JP2008514987A - 光干渉変調器中の変形可能な膜の作動電圧しきい値を修正するためのデバイスと方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】光干渉変調器中の変形可能な膜の作動電圧しきい値を修正するためのデバイスと方法を提供する。
【解決手段】部分的に反射的で部分的に透過性のある表面16と、部分的に反射的で部分的に透過性のある表面16の後ろに配置された反射面14との間の間隔を変えることによって、光干渉変調器12は、二つの反射面14,16で反射して去る光波の強め合うおよび/または弱め合う干渉を作り出す。間隔は電圧を印加することによって変えることができ、二つの表面14,16の間の静電引力を作り出し、それは一方または両方の表面14,16を変形させ互いにより近くに移動させる。そのような引力がない状態では、表面14,16は弛緩位置にあり、それらは互いにそれ以上離れない。作動電圧は、表面14,16を変形させるに十分な静電引力を作り出す必要がある。
【選択図】
【解決手段】部分的に反射的で部分的に透過性のある表面16と、部分的に反射的で部分的に透過性のある表面16の後ろに配置された反射面14との間の間隔を変えることによって、光干渉変調器12は、二つの反射面14,16で反射して去る光波の強め合うおよび/または弱め合う干渉を作り出す。間隔は電圧を印加することによって変えることができ、二つの表面14,16の間の静電引力を作り出し、それは一方または両方の表面14,16を変形させ互いにより近くに移動させる。そのような引力がない状態では、表面14,16は弛緩位置にあり、それらは互いにそれ以上離れない。作動電圧は、表面14,16を変形させるに十分な静電引力を作り出す必要がある。
【選択図】
Description
本発明は、光干渉変調器としての使用のための微小電気機械システム(MEMS)に関し、特には、強め合うおよび/または弱め合う光波の干渉を選択的に作り出すためのデバイスと方法に関する。
微小電気機械システム(MEMS)はマイクロメカニカル素子とアクチュエーターと電子機器とを含んでいる。マイクロメカニカル素子は、基板および/または堆積物質層の一部をエッチング除去するか層を追加して電気デバイスや電気機械デバイスを形成する堆積およびまたはエッチング、ほかのマイクロマシーニングプロセスを用いて作製しうる。MEMSデバイスの一つのタイプは光干渉変調器と呼ばれる。ここに使用する光干渉変調器や光干渉光変調器との用語は、光干渉の法則を使用して光を選択的に吸収および/または反射するデバイスを指す。ある実施形態では、光干渉変調器は一対の伝導プレートを備えていてもよく、その一方または両方は、全体または一部が透明および/または反射的であってもよく、適当な電気信号の印加に対して相対運動可能であってもよい。特定の実施形態では、一方のプレートが基板上に堆積された静止層を備えていてもよく、他方のプレートが空隙によって静止層から離れた金属膜を備えていてもよい。ここに詳細に説明するように、一方のプレートの他方に対する位置は、光干渉変調器への入射光の光干渉を変化させることができる。そのようなデバイスは広範囲の用途を有しており、既存製品を改善してまだ開発されていない新製品を作り出すのにそれらの特徴を利用できるようにこれらのタイプのデバイスの特性を利用および/または修正する技術分野にとって有益であろう。
本発明の一つの観点によると、微小電気機械システムが提供される。微小電気機械システムは導体層と機械的層と荷電層とを備えている。機械的層はキャビティによって導体層から分離され、導体層に対して移動するように構成されている。荷電層は組み込み荷電種を有し、導体層と機械的層の間に堆積されている。
本発明の別の観点によると、電磁放射の変調するための方法が供給される。方法は、複数の微小電気機械デバイスを提供することを有している。各デバイスは、導体層と、反射層と、導体層と反射層の間の荷電層とを備えている。荷電層は組み込み荷電種を有している。反射層は、弛緩状態のあいだ、導体層に平行に間隔が空けられている。いくつかの微小電気機械デバイスにおける距離は、ほかの微小電気機械デバイスと異なっている。反射層は、作動状態に切り替えられたときに、導体層に対して移動するように構成されている。微小電気機械デバイスを作動させるために微小電気機械デバイスの導体層と反射層に電圧が印加される。
本発明のまた別の観点によると、微小電気機械デバイスを製造するための方法が供給される。方法は、第一の伝導層を形成することと、第一の伝導層上に誘電体層を形成することと、誘電体層に電荷を加えることと、誘電体層上の第二の伝導層を形成することとを有している。
本発明の別の観点によると、光干渉変調器が提要される。変調器は、光を部分的に反射するための第一の手段と、光を反射するための第二の手段とを備えている。第二の手段は、電圧差の発生に応じて第一と第二の手段の間で第一の手段に対して移動するように構成されている。光干渉変調器はまた、第二の手段の電圧作動しきい値を荷電種で修正するための第三の手段を備えている。
以下に非常に詳細に論じるように、光干渉変調器は、反射部分(「反射層」)を部分的に透過性があり部分的に反射的である部分(「光学スタック」)(それは反射部から間隔が空けられている)に対して移動させることによって、明状態と反射状態との間で切り替えることができる。移動は、二つの部分の間に静電引力を作り出すことによって作動され、それは部分の少なくとも一方を他方に対して移動させる。作動位置では、部分の一方が正味正電荷を有し、その一方で他方の部分が正味負電荷を有しており、これにより部分が互いに引き寄せられる。弛緩位置では、部分間の正味電荷は、移動に対する部分の機械的抵抗に打ち勝つには不十分であり、部分は比較的離れて間隔が空けられている。部分を作動位置に引き寄せるのに十分な静電引力を生成するために必要とされる電圧は作動電圧と呼びうる。
いくつかの好ましい実施形態によれば、作動電圧は、イオンなどの正および/または負の荷電種を反射層および/または光学スタック内に組込むことによって変更することができる。反射層および/または光学スタックは好ましくは誘電体層が設けられており、それは反射層と光学スタックの間に位置しており、その中に荷電種を埋め込むことができる。荷電種は電荷の一定の基線レベルを作り出し、それは光学スタックと反射層に電圧を印加するときに生成される静電引力の一部を増大させるおよび/または打ち消す。その結果、より高いかより低い作動電圧が、たとえば反射層を作動位置へ移動させるのに必要な静電引力の正味レベルを生成するために必要とされうる。たとえば、反射層と光学スタックがそれぞれ正電荷と負電荷を有するように配線されれば、次に正荷電イオンを注入することによって作動電圧を増大させることができ、それは正荷電反射層を追い払うことができる。反対に、負荷電イオンを注入することによって作動電圧を減少させることができ、それは正荷電反射層を引き寄せるのを助ける。したがって、荷電種の組み込みは、作動電圧を望みどおりに変更するために使用することができる。
以下にさらに論じるように、光干渉変調器は、印加電圧の範囲を越えて特定の状態のままになるヒステリシスふるまいを示すこともわかるであろう。印加電圧のこの範囲は「ヒステリシス窓」と呼ぶ。たとえば、光干渉変調器は、作動位置に切り替わるとき、印加電圧が作動電圧に増大されるまで弛緩位置に安定したままである。光干渉変調器は次に、印加電圧がある電圧以下に下がるまで、作動状態に安定したままである。たとえばイオン注入による事前の荷電は好ましくはヒステリシス窓を実質的に非荷電にし、作動電圧で窓をシフトさせる。好都合なことに、このシフトさせることは、以下に論じるように、窓が望みどおりに中心にくるのを可能にして、ドライバーとコントロールシステムの単純化を可能にする。
続く詳細な説明は、本発明のある特定の実施形態に向けられている。しかしながら、本発明は多くの異なる手法で具体化することができる。この説明では、同様の部材は同様の符号で示す参照符号を図面に付す。続く説明から明らかように、実施形態は、動画(たとえばビデオ)か静止画(たとえばスチル画像)かを問わず、さらに文字か絵かを問わず、画像を表示するように構成されたあらゆるデバイスにおいて実施しうる。特に、実施形態は、これに限定されないが、移動電話や無線デバイス、パーソナルデジタルアシスタント(PDA)、ハンドヘルドまたは携帯型コンピューター、GPSレシーバー/ナビゲーター、カメラ、MP3プレーヤー、カムコーダー、ゲーム機、腕時計、時計、計算機、テレビジョンモニター、フラットパネルディスプレイ、コンピューターモニター、自動ディスプレイ(たとえば走行記録計ディスプレイその他)、コックピットのコントロールやディスプレイ、カメラ視のディスプレイ(たとえば乗り物の背面カメラのディスプレイ)、電子写真、電子の広告板や標識、プロジェクター、建築物、パッケージング、美的構造物(たとえば一つの宝石の画像)など、さまざまな電子デバイスにおいて実施しうるか関連しうることが予想される。ここに説明したものと同様の構造体のMEMSデバイスは電子スイッチデバイスなどの非ディスプレイ用途において使用することもできる。
光干渉MEMSディスプレイ素子を備えている一つの光干渉変調器ディスプレイ実施形態を図1に示す。これらのデバイスでは、画素は明暗状態のいずれかにある。明(「オン」または、「開放」)状態では、ディスプレイ素子は、入射可視光の大部分をユーザーへ反射する。暗(「オフ」または「閉鎖」)状態では、ディスプレイ素子は、入射可視光をユーザーへほとんど反射しない。実施形態によっては、「オン」状態と「オフ」状態の光反射特性は逆であってもよい。MEMS画素は、白黒に加えてカラー表示を考慮し、特定の色で主に反射するように構成することが可能である。
図1は、視覚ディスプレイの一連の画素中の二つの隣接画素を描いた等角投影図であり、各画素はMEMS光干渉変調器を備えている。いくつかの実施形態では、光干渉変調器ディスプレイは、これらの光干渉変調器の行/列アレイを備えている。各光干渉変調器は、互いに可変かつ制御可能な距離に位置する一対の反射層を含んでおり、少なくとも一つの可変次元をもつ共振光学キャビティを形成している。一実施形態では、一方の反射層が二つの位置の間で移動されうる。第一の位置(ここでは弛緩位置と呼ぶ)では、可動反射層は、固定部分反射層から比較的大きな距離に位置している。第二の位置(ここでは作動位置と呼ぶ)では、可動反射層は、固定部分反射層に隣接し密接して位置している。二つの層から反射する入射光は、可動反射層の位置に応じて強め合ってまたは弱め合って干渉し、各画素について全体反射状態または非反射状態のいずれかを作り出す。
図1の画素アレイの図示部分は二つの隣接する光干渉変調器12を含んでおり、それらは別々に12aと12bと呼ぶ。光干渉変調器12はそれぞれ可動機械的層14(それは好ましくは反射的である)と光学スタック16とを有し、それらは可動反射層14aと14bと光学スタック16aと16bと別々に呼びうる。左側の光干渉変調器12aでは、可動反射層14aは光学スタック16aからの所定距離の弛緩位置に図示されており、光学スタック16aは部分的反射層を含んでいる。右側の光干渉変調器12bでは、可動反射層14bは光学スタック16bに隣接する作動位置に図示されている。光学スタック16aと16b(光学スタック16と総称する)は、ここに参照するように、典型的にはいくつかの融合層からなり、それらは、インジウムスズ酸化物(ITO)などの電極層、クロムなどの部分的反射層、透明誘電体を含みうる。したがって、光学スタック16は、電気的に伝導性で、部分的に透明で、部分的に反射的であり、たとえば透明基板20上に上記の層の一つ以上を堆積することにより作られうる。いくつかの実施形態では、層は平行ストリップにパターニングされ、後述するようにディスプレイデバイス中の行電極を形成しうる。可動反射層14a,14bは、ポスト18の上面およびポスト18間に堆積された介在犠牲物質の上に堆積された(行電極16a,16bに直交する)一つまたは複数の堆積金属層の一連の平行ストリップとして形成してもよい。犠牲物質をエッチング除去すると、可動反射層14a,14bが光学スタック16a,16bから規定間隙19だけ離れる。アルミニウムなどの高伝導反射物質を反射層14に使用してもよく、これらのストリップがディスプレイデバイスの列電極を形成してもよい。
印加電圧がないとき、図1の画素12aに示すように、可動反射層14aと光学スタック16aの間にキャビティ19が残り、可動反射層14aは機械的弛緩状態にある。しかしながら、選択した行と列に電位差を印加すると、対応する画素の行電極と列電極の交差により形成されたコンデンサーがチャージされ、静電力が電極同士を引き寄せる。電圧が十分に高ければ、可動反射層14が変形し、光学スタック16に押し付けられる。図1の右側の画素12bに示されるように、光学スタック16内の(この図には示していない)誘電体層が、作動位置において、短絡するのを防ぐとともに層14と層16の間の分離距離を制御しうる。その振る舞いは印加電位差の極性にかかわらず同じである。このように、反射対非反射画素状態を制御することができる行/列作動は、従来のLCDやほかのディスプレイ技術で使用される行/列作動に多くの点で類似している。
図2〜5は、表示用途の光干渉変調器のアレイを使用するための一つの代表的なプロセスとシステムを示している。
図2は、本発明の観点を組み込んでよい電子デバイスの一実施形態を示すシステムブロック図である。この代表的な実施形態では、電子デバイスは、ARMやPentium(登録商標)、Pentium II(登録商標)、Pentium III(登録商標)、Pentium IV(登録商標)、Pentium(登録商標) Pro、8051、MIPS(登録商標)、Power PC(登録商標)、ALPHA(登録商標)などの任意の汎用シングルまたはマルチチップマイクロプロセッサー、またはデジタルシグナルプロセッサーやマイクロコントローラー、プログラマブルゲートアレイなどの任意の専用マイクロプロセッサーであってもよいプロセッサー21を含んでいる。この分野で一般に行なわれているように、プロセッサー21は一つ以上のソフトウェアモジュールを実行するように構成されうる。オペレーティングシステムを実行することに加えて、プロセッサーは、ウェブブラウザや電話アプリケーション、電子メールプログラム、ほかのソフトウェアアプリケーションを含め、一つ以上のソフトウェアアプリケーションを実行するように構成されてもよい。
一実施形態では、プロセッサー21もアレイドライバー22と通信するように構成されている。一実施形態では、アレイドライバー22は、パネルすなわちディスプレイアレイ(ディスプレイ)30に信号を供給する行ドライバー回路24と列ドライバー回路26を含んでいる。図1に示したアレイの断面は図2の1−1線によって示されている。MEMS光干渉変調器については、行/列作動プロトコルは、図3に示したデバイスのヒステリシス特性を利用してよい。可動層を弛緩状態から作動状態まで変形させるにはたとえば10ボルトの電位差を必要としてよい。しかしながら、電圧がその値から低下するとき、電圧が10ボルト未満に降下する際、可動層はその状態を維持する。図3の代表的な実施形態では、電圧が2ボルト未満の降下するまで可動層は完全に弛緩しない。したがって、デバイスが弛緩または作動状態で安定している印加電圧の窓が存在する電圧の範囲(図3に示した例では約3〜7V)がある。ここでは、これを「ヒステリシス窓」または「安定窓」と呼ぶ。図3のヒステリシス特性を有するディスプレイアレイは、行ストロービングのあいだ、ストローブされた行中の作動されるべき画素が約10ボルトの電圧差にさらされ、弛緩されるべき画素が0ボルト近くの電圧差にさらされるように、行/列作動プロトコルを設計することが可能である。ストローブの後、画素は、行ストローブによっておかれた状態のままであるように、約5ボルトの定常状態電圧差にさらされる。書き込み後、各画素は、この例の3−7ボルトの「安定窓」内の電位差にある。この特徴は、図1に示した画素設計を同じ印加電圧状態の下で作動または弛緩の事前状態のいずれかに安定にする。光干渉変調器の各画素は、作動状態であれ弛緩状態であれ、実質的に固定反射層と可動反射層によって形成されるコンデンサーであるので、この安定状態は、ほとんど消費電力を伴わないヒステリシス窓内の電圧で保持することができる。印加電位が固定されていれば、実質的に電流は画素に流れ込まない。
代表的アプリケーションでは、表示フレームは、第一行中の作動画素の所望のセットにしたがって列電極のセットをアサートすることにより作成してよい。次に行パルスを行1電極に印加し、アサートされた列線に対応する画素を作動させる。次に列電極のアサートされたセットを変更し、第二行中の作動画素の所望のセットに対応させる。次にパルスを行2電極に印加し、行2中の適当な画素をアサートされた列電極にしたがって作動させる。行1画素は行2パルスに影響されず、行1パルスのあいだに設定された状態のままである。これを一連の行の完全にわたり順次に繰り返してフレームを生成してよい。一般に、フレームは、毎秒所望のフレーム数でこのプロセスを絶えず繰り返すことにより、新しい表示データでリフレッシュおよび/またはアップデートされる。表示フレームを生成するために画素アレイの行電極と列電極を駆動するための種々さまざまなプロトコルもまた周知であり、これは本発明と共に使用してよい。
図4と5は、図2の3×3アレイに表示フレームを生成するための一つの可能な作動プロトコルを示している。図4は、図3のヒステリシス曲線を示す画素に使用してよい列と行の電圧レベルの可能なセットを示している。図4の実施形態において、画素を作動させることは、適切な列を−Vbiasに、適切な行を+ΔVにセットすることを含んでおり、それらは、それぞれ、−5ボルトと+5ボルトに一致していてもよい、画素を弛緩させることは、適切な列を+Vbiasに、適切な行を同じ+ΔVにセットして、画素を横切ってゼロボルト電位差を生成することより実施する。行電圧がゼロボルトに保持される行では、画素は、列が+Vbiasか−Vbiasかにかかわらず、それらがもとあった状態で安定している。また図4に示すように、上述したほかに逆極性の電圧を使用することができること、たとえば、画素を作動させることが適切な列を+Vbiasに、適切な行を−ΔVにセットすることを含みうることがわかるであろう。本実施形態では、画素を開放することは、適切な列を−Vbiasに、適切な行に−ΔVをセットして、画素を横切ってゼロボルト電位差を生産することにより実施する。
図5Bは、図5Aに示したディスプレイ配列をもたらす図2の3×3アレイに印加する一連の行と列の信号を示しているタイミング図であり、ここで作動画素は非反射である。図5Aに示したフレームを書き込む前に、画素は任意の状態であってもよく、この例では、すべての行が0ボルト、すべての列が+5ボルトにある。これらの印加電圧では、すべての画素はそれらの既存の作動状態または弛緩状態で安定している。
図5Aのフレーム中では、画素(1,1)と(1,2)、(2,2)、(3,2)、(3,3)が作動される。これを実施するため、行1の「線時間」のあいだ、列1と列2は−5ボルトにセットし、列3は+5ボルトにセットする。これは任意の画素の状態を変更しない。なぜなら、すべての画素は3〜7ボルトの安定窓にあるままであるからである。次に行1を、0から5ボルトまで上がってゼロに戻るパルスでストローブする。これは(1,1)と(1,2)画素を作動させ、(1,3)画素を弛緩させる。アレイ中のほかの画素は影響されない。行2を望むようにセットするため、列2を−5ボルトにセットし、列1と列3を+5ボルトにセットする。次に行2に印加した同じストローブは、画素(2,2)を作動させ、画素(2,1)と(2,3)を弛緩させる。再び、アレイ中のほかの画素は影響されない。列2と列3を−5ボルトに、列1を+5ボルトにセットすることにより行3を同様にセットする。行3のストローブは図5Aに示すように行3の画素をセットする。フレームを書き込んだ後、行電位はゼロになり、列電位は+5または−5ボルトの一方のままとなることが可能であり、ディスプレイは次に図5Aの配列で安定する。多数すなわち何百もの行と列に対して同じ手順を使用することが可能であることがわかるであろう。行と列の作動を実施するのに使用される電圧のタイミングとシーケンスとレベルは、上に概説した一般的な原理の範囲内で広く変えることが可能であり、上述の例は代表的なだけであり、任意の作動電圧方法もここに説明したシステムと方法で使用することが可能である。
図6Aと6Bは、ディスプレイデバイス40の実施形態を示すシステムブロック図である。ディスプレイデバイス40はたとえば携帯(移動)電話とすることができる。しかしながら、ディスプレイデバイス40またはそれの少しの変形の同じコンポーネントは、テレビやポータブルメディアプレイヤーなどのさまざまなタイプのディスプレイデバイスの例ともなる。ディスプレイデバイス40は、ハウジング41とディスプレイ30とアンテナ43とスピーカー45とマイクロホン46と入力デバイス48とを含んでいる。ハウジング41は一般に、射出成形と真空成形を含む、当業者に周知なさまざまな製造プロセスのいずれかから形成される。さらに、ハウジング41は、これらに限定されないが、プラスチックや金属、ガラス、ゴム、陶器、またはそれらの組み合わせを含む、さまざまな物質のいずれかから作られうる。一実施形態では、ハウジング41は、異なる色のまたは異なるロゴや絵や記号を有しているほかの着脱部と交換されてよい(図示しない)着脱部を含んでいる。
代表的なディスプレイデバイス40のディスプレイ30は、ここに説明するように、双安定ディスプレイを含むさまざまなディスプレイのいずれかであってもよい。ほかの実施形態では、ディスプレイ30は、当業者に周知なように、プラズマやEL、OLED、STN LCD、上述したTFT LCDなどのフラットパネルディスプレイ、またはCRTやほかのチューブデバイスなどの非フラットパネルディスプレイを含んでいる。しかしながら、本実施形態を説明する目的のため、ディスプレイ30は、ここに説明するように、光干渉変調器ディスプレイを含んでいる。代表的なディスプレイデバイス40の一実施形態のコンポーネントを図6Bに概略的に示す。図示の代表的なディスプレイデバイス40はハウジング41を含んでおり、その中に少なくとも部分的に囲まれた追加コンポーネントを含むことができる。たとえば、一実施形態では、代表的なディスプレイデバイス40は、トランシーバー47に接続されるアンテナ43を含むネットワークインターフェース27を含んでいる。トランシーバー47はプロセッサー21に連結されており、それはコンディショニングハードウェア52に連結されている。コンディショニングハードウェア52は信号を整える(たとえば信号をフィルター処理する)ように構成されうる。コンディショニングハードウェア52はスピーカー45とマイクロホン46に連結されている。プロセッサー21も入力デバイス48とドライバーコントローラー29に連結されている。ドライバーコントローラー29はフレームバッファ28とアレイドライバー22に接続され、これはさらにディスプレイアレイ30に接続されている。電源50は、特定の代表的なディスプレイデバイス40設計によって必要とされるすべてのコンポーネントにパワーを供給する。
ネットワークインターフェース27は、代表的なディスプレイデバイス40がネットワーク上の一つ以上のデバイスと通信できるように、アンテナ43とトランシーバー47を含んでいる。一実施形態では、ネットワークインターフェース27はまたいくつかの処理容量を有し、プロセッサー21の要件を取り除いてもよい。アンテナ43は、信号の送受信用の当業者に周知の任意のアンテナである。一実施形態では、アンテナは、IEEE 802.11規格によりIEEE 802.11(a)や(b)や(g)を含むRF信号を送受信する。別の実施形態では、アンテナはBLUETOOTH(登録商標)規格によりRF信号を送受信する。携帯電話の場合、アンテナは、無線セル電話ネットワーク内で通信するために使用されるCDMAやGSM、AMPS、ほかの既知信号を受信するように設計されている。トランシーバー47はアンテナ43から受信した信号を、それらがプロセッサー21によって受信されさらに操作されうるように前処理する。トランシーバー47はまたプロセッサー21から受信した信号を、それらがアンテナ43を介して代表的なディスプレイデバイス40から送信されうるように処理する。
代替実施形態では、トランシーバー47はレシーバーと交換することが可能である。また別の代替実施形態では、ネットワークインターフェース27は像源と取り替えることが可能であり、像源はプロセッサー21に送る画像データを記憶または生成することができる。たとえば、像源は、画像データを収容したデジタルビデオディスク(DVD)やハードディスクドライブ、または画像データを生成するソフトウェアモジュールとすることができる。
プロセッサー21は一般に、代表的なディスプレイデバイス40の動作全体を制御する。プロセッサー21は、ネットワークインターフェース27や像源からの圧縮画像データなどのデータを受信し、そのデータを行画像データに、または行画像データへ容易に処理されるフォーマットに処理する。次にプロセッサー21は処理したデータを記憶のためにドライバーコントローラー29またはフレームバッファ28へ送る。生データは、典型的には画像内の各場所における画像特性を識別する情報を指す。たとえば、そのような画像特性は、色と彩度とグレースケールレベルを含みうる。
一実施形態では、プロセッサー21は、マイクロコントローラーまたはCPU、論理演算装置を含み、代表的なディスプレイデバイス40の動作を制御する。コンディショニングハードウェア52は、スピーカー45に信号を送信するために、またマイクロホン46から信号を受信するために、一般に増幅器とフィルターを含んでいる。コンディショニングハードウェア52は代表的なディスプレイデバイス40内のディスクリートコンポーネントであってもよく、またはプロセッサー21やほかのコンポーネント内に組み込まれていてもよい。
ドライバーコントローラー29は、プロセッサー21によって生成された行画像データをプロセッサー21から直接またはフレームバッファ28からとり、アレイドライバー22への高速伝送に適切な行画像データに再フォーマットする。具体的には、ドライバーコントローラー29は行画像データを、ラスター状フォーマットを有するデータ流れに再フォーマットし、それは、ディスプレイアレイ30を横切って走査するのに適した時間順序を有している。次にドライバーコントローラー29はフォーマットした情報をアレイドライバー22に送る。LCDコントローラーなどのドライバーコントローラー29はしばしばスタンドアロンの集積回路(IC)としてシステムプロセッサー21に付随されるが、そのようなコントローラーは多くの手法によって実現されてよい。それらはハードウェアとしてプロセッサー21に埋め込まれても、ソフトとしてプロセッサー21に埋め込まれても、アレイドライバー22にハードウェアに完全に集積されてもよい。
典型的には、アレイドライバー22はドライバーコントローラー29からフォーマットされた情報を受信し、ビデオデータを、ディスプレイのx−yマトリックスの画素から来る何百もの時には何千ものリードに毎秒何度も印加される波形の並列セットに再フォーマットする。
一実施形態では、ドライバーコントローラー29とアレイドライバー22とディスプレイアレイ30は、ここに説明したディスプレイのどのタイプにも適切である。たとえば、一実施形態では、ドライバーコントローラー29は、従来のディスプレイコントローラーや双安定ディスプレイコントローラー(たとえば光干渉変調器コントローラー)である。別の実施形態では、アレイドライバー22は、従来のドライバーや双安定ディスプレイドライバー(たとえば光干渉変調器ディスプレイ)である。一実施形態では、ドライバーコントローラー29はアレイドライバー22に集積されている。そのような実施形態は、携帯電話、時計、ほかの小面積ディスプレイなどの高集積システムに共通している。また別の実施形態では、ディスプレイアレイ30は、典型的なディスプレイアレイや双安定ディスプレイアレイ(たとえば光干渉変調器のアレイを含むディスプレイ)である。
入力デバイス48は、ユーザーが代表的なディスプレイデバイス40の動作を制御するのを可能にする。一実施形態では、入力デバイス48は、QWERTYキーボードや電話キーパッドなどのキーパッドや、ボタン、スイッチ、タッチセンシティブスクリーン、感圧または感熱膜を含んでいる。一実施形態では、マイクロホン46は代表的なディスプレイデバイス40用の入力デバイスである。マイクロホン46を使用してデバイスにデータを入力するとき、代表的なディスプレイデバイス40の動作を制御するためにユーザーがボイスコマンドを与えてもよい。
この分野で周知なように、電源50はさまざまなエネルギー蓄積装置を含みうる。たとえば、一実施形態では、電源50は、ニッケル−カドミウム電池やリチウムイオン電池などの充電式電池である。別の実施形態では、電源50は、再生可能エネルギー源とコンデンサー、プラスチック太陽電池と太陽電池ペイントを含む太陽電池である。別の実施形態では、電源50は壁付コンセントからパワーを受け取るように構成される。
いくつかの実施においては、上述したように、電子ディスプレイシステムのいくつかの場所に配置することが可能であるドライバーコントローラーに、制御プログラム化が存在する。いくつかのケースでは、制御プログラム化はアレイドライバー22に存在する。たくさんのハードウェアおよび/またはソフトウェアコンポーネントおよびさまざまな構成に対して上述した最適化が実現されてよいことは当業者であればわかるであろう。
上述した原理にしたがって動作する光干渉変調器の構造の詳細は広く変更されてよい。たとえば、図7A〜7Eは、可動反射層14をその支持構造の5つの異なる実施形態を示している。図7Aは図1の実施形態の断面図であり、金属物質14のストリップが直交して延びている支持体18上に堆積されている。図7Bでは、可動反射層14がつなぎ32によってコーナーだけで支持体に取り付けられている。図7Cでは、移動の機能と反射率は分離している。可動反射層14が変形可能層34からつるされており、変形可能層34は可撓性金属で構成されうる。変形可能層34は、直接または間接的に、変形可能層34の周囲の周りの基板20に連結している。これらの接続はここでは支持ポストと呼ぶ。変形可能層34は機械的層を構成し、層14は反射面である。図7Dに示した実施形態では、支持ポスト18は、その上に変形可能層34が横たわる支持ポストプラグ42を有している。図7A〜7Cのように、可動反射層14はキャビティの上につるされるが、図7B〜7Cとは異なり、変形可能層34の堆積は、変形可能層34と光学スタック16の間の穴を満たすことにより、支持ポストを形成しない。むしろ、支持ポスト18は少なくとも部分的に単独に堆積された平坦化物質で形成され、それは支持ポストプラグ42を形成するために使用される。図7Eに示す実施形態は、図7Dに示した実施形態に基づくが、図示しない追加の実施形態と同様に、図7A〜7Cに示した実施形態のいずれに適用してもよい。図7Eに示した実施形態では、金属またはほかの伝導物質の追加層がバス構造44を形成するために使用された。これは信号を光干渉変調器の背面に沿って転送するのを可能にし、さもなければ基板20上に形成されなければならないであろう多くの電極を取り除く。
図7に示した実施形態では、光干渉変調器は直視型デバイスとして機能し、画像は透明基板20の正面側つまり変調器が配置される側の反対側から見られる(すなわち基板側から見られる)。これらの実施形態では、変形可能層34とバス構造44を含め、反射層14は、基板20に対向する反射層の側にある光干渉変調器のいくつかの部分を光学的に遮へいする。これは、遮へい領域が像品質に悪影響を与えずに構成され動作されることを可能にする。この分離可能な変調器アーキテクチャは、変調器の電気機械的観点と光学的観点のために使用される構造設計と物質が互い独立に選択され機能することを可能にする。さらに、図7C〜7Eに示した実施形態は、反射層14の光学的特性の機械的特性からの減結合を得るという追加の利点を有し、それは変形可能層34によって実現される。これは、反射層14に使用する構造設計と物質を光学的特性に対して最適化し、また変形可能層34に使用する構造設計と物質を所望の機械的特性に対して最適化すること可能にする。
図8に関連して、光干渉変調器12の断面が単独の図中に示されている。代表的な実施形態では、導体層100は、一定位置を有し、ガラス基板20上に堆積されている。上に指摘したように、固定導体層100は光の所望の波長に対して好ましくは部分的に反射的で透明であり、たとえばITOとクロムの層から作ることができる。導体層100上には誘電体層102が堆積されている。誘電体層102は酸化シリコンで構成することができるが、この分野で周知な酸化アルミニウムなどのほかの誘電物質が等しく適用可能である。たとえば、層102は電荷捕獲物質で、特に正電荷と負電荷の両方を捕獲する物質、たとえばAl2O3やAlOx(非化学量論性酸化アルミニウム)、Si3N4、SiNx(非化学量論性シリコン窒化物)、Ta2O5、TaOx(非化学量論性酸化タンタル)で構成することができる。固定導体層100と誘電体層102は光学スタック16を形成している。
誘電体層102の上に所定の距離に(弛緩モードで)可動反射層(すなわち機械的/ミラー素子)14を支持するために支持ポスト18が設けられている。支持ポスト18は好ましくは、可動反射層14を支持するのに十分な構造保全を備えた安定した物質から作られる。たとえば、支持ポスト18は、フォトレジストなどの有機物質から、またはスピンオンガラスから製造することができる。可動層14は好ましくは、可撓性で伝導性で高反射性の物質、たとえばアルミニウムやニッケル、クロム、それら組み合わせなどの金属、またはそれらの合金で作られる。
引き続き図8に関連して、誘電体層102内の領域104は荷電種、好ましくは注入イオンおよび/またはドーパントを組み込み、変調器12の光学応答を変更する。領域104に注入するイオンは、変調器12のしきい値および/またはヒステリシス特性に対する所望の効果に応じて正荷電イオン(p型)または負荷電(n型)イオンとすることができる。たとえば、カリウムは正荷電イオンとして使用することができ、亜リン酸は負荷電イオンとして使用することができる。ほかの正荷電イオンの例としては、限定しないが、ナトリウムイオンやリチウムイオンがある。
イオンは光干渉変調器12中のさまざまなほかの位置に配置することができることがわかるであろう。イオンからの電荷の散逸を防ぐため、イオンは好ましくは、誘電体などの非導電材内に埋め込まれるか、絶縁体によって囲まれるか絶縁体に囲まれた物質内に埋め込まれる。図9〜10は、イオンについての位置のほかの非限定的な例を示している。図9に関連して、誘電体層106は可動層14に隣接して形成することができ、イオン注入領域104はその層106内に配置することができる。そのような配置では、誘電体層102は、典型的には可動層14と固定伝導層100の間に間隔を空けるともに短絡を防ぐ役目をし、自由に省略することができる。好ましくは、誘電体層106は、層14の動作を著しく妨げない可撓性物質で形成される。上述したように、誘電体層106は酸化シリコンと酸化アルミニウムで形成することができる。
図10に関連して、二つの誘電体層すなわち層102と106が設けられている場合、両方の層にイオンを注入してイオン注入領域104と108を形成することができる。所望の効果に応じて、両方の領域には、同じ極性のイオンまたは異なる極性のイオンを注入することができる。両方の層102と106の注入は、注入の効果を高めることができる。たとえば、領域104と108に異なる極性のイオンが注入されている場合、引力の一定レベルが層102と106の間に確立することができ、それにより、層100と14がそれぞれ領域104と108と同じ極性を有するように配線されている場合には動作電圧を低減する。
作動電圧の変化に加えて、可動層14と固定層16の間への荷電イオンの導入は、変調器12の光学応答曲線をシフトさせることができる。たとえば、図11〜13の光学応答曲線は、図8の光干渉変調器12の可動層14と固定層16に印加された電圧に対する可動層14の変位をプロットしている。グラフの正電圧領域では、可動層14は、その層14の中に正電荷を生成する電圧源に連結され、固定導体層100は、その層100の中に負電荷を生成する電圧源に連結される。グラフの負電圧領域では、可動層14は、その層14の中に負電荷を生成する電圧源に連結され、固定導体層100は、その層100の中に正電荷を生成する電圧源に連結される。曲線の底において、可動層14は弛緩位置にあり、曲線の上において、可動層14は作動位置にある。
図11は、誘電体層102中に正荷電イオンまたはp型イオンを注入した効果を示している。誘電体層102中への正荷電イオンの導入は光学応答曲線を右へシフトさせる。正電圧領域では、p型イオンは正荷電可動層14を追い払い、それにより、可動層14がつぶれることができる前により大きな電圧とより強い静電引力が印加されることを要求する。負電圧領域では、p型イオンは負荷電可動層14を引き寄せ、それにより、可動層14がつぶれることができる前により小さな電圧とより少ない静電引力が印加されることを要求する。光学応答曲線302aと302bは、イオン注入のない光干渉変調器についての光学応答特性を表わしている。誘電体層中に正荷電イオンを持つ同じ光干渉変調器は、光学応答曲線304aと304bによって表わされる光学応答特性を示す。イオンによって導入された電荷のレベルは一定であるので、イオンは正味静電引力を同じ量だけ増大または低減させ、その結果、正および負の定応答曲線の両方が同じ量だけ右にシフトする。光学応答特性の変化の量は、誘電体層102に導入されたイオンの総電荷によって決まり、それは注入イオンの量に比例しうる。
図12は、誘電体層102中に負荷電イオンまたはn型イオンを注入した効果を示している。誘電体層102中への負荷電イオンの導入は光学応答曲線を左へシフトさせる。正電圧領域では、n型イオンは可動層14を作動位置に引き寄せる一方、負電圧領域では、n型イオンは可動層14を追い払い、その層を弛緩位置に維持する。光学応答曲線312aと312bは、イオン注入のない光干渉変調器12についての光学応答特性を表わしている。誘電体層中に負荷電イオンを持つ同じ光干渉変調器12は、光学応答曲線314aと314bによって表わされる光学応答特性を示す。図11と同様に、正および負の応答曲線は同じ量だけ左にシフトし、光学応答特性のシフトの量は誘電体層102中に導入されたイオンの量によって決まる。
ゼロ電圧ラインから離れて中心にあるヒステリシス曲線を持つ光干渉変調器を作ることができることがわかるであろう。たとえば、inteferometric変調器は、イオン注入なしでも、層14と16の間に特定レベルの電荷を有するように形成することができる。たとえば、誘電体層102の構造の欠陥または構造の変更がそのような電荷をもたらすことができる。この電荷の結果、これらの光干渉変調器についてのヒステリシス窓はゼロ電圧ラインに対して中心にこないかもしれない。さらに、異なる光干渉変調器は異なるレベルの電荷を示しうる。電荷および電荷の異なるレベルは、光干渉変調器の可動層の作動と解放に対する予測性と制御性を低めるために光干渉変調器のふるまいに悪影響を及ぼすかもしれない。好都合なことに、既に依存する電荷に応じて、イオン注入は、たとえば、既存電荷を中性化することによって光干渉変調器のヒステリシスふるまいをゼロ電圧ラインに対して再び中心にくるようにすることが可能である。その結果、光干渉変調器の可動層の作動と解放に対する予測性と制御性を高めることができる。
誘電体層102中の組み込み荷電種に関して上で論じたが、それは評価される、類似したそれ、影響する、層106(図9に示すように存在するとき)への荷電種の組み込みまたは両方の層102と106(図10に示すように存在するとき)への荷電種の組み込みによって同様の影響を達成することができることがわかるであろう。たとえば、荷電種を層106に組み込んで図11と12に示した効果を達成することができる。電圧源が可動層14と固定層16に連結されていてそれらの層の中にそれぞれ正と負の電荷を生成する場合、層106の中へ負の荷電種の組み込みは図11に示したヒステリシス曲線の右方シフトをもたらす。反対に、同様の構成において、しかし層106中には正の荷電種がある状態では、図12に示されるように、ヒステリシス曲線は左にシフトする。
さらに、両方の層102と106を光干渉変調器に設けることができ、おのおのに荷電種を組み込むことができる。たとえば、可動層14と固定層16がそれぞれ正と負にチャージされるように再び構成すると、層102への正の荷電種の組み込みと層106への負の荷電種の組み込みによって図11に示したものと同様の効果を達成することができる。さらに、層102への負の荷電種の組み込みと層106への正の荷電種の組み込みによってヒステリシス曲線を左へシフトさせることができる。
層102と106の極性を逆にすることによって荷電種の組み込みの効果を逆にすることができることがわかるであろう。たとえば、可動層14と固定層16が電圧源に連結されていてそれらの層の中にそれぞれ正と負の電荷を生成するときに荷電種のある構成がヒステリシス曲線を左にシフトさせるならば、電圧源が可動層14と固定層16に逆に連結され、すなわちそれらの層の極性を逆にすると、荷電種の同様の構成はヒステリシス曲線を右にシフトさせる。
図13に関連して、いくつかの構成では、異なる知覚色たとえば二つ以上または三つ以上の異なる色を生成するために複数の異なる周波数に中心がくる強め合う干渉を生成するように光干渉変調器を形成することができる。これらの光干渉変調器はたとえばディスプレイの個々の赤と緑と青の画素を形成するようにグループ化することができる。光干渉変調器の干渉ふるまいは可動層14と固定層16の間の間隔によって決まることがわかるであろう。したがって、光干渉変調器100aと100bと100cは、可動層14a,14b,14cと固定層16との間に異なる間隔110a,110b,110cを有し、それにより異なる色のおのおのが生成されるのを可能にするように形成しうる。異なる間隔のために、各光干渉変調器100aと100bと100cは異なる作動電圧とヒステリシス曲線を有することができる。
そのような状況を図14に示す。図14は光干渉変調器100a,100b,100cについてのそれぞれのヒステリシス曲線322aと322bと322cを示し、おのおのは異なる色を与えるように設計された異なる間隔を有している。ディスプレイ中の光干渉変調器は、異なるイオンおよび/または異なるレベルのイオンを注入することができることがわかるであろう。好都合なことに、光干渉100a,100b,100c変調器のすべてまたはいくつかは、イオンを注入して曲線322a〜322cをシフトさせて重なるようにすることができる。曲線を重ねることによって、しきい値と解放の電圧を同様にすることができ、好都合なことに光干渉変調器を動作するに必要な電圧の数を減らし、したがって光干渉変調器に付随するドライバーとコントロールシステムを単純化する。
たとえば、図14に示した構成では、曲線322bを基準として使用し、曲線322aと322cが付随する光干渉変調器に異なるイオンを注入して、曲線322a(たとえば光干渉変調器100aの層34aと光学スタック16中の導電体層の間にp型イオンが注入された誘電体層を有する)が右にシフトし、曲線322c(たとえば光干渉変調器100aの層34cと光学スタック16中の導電体層の間にn型イオンが注入された誘電体層を有する)が左にシフトし、それにより両者が曲線322bに重なるのを可能にする。その結果、三つの曲線322a〜322cのすべてが同一の同じしきい値と解放の電圧を使用して正電圧領域において有利に駆動することができる。
図15に関連して、フローチャート350は、光干渉変調器12の形成のステップを一般に示している。第一の伝導部をたとえば基板上に形成する360。基板はたとえばガラスとすることができる。誘電体を第一の伝導部上に形成し370、荷電種を誘電体層中に追加する380。
さまざまなプロセスステップが図15と16に分離したブロックとして示されているが、分離したブロックはステップが必ず時間的に分離されることを示していないことがわかるであろう。たとえば、誘電体形成と電荷追加が同時に起こり得、その結果、荷電種たとえばイオンが誘電体中に堆積したときの種として形成される。同時の誘電体形成と電荷追加に適したプロセスの一例は同時スパッタリングであり、イオン種と誘電体先駆体が基板上に同時にスパッタされる。ほかの実施形態では、電荷追加が誘電体の形成後に起こる。この場合、電荷追加はこの分野で周知なさまざまなプロセスによって実施することができる。いくつかの実施形態では、イオンが誘電体中に注入されうるか、誘電体中に拡散されうる。たとえば、誘電体層がドープたとえば拡散ドープされうる。
引き続き図15に関連して、第二の伝導部をイオン注入誘電体上に形成する390。第一の伝導部は光干渉変調器12(図8)の伝導層の一つたとえば固定伝導層16に相当しうることがわかるであろう。第二の伝導部は、光干渉変調器12(たとえば可動層14)のほかの示した伝導層に相当する場合がある。
図8と16に関連して、フローチャート400は、図8に示した代表的な光干渉変調器12を作るのに使用される製造順序のステップを示している。導体層100を基板20上に堆積する402。導体層100は典型的にはITOとクロムで構成される。導体層100をパターニングしエッチングして404、光干渉変調器12の行を形成する。誘電体層102を導体層100上に堆積する406。この誘電体層102はSiO2から作ることができるが、光干渉変調器12を形成するためのほかの物質とプロセスステップと互換性をもつほかの誘電体を使用することができる。フォトレジスト層をパターニングしエッチングして407、誘電体層102のいくつかの領域を覆い、誘電体102の所望の領域への注入を許す開口を有するマスクを提供する。荷電イオンは、パターニングされたフォトレジストを介して誘電体層102中に注入され、それによって、誘電体層102の注入領域104を形成する。注入イオンの電荷と注入の程度は、上述したように、光学応答特性に対する所望の効果にしたがって選択される。たとえば、イオンの極性は、ヒステリシス曲線(図11−13)のシフトを望む方向に基づいて選ぶことができ、注入の程度は所望のシフトの大きさに基づいて選ぶことができる。
イオン注入が誘電体の構造を破壊しうることがわかるであろう。その結果、イオン注入に続いてアニールを行なって、誘電体構造を再配列させ、注入された誘電体の光学特性を改善し、誘電体内のイオンをより均一に分配することができる。
いくつかの実施形態では、フォトレジストは必要ではなく、同様のイオンが光干渉変調器12に一様に注入されるならばステップ407は省略することができることがわかるであろう。ほかの実施形態では、パターニングされたフォトレジストは、光干渉変調器12にイオンが選択的に注入されることを可能にし、それによって、異なるイオンが注入されることを可能にするか、異なるレベルの注入が達成されることを可能にする。多重フォトレジスト堆積および/またはパターニングステップを使用して複数の異なるイオンを選択的に注入するか異なる量のイオンを選択的に注入することができることがわかるであろう。たとえば、フォトレジストを堆積しパターニングしていくつかの特定の光干渉変調器12にイオンを注入することができ、また追加のフォトレジストを堆積しパターニングしてほかの光干渉変調器12にイオンを注入することなどができる。イオン注入の後、フォトレジストは好ましくは除去される。
さらに、荷電組み込みをそれより後のステップで行なうことができる。たとえば、イオン注入は、(後述する)非金属犠牲層(たとえばシリコン)の堆積410の後に、好ましくは追加の金属層の形成の前に行なうことができる。
ステップ410において、犠牲層(それは後に除去されて光干渉変調器12の光学キャビティを形成する)を堆積する。犠牲層は、光干渉変調器12のほかの物質を破壊することなく、たとえばエッチングによって後に除去することができる固体物質で作られる。犠牲層に好適な物質の一例はモリブデンである。ほかの適切な犠牲物質はシリコンとタングステンを含んでいる。それらは、アルミニウムまたは酸化シリコンをエッチングすることなくXeF2を使用して選択的または優先的に有利に除去することができる。犠牲層をパターニングしエッチングして412、その中に支持ポスト18を形成する物質が堆積されるすき間を設ける。ステップ414において、ポスト物質を堆積し、それによって、支持ポスト18を形成する。ポスト物質は、たとえば、フォトレジストやいくつかのほかの有機化合物やスピンオンガラスとすることができる。ステップ416において、機械的/ミラー膜を堆積する。上述したように、膜はたとえばアルミニウムやほかの可撓性金属で作ることができる。ステップ418において、機械的膜をパターニングしエッチングして機械的/ミラー層14を形成する。犠牲層を次に除去する420。
好適な実施形態による光干渉変調器には多数の長所がある。たとえば、電荷組み込みは特定の光干渉変調器の作動電圧および/またはヒステリシス曲線を望みどおりに変えることを可能にする。その結果、光干渉変調器を駆動するのに必要な電圧を低減し、それにより、光干渉変調器を利用する表示体の所要動力と電力消費を低下させることが可能である。さらに、荷電組み込みによってヒステリシス曲線をシフトさせて、曲線をゼロ電圧ラインに対して中心にくるようにすることができる。これは、たとえば、光干渉変調器の伝導層間の誘電体層中に形成しうる電荷を中性化することによって達成することができる。ヒステリシス曲線を中心にこさせることは、たとえば、作動電圧を期待値にセットすることによって、光干渉変調器の状態に対する制御をより予測可能にすることができる。さらに、多重光干渉変調器(おのおのが異なる作動電圧とシフトしたヒステリシス曲線を本来有している)が存在する場合、光干渉変調器のいくつかまたはすべてをヒステリシス曲線が実質的に重なるようにドープすることができる。その結果、光干渉変調器のおのおのの作動電圧と解放電圧が重なり、それによって、光干渉変調器を制御するために生成される異なる電圧の数を減らす。したがって、ドライバーとコントロールシステムを単純化することができる。
一方、荷電種は「注入イオン」として上述したが、荷電種は、可動伝導層と固定伝導層の間に堆積された物質に組み込まれた任意の荷電種とすることができることがわかるであろう。ほかの実施形態では、荷電種は、誘電体基板上に単純に堆積することができ、好適には堆積されたときに電荷を有する。誘電体層は、製造と構造の単純化のための伝導層に好ましくは堆積されるが、伝導層から間隔を空けることができる。さらに、いくつかの実施形態では、説明と図示の簡単化のために一つの可動層と一つの伝導層を有しているように述べたが、可動層と伝導層の配置は図示とは逆にすることもでき、また層の両方を移動するように作ることもできる。
したがって、上述した方法と構造にさまざまなほかの省略や追加や修正を発明の要旨から逸脱することなく施すことができることは当業者にはわかるであろう。特許請求の範囲によって定められるように、そのような修正や変更は発明の要旨の範囲内にある。
Claims (46)
- 導体層と、
キャビティによって導体層から分けられ、前記導体層に対して移動するように構成された機械的層と、
組み込み荷電種を備えている荷電層であって、前記導体層と前記機械的層の間に堆積された前記荷電層とを備えている微小電気機械システム。 - 前記荷電層が、前記導体層と前記機械的層の一方に固定関係で連結されている、請求項1の微小電気機械システム。
- 前記荷電層が不動で、前記導体層に直接重っている、請求項2の微小電気機械システム。
- 前記組み込み荷電種がイオンである、請求項1の微小電気機械システム。
- 前記荷電層がイオン注入誘電体層である、請求項4の微小電気機械システム。
- 前記組み込み荷電種が前記誘電体層中に堆積したときのイオンである、請求項4の微小電気機械システム。
- 前記組み込み荷電種がカリウムまたは亜リン酸である、請求項4の微小電気機械システム。
- 前記組み込み荷電種が、ナトリウムイオンとリチウムイオンからなるグループから選択された正荷電イオンである、請求項4の微小電気機械システム。
- 前記導体層が、光学波長の光に対して部分的に透明である、請求項1の微小電気機械システム。
- 前記機械的層がミラーである、請求項1の微小電気機械システム。
- 前記機械的層が、前記機械的層から間隔が空けられたミラーに取り付けられ固定関係で配置されており、前記機械的層は前記荷電層に対して前記ミラーを移動させるように構成されている、請求項1の微小電気機械システム。
- 前記微小電気機械システムが、前記機械的荷電層に衝突する光の強め合うおよび/または弱め合う干渉を作り出すように構成された光干渉変調デバイスである、請求項1の微小電気機械システム。
- 少なくとも導体層と電気的通信状態にあるプロセッサーであって、画像データを処理するように構成された前記プロセッサーと、
前記プロセッサーと電気的通信状態にあるメモリーデバイスとをさらに備えている、請求項1の微小電気機械システム。 - 少なくとも前記導体層に少なくとも一つの信号を送るように構成されたドライバー回路をさらに備えている、請求項13の微小電気機械システム。
- 前記画像データの少なくとも一部を前記ドライバー回路に送るように構成されたコントローラーをさらに備えている、請求項14の微小電気機械システム。
-
前記画像データを前記プロセッサーに送るように構成された像源モジュールをさらに備えている、請求項13の微小電気機械システム。 - 前記像源モジュールが、レシーバーとトランシーバーとトランスミッターの少なくとも一つを備えている、請求項16の微小電気機械システム。
-
入力データを受け取り、前記入力データを前記プロセッサーに伝えるように構成された入力デバイスをさらに備えている、請求項13の微小電気機械システム。 - 複数の光干渉変調デバイスをさらに備えており、いくつかの前記光干渉変調デバイスは前記荷電層を備え、ほかの前記光干渉変調デバイスは前記荷電層を欠いている、請求項13の微小電気機械システム。
- 前記いくつかの前記光干渉変調デバイスは、導体層と、支配的に一つの周波数において強め合う干渉を生成するように構成された機械的層とを有しており、前記ほかの前記光干渉変調デバイスは、導体層と、支配的に一以上のほかの周波数において強め合う干渉を生成するように構成された機械的層とを有しており、前記いくつかの前記光干渉変調デバイスと前記ほかの前記光干渉変調デバイスはグループ化され前記ディスプレイのピクセルを形成している、請求項19の微小電気機械システム。
- 複数の微小電気機械デバイスを供給することを有し、各デバイスは、
導体層と、
弛緩状態では導体層に対して平行に距離を置いている反射層であって、作動状態に切り替えられるときに前記導体層に対して移動するように構成された反射層と、
前記導体層と前記反射層の間の荷電層であって、組み込み荷電種を有する前記荷電層とを備え、
いくつかの前記複数の微小電気機械デバイスに対する距離はほかの前記複数の微小電気機械デバイスとは異なっており、
さらに、前記微小電気機械デバイスの前記導体層と前記反射層に電圧を印加して前記微小電気機械デバイスを作動させることを有している、電磁放射を変調するための方法。 - 前記微小電気機械デバイスの前記導体層と前記反射層に電圧を印加して前記微小電気機械デバイスを作動させることが、
前記いくつかの前記微小電気機械デバイスの前記反射層に電圧を印加して前記いくつかの前記微小電気機械デバイスを作動させることと、
前記ほかの前記微小電気機械デバイスの前記導体層と前記反射層に同じ電圧を印加して前記ほかの前記微小電気機械デバイスを作動させることとを有している、請求項21の方法。 - 前記電圧を印加することおよび前記同じ電圧を印加することが、前記導体層と前記反射層に衝突する電磁波の干渉ふるまいを変更する、請求項21の方法。
- 電圧を印加することおよび同じ電圧を印加することが、一以上の所望の光周波数を中心とする強め合う干渉を生成する、請求項21の方法
- 第一の伝導層を形成することと、
前記第一の伝導層上の誘電体層を形成することと、
前記誘電体層に荷電種を加えることと、
前記誘電体層上に第二の伝導層を形成することとを有している、微小電気機械デバイスを製造するための方法。 - 前記荷電種を加えることが、前記誘電体層を形成した後にイオン注入を行なうことを有している、請求項25の方法。
- 前記荷電種を加えることの後に前記誘電体層をアニールすることをさらに有している、請求項26の方法。
- 前記荷電を加えることが、前記誘電体を形成するときに前記誘電体にイオンを方向付けることを有している、請求項25の方法。
- 前記荷電種を加えることが、イオン先駆体と一以上の誘電体先駆体を同時にスパッタリングすることを有している、請求項28の方法。
- 前記荷電種を加えることが、前記誘電体層をドープすることを有している、請求項25の方法。
- 前記誘電体層をドープすることが、前記dielectrtic層にドーパントを拡散することを有している、請求項31の方法。
- 前記荷電が、カリウムとリンイオンからなるグループから選択されたイオンを注入することによって供給される、請求項25の方法。
- 前記荷電が、ナトリウムイオンとリチウムイオンからなるグループから選択されたイオンを注入することによって供給される、請求項25の方法。
- 前記第一の伝導層を形成することが、クロムおよび/またはインジウムスズ酸化物の層を堆積することを備えている、請求項25の方法。
- 前記誘電体層を形成することが、酸化物を堆積することを有している、請求項34の方法。
- 前記酸化物が、酸化アルミニウムおよび/または酸化シリコンからなるグループから選択される、請求項35の方法。
- 前記誘電体層上に犠牲物質層を堆積することと、前記第二の伝導層を続いて形成することとをさらに有している、請求項35の方法。
- 前記第二の伝導層を形成することが、前記犠牲物質上に金属層を堆積することを有している、請求項37の方法。
- 前記犠牲物質を優先的に除去することをさらに有している、請求項38の方法。
- 前記微小電気機械デバイスが光干渉変調器である、請求項25の方法。
- 請求項25の方法によって形成された微小電気機械デバイス。
- 光を部分的に反射するための第一の手段と、
光を反射するための第二の手段であって、前記第一と前記第二の手段の間の電圧差の生成に応じて前記第一の手段に対して移動するように構成された前記第二の手段と、
荷電種を備えた前記第二の手段の電圧作動しきい値を修正するための第三の手段とを備えている光干渉変調器。 - 前記第一の手段が導体層を備えている、請求項42の光干渉変調器。
- 前記第二の手段が第二の導体層を備えている、請求項42または43の光干渉変調器。
- 前記第三の手段が、前記導体と前記第二の導体層の一つにじかに隣接して間に堆積された誘電体中に組み込まれたイオンを備えている、請求項42または43、44の光干渉変調器。
- 前記荷電種がイオンである、請求項42、43、44または45の光干渉変調器。
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