JP2008519451A - 絶縁体及び半導体を共に形成するように有機材料をパターンニングする方法並びにそれによって形成されたデバイス - Google Patents
絶縁体及び半導体を共に形成するように有機材料をパターンニングする方法並びにそれによって形成されたデバイス Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008519451A JP2008519451A JP2007539684A JP2007539684A JP2008519451A JP 2008519451 A JP2008519451 A JP 2008519451A JP 2007539684 A JP2007539684 A JP 2007539684A JP 2007539684 A JP2007539684 A JP 2007539684A JP 2008519451 A JP2008519451 A JP 2008519451A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- precursor
- light
- heating
- semiconductor
- pentacene
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 46
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 43
- 239000012212 insulator Substances 0.000 title claims abstract description 20
- 238000000059 patterning Methods 0.000 title description 6
- 239000011368 organic material Substances 0.000 title description 5
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims abstract description 78
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 47
- SLIUAWYAILUBJU-UHFFFAOYSA-N pentacene Chemical compound C1=CC=CC2=CC3=CC4=CC5=CC=CC=C5C=C4C=C3C=C21 SLIUAWYAILUBJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 41
- UFCVADNIXDUEFZ-UHFFFAOYSA-N pentacene-6,13-dione Chemical compound C1=CC=C2C=C3C(=O)C4=CC5=CC=CC=C5C=C4C(=O)C3=CC2=C1 UFCVADNIXDUEFZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 21
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 28
- AZQWKYJCGOJGHM-UHFFFAOYSA-N 1,4-benzoquinone Chemical compound O=C1C=CC(=O)C=C1 AZQWKYJCGOJGHM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 8
- 229920003026 Acene Polymers 0.000 claims description 4
- MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N anthracene Chemical compound C1=CC=CC2=CC3=CC=CC=C3C=C21 MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- IGKLGCQYPZTEPK-UHFFFAOYSA-N pentacene-1,2-dione Chemical compound C1=CC=C2C=C(C=C3C(C=C4C=CC(C(C4=C3)=O)=O)=C3)C3=CC2=C1 IGKLGCQYPZTEPK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 3
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 2
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N Bromine atom Chemical compound [Br] WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006742 Retro-Diels-Alder reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N bromine Substances BrBr GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- ZEXIEEAXOZWQFQ-UHFFFAOYSA-N heptacene-7,16-dione Chemical compound C1=CC=C2C=C(C=C3C(=O)C=4C(=CC5=CC6=CC=CC=C6C=C5C=4)C(=O)C3=C3)C3=CC2=C1 ZEXIEEAXOZWQFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- UIFXPOUSHBMMEG-UHFFFAOYSA-N nonacene Chemical compound C1=CC=CC2=CC3=CC4=CC5=CC6=CC7=CC8=CC9=CC=CC=C9C=C8C=C7C=C6C=C5C=C4C=C3C=C21 UIFXPOUSHBMMEG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/20—Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning
- H10K71/211—Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning by selective transformation of an existing layer
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K10/00—Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K10/00—Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
- H10K10/40—Organic transistors
- H10K10/46—Field-effect transistors, e.g. organic thin-film transistors [OTFT]
- H10K10/462—Insulated gate field-effect transistors [IGFETs]
- H10K10/468—Insulated gate field-effect transistors [IGFETs] characterised by the gate dielectrics
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K10/00—Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
- H10K10/40—Organic transistors
- H10K10/46—Field-effect transistors, e.g. organic thin-film transistors [OTFT]
- H10K10/462—Insulated gate field-effect transistors [IGFETs]
- H10K10/464—Lateral top-gate IGFETs comprising only a single gate
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/10—Deposition of organic active material
- H10K71/12—Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/60—Forming conductive regions or layers, e.g. electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/60—Organic compounds having low molecular weight
- H10K85/615—Polycyclic condensed aromatic hydrocarbons, e.g. anthracene
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
- Polyoxymethylene Polymers And Polymers With Carbon-To-Carbon Bonds (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Abstract
Description
Gelinck,G.H.et al.,Nature Mat.(2004),3,106 Huitema,H.E.A.et al.,Proc.IDW(2003),1663−4 Afzali et al.,Adv.Mater.(2003)15,2066
Claims (27)
- 電子デバイスを製作する方法であって、
硬化した状態で半導体材料を形成する前駆体の材料の層を形成するステップ;並びに
光に対して露出されたエリアにおいて絶縁体を、及び、該光に対して露出されなかったエリアで半導体を、形成するように、光及び周囲の酸素の存在下で該前駆体を加熱するステップ:
を含む、方法。 - 前記加熱するステップは、可視の、UVの、及び/又はIRの領域における光に対して前記前駆体の材料を露出させることを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記光は、約0.1mW/cm2と1W/cm2との間の強度を有する白色光を含む、請求項2に記載の方法。
- 前記加熱するステップは、レーザーを使用することで、光及び熱に対して同時に前記前駆体の材料を露出させることを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記前駆体を加熱するステップは、摂氏150度よりも高く前記前駆体を加熱することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記前駆体を加熱するステップは、前記光に対して露出されたエリアに酸化物を形成するように、酸素の存在下で前記前駆体を加熱することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記前駆体は、ペンタセンの前駆体又はアセンの前駆体を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記絶縁体は、キノンを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記キノンは、6,13−ペンタセンキノン又はより大きい同胞の材料を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記半導体材料は、ペンタセンを含む、請求項1に記載の方法。
- 光の存在下で前記前駆体を加熱するステップは、光源で、選択された領域において、前記前駆体を同時に加熱すると共に照明すること、及び、その後、照明されなかった領域に半導体を形成するように、前記前駆体を加熱することを含む、請求項1に記載の方法。
- 電子デバイスを製作する方法であって、
硬化した状態で半導体材料を形成する前駆体の材料の層を形成するステップ;
光に対して露出されたエリアで絶縁体を、及び、前記光に対して露出されなかったエリアで半導体を、同時に形成するためのパターンと一致して、光に対して前記前駆体の材料の部分を選択的に露出させる一方で前記前駆体を加熱するステップ
:を含む、方法。 - 前記加熱するステップは、可視光に対して前記前駆体の材料を露出させることを含む、請求項12に記載の方法。
- 前記加熱するステップは、可視の、IRの、及び/又はUVの光の少なくとも一つへ前記前駆体の材料を露出させることを含む、請求項12に記載の方法。
- 前記前駆体を加熱するステップは、少なくとも5秒の間、摂氏150度よりも高く前記前駆体を加熱することを含む、請求項12に記載の方法。
- 前記前駆体を加熱するステップは、前記光に対して露出されたエリアに酸化物を形成するように、酸素の存在下で前記前駆体を加熱することを含む、請求項12に記載の方法。
- 前記前駆体は、ペンタセンの前駆体又はアセンの前駆体の一つ以上を含む、請求項12に記載の方法。
- 前記絶縁体は、6,13−ペンタセンキノンを含む、請求項12に記載の方法。
- 前記半導体材料は、ペンタセンを含む、請求項12に記載の方法。
- 前記加熱するステップは、光源で、選択された領域に、前記前駆体を同時に加熱すると共に照明すること、並びに、その後、照明されなかった領域に半導体を形成するように、前記前駆体を加熱することを含む、請求項12に記載の方法。
- 加熱する工程の間に同じ前駆体の材料から形成された、半導体材料及び絶縁体材料を含む少なくとも一つの層:を含む、半導体デバイスであって、
該半導体材料は、該加熱する工程によって形成されると共に、該絶縁体は、該加熱する工程及び可視光に対する露出によって選択的に形成される、半導体デバイス。 - 前記前駆体の材料は、6,13−ジヒドロ−6,13−(2,3,4,5−テトラクロロ−2,4−シクロヘキサジエノ)−ペンタセン、及び/又は、6,13−ジヒドロ−6,13−(2,3,4,5−テトラブロモ−2,4−シクロヘキサジエノ)−ペンタセンの一つ以上を含む、請求項21に記載の半導体デバイス。
- 前記半導体デバイスは、電子部品を含む、請求項21に記載の半導体デバイス。
- 前記可視光は、白色光又は黄色光を含む、請求項21に記載の半導体デバイス。
- 前記半導体材料は、ペンタセンを含む、請求項21に記載の半導体デバイス。
- 前記絶縁体材料は、ペンタセンキノンを含む、請求項21に記載の半導体デバイス。
- 前記ペンタセンキノンは、6,13−ペンタセンキノンを含む、請求項26に記載の半導体デバイス。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US62567204P | 2004-11-05 | 2004-11-05 | |
US60/625,672 | 2004-11-05 | ||
PCT/IB2005/053583 WO2006048833A1 (en) | 2004-11-05 | 2005-11-02 | Method for patterning an organic material to concurrently form an insulator and a semiconductor and device formed thereby |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008519451A true JP2008519451A (ja) | 2008-06-05 |
JP5175102B2 JP5175102B2 (ja) | 2013-04-03 |
Family
ID=35708430
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007539684A Expired - Fee Related JP5175102B2 (ja) | 2004-11-05 | 2005-11-02 | 絶縁体及び半導体を共に形成するように有機材料をパターンニングする方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8030124B2 (ja) |
EP (1) | EP1815501A1 (ja) |
JP (1) | JP5175102B2 (ja) |
KR (1) | KR101184366B1 (ja) |
CN (1) | CN101053090B (ja) |
TW (1) | TWI456658B (ja) |
WO (1) | WO2006048833A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010180140A (ja) * | 2009-02-03 | 2010-08-19 | Japan Science & Technology Agency | ペンタセンキノン誘導体及びその製造方法 |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI469224B (zh) | 2008-10-20 | 2015-01-11 | Ind Tech Res Inst | 有機薄膜電晶體及其製造方法 |
US9090542B2 (en) | 2009-11-11 | 2015-07-28 | University Of Georgia Research Foundation, Inc. | Methods for labeling a substrate using a hetero-diels-alder reaction |
US20110108411A1 (en) * | 2009-11-11 | 2011-05-12 | Popik Vladimir V | Methods for labeling a substrate using a hetero-diels-alder reaction |
US10464172B2 (en) | 2013-02-21 | 2019-11-05 | Nlight, Inc. | Patterning conductive films using variable focal plane to control feature size |
US9842665B2 (en) | 2013-02-21 | 2017-12-12 | Nlight, Inc. | Optimization of high resolution digitally encoded laser scanners for fine feature marking |
WO2014130895A1 (en) | 2013-02-21 | 2014-08-28 | Nlight Photonics Corporation | Laser patterning multi-layer structures |
CN105122387B (zh) | 2013-02-21 | 2019-01-11 | 恩耐公司 | 非烧蚀性激光图案化 |
US10618131B2 (en) | 2014-06-05 | 2020-04-14 | Nlight, Inc. | Laser patterning skew correction |
US10310201B2 (en) | 2014-08-01 | 2019-06-04 | Nlight, Inc. | Back-reflection protection and monitoring in fiber and fiber-delivered lasers |
US9837783B2 (en) | 2015-01-26 | 2017-12-05 | Nlight, Inc. | High-power, single-mode fiber sources |
US10050404B2 (en) | 2015-03-26 | 2018-08-14 | Nlight, Inc. | Fiber source with cascaded gain stages and/or multimode delivery fiber with low splice loss |
US10520671B2 (en) | 2015-07-08 | 2019-12-31 | Nlight, Inc. | Fiber with depressed central index for increased beam parameter product |
US11179807B2 (en) | 2015-11-23 | 2021-11-23 | Nlight, Inc. | Fine-scale temporal control for laser material processing |
WO2017091606A1 (en) | 2015-11-23 | 2017-06-01 | Nlight, Inc. | Predictive modification of laser diode drive current waveform in high power laser systems |
JP6785858B2 (ja) | 2015-11-23 | 2020-11-18 | エヌライト,インコーポレーテッド | レーザ加工のための微細スケールでの時間的制御 |
US10295820B2 (en) | 2016-01-19 | 2019-05-21 | Nlight, Inc. | Method of processing calibration data in 3D laser scanner systems |
US10730785B2 (en) | 2016-09-29 | 2020-08-04 | Nlight, Inc. | Optical fiber bending mechanisms |
WO2018063452A1 (en) | 2016-09-29 | 2018-04-05 | Nlight, Inc. | Adjustable beam characteristics |
US10732439B2 (en) | 2016-09-29 | 2020-08-04 | Nlight, Inc. | Fiber-coupled device for varying beam characteristics |
EP3607389B1 (en) | 2017-04-04 | 2023-06-07 | Nlight, Inc. | Optical fiducial generation for galvanometric scanner calibration |
CN111384268B (zh) * | 2018-12-29 | 2021-06-18 | Tcl科技集团股份有限公司 | 量子点发光二极管的制备方法及量子点墨水 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001505002A (ja) * | 1997-08-22 | 2001-04-10 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 事実上有機材料から成る電界効果トランジスタを製造する方法 |
JP2004146575A (ja) * | 2002-10-24 | 2004-05-20 | Konica Minolta Holdings Inc | 有機薄膜トランジスタ素子 |
JP2004165427A (ja) * | 2002-11-13 | 2004-06-10 | Konica Minolta Holdings Inc | 有機薄膜トランジスタ素子 |
WO2004083160A1 (en) * | 2003-03-18 | 2004-09-30 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method of preparation of a precursor oligocene |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001102172A (ja) | 1999-09-30 | 2001-04-13 | Idemitsu Kosan Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス素子 |
USH2084H1 (en) | 1999-12-16 | 2003-10-07 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Pentacene derivatives as red emitters in organic light emitting devices |
US6500604B1 (en) | 2000-01-03 | 2002-12-31 | International Business Machines Corporation | Method for patterning sensitive organic thin films |
US6864396B2 (en) | 2001-09-27 | 2005-03-08 | 3M Innovative Properties Company | Substituted pentacene semiconductors |
US6963080B2 (en) | 2001-11-26 | 2005-11-08 | International Business Machines Corporation | Thin film transistors using solution processed pentacene precursor as organic semiconductor |
US7053401B2 (en) | 2002-12-20 | 2006-05-30 | International Business Machines Corporation | Synthesis and application of photosensitive pentacene precursor in organic thin film transistors |
-
2005
- 2005-11-02 KR KR1020077010087A patent/KR101184366B1/ko active IP Right Grant
- 2005-11-02 CN CN2005800379638A patent/CN101053090B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2005-11-02 TW TW094138482A patent/TWI456658B/zh not_active IP Right Cessation
- 2005-11-02 WO PCT/IB2005/053583 patent/WO2006048833A1/en active Application Filing
- 2005-11-02 US US11/718,332 patent/US8030124B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2005-11-02 JP JP2007539684A patent/JP5175102B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2005-11-02 EP EP05798958A patent/EP1815501A1/en not_active Withdrawn
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001505002A (ja) * | 1997-08-22 | 2001-04-10 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 事実上有機材料から成る電界効果トランジスタを製造する方法 |
JP2004146575A (ja) * | 2002-10-24 | 2004-05-20 | Konica Minolta Holdings Inc | 有機薄膜トランジスタ素子 |
JP2004165427A (ja) * | 2002-11-13 | 2004-06-10 | Konica Minolta Holdings Inc | 有機薄膜トランジスタ素子 |
WO2004083160A1 (en) * | 2003-03-18 | 2004-09-30 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method of preparation of a precursor oligocene |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JPN7012000116; O. D. Jurchescu, et al.: 'Effect of impurities on the mobility of single crystal pentacene' APPLIED PHYSICS LETTERS Vol. 84, 20040419, Pages 3061-3063, American Institute of Physics * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010180140A (ja) * | 2009-02-03 | 2010-08-19 | Japan Science & Technology Agency | ペンタセンキノン誘導体及びその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101053090A (zh) | 2007-10-10 |
US8030124B2 (en) | 2011-10-04 |
KR20070083946A (ko) | 2007-08-24 |
TWI456658B (zh) | 2014-10-11 |
JP5175102B2 (ja) | 2013-04-03 |
US20080246024A1 (en) | 2008-10-09 |
CN101053090B (zh) | 2010-12-22 |
TW200633062A (en) | 2006-09-16 |
EP1815501A1 (en) | 2007-08-08 |
WO2006048833A1 (en) | 2006-05-11 |
KR101184366B1 (ko) | 2012-09-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5175102B2 (ja) | 絶縁体及び半導体を共に形成するように有機材料をパターンニングする方法 | |
US8440518B2 (en) | Method for manufacturing a pattern formed body, method for manufacturing a functional element, and method for manufacturing a semiconductor element | |
US20060145149A1 (en) | Integrated circuit comprising an organic semiconductor, and method for the production of an integrated circuit | |
JP2007521645A (ja) | インプリント・リソグラフィによる単一デュアルダマシン製法 | |
US20170294583A1 (en) | Carbon nanotube semiconductor device and manufacturing method thereof | |
JP2006128691A (ja) | 薄膜トランジスタの製造方法及び表示素子 | |
US20080014675A1 (en) | Method for Producing Electronic Device and Electronic Device | |
JP2008311630A (ja) | ポリマー薄膜における自己整合ビアホールの形成 | |
KR100489660B1 (ko) | 미세 패턴 형성 방법 및 이를 이용한 반도체 장치의 제조방법 | |
JP2006520101A (ja) | 電子配列の製作方法 | |
US10014483B2 (en) | Organic thin film transistor having patterned interface modification layer, display substrate and display apparatus having the same, and fabricating method thereof | |
KR19980086488A (ko) | 콘택트홀 형성 방법 및 다층 배선 구조물 | |
JP2006060113A5 (ja) | ||
KR102480459B1 (ko) | 박막 트랜지스터 제조 방법, 이에 따라 제조된 박막 트랜지스터, 및 이를 포함하는 전자 소자 | |
Lin et al. | High‐Performance Directly Patterned Nanograting Perovskite Photodetector with Interdigitated Electrodes | |
JP2010034343A (ja) | 半導体装置の製造方法および半導体装置 | |
JP2006140335A (ja) | 相補型トランジスタ回路、電気光学装置、電子デバイス、及び相補型トランジスタの製造方法 | |
JP6002894B2 (ja) | 電子デバイスの製造方法 | |
KR100571389B1 (ko) | 반도체 소자의 제조 방법 | |
KR20090008694A (ko) | 패턴 형성 방법 | |
KR100739291B1 (ko) | 유기 박막 트랜지스터 제조 방법 | |
JP2666680B2 (ja) | 配線形成方法 | |
Guo et al. | LCDU improvement of EUV-patterned vias with DSA | |
JP6094738B2 (ja) | 電子デバイス及びその製造方法 | |
US20200335700A1 (en) | Method of manufacturing organic semiconductor devices |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20081029 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120117 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120412 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120615 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120820 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120907 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121114 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121207 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130104 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |