス(すなわち、He、Ne、Ar、Kr、Xe)などの不活性ガスを含んでよい。また、他の実施形態では、キャリアガスを用いない場合も考えられる。本発明の実施形態では、COガスをキャリアガスに加える。また、他の実施形態においては、キャリアガスの代わりにCOガスを用いることも考えられる。たとえば、キャリアガス供給システム160が金属前駆体蒸発システム150と結合され、たとえば、キャリアガスもしくはCOガスまたは双方を金属カルボニル前駆体152の上または中に流すよう構成される。図2には示していないが、キャリアガス供給システム160もまた或いは代わりに気相前駆体供給システム140と結合されることができ、キャリアガスおよびCOガスまたはいずれかが、気相前駆体供給システム140に流入する際または後に、金属カルボニル前駆体152の気相原料に供給される。キャリアガス供給システム160は、キャリアガスもしくはCOガスまたはこれらの混合ガスを含むガス源161と、1又は2以上の制御バルブ162と、1又は2以上のフィルタ164と、マスフロコントローラ165とを備える。たとえば、キャリアガスまたはCOガスの質量流量は、約0.1sccmから約1000sccmまでの範囲とすることができる。
また、金属前駆体蒸発システム150からの全ガス流を測定するため、センサ166が設けられている。センサ166は、たとえば、マスフロコントローラを備え、プロセスチャンバ110へ供給される金属カルボニル前駆体の量がセンサ166とマスフロコントローラ165とを用いて決定される。また、センサ166は、プロセスチャンバ110へ流れるガス流中の金属カルボニル前駆体の濃度を測定する光吸収センサを備えてもよい。
センサ166の下流側にバイパスライン167が位置している。バイパスライン167は、気相前駆体供給システム140と排気ライン116とを接続する。バイパスライン167は、気相前駆体供給システム140を排気するため、プロセスチャンバ110への金属カルボニル前駆体の供給を安定化するために、設けられている。また、バイパスライン167には、気相前駆体供給システム140の分岐点より下流側においてバイパスバルブ168が設けられている。
図2を更に参照すると、気相前駆体供給システム140は、第1のバルブ141と第2のバルブ142を有する高コンダクタンス気相原料ラインを備える。また、気相前駆体供給システム140は、ヒータ(図示せず)を介して気相前駆体供給システム140を加熱するよう構成される気相原料ライン温度制御システム143を備えてよい。気相原料ラインで金属カルボニル前駆体が凝結するのを避けるため、気相原料ラインの温度が制御される。気相原料ラインの温度は、約20℃から約100℃までに、または約40℃から約90℃までに制御される。
また、COガスはガス供給システム190から供給することができる。たとえば、ガス供給システム190は、気相前駆体供給システム140と結合され、たとえば、バルブ141の下流側で、気相前駆体供給システム140内で金属カルボニル前駆体の気相原料に対してCOガスを混合するよう構成される。ガス供給システム190は、COガス源191と、1又は2以上の制御バルブ192と、1又は2以上のフィルタ194と、マスフロコントローラ195とを備えてよい。たとえば、COガスの質量流量は、約0.1sccm(標準立方センチメートル毎分)から約1000sccmまでの範囲とすることができる。
マスフロコントローラ165、195と、バルブ162、192、168、141、142とは、キャリアガス、COガスおよび金属カルボニル前駆体の気相原料の供給、閉止および流れを制御する制御器196により制御される。センサ166はまた、制御器196に接続されている。制御器196は、センサ166の出力に基づいて、マスフロコントローラ195を流れるキャリアガスの流量を制御し、所望量の金属カルボニル前駆体をプロセスチャンバ110へもたらす。
図2に示すように、排気ライン116は排気チャンバ113をポンプシステム118へ接続する。所望の真空度にまでプロセスチャンバ110を排気するため、そして、プロセス中にプロセスチャンバ110からガス種を除去するため、真空ポンプ119が使用される。真空ポンプ119に対して直列に自動圧力制御器(APC)115とトラップ117が使用される。真空ポンプ119は、500リットル毎秒まで(またはそれ以上)の排気速度を実現できるターボ分子ポンプ(TMP)を含んでよい。また、真空ポンプ119は、粗引きドライポンプを含んでもよい。プロセス中、プロセスガスがプロセスチャンバ110へ導入され、チャンバ圧力がAPC115により調整される。APC115は、バタフライバルブまたはゲートバルブを備えるものであってよい。トラップ117は、プロセスチャンバ110から、未反応の金属カルボニル前駆体と副生成物とを捕集する。
プロセスチャンバ110内の基板ホルダ120を再び参照すると、図2に示すように、基板125を保持し、上昇し、降下するため、3つの基板リフトピン127(図では2つのみを示す)が設けられている。基板リフトピン127は、板123に結合し、基板ホルダ120の上面よりも下方にまで下がることができる。たとえば空気シリンダを利用した駆動メカニズム129により板123を昇降する手段が提供される。基板125は、ロボット移送システム(図示せず)により、ゲートバルブ200およびチャンバフィードスルー通路202を通してプロセスチャンバ110から出し入れされ、基板リフトピン127により受け取られる。基板125が移送システムから受け取られると、基板リフトピン127を下げることにより、基板125は基板ホルダ120の上面へと降ろされる。
図2を再び参照すると、制御器180は、マイクロプロセッサと、メモリと、デジタルI/Oポートとを有する。制御器180は、処理システム100の入力と通信してこれを作動させ、処理システム100からの出力をモニタするに十分な制御電圧を発生することができる。また、処理システム制御器180は、プロセスチャンバ110、制御器196と気相原料ライン温度制御システム143と蒸発温度制御システム156とを含む前駆体供給システム105、気相原料分散温度制御システム138、真空ポンプシステム118、および基板ホルダ温度制御システム128に結合し、情報交換を行う。真空ポンプシステム118では、制御器180がプロセスチャンバ110の圧力を制御する自動圧力制御器115と結合し、情報交換を行う。メモリに保存されたプログラムを用いて、保管されたプロセスレシピに従って、堆積システム100の上述の部品が制御される。処理システム制御器180の一例は、デルプレシジョンワークステーション610(商標)であり、これは、テキサス州、ダラスデルコーポレーション社から入手可能である。また、汎用コンピュータ、デジタル信号プロセッサ等で制御器180を実現してもよい。
制御器180は、堆積システム100の近傍に設置されてよく、また、インターネットもしくはイントラネットを介して、堆積システム100から離隔して設置されてもよい。したがって、制御器180は、直接接続、イントラネット、またはインターネットのうち少なくとも一つを用いて、堆積システム100とデータを交換することができる。制御器180は、カスタマーサイト(すなわちデバイスメーカ等の側)でイントラネットと結合されてもよく、またベンダーサイト(すなわち機器製造者側)でイントラネットと結合されてもよい。さらに、別のコンピュータ(すなわち制御器、サーバ等)が制御器180にアクセスし、直接接続、イントラネット、またはインターネットのうち少なくとも一つを介してデータを交換してもよい。
図3は、基板に金属層を堆積する、本発明の実施形態による堆積方法を示す。この方法300は、ステップ302において、堆積システムのプロセスチャンバのプロセス空間内に基板を用意する。たとえば、堆積システムは、図1および図2を参照しながら説明した堆積システムであってよい。基板は、たとえば、シリコン(Si)基板でよい。Si基板は、作製するデバイスのタイプに応じて、n型でもp型でもよい。基板は、いかなるサイズのものでよく、たとえば200mmの基板でも、300mmの基板でも、さらに大径の基板でもよい。本発明の実施形態では、基板は、1又は2以上のビアもしくはトレンチまたはこれらの双方を含むパターン化基板でよい。ステップ304において、金属カルボニル前駆体の気相原料およびCOガスを含むプロセスガスを生成する。プロセスガスは、さらにキャリアガスを含んでよい。上述の通り、一の実施形態では、金属カルボニル前駆体はルテニウムカルボニル、たとえばRu(CO)12であってよい。金属カルボニル前駆体の気相原料にCOガスを加えると、金属カルボニル前駆体の蒸発温度を上げることができる。温度が上がると、金属カルボニル前駆体の蒸気圧が上がり、金属カルボニル前駆体のプロセスチャンバへの供給量が増加する。したがって、基板に堆積する金属の堆積速度が上昇する。
本発明の実施形態では、金属カルボニル前駆体を加熱して金属カルボニル前駆体の気相原料を生成させ、これにCOガスを混合することによりプロセスガスが得られる。COガスは、金属カルボニル前駆体より下流側において金属カルボニル前駆体の気相原料と混合させてよい。また、COガスを金属カルボニル前駆体の上に流すか、またはその中を通過するように流すことにより、COガスと金属カルボニル前駆体の気相原料とを混合させてもよい。さらに、別の実施形態では、キャリアガスを固体の金属カルボニル前駆体の上に流すか、またはその中を通過するように流すことにより、プロセスガスを生成してよい。
ステップ306において、プロセスチャンバにおいてプロセスガスに希釈ガスを加えて、希釈プロセスガスを生成する。図1および2において説明したように、プロセスガスが気相原料分散板を通って基板の上方のプロセスゾーンへ流入する前に、気相原料分散プレナムにおいてプロセスガスに希釈ガスを加えてよい。また、プロセスガスが気相原料分散板を通して流れた後に、基板の上方のプロセスゾーンにおいてプロセスガスに希釈ガスを加えてもよい。さらにまた、気相原料分散板においてプロセスガスに希釈ガスを加えても構わない。
ステップ308において、基板が希釈プロセスガスに晒されて、熱化学気相堆積プロセスにより、基板に金属層が堆積される。本発明の実施形態では、金属層は、約50℃と約500℃の間の基板温度にて堆積してよい。また、基板温度は、約300℃と約400℃の間であってよい。
当業者であれば、図3のフローチャートの各ステップまたは各段階が、1又は2以上の別個のステップもしくは作業または双方を包含してよいことを理解するであろう。したがって、302、304、306、308の4つのステップのみを記載しているからといって、本発明の方法が4つのステップまたは段階のみに限定されると理解してはならない。さらに、302、304、306、308の各ステップまたは段階がただ一つのプロセスに限定されると理解してはならない。
図4Aから図4Cは、本発明の実施形態における、パターン化基板への金属層形成を模式的に示している。当業者であれば、本発明の実施形態は、1又は2以上のビアもしくはトレンチまたは双方を含むパターン化基板に適用されることを直ちに理解するであろう。図4Aは、本発明の実施形態に従う、パターン構造400上への金属層440の堆積を模式的に示している。パターン構造400は、第1の金属層410と、開口430を有するパターン層420とを含む。パターン層420は、たとえば誘電体層である。開口430は、たとえば、ビアまたはトレンチであり、金属層440は、たとえば、Ru金属から成る。
図4Bは、本発明の実施形態に従う、パターン構造402上への金属層460の堆積を模式的に示している。パターン構造402は、第1の金属層410と、開口430を含むパターン層420とを含む。パターン構造402の上にはバリア層450が堆積されており、バリア層450上には金属層460が堆積されている。バリア層450は、たとえば、タンタル含有材料(すなわち、Ta、TaNもしくはTaCN、またはこれらの2又は3以上の組み合わせ)あるいはタングステン材料(すなわち、W、WN)であってよい。パターン層420は、たとえば、誘電体層である。開口430は、たとえば、ビアまたはトレンチであり、金属層460は、たとえば、Ru金属を含む。図4Cは,図4Bの開口430に銅(Cu)470が堆積されているのを模式的に示している。
本発明のある実施形態についてのみ詳細に説明したが、これらの実施形態において、本発明の新規な教示や利点から逸脱することなく、多くの変更が可能であることは、当業者であれば直ちに理解するであろう。したがって、そのような変更はすべて本発明の範囲に属すると解釈される。
図1は、本発明の一の実施形態による堆積システムの概略図である。 図2は、本発明の他の実施形態による堆積システムの概略図である。 図3は、本発明の一の実施形態による、基板に金属層を堆積する方法を示す図である。 図4Aは、本発明の実施形態における、パターン化基板への金属層形成を模式的に示す。 図4Bは、本発明の実施形態における、パターン化基板への金属層形成を模式的に示す。 図4Cは、本発明の実施形態における、パターン化基板への金属層形成を模式的に示す。

Claims (64)

  1. 基板に金属層を堆積する方法であって:
    堆積システムのプロセスチャンバに基板を用意する工程;
    金属カルボニル前駆体の気相原料と一酸化炭素ガスとを含むプロセスガスを生成する工程;
    前記プロセスガスを前記プロセスチャンバに導入する工程;
    前記プロセスチャンバにおいて、前記プロセスガスに対して希釈ガスを加えて希釈プロセスガスを生成する工程;および
    前記基板を前記希釈プロセスガスに晒して、熱化学気相堆積プロセスにより、前記基板に金属層を堆積する工程;
    を備える方法。
  2. 前記プロセスガスを生成する工程は:
    金属カルボニル前駆体を加熱して前記金属カルボニル前駆体の気相原料を発生させる工程;および
    前記金属カルボニル前駆体の前記気相原料に一酸化炭素ガスを混合する工程;
    を備える、請求項1に記載の方法。
  3. 前記混合する工程は:
    前記金属カルボニル前駆体よりも下流側において、前記金属カルボニル前駆体の前記気相原料に前記一酸化炭素ガスを混合する工程を備える、請求項2に記載の方法。
  4. 前記混合する工程は:
    前記一酸化炭素ガスを前記金属カルボニル前駆体の上に又は中を通して流す工程を備える、請求項2に記載の方法。
  5. 前記一酸化炭素ガスの流量が約0.1標準立方センチメータ毎分(sccm)から約1000sccmである、請求項2に記載の方法。
  6. 前記一酸化炭素ガスの流量が約1sccmから約100sccmである、請求項2に記載の方法。
  7. 前記プロセスガスを生成する工程は:
    前記金属カルボニル前駆体の上に又は中を通してキャリアガスを流す工程が更に含まれる、請求項2に記載の方法。
  8. 前記キャリアガスが希ガスを含む、請求項7に記載の方法。
  9. 前記キャリアガスの流量が約0.1sccmから約1000sccmである、請求項7に記載の方法。
  10. 前記金属カルボニル前駆体の前記気相原料がタングステンカルボニル、モリブデンカルボニル、コバルトカルボニル、ロジウムカルボニル、レニウムカルボニル、クロミウムカルボニル、ルテニウムカルボニル、もしくはオスミウムカルボニル、またはこれらの2又は3以上の組み合わせを含む、請求項1に記載の方法。
  11. 前記金属カルボニル前駆体の前記気相原料がW(CO)、Mo(CO)、Co(CO)、Rh(CO)12、Re(CO)10、Cr(CO)、Ru(CO)12もしくはOs(CO)12、またはこれらの2又は3以上の組み合わせを含む、請求項1に記載の方法。
  12. 前記堆積する工程にて前記基板を約50℃と約500℃との間の温度に維持する工程を更に備える、請求項1に記載の方法。
  13. 前記堆積する工程にて前記基板を約300℃と約400℃との間の温度に維持する工程を更に備える、請求項1に記載の方法。
  14. 前記堆積する工程にて前記プロセスチャンバを約0.1mTorr(0.0133Pa)と約200mTorr(26.7Pa)との間の圧力に維持する工程を更に備える、請求項1に記載の方法。
  15. 前記堆積する工程にて前記プロセスチャンバを約1mTorr(0.0133Pa)と約100mTorr(13.3Pa)との間の圧力に維持する工程を更に備える、請求項1に記載の方法。
  16. 前記堆積する工程にて前記プロセスチャンバを約2mTorr(0.0267Pa)と約50mTorr(6.67Pa)との間の圧力に維持する工程を更に備える、請求項1に記載の方法。
  17. 前記希釈プロセスガスを生成する工程は:
    前記基板の上方で前記プロセスチャンバに結合される気相原料分散システムの気相原料分散プレナムにおいて前記プロセスガスに希釈ガスを加える工程;および
    前記気相原料分散システムの気相原料分散板を通して、前記希釈プロセスガスを前記気相原料分散システムと前記基板との間のプロセスゾーンへ流す工程;
    を備える、請求項1に記載の方法。
  18. 前記希釈プロセスガスを生成する工程は:
    前記プロセスガスが、前記基板の上方で前記プロセスチャンバに結合される気相原料分散システムの気相原料分散板を通過した後に、前記気相原料分散板と前記基板との間のプロセスゾーンにおいて前記プロセスガスに前記希釈ガスを加える工程を更に含む、請求項1に記載の方法。
  19. 前記希釈プロセスガスを生成する工程は:
    前記基板の上方で前記プロセスチャンバに結合される気相原料分散システムの気相原料分散板の内部において前記プロセスガスに前記希釈ガスを加える工程を更に備える、請求項1に記載の方法。
  20. 前記希釈ガスが希ガスを含む、請求項1に記載の方法。
  21. 前記希釈ガスが還元性ガスを更に含む、請求項20に記載の方法。
  22. 前記還元性ガスが、水素、ケイ素含有ガス、ボロン含有ガス、もしくはチッ素含有ガス、またはこれらの2又は3以上の組み合わせを含む、請求項21に記載の方法。
  23. 前記基板が、1又は2以上のビアもしくはトレンチまたはこれらの組み合わせを含むパターン化基板である、請求項1に記載の方法。
  24. 前記堆積する工程は:
    前記金属カルボニル前駆体の前記気相原料の前記一酸化炭素ガスに対する相対濃度を利用して、前記基板における前記金属カルボニル前駆体の分解速度を制御する工程を更に備える、請求項1に記載の方法。
  25. 前記堆積する工程は:
    前記熱化学気相堆積プロセスを動力学的限界温度領域において行う工程を更に備える、請求項1に記載の方法。
  26. パターン化基板にルテニウム(Ru)金属層を堆積する方法であって:
    1又は2以上のビアもしくはトレンチまたはこれらの組み合わせを含むパターン化基板を堆積システムのプロセスチャンバに用意する工程;
    Ru(CO)12前駆体と一酸化炭素ガスとを含むプロセスガスを生成する工程:
    前記プロセスガスを前記プロセスチャンバへ導入する工程;
    前記プロセスチャンバにおいて前記プロセスガスに希釈ガスを加えて希釈プロセスガスを生成する工程;および
    前記パターン化基板を前記希釈プロセスガスに晒して、熱化学気相堆積プロセスにより、前記パターン化基板にルテニウム金属層を堆積する工程;
    を備える方法。
  27. 前記プロセスガスを生成する工程は:
    Ru(CO)12前駆体を加熱して前記Ru(CO)12前駆体の気相原料を生成する工程;および
    前記Ru(CO)12前駆体の前記気相原料に前記一酸化炭素ガスを混合する工程;
    を更に備える、請求項26に記載の方法。
  28. 前記混合する工程は:
    前記Ru(CO)12前駆体よりも下流側において、前記Ru(CO)12前駆体の前記気相原料に前記一酸化炭素ガスを混合する工程を更に備える、請求項27に記載の方法。
  29. 前記混合する工程は:
    前記Ru(CO)12前駆体の上に又は中を通して前記一酸化炭素ガスを流す工程を更に備える、請求項27に記載の方法。
  30. 前記一酸化炭素ガスの流量は、約0.1sccmと約1000sccmとの間である、請求項27に記載の方法。
  31. 前記一酸化炭素ガスの流量は、約1sccmと約100sccmとの間である、請求項27に記載の方法。
  32. 前記プロセスガスを生成する工程は:
    前記Ru(CO)12前駆体の上に又は中を通してキャリアガスを流す工程を更に備える、請求項27に記載の方法。
  33. 前記キャリアガスが希ガスを含む、請求項32に記載の方法。
  34. 前記キャリアガスの流量が約0.1sccmと約1000sccmとの間である、請求項32に記載の方法。
  35. 前記気相原料を生成する工程は:
    前記Ru(CO)12前駆体を約40℃と約150℃との間の温度に維持する工程を更に備える、請求項27に記載の方法。
  36. 前記気相原料を生成する工程は:
    前記Ru(CO)12前駆体を約60℃と約90℃との間の温度に維持する工程を更に備える、請求項27に記載の方法。
  37. 前記堆積する工程にて前記基板を約50℃と約500℃との間の温度に維持する工程を更に備える、請求項26に記載の方法。
  38. 前記堆積する工程にて前記基板を約300℃と約400℃との間の温度に維持する工程を更に備える、請求項26に記載の方法。
  39. 前記堆積する工程にて前記プロセスチャンバを約0.1mTorrと約200mTorrとの間の圧力に維持する工程を更に備える、請求項26に記載の方法。
  40. 前記堆積する工程にて前記プロセスチャンバを約1mTorrと約100mTorrとの間の圧力に維持する工程を更に備える、請求項26に記載の方法。
  41. 前記堆積する工程にて前記プロセスチャンバを約2mTorrと約50mTorrとの間の圧力に維持する工程を更に備える、請求項26に記載の方法。
  42. 前記希釈ガスを生成する工程は:
    前記基板の上方で前記プロセスチャンバに結合される気相原料分散システムの気相原料分散プレナムにて前記プロセスガスに希釈ガスを加える工程;および
    前記気相原料分散システムの気相原料分散プレナムを通して、前記気相分散システムと前記基板との間のプロセスゾーンへ希釈プロセスガスを流す工程;
    を更に備える、請求項26に記載の方法。
  43. 前記希釈ガスを生成する工程は:
    前記基板の上方で前記プロセスチャンバに結合される気相原料分散システムの気相原料分散板を前記プロセスガスが通過した後、前記基板と前記気相原料分散板との間のプロセスゾーンにおいて前記プロセスガスに前記希釈ガスを加える工程を備える、請求項26に記載の方法。
  44. 前記希釈ガスを生成する工程は:
    前記基板の上方で前記プロセスチャンバに結合される気相原料分散システムの気相原料分散板の内部において前記プロセスガスに前記希釈ガスを加える工程を備える、請求項26に記載の方法。
  45. 前記希釈ガスが希ガスを含む、請求項26に記載の方法。
  46. 前記希釈ガスが還元性ガスを含む、請求項26に記載の方法。
  47. 前記還元性ガスが、水素、ケイ素含有ガス、ボロン含有ガス、もしくはチッ素含有ガス、または、これらの2又は3以上の組み合わせを含む、請求項46に記載の方法。
  48. 前記パターン化基板が、前記ルテニウム金属層が堆積されるバリア層を更に含む、請求項26に記載の方法。
  49. 前記バリア層が、前記ルテニウム金属層が堆積されるタンタル含有層またはタングステン含有層を含む、請求項48に記載の方法。
  50. 前記プロセスガスを生成する工程は:
    前記Ru(CO)12前駆体の前記気相原料の前記一酸化炭素ガスに対する相対濃度を利用して、前記基板における前記Ru(CO)12前駆体の分解速度を制御する工程を更に備える、請求項26に記載の方法。
  51. 前記堆積する工程は:
    前記熱化学気相堆積プロセスを動力学的限界温度領域において行う工程を更に備える、請求項26に記載の方法。
  52. 堆積システムであって:
    気相原料分散システムを有するプロセスチャンバ;
    前記プロセスチャンバの前記気相原料分散システムの下方に配置され、基板を支持し加熱するよう構成される基板ホルダ;
    金属カルボニル前駆体の気相原料と一酸化炭素ガスとを含むプロセスガスを生成し、前記気相原料分散システムに導入するよう構成される前駆体供給システム;
    前記プロセスチャンバに結合され、前記プロセスチャンバにおいて前記プロセスガスに希釈ガスを加えて希釈プロセスガスを生成するよう構成される希釈ガス源;および
    前記基板を前記希釈プロセスガスに晒して、熱化学気相堆積プロセスにより、前記基板に金属層を堆積する間、前記堆積システムを制御するよう構成される制御器;
    を備える堆積システム。
  53. 前記前駆体供給システムが、金属カルボニル前駆体を加熱して前記金属カルボニル前駆体の気相原料を生成するよう構成される金属前駆体蒸発システムと、前記金属カルボニル前駆体の前記気相原料に前記一酸化炭素ガスを混合するよう構成される一酸化炭素ガス源と、を含む、請求項52に記載の堆積システム。
  54. 前記一酸化炭素ガス源が、前記金属カルボニル前駆体よりも下流側において、前記金属カルボニル前駆体の前記気相原料に前記一酸化炭素ガスを混合するよう構成される、請求項53に記載の堆積システム。
  55. 前記一酸化炭素ガス源が、前記一酸化炭素ガスを前記金属カルボニル前駆体の上に又は中を通して流すことにより、前記金属カルボニル前駆体の前記気相原料に前記一酸化炭素ガスを混合するよう構成される、請求項53に記載の堆積システム。
  56. 前記前駆体供給システムが、約0.1sccmと約1000sccmの間のガス供給量で前記一酸化炭素ガスを流すよう構成される、請求項53に記載の堆積システム。
  57. 前記前駆体供給システムが、約1sccmと約100sccmの間のガス供給量で前記一酸化炭素ガスを流すよう構成される、請求項53に記載の堆積システム。
  58. 前記前駆体供給システムが、前記金属カルボニル前駆体の上に又は中を通してキャリアガスを流すよう構成される、請求項52に記載の堆積システム。
  59. 前記前駆体供給システムが、約0.1sccmと約1000sccmとの間のガス供給量で前記キャリアガスを流すよう構成される、請求項58に記載の堆積システム。
  60. 前記基板ホルダが、約50℃と約500℃との間の基板温度に前記基板を加熱するよう構成される、請求項52に記載の堆積システム。
  61. 前記制御器が、前記プロセスチャンバを約0.1mTorrと約200mTorrとの間の圧力に維持するよう構成される、請求項52に記載の堆積システム。
  62. 前記希釈ガス源が、前記気相原料分散システムの気相原料分散プレナムにおいて前記プロセスガスに対して前記希釈ガスを加えるよう構成される、請求項52に記載の堆積システム。
  63. 前記希釈ガス源が、前記気相原料分散システムと前記基板との間において前記プロセスガスに前記希釈ガスを加えるよう構成される、請求項52に記載の堆積システム。
  64. 前記希釈ガス源が、前記気相原料分散システムの気相原料分散板の内部において前記プロセスガスに対して前記希釈ガスを加えるよう構成される、請求項52に記載の堆積システム。
JP2007543036A 2004-11-23 2005-10-03 金属カルボニル前駆体から金属層を堆積する方法 Active JP4980234B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/996,144 US7279421B2 (en) 2004-11-23 2004-11-23 Method and deposition system for increasing deposition rates of metal layers from metal-carbonyl precursors
US10/996,144 2004-11-23
PCT/US2005/035429 WO2006057706A2 (en) 2004-11-23 2005-10-03 Method for deposition of metal layers from metal carbonyl precursors

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2008520834A true JP2008520834A (ja) 2008-06-19
JP2008520834A5 JP2008520834A5 (ja) 2011-02-03
JP4980234B2 JP4980234B2 (ja) 2012-07-18

Family

ID=36102574

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007543036A Active JP4980234B2 (ja) 2004-11-23 2005-10-03 金属カルボニル前駆体から金属層を堆積する方法

Country Status (6)

Country Link
US (2) US7279421B2 (ja)
EP (1) EP1815043A2 (ja)
JP (1) JP4980234B2 (ja)
KR (1) KR101271895B1 (ja)
CN (1) CN101072894B (ja)
WO (1) WO2006057706A2 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008538129A (ja) * 2005-03-31 2008-10-09 東京エレクトロン株式会社 低抵抗ルテニウム層の低温化学気相成長
WO2011033918A1 (ja) * 2009-09-17 2011-03-24 東京エレクトロン株式会社 成膜装置、成膜方法および記憶媒体
JP2012172251A (ja) * 2011-02-24 2012-09-10 Tokyo Electron Ltd 成膜方法および記憶媒体
JP2012172252A (ja) * 2011-02-24 2012-09-10 Tokyo Electron Ltd 成膜方法および記憶媒体
JP2012172250A (ja) * 2011-02-24 2012-09-10 Tokyo Electron Ltd 成膜方法および記憶媒体
JP2015522707A (ja) * 2012-04-13 2015-08-06 オーティーアイ ルミオニクス インコーポレーテッドOti Lumionics Inc. 基板の官能基化
KR20200077568A (ko) 2018-07-25 2020-06-30 제이엑스금속주식회사 고 부피 밀도 몰리브덴옥시클로라이드의 제조 방법
KR20220131312A (ko) 2020-02-28 2022-09-27 제이엑스금속주식회사 고순도 몰리브덴옥시클로라이드 및 그 제조 방법

Families Citing this family (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7294851B2 (en) * 2004-11-03 2007-11-13 Infineon Technologies Ag Dense seed layer and method of formation
US7279421B2 (en) * 2004-11-23 2007-10-09 Tokyo Electron Limited Method and deposition system for increasing deposition rates of metal layers from metal-carbonyl precursors
US7270848B2 (en) * 2004-11-23 2007-09-18 Tokyo Electron Limited Method for increasing deposition rates of metal layers from metal-carbonyl precursors
US7638002B2 (en) * 2004-11-29 2009-12-29 Tokyo Electron Limited Multi-tray film precursor evaporation system and thin film deposition system incorporating same
US7708835B2 (en) * 2004-11-29 2010-05-04 Tokyo Electron Limited Film precursor tray for use in a film precursor evaporation system and method of using
US7351285B2 (en) * 2005-03-29 2008-04-01 Tokyo Electron Limited Method and system for forming a variable thickness seed layer
US7651570B2 (en) * 2005-03-31 2010-01-26 Tokyo Electron Limited Solid precursor vaporization system for use in chemical vapor deposition
US20070218200A1 (en) * 2006-03-16 2007-09-20 Kenji Suzuki Method and apparatus for reducing particle formation in a vapor distribution system
US8268078B2 (en) * 2006-03-16 2012-09-18 Tokyo Electron Limited Method and apparatus for reducing particle contamination in a deposition system
US7892358B2 (en) * 2006-03-29 2011-02-22 Tokyo Electron Limited System for introducing a precursor gas to a vapor deposition system
US20070234955A1 (en) * 2006-03-29 2007-10-11 Tokyo Electron Limited Method and apparatus for reducing carbon monoxide poisoning at the peripheral edge of a substrate in a thin film deposition system
US20070231489A1 (en) * 2006-03-29 2007-10-04 Tokyo Electron Limited Method for introducing a precursor gas to a vapor deposition system
US7473634B2 (en) * 2006-09-28 2009-01-06 Tokyo Electron Limited Method for integrated substrate processing in copper metallization
WO2008042691A2 (en) * 2006-09-29 2008-04-10 Tokyo Electron Limited Processing system containing a hot filament hydrogen radical source for integrated substrate processing
US7846256B2 (en) * 2007-02-23 2010-12-07 Tokyo Electron Limited Ampule tray for and method of precursor surface area
JP2008244298A (ja) * 2007-03-28 2008-10-09 Tokyo Electron Ltd 金属膜の成膜方法、多層配線構造の形成方法、半導体装置の製造方法、成膜装置
US20080242088A1 (en) * 2007-03-29 2008-10-02 Tokyo Electron Limited Method of forming low resistivity copper film structures
US7829454B2 (en) * 2007-09-11 2010-11-09 Tokyo Electron Limited Method for integrating selective ruthenium deposition into manufacturing of a semiconductior device
US7704879B2 (en) * 2007-09-27 2010-04-27 Tokyo Electron Limited Method of forming low-resistivity recessed features in copper metallization
US7884012B2 (en) * 2007-09-28 2011-02-08 Tokyo Electron Limited Void-free copper filling of recessed features for semiconductor devices
US7776740B2 (en) * 2008-01-22 2010-08-17 Tokyo Electron Limited Method for integrating selective low-temperature ruthenium deposition into copper metallization of a semiconductor device
US8247030B2 (en) * 2008-03-07 2012-08-21 Tokyo Electron Limited Void-free copper filling of recessed features using a smooth non-agglomerated copper seed layer
US7964497B2 (en) * 2008-06-27 2011-06-21 International Business Machines Corporation Structure to facilitate plating into high aspect ratio vias
US7799681B2 (en) * 2008-07-15 2010-09-21 Tokyo Electron Limited Method for forming a ruthenium metal cap layer
US20100081274A1 (en) * 2008-09-29 2010-04-01 Tokyo Electron Limited Method for forming ruthenium metal cap layers
US7977235B2 (en) * 2009-02-02 2011-07-12 Tokyo Electron Limited Method for manufacturing a semiconductor device with metal-containing cap layers
US8716132B2 (en) * 2009-02-13 2014-05-06 Tokyo Electron Limited Radiation-assisted selective deposition of metal-containing cap layers
US8076241B2 (en) 2009-09-30 2011-12-13 Tokyo Electron Limited Methods for multi-step copper plating on a continuous ruthenium film in recessed features
US8399353B2 (en) * 2011-01-27 2013-03-19 Tokyo Electron Limited Methods of forming copper wiring and copper film, and film forming system
DK2524974T3 (da) * 2011-05-18 2014-08-11 Riber Injektor til et vakuuminddampningssystem
US20130269613A1 (en) * 2012-03-30 2013-10-17 Applied Materials, Inc. Methods and apparatus for generating and delivering a process gas for processing a substrate
US10821240B2 (en) 2014-02-11 2020-11-03 Vapor Cartridge Technology Llc Methods and drug delivery devices using cannabis
US9380813B2 (en) 2014-02-11 2016-07-05 Timothy McCullough Drug delivery system and method
US9220294B2 (en) 2014-02-11 2015-12-29 Timothy McCullough Methods and devices using cannabis vapors
JP6467239B2 (ja) * 2015-02-16 2019-02-06 東京エレクトロン株式会社 ルテニウム膜の成膜方法、成膜装置及び半導体装置の製造方法
CN104962876B (zh) * 2015-06-12 2017-12-19 西南科技大学 石墨表面掺硼金刚石薄膜材料及其制备方法
CN107779840A (zh) * 2016-08-25 2018-03-09 杭州纤纳光电科技有限公司 一种钙钛矿薄膜的蒸发设备及其使用方法和应用
JP6807251B2 (ja) 2017-03-02 2021-01-06 東京エレクトロン株式会社 ルテニウム配線の製造方法
CN109135287A (zh) * 2018-07-18 2019-01-04 望江县天长光学仪器有限公司 一种耐高温光学透镜材料
CN109182996B (zh) * 2018-11-05 2020-11-24 中国兵器工业第五九研究所 钨合金涂层制备设备及方法
CN109628909B (zh) * 2019-01-29 2020-09-01 西南科技大学 一种制备Co-Re合金涂层的化学气相沉积方法
CA3154135A1 (en) 2019-09-16 2021-03-25 Vapor Cartridge Technology Llc Drug delivery system with stackable substrates
KR102616039B1 (ko) * 2021-02-15 2023-12-21 주식회사 유니텍스 패턴화된 유기 박막을 형성하기 위한 박막 증착 장치
KR102616040B1 (ko) * 2021-03-22 2023-12-21 주식회사 유니텍스 패턴화된 유기 박막 증착 장치 및 이를 이용한 디스플레이 소자의 제조 방법

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4938999A (en) * 1988-07-11 1990-07-03 Jenkin William C Process for coating a metal substrate by chemical vapor deposition using a metal carbonyl
JP2004156104A (ja) * 2002-11-06 2004-06-03 Tokyo Electron Ltd 成膜方法
JP2004197163A (ja) * 2002-12-18 2004-07-15 Tokyo Electron Ltd 成膜方法

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4851895A (en) * 1985-05-06 1989-07-25 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories Metallization for integrated devices
US4929468A (en) * 1988-03-18 1990-05-29 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Formation of amorphous metal alloys by chemical vapor deposition
US5171610A (en) * 1990-08-28 1992-12-15 The Regents Of The University Of Calif. Low temperature photochemical vapor deposition of alloy and mixed metal oxide films
US5359787A (en) 1993-04-16 1994-11-01 Air Products And Chemicals, Inc. High purity bulk chemical delivery system
US6287435B1 (en) * 1998-05-06 2001-09-11 Tokyo Electron Limited Method and apparatus for ionized physical vapor deposition
CA2307036C (en) 1998-11-03 2003-05-27 Chemical Vapour Deposition Systems Inc. Nickel carbonyl vapour deposition apparatus and process
US6319832B1 (en) * 1999-02-19 2001-11-20 Micron Technology, Inc. Methods of making semiconductor devices
US6303809B1 (en) * 1999-12-10 2001-10-16 Yun Chi Organometallic ruthenium and osmium source reagents for chemical vapor deposition
US6440495B1 (en) 2000-08-03 2002-08-27 Applied Materials, Inc. Chemical vapor deposition of ruthenium films for metal electrode applications
US6444263B1 (en) * 2000-09-15 2002-09-03 Cvc Products, Inc. Method of chemical-vapor deposition of a material
KR100727372B1 (ko) * 2001-09-12 2007-06-12 토소가부시키가이샤 루테늄착체, 그 제조방법 및 박막의 제조방법
US6420583B1 (en) * 2001-09-27 2002-07-16 Praxair Technology, Inc Methods of synthesizing ruthenium and osmium compounds
JP4068327B2 (ja) * 2001-10-11 2008-03-26 株式会社東芝 半導体製造装置と半導体装置の製造方法
US6713373B1 (en) * 2002-02-05 2004-03-30 Novellus Systems, Inc. Method for obtaining adhesion for device manufacture
GB0204467D0 (en) * 2002-02-26 2002-04-10 Coates Brothers Plc Novel fused ring compounds, and their use as cationic photoinitiators
US7264846B2 (en) 2002-06-04 2007-09-04 Applied Materials, Inc. Ruthenium layer formation for copper film deposition
US6989321B2 (en) * 2003-09-30 2006-01-24 Tokyo Electron Limited Low-pressure deposition of metal layers from metal-carbonyl precursors
US7078341B2 (en) 2003-09-30 2006-07-18 Tokyo Electron Limited Method of depositing metal layers from metal-carbonyl precursors
US7107998B2 (en) * 2003-10-16 2006-09-19 Novellus Systems, Inc. Method for preventing and cleaning ruthenium-containing deposits in a CVD apparatus
US20050110142A1 (en) * 2003-11-26 2005-05-26 Lane Michael W. Diffusion barriers formed by low temperature deposition
US7285308B2 (en) * 2004-02-23 2007-10-23 Advanced Technology Materials, Inc. Chemical vapor deposition of high conductivity, adherent thin films of ruthenium
US7279421B2 (en) * 2004-11-23 2007-10-09 Tokyo Electron Limited Method and deposition system for increasing deposition rates of metal layers from metal-carbonyl precursors
US7345184B2 (en) * 2005-03-31 2008-03-18 Tokyo Electron Limited Method and system for refurbishing a metal carbonyl precursor

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4938999A (en) * 1988-07-11 1990-07-03 Jenkin William C Process for coating a metal substrate by chemical vapor deposition using a metal carbonyl
JP2004156104A (ja) * 2002-11-06 2004-06-03 Tokyo Electron Ltd 成膜方法
JP2004197163A (ja) * 2002-12-18 2004-07-15 Tokyo Electron Ltd 成膜方法

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008538129A (ja) * 2005-03-31 2008-10-09 東京エレクトロン株式会社 低抵抗ルテニウム層の低温化学気相成長
WO2011033918A1 (ja) * 2009-09-17 2011-03-24 東京エレクトロン株式会社 成膜装置、成膜方法および記憶媒体
JP2011063850A (ja) * 2009-09-17 2011-03-31 Tokyo Electron Ltd 成膜装置、成膜方法および記憶媒体
JP2012172251A (ja) * 2011-02-24 2012-09-10 Tokyo Electron Ltd 成膜方法および記憶媒体
JP2012172252A (ja) * 2011-02-24 2012-09-10 Tokyo Electron Ltd 成膜方法および記憶媒体
JP2012172250A (ja) * 2011-02-24 2012-09-10 Tokyo Electron Ltd 成膜方法および記憶媒体
JP2015522707A (ja) * 2012-04-13 2015-08-06 オーティーアイ ルミオニクス インコーポレーテッドOti Lumionics Inc. 基板の官能基化
KR20200077568A (ko) 2018-07-25 2020-06-30 제이엑스금속주식회사 고 부피 밀도 몰리브덴옥시클로라이드의 제조 방법
KR20220131312A (ko) 2020-02-28 2022-09-27 제이엑스금속주식회사 고순도 몰리브덴옥시클로라이드 및 그 제조 방법
KR20240051336A (ko) 2020-02-28 2024-04-19 제이엑스금속주식회사 몰리브덴옥시클로라이드의 제조 방법
KR20240051335A (ko) 2020-02-28 2024-04-19 제이엑스금속주식회사 고순도 몰리브덴옥시클로라이드 및 그 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
WO2006057706A2 (en) 2006-06-01
KR101271895B1 (ko) 2013-06-05
EP1815043A2 (en) 2007-08-08
WO2006057706A3 (en) 2006-11-09
US7646084B2 (en) 2010-01-12
US20060110918A1 (en) 2006-05-25
US20080035062A1 (en) 2008-02-14
CN101072894B (zh) 2011-06-08
US7279421B2 (en) 2007-10-09
JP4980234B2 (ja) 2012-07-18
KR20070083865A (ko) 2007-08-24
CN101072894A (zh) 2007-11-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4980234B2 (ja) 金属カルボニル前駆体から金属層を堆積する方法
JP4980235B2 (ja) 金属カルボニル前駆体からの金属層の成膜速度を上げる方法
US7396766B2 (en) Low-temperature chemical vapor deposition of low-resistivity ruthenium layers
JP5248797B2 (ja) 薄膜堆積システム内における基板の周辺端部での一酸化炭素中毒を抑制する方法及び装置
JP4975638B2 (ja) 固体前駆体供給システムにおいて流量を測定する方法およびシステム
JP4308314B2 (ja) パターン化された基板上にルテニウム金属層を形成する方法
US7794788B2 (en) Method for pre-conditioning a precursor vaporization system for a vapor deposition process
US20050079708A1 (en) Method of depositing metal layers from metal-carbonyl precursors
US7763311B2 (en) Method for heating a substrate prior to a vapor deposition process
JP2007247062A (ja) パーティクルの形成を低減する金属層成膜システム、気相原料分配システムおよび方法
US20070237895A1 (en) Method and system for initiating a deposition process utilizing a metal carbonyl precursor
WO2005033357A2 (en) Low-pressure deposition of metal layers from metal-carbonyl precursors
US20070234962A1 (en) System for introducing a precursor gas to a vapor deposition system
US7858522B2 (en) Method for reducing carbon monoxide poisoning in a thin film deposition system
US7867560B2 (en) Method for performing a vapor deposition process
US20070231489A1 (en) Method for introducing a precursor gas to a vapor deposition system

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080930

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080930

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101208

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110913

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20111212

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20111219

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20120113

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20120120

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120209

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120327

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120418

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150427

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4980234

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150427

Year of fee payment: 3

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150427

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250