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- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 31
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 31
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 31
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 25
- 229910000577 Silicon-germanium Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 15
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 9
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 8
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 6
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 5
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- FDNAPBUWERUEDA-UHFFFAOYSA-N Silicon tetrachloride Chemical compound Cl[Si](Cl)(Cl)Cl FDNAPBUWERUEDA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000005049 silicon tetrachloride Substances 0.000 claims description 2
- IEXRMSFAVATTJX-UHFFFAOYSA-N tetrachlorogermane Chemical compound Cl[Ge](Cl)(Cl)Cl IEXRMSFAVATTJX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- GXMNGLIMQIPFEB-UHFFFAOYSA-N tetraethoxygermane Chemical compound CCO[Ge](OCC)(OCC)OCC GXMNGLIMQIPFEB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims 2
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 claims 1
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 claims 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 claims 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 claims 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 claims 1
- 239000002052 molecular layer Substances 0.000 claims 1
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 claims 1
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 claims 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 claims 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 1
- 239000011343 solid material Substances 0.000 claims 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 12
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000005755 formation reaction Methods 0.000 description 3
- OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N precursor Substances N#CC(C)(C)N=NC(C)(C)C#N OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 102000014961 Protein Precursors Human genes 0.000 description 1
- 108010078762 Protein Precursors Proteins 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 description 1
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 1
- 239000011344 liquid material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- TWXTWZIUMCFMSG-UHFFFAOYSA-N nitride(3-) Chemical compound [N-3] TWXTWZIUMCFMSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 230000002040 relaxant effect Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Description
この課題は、特許請求の範囲に規定された発明によって解決される。請求項1は、第1の原料がシリコンを含有し、第2の原料がゲルマニウムを含有することを実質的に意図するものである。さらに、個々のインジェクションユニットを介して流量の時間経過を決定する、インジェクション圧、インジェクション周波数、パルス/ポーズの比、及び、1つ以上の他のインジェクションユニットのパルス/ポーズに対するパルス/ポーズの位相関係等の、流量パラメータが、それぞれ制御又は変化されるように構成される。
本発明は、Si、Ge及び/又はCを含有する1つ又は複数の液体の原料を不連続に吐出して使用し、引き続いて少なくとも加熱された空間で気相にする方法を提供する。これは、SiGe、歪SiGe,又はSiGe:Cの製造に使用される。この方法は、原料を無接触で蒸発させて再現可能で粒のない膜の堆積を可能とするのみならず、膜形成中に付加的な液状前駆体インジェクションユニットを介して、インジェクションレート又はパルス/ポーズの比、あるいは互いの位相関係も、相互に独立に制御可能な、Si、Ge及びCの添加量の正確な制御を可能にする。それゆえ、この方法は、付加的な一群の原料を調節することによって組成勾配層の形成を可能とする。これは、技術的には、個々のインジェクション周波数又はパルス/ポーズの比、あるいはインジェクション圧も、調節することによって制御される。例えば、Si表面上への歪シリコン膜の形成において、組成勾配を有するSiGeバッファー層、歪SiGe層、及び歪を緩和するSi層の全てを、気相成分又はプロセス条件をその場で変化させることによって堆積可能であるという、開発された方法の長所が明らかである。それゆえ、この新しい方法の長所は、高いスループット、良好な化学量論の制御、プロセス条件の大いなる柔軟性、原子層レベルの精度での堆積、ナノレーヤ及びヘテロ構造の作成、組成勾配層等の核形成膜の制御された堆積である。特に、この不連続な吐出とガス拡散器との組み合わせにおいて、プロセス室内に導入されたガス状の原料物質が、広い基板面上に均一に拡散する。これは、堆積において、高い均一性を有効面積についての高い柔軟性と同時に可能とする。好ましくは、プロセス室は、真空室であることが重要である。そこでは、圧力は1000mbar未満に設定可能になっている。プロセス室は加熱可能になっている。単一のプロセスステップ中に、基板上に複数の連続する膜が堆積可能となっている。膜の堆積は、実質的に流量パラメータだけを変化させることによって行われる。インジェクション圧若しくはインジェクション周波数、又はパルス/ポーズの比は、相互に引続く層間で中断を必要とせずに異なる品質の膜が直接相互に堆積されるように、変化可能になっている。さらに、本発明の方法を用いることにより、組成勾配層を堆積することができる。これは、少なくとも1つの膜を堆積する間に流量パラメータを連続的に変化させることによって形成される。これにより、垂直方向に連続的に変化する膜組成が形成される。また、この方法を用いて、堆積される2つの膜の間の連続的な移行も達成可能である。インジェクションユニットへの原料の流量を計測によって検出することは、好ましい。流量は、インジェクション周波数、パルス/ポーズの比、及び/又はインジェクション圧を変化させることによって、制御可能となっている。原材料としては、特に、シリコン及びゲルマニウムの四メチル化合物又はこれらの四エチル化合物が考慮される。特に、四塩化ゲルマニウム、四塩化シリコン、テトラエトキシゲルマニウム、テトラエトキシシリコン等の、室温で液体の前駆体が好ましい。前駆体は、高純度で使用可能となっている。しかしながら、有機溶媒もまた使用可能になっている。原料としては、液体の他に、液体に溶解した固体もまた可能になっている。膜は、窒化物を含有するのでもよい。基板ホルダーは、回転可能になっている。各インジェクションユニットには、個々に流量計が割り当てられる。複数のインジェクションユニットが単一のマルチチャネルインジェクションユニットに割り当て可能になっている。そして、各マルチチャネルインジェクションユニットが個々に蒸発室に割り当てられるのは、好ましい。これらの各蒸発室は、温度制御可能になっている。また、蒸発室とプロセス室と間のガス管も、温度制御可能になっている。プロセス室内には、シャワーヘッド状のガス拡散器が配置可能になっている。このシャワーヘッド状のガス拡散器は、基板の上方に設けられる。ガス拡散器の下方に設けられた開口から、基板面の上方で反応するために、プロセス室内にプロセスガスが流れ、そこで膜が形成される。本装置は、電子制御ユニットを有する。この電子制御ユニットを介して、個々の流量パラメータが制御され、調節される。
図1は、本方法を実施するための装置の構成を示す模式図である。本装置は、マルチチャネルインジェクションユニット6を介して、液体の又は液体に溶解した金属原料を不連続に吐出して使用し、一元又は多元の材料を堆積することに使用され、インジェクション周波数、インジェクション圧、パルス/ポーズの比、及び相互の位相関係において各チャネル5がそれぞれ流量制御のために調節可能となっている。本装置は、Si薄膜とGe薄膜又はSiGe薄膜をSi基板又はGe基板上に堆積するために特に使用される。
Claims (23)
- プロセス室(2)内において少なくとも1つの半導体膜を少なくとも1つの基板上に堆積する膜の堆積方法であって、
パルス的に開閉するノズル弁を有する複数のインジェクションユニット(5)を用いて、液体の又は液体に溶解したSiを含有する第1の原料及び/又はGeを含有する第2の原料を温度制御された蒸発室(4)にパルス状に不連続に吐出し、前記第1の原料と前記第2の原料を前記蒸発室(4)内で蒸発させ、当該蒸気をキャリアガス(7)と共に前記プロセス室(2)に導入し、
インジェクション圧と、インジェクション周波数と、パルス/ポーズの比と、1つ以上の他のインジェクションユニット(5)のパルス/ポーズに対するパルス/ポーズの位相関係と、を含む前記各インジェクションユニット(5)に関する流量パラメータを制御することによって、前記第1の原料と前記第2の原料(3)の流量の時間経過を個々に制御し、
前記蒸発した原料を4族の基板上に堆積して、Si、Ge、及びSiGeの膜のうちの少なくとも1つを形成する、
ことを特徴とする膜の堆積方法。 - 前記プロセス室(2)内の圧力が1000mbar未満であることを特徴とする請求項1に記載の膜の堆積方法。
- 前記プロセス室(2)が温度制御されることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の膜の堆積方法。
- 単一のプロセス工程で複数の連続した膜が前記基板(1)上に堆積されることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
- 連続した膜の堆積において、前記各インジェクションユニット(5)に関する流量パラメータだけを変化させることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
- 少なくとも1つの膜を堆積中に、垂直方向の連続的な組成変化又は相互に堆積される膜間での連続的な推移を形成するように、前記各インジェクションユニット(5)に関する流量パラメータを連続的に変化させることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
- 前記各インジェクションユニット(5)への前記第1の原料及び前記第2の原料の流量が流量計(9)を介して検出され、前記流量が、前記インジェクション周波数、前記パルス/ポーズの比、及び前記インジェクション圧のうちのいずれか1つ以上を変化させることによって制御されることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
- ナノレーヤ、ヘテロ接合、核形成膜、及び組成勾配層のうちのいずれか1つ以上を堆積することを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
- 液体に溶解した固体原料を使用することを特徴とする請求項1乃至請求項8のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
- 実質的に前記第1の原料のみが吐出されて膜の堆積が始まり、次に、引続いて前記第1の原料の流量を連続的に減らすと共に前記第2の原料の流量を前記第1の原料が実質的に0になるまで増やすことを特徴とする請求項1乃至請求項9のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
- 成膜すべき表面が、垂直構造の壁及び底に均一に堆積するように蒸発した原料が拡散するトレンチ、を有することを特徴とする請求項1乃至請求項10のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
- 堆積された膜が、炭素、ホウ素、りん、砒素、又はその他のドーパントを含有することを特徴とする請求項1乃至請求項12のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
- 少なくとも前記第1の原料及び前記第2の原料のうちの1つが、四塩化ゲルマニウム、四塩化シリコン、テトラエトキシゲルマニウム、テトラエトキシシリコン、又はシリコン若しくはゲルマニウムの同様の有機金属化合物を含有することを特徴とする請求項1乃至請求項13のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
- プロセスが、300〜1200℃の間の処理温度で行われることを特徴とする請求項1乃至請求項14のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
- 結晶面上に、少なくともSi、Ge、及びSiGeの膜のうちの少なくとも1つの膜がエピタキシャルに堆積されることを特徴とする請求項1乃至請求項14のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
- 前記基板が、Si、SiGe、及びGeの基板のうちのいずれか1つ以上からなることを特徴とする請求項1乃至請求項15のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
- SiGeをSi(1−x)Gex(0≦x≦1)とするとき、Si、Ge、SiGe、SiGe:C、SiとGeとのヘテロ構造、SiGeとSiGeとのヘテロ構造、及びSiGeバッファーのうち、少なくとも1つの膜が堆積されることを特徴とする請求項1乃至請求項16のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
- 前記第1の原料及び前記第2の原料が同時又は交互に吐出されることを特徴とする請求項1乃至請求項17のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
- 気体で導入された前記第1の原料及び/又は前記第2の原料が、前記ガス拡散器(15)によって基板によって占められた面上に均一に拡散されることを特徴とする請求項1乃至請求項18のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
- 堆積プロセス中に、1枚以上の堆積すべき基板を回転させることを特徴とする請求項1乃至請求項19のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
- 堆積する膜の少なくとも一部が歪み又は歪みが緩和されることを特徴とする請求項1乃至請求項20のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
- 異なる種類の膜を堆積する原料を並行に導入するための、少なくとも2つの制御可能な前記インジェクションユニット(5)を有することを特徴とする請求項1乃至請求項21のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
- 前記第1の原料及び/又は前記第2の原料の複数のパルス状の吐出によって時間的に平均された流量が、シリコンとゲルマニウムの重量比率が基板上に堆積される膜内において膜厚方向に変化するように、連続的又はステップ状に調節されることを特徴とする請求項1乃至請求項22のいずれか1項に記載の膜の堆積方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102004034103A DE102004034103A1 (de) | 2003-09-17 | 2004-07-15 | Verfahren zur Abscheidung von Silizium und Germanium enthaltenen Schichten und Schichtfolgen unter Verwendung von nicht-kontinuierlicher Injektion von flüssigen und gelösten Ausgangssubstanzen über eine Mehrkanalinjektionseinheit |
PCT/EP2005/050756 WO2006005637A1 (de) | 2004-07-15 | 2005-02-22 | Verfahren zur abscheidung von silizium und germanium enthaltenden schichten |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008506617A JP2008506617A (ja) | 2008-03-06 |
JP2008506617A5 true JP2008506617A5 (ja) | 2012-11-29 |
Family
ID=34961201
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007520787A Pending JP2008506617A (ja) | 2004-07-15 | 2005-02-22 | SiとGeを含有する膜の堆積方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1774056B1 (ja) |
JP (1) | JP2008506617A (ja) |
KR (1) | KR20070037503A (ja) |
TW (1) | TWI390073B (ja) |
WO (1) | WO2006005637A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101106480B1 (ko) * | 2009-06-12 | 2012-01-20 | 한국철강 주식회사 | 광기전력 장치의 제조 방법 |
JP5650234B2 (ja) * | 2009-11-16 | 2015-01-07 | エフ・イ−・アイ・カンパニー | ビーム処理システムに対するガス送達 |
US11830734B2 (en) | 2021-05-19 | 2023-11-28 | Applied Materials, Inc. | Thermal deposition of silicon-germanium |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL8702096A (nl) * | 1987-09-04 | 1989-04-03 | Stichting Katholieke Univ | Werkwijze en inrichting voor het mengen van gassen en het met behulp van een gasmengsel epitactisch vervaardigen van halfgeleiderproducten. |
JP3149223B2 (ja) * | 1991-10-07 | 2001-03-26 | 東京エレクトロン株式会社 | 成膜方法 |
US6306211B1 (en) * | 1999-03-23 | 2001-10-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method for growing semiconductor film and method for fabricating semiconductor device |
DE10007059A1 (de) * | 2000-02-16 | 2001-08-23 | Aixtron Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von beschichteten Substraten mittels Kondensationsbeschichtung |
WO2001066832A2 (en) * | 2000-03-07 | 2001-09-13 | Asm America, Inc. | Graded thin films |
DE10057491A1 (de) * | 2000-11-20 | 2002-05-23 | Aixtron Ag | Vorrichtung und Verfahren zum Zuführen eines in die Gasform gebrachten flüssigen Ausgangsstoffes in einen CVD-Reaktor |
JP2002175987A (ja) * | 2000-12-05 | 2002-06-21 | Ngk Insulators Ltd | 液体原料供給装置 |
DE10114956C2 (de) * | 2001-03-27 | 2003-06-18 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zum Herstellen einer dielektrischen Schicht als Isolatorschicht für einen Grabenkondensator |
JP3985519B2 (ja) * | 2001-12-27 | 2007-10-03 | 株式会社Sumco | 半導体基板及び電界効果型トランジスタ並びにこれらの製造方法 |
DE10156932A1 (de) * | 2001-11-20 | 2003-05-28 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zur Abscheidung dünner Praseodymoxid-Schichten mittels ALD/CVD-Verfahren |
US20030111013A1 (en) * | 2001-12-19 | 2003-06-19 | Oosterlaken Theodorus Gerardus Maria | Method for the deposition of silicon germanium layers |
JP3719998B2 (ja) * | 2002-04-01 | 2005-11-24 | 松下電器産業株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
GB0212616D0 (en) * | 2002-05-31 | 2002-07-10 | Univ Warwick | Formation of lattice-tuning semiconductor substrates |
JP2004039735A (ja) * | 2002-07-01 | 2004-02-05 | Fujitsu Ltd | 半導体基板及びその製造方法 |
JP4195808B2 (ja) * | 2002-11-05 | 2008-12-17 | 日本パイオニクス株式会社 | 気化器 |
JP2004179649A (ja) * | 2002-11-12 | 2004-06-24 | Sony Corp | 超薄型半導体装置の製造方法および製造装置 |
JP4714422B2 (ja) * | 2003-04-05 | 2011-06-29 | ローム・アンド・ハース・エレクトロニック・マテリアルズ,エル.エル.シー. | ゲルマニウムを含有するフィルムを堆積させる方法、及び蒸気送達装置 |
-
2005
- 2005-02-22 EP EP05716765A patent/EP1774056B1/de active Active
- 2005-02-22 JP JP2007520787A patent/JP2008506617A/ja active Pending
- 2005-02-22 WO PCT/EP2005/050756 patent/WO2006005637A1/de active Application Filing
- 2005-02-22 KR KR1020077002899A patent/KR20070037503A/ko not_active Application Discontinuation
- 2005-03-15 TW TW094107777A patent/TWI390073B/zh active
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