JP2008268841A - 液晶装置、液晶装置の製造方法および電子機器 - Google Patents

液晶装置、液晶装置の製造方法および電子機器 Download PDF

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Abstract

【課題】電極層の電気的抵抗を増大させることなく、ラビング不良の発生を抑制することのできるFFSモードの液晶装置を提供すること。
【解決手段】液晶装置100の素子基板10上には、薄膜トランジスタ30の上層側が有機平坦化膜からなる層間絶縁膜6で覆われ、層間絶縁膜6の上層には、共通電極9aがベタの電極層として形成されている。共通電極9aの上層には電極間絶縁膜8が形成され、その上には、スリット状の間隙部7bを有する画素電極7aが形成されている。ベタに形成された共通電極9aと比較して、スリット状の間隙部7bが形成されている画素電極7aは膜厚が薄いので、ラビング処理を好適に行うことができる。
【選択図】図3

Description

本発明は、液晶装置にかかわり、特に、いわゆるフリンジフィールドスイッチング(以下、FFS(Fringe Field Switching)という)モードの液晶装置に代表される素子基板に、画素電極と共通電極の双方を具備する液晶装置に好適に適用される技術に関するものである。また、その液晶装置の製造方法、および液晶装置を適用した電子機器に関するものである。
各種の液晶装置のうち、FFSモードの液晶装置は、素子基板および対向基板のうち、素子基板に画素電極と、電極間絶縁膜と、間隙部が形成された共通電極とを積層し、画素電極と共通電極とに印加された電場により液晶を駆動する(特許文献1参照)。
特開2001−235763号公報
このようなFFSモードの液晶装置において、画素スイッチング素子として、アモルファスシリコン膜を用いたボトムゲート構造の薄膜トランジスタを用い、この薄膜トランジスタのドレイン電極に直接、重なるように画素電極を形成すると、画素電極がデータ線と同一の層間に形成されているため、画素電極をデータ線から離間させる必要があり、画素電極の形成領域が狭いという問題点がある。
そこで、本願出願人は、図7(a)に示すように、画素スイッチング素子としての薄膜トランジスタ30を覆うように層間絶縁膜6を形成し、この層間絶縁膜6のコンタクトホール6aおよびドレイン電極5bを介して、画素電極7aを薄膜トランジスタ30のドレイン領域1dに電気的に接続することを提案する。図7(a)に示す例は、本願発明と対比するために本願発明者が案出したものであり、画素電極7aの上層には、電極間絶縁膜8、スリット状の間隙部9bが形成された共通電極9a、および配向膜16が順に形成されている。画素電極7aおよび共通電極9aはいずれも、膜厚が100nm〜200nmで同一厚のITO(Indium Tin Oxide)膜によって構成されている。このような構成によれば、画素電極7aをデータ線5aに近接する位置まで形成でき、画素電極7aの形成領域を広げることができるという利点がある。
このような構成の素子基板10を用いて液晶装置を製造するには、図7(b)に示すように、共通電極9aの表面側にポリイミド樹脂などからなる配向膜16を形成した後、ラビングローラ40などを用いて配向膜16の表面を擦るラビング処理を行い、電場が印加されていない状態における液晶分子の配向を制御する。このようなラビング処理を配向膜16の表面全体に均一に行うには、配向膜16の表面が平坦であることが好ましいので、層間絶縁膜6については有機平坦化膜を用いることが好ましい。
しかしながら、図7(a)、図7(b)に示す構成でラビング処理を行うと、共通電極9aの間隙部9bの内側において、共通電極9aに対してラビングローラの進行方向側では、共通電極9aの厚さに起因する大きな段差が原因でラビング不良16aが広い範囲にわたって発生するという問題点があり、このようなラビング不良16aは、コントラストの低下などといった表示画像の品位を低下させる原因となる。かといって、共通電極9および画素電極7aの膜厚を薄くとすると、共通電極9aの電気的抵抗が増大し、かかる電気的抵抗の増大は、画像内に輝度むらなどを発生させる原因となる。
上記のラビング不良の他、共通電極9aの厚みが大きいと、段差自体に起因して配向不良が生じたり、又は、画素内における共通電極9aが形成される領域と、スリット状間隙部9bとにおける液晶層の厚み変化に起因して表示のコントラストが低下するといったおそれもある。
上記課題は、電極間絶縁膜8上に共通電極9aを形成する場合に限られず、電極間絶縁膜8上に画素電極7aを形成する場合においても同様に生じる。
以上の問題点に鑑みて、本発明の課題は、電極層の電気的抵抗を増大させることなく、電極間絶縁膜8上に形成する電極の厚みに起因する表示不良の発生を抑制することのできる液晶装置を提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明に係る液晶装置では、複数の画素を備えてなり、各前記画素に対応してスイッチング素子が設けられてなる液晶装置において、前記スイッチング素子が形成されてなる素子基板と、前記スイッチング素子を上に形成された層間絶縁膜と、前記層間絶縁膜上に形成される第1の電極層と、前記素子基板に形成されており、電極間絶縁膜を介して前記第1電極と平面的に重なる第2の電極層と、を具備し、各前記画素は、前記第1電極と前記第2の電極層とが平面的に重なる第1領域と、前記第1電極および前記第2の電極層のうち前記第1の電極層のみが形成されてなる第2領域と、を含んでなり、前記第2の電極層の膜厚が前記第1の電極層の膜厚より薄いことを特徴とする。
そして、前記素子基板が配向処理されてなることを特徴とする。配向処理の一例としては、第2の電極層上にポリイミド樹脂などからなる配向膜を形成した後、ラビングローラなどを用いて配向膜の表面を擦るラビング処理を行う。本発明によれば、第1領域と第2領域との境界において前記配向膜に段差が形成されるものの、第1の電極層より第2の電極層の膜厚を薄く設定しているので、第2の電極層の厚さに起因する段部が低いので、ラビング不良の発生を防止でき、ラビング不良が発生した場合でも、その領域が極めて狭い。それ故、ラビング不良に起因するコントラスト低下などを防止できる。
本発明の効果は、上述したラビング処理を行う場合において最も顕著であるが、他の配向処理方法、例えば、感光性の高分子膜に光を斜め方向から照射する方法や、斜方蒸着膜による配向処理方法等においても、素子基板上に形成されてしまう段差を低く抑えることによって、液晶の配向不良を低減することができる。
本発明は、第1の電極層と第2の電極層との膜厚バランスを適正化したものであり、単に第1の電極層および第2の電極層の双方の膜厚を薄くしたものではないため、第1の電極層および第2の電極層を合わせた全体の電気的抵抗が増大することがない。従って、画像内に輝度むらなどを発生させることもない。それ故、本発明によれば、品位の高い画像を表示することができる。
本発明においては、第1の電極層および第2の電極層のいずれか一方がスイッチング素子に接続された画素電極であり、他方が前記複数の画素に跨って形成されてなる共通電極である構成を採用できる。特に、第1の電極層が前記共通電極であり、第2の電極層が画素電極であると好ましい。なぜならば、共通電極の膜厚を厚くすることで、電気的抵抗の増大が輝度むらなどとして顕在化しやすい共通電極の電気的抵抗を低くすることができるので、画像内に輝度むらなどを発生させることがない。
本発明において、第2領域は、第2の電極層に設けられた開口またはスリットにより構成されてなることを特徴とする。
本発明において、層間絶縁膜が有機物質を含む平坦化膜であることを特徴とする。このように構成すると、配向膜の表面が平坦になるので、ラビング処理を全面に均一に行うことができる。
本発明において、第1の電極層および第2の電極層を構成する材料の比抵抗率がほぼ等しいことを特徴とする。本発明では、第2の電極層を薄く、第1の電極層の膜厚を厚くすることで、第2電極の厚みに起因する段差を低くするとともに、電極層全体としての電気抵抗の増大を防止している。従って、第1の電極層の比抵抗率と第2の電極層の比抵抗率が近似している場合に本発明の効果が顕著となる。最も好ましくは、第1の電極層と第2の電極層とを共に同じ材料で形成するとよい。第1の電極層と第2の電極層とを異なる材料で形成した場合においても、第1の電極層の比抵抗率と第2の電極層の比抵抗率との差が5×10E−4Ω・cm以下であれば、本発明の構成による、電極膜厚および電気抵抗の調整が有効である。第1の電極層又は第2の電極層の具体的な組あわせととしては、例えばITO、IZO、ZnO、In23−ZnO等が考えられる。
本発明の液晶装置の製造方法は、複数の画素を備えてなり、各前記画素に対応してスイッチング素子が設けられてなる液晶装置を製造する方法において、前記素子基板に前記スイッチング素子を形成する工程と、前記スイッチング素子上に層間絶縁膜を形成する工程と、前記層間絶縁膜上に第1の電極層を形成する工程と、前記素子基板に、電極間絶縁膜を介して前記第1の電極層と平面的に重なる第2の電極層を形成する工程と、を具備し、前記第2の電極層を形成する工程においては、前記第2の電極層に開口又はスリットを形成するとともに、前記第2の電極層の膜厚が前記第1の電極の膜厚より薄くなるよう前記第2の電極層を形成することを特徴とする。
上記の液晶装置の製造方法においては、前記第2の電極上に配向膜を形成する工程と、前記配向膜をラビング処理する工程と、を更に含んでなると好ましい。
本発明を適用した液晶装置は、携帯電話機あるいはモバイルコンピュータなどの電子機器の表示部などとして用いられる。
以下、本発明の実施の形態を説明する。なお、以下の説明では、図7に示す構成との対応を分かりやすくするため、共通する機能を有する部分については同一の符号を付して説明する。また、以下の説明で参照する図においては、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異ならしめてある。また、カラーフィルタなどの図示は省略してある。
[実施の形態1]
(全体構成)
図1(a)、図1(b)は各々、本発明を適用した液晶装置をその上に形成された各構成要素と共に対向基板の側から見た平面図、およびそのH−H’断面図である。
図1(a)、図1(b)において、本形態の液晶装置100は、透過型のアクティブマトリクス型液晶装置であり、素子基板10の上には、シール材107が対向基板20の縁に沿うように設けられている。素子基板10において、シール材107の外側の領域には、データ線駆動回路101および実装端子102が素子基板10の一辺に沿って設けられており、実装端子102が配列された辺に隣接する2辺に沿っては、走査線駆動回路104が形成されている。さらに、額縁108の下などを利用して、プリチャージ回路や検査回路などの周辺回路が設けられることもある。対向基板20は、シール材107とほぼ同じ輪郭を備えており、このシール材107によって対向基板20が素子基板10に固着されている。そして、素子基板10と対向基板20との間に液晶50が保持されている。
詳しくは後述するが、素子基板10には、画素電極7aがマトリクス状に形成されている。これに対して、対向基板20には、シール材107の内側領域に遮光性材料からなる額縁108が形成され、その内側が画像表示領域10aとされている。対向基板20では、素子基板10の画素電極7aの縦横の境界領域と対向する領域にブラックマトリクス、あるいはブラックストライプなどと称せられる遮光膜23が形成されることもある。
本形態の液晶装置100は、液晶50をFFSモードで駆動する。このため、素子基板10の上には、画素電極7aに加えて、後述する共通電極(図1(b)には図示せず)も形成されており、対向基板20には対向電極が形成されていない。
(液晶装置100の詳細な構成)
図2を参照して、本発明を適用した液晶装置100およびそれに用いた素子基板の構成を説明する。図2は、本発明を適用した液晶装置100に用いた素子基板10の画像表示領域10aの電気的な構成を示す等価回路図である。
図2に示すように、液晶装置100の画像表示領域10aには複数の画素100aがマトリクス状に形成されている。複数の画素100aの各々には、画素電極7a、および画素電極7aを制御するための画素スイッチング用の薄膜トランジスタ30が形成されており、データ信号(画像信号)を線順次で供給するデータ線5aが薄膜トランジスタ30のソースに電気的に接続されている。薄膜トランジスタ30のゲートには走査線3aが電気的に接続されており、所定のタイミングで、走査線3aに走査信号を線順次で印加するように構成されている。画素電極7aは、薄膜トランジスタ30のドレインに電気的に接続されており、薄膜トランジスタ30を一定期間だけそのオン状態とすることにより、データ線5aから供給されるデータ信号を各画素100aに所定のタイミングで書き込む。このようにして画素電極7aを介して、図1(b)に示す液晶50に書き込まれた所定レベルの画素信号は、素子基板10に形成された共通電極9aとの間で一定期間保持される。ここで、画素電極7aと共通電極9aとの間には保持容量60が形成されており、画素電極7aの電圧は、例えば、ソース電圧が印加された時間よりも3桁も長い時間だけ保持される。これにより、電荷の保持特性は改善され、コントラスト比の高い表示を行うことのできる液晶装置100が実現できる。
図2では、共通電極9aが走査線駆動回路104から延びた配線のように示してあるが、素子基板10の画像表示領域10aの略全面に形成されており、所定の電位に保持される。
(各画素の詳細な構成)
図3(a)、図3(b)は各々、本発明を適用した液晶装置100の画素1つ分の断面図、および素子基板10において相隣接する画素の平面図であり、図3(a)は、図3(b)のA−A’線に相当する位置で液晶装置100を切断したときの断面図に相当する。また、図3(b)では、画素電極7aは長い点線で示し、データ線5aおよびそれと同時形成された薄膜は一点鎖線で示し、走査線3aは二点鎖線で示し、共通電極9aにおいて部分的に除去された部分は実線で示してある。なお、図3(a)において、対向基板20については、遮光膜23およびカラーフィルタの図示を省略してある。
図3(a)、図3(b)に示すように、素子基板10上には、マトリクス状に複数の透明な画素電極7a(長い点線で囲まれた領域)が各画素100a毎に形成され、画素電極7aの縦横の境界領域に沿ってデータ線5a(一点鎖線で示す)、および走査線3a(二点鎖線で示す)が形成されている。また、素子基板10の画像表示領域10aの略全面にはITO膜からなる共通電極9aが形成されている。本形態において、共通電極9aはベタに形成されている一方、画素電極7aには、スリット状の間隙部7b(長い点線で示す)が複数、形成されており、間隙部7bにおいては共通電極9aは画素電極7aに重なっていない。本形態において、複数の間隙部7bは、走査線3aの延設方向に斜めに形成されており、複数の間隙部7b同士は平行に延びている。
図3(a)に示す素子基板10の基体は、石英基板や耐熱性のガラス基板などの透明基板10bからなり、対向基板20の基体は、石英基板や耐熱性のガラス基板などの透明基板20bからなる。本形態では、透明基板10b,20bのいずれについてもガラス基板が用いられている。対向基板20では、その全面に配向膜26が形成されているが、TNモードの液晶装置と違って、対向電極は形成されていない。
再び図3(a)、図3(b)において、素子基板10には、透明基板10bの表面にシリコン酸化膜などからなる下地保護膜(図示せず)が形成されているとともに、その表面側において、各画素電極7aに隣接する位置にトップゲート構造の薄膜トランジスタ30が形成されている。図3(a)、図3(b)に示すように、薄膜トランジスタ30は、島状の半導体膜1aに対して、チャネル形成領域1b、ソース領域1c、ドレイン領域1dが形成された構造を備えており、チャネル形成領域1bの両側に低濃度領域を備えたLDD(Lightly Doped Drain)構造を有するように形成されることもある。本形態において、半導体膜1aは、素子基板10に対してアモルファスシリコン膜を形成した後、レーザアニールやランプアニールなどにより多結晶化されたポリシリコン膜である。
半導体膜1aの上層には、シリコン酸化膜、シリコン窒化膜、あるいはそれらの積層膜からなるゲート絶縁膜2が形成され、ゲート絶縁膜2の上層には、走査線3aの一部がゲート電極として重なっている。本形態では、半導体膜1aがコの字形状に屈曲しおり、ゲート電極がチャネル方向における2箇所に形成されたツインゲート構造を有している。
ゲート電極(走査線3a)の上層にはシリコン酸化膜、シリコン窒化膜、あるいはそれらの積層膜からなる層間絶縁膜4が形成されている。層間絶縁膜4の表面にはデータ線5aが形成され、このデータ線5aは、層間絶縁膜4に形成されたコンタクトホール4aを介して最もデータ線5a側に位置するソース領域に電気的に接続している。また、層間絶縁膜4の表面にはドレイン電極5bが形成されており、ドレイン電極5bは、データ線5aと同時形成された導電膜である。ドレイン電極5bは、層間絶縁膜4に形成されたコンタクトホール4bを介してドレイン領域1dに電気的に接続している。
データ線5aおよびドレイン電極5bの上層側には、層間絶縁膜6が形成されている。本形態において、層間絶縁膜6は、厚さが1.5μm〜2.0μmの厚い感光性樹脂からなる平坦化膜(有機平坦化膜)として形成されている。
層間絶縁膜6の表面には、その全面にわたって下層側電極層としての共通電極9aがベタのITO膜によって形成されている。共通電極97aの表面には電極間絶縁膜8が形成されている。本形態において、電極間絶縁膜8は、膜厚が400nm以下のシリコン酸化膜あるいはシリコン窒化膜からなる。
電極間絶縁膜8の上層には、上層側電極層としての画素電極7aがITO膜によって形成されており、画素電極7aの表面側には配向膜16が形成されている。画素電極7aには、前述のスリット状の間隙部7bが形成されている。このように構成した状態で、共通電極9aと画素電極7aとは電極間絶縁膜8を介して対向し、電極間絶縁膜8を誘電体膜とする保持容量60が形成されている。
ここで、画素電極7aは、層間絶縁膜6に形成されたコンタクトホール6aを介してドレイン電極6bに電気的に接続されている。このため、共通電極9aには、コンタクトホール6aが形成されている部分に矩形の切り欠き9dが形成されている。
このように構成した液晶装置1では、画素電極7aと共通電極9aとの間に形成された横電界によって、スリット状の間隙部7b、およびその周辺で液晶50を駆動することができ、画像を表示することができる。
(電極層の構成、および本形態の主な効果)
このような構成の素子基板10を用いて液晶装置1を製造するには、図4に示すように、画素電極7aの表面側にポリイミド樹脂などからなる配向膜16を形成した後、ラビングローラ40などを用いて配向膜16の表面を擦るラビング処理を行い、電場が印加されていない状態における液晶分子の配向を制御する。このようなラビング処理を配向膜16の表面全体に均一に行うには、配向膜16の表面が平坦であることが好ましいので、層間絶縁膜6については有機平坦化膜が用いられている。
ここで、下層側電極層としての共通電極9aは、膜厚が50nm〜200nmのITO膜によってベタの電極層として形成され、上層側電極層としての画素電極7aは、膜厚が30nm〜100nmのITO膜によって、スリット状の間隙部7bを有する電極層として構成されており、共通電極9aの膜厚と画素電極7aの膜厚とは、以下の関係、
画素電極7a(上層側電極層)<共通電極9a(下層側電極層)
を有する。すなわち、ベタに形成された共通電極9aと比較して、スリット状の間隙部7bが形成されている画素電極7aの膜厚が薄い。
従って、ラビング処理を行った際、画素電極7aの間隙部7bの内側において、画素電極7aに対してラビングローラの進行方向側では、画素電極7aの厚さに起因する段差によって陰になる部分でラビング不良16aが発生するおそれがあるが、本形態では、スリット状の間隙部7bが形成された画素電極7aの膜厚が薄い。このため、ラビング不良16aが発生した場合でも、極めて狭い領域に発生するだけである。それ故、コントラストの低下などが発生せず、表示画像の品位を向上させることができる。
また、本形態においては、画素電極7aの膜厚を薄くした分、共通電極9aの膜厚が厚い。このため、画素電極7aおよび共通電極9aの全体としての電気的抵抗は低いレベルが維持されている。特に、共通電極9aは複数の画素にわたって形成されているため、電気的抵抗が問題となりやすいが、本形態では、共通電極9aの膜厚を厚くしたので、共通電極9aの電気的抵抗は従来より低い。それ故、画像内に輝度むらなどを発生するのを確実に防止することができる。
本実施の形態では、画素電極7aを薄くしたことに起因する画像の輝度ムラを防止するには、共通電極の厚みを厚くして、画素電極7aと、共通電極9aとの合計の電気抵抗が大きくなるようにしている。本実施の形態においては、画素電極7a、共通電極9a共にITO膜を用いたが、ITO膜にかえて、IZO等の透明導電膜を画素電極7a、共通電極9aとして使用してもよい。また、画素電極7a、共通電極9aとで各々異なる材料からなる導電膜を用いることもできる。その場合、画素電極7aおよび共通電極9aのそれぞれに用いる材料の比抵抗率の差の絶対値が5×10E−4Ω・cm以下となる材料を選択することで、電気抵抗の合計値を理想的に調整した上で、「画素電極7aの膜厚<共通電極9a」の構成が実現する。
[実施の形態2]
図5(a)、図5(b)は各々、本発明の実施の形態2に係る液晶装置100の画素1つ分の断面図、および素子基板10において相隣接する画素の平面図であり、図5(a)は、図3(b)のB−B’線に相当する位置で液晶装置100を切断したときの断面図に相当する。なお、本形態の基本的な構成は、実施の形態1と同様であるため、共通する部分には同一の符号を付してそれらの説明を省略する。
図5(b)に示すように、素子基板10上には、マトリクス状に複数の透明な画素電極7a(長い点線で囲まれた領域)が各画素100a毎に形成され、画素電極7aの縦横の境界領域に沿ってデータ線5a(一点鎖線で示す)、および走査線3a(二点鎖線で示す)が形成されている。また、素子基板10の画像表示領域10aの略全面にはITO膜からなる共通電極9aが形成されている。本形態において、画素電極7aはベタに形成されている一方、共通電極9aには、スリット状の間隙部9bは、走査線3aの延設方向に斜めに形成されており、複数のスリット状の間隙部9b同士は平行に延びている。
図5(a)、図5(b)に示すように、素子基板10では、薄膜トランジスタ30の上層側が有機平坦化膜からなる層間絶縁膜6で覆われ、層間絶縁膜6の表面には、下層側電極層としての画素電極7aがITO膜によってベタに形成されている。また、画素電極7aの表面には電極間絶縁膜8が形成されている。
電極間絶縁膜8の上層には、上層側電極層としての共通電極9aがITO膜によって形成されており、共通電極9aには、前述のスリット状の間隙部9bが形成されている。スリット状の間隙部9bにおいては、画素電極7aは共通電極9aに重ならない。画素内において、スリット状の間隙部9bの占める割合は、20%〜60%である。
このような構成の素子基板10を用いて液晶装置1を製造するには、図4を参照して説明した構成と略同様に、共通電極9aの表面側にポリイミド樹脂などからなる配向膜16を形成した後、ラビングローラ40などを用いて配向膜16の表面を擦るラビング処理を行い、電場が印加されていない状態における液晶分子の配向を制御する。このようなラビング処理を配向膜16の表面全体に均一に行うには、配向膜16の表面が平坦であることが好ましいので、層間絶縁膜6については有機平坦化膜が用いられている。
ここで、下層側電極層としての画素電極7aは、膜厚が50nm〜200nmのITO膜によってベタの電極層として形成され、上層側電極層としての共通電極9aは、膜厚が30nm〜100nmのITO膜によって、スリット状の間隙部9bを有する電極層として構成されており、共通電極9aの膜厚と画素電極7aの膜厚とは、以下の関係、
共通電極9a(上層側電極層)<画素電極7a(下層側電極層)
を有する。すなわち、ベタに形成された画素電極7aと比較して、スリット状の間隙部9bが形成されている共通電極9aの膜厚が薄い。
従って、ラビング処理を行った際、共通電極9aのスリット状の間隙部9bの内側において、共通電極9aに対してラビングローラ40の進行方向側では、共通電極9aの厚さに起因する段差によってラビング不良16aが発生するおそれがあるが、本形態では、スリット状の間隙部9bが形成された共通電極9aの膜厚が薄い。このため、ラビング不良16aが発生した場合でも、極めて狭い領域に発生するだけである。それ故、コントラストの低下などが発生せず、表示画像の品位を向上させることができる。
また、本形態においては、共通電極9aの膜厚を薄くした分、画素電極7aの膜厚が厚い。このため、画素電極7aおよび共通電極9aの全体としての電気的抵抗は低いレベルが維持されている。
本実施の形態では、画素電極7aを薄くしたことに起因する画像の輝度ムラを防止するには、共通電極の厚みを厚くして、画素電極7aと、共通電極9aとの合計の電気抵抗が大きくなるようにしている。本実施の形態においては、画素電極7a、共通電極9a共にITO膜を用いたが、ITO膜にかえて、IZO等の透明導電膜を画素電極7a、共通電極9aとして使用してもよい。また、画素電極7a、共通電極9aとで各々異なる材料からなる導電膜を用いることもできる。その場合、画素電極7aおよび共通電極9aのそれぞれに用いる材料の比抵抗率の差が5×10E−4Ω・cm以下となる材料を選択することで、電気抵抗の合計値を理想的に調整した上で、「画素電極7aの膜厚<共通電極9a」の構成が実現する。
[他の実施の形態]
なお、実施の形態1、実施の形態2では、間隙部を形成するにあたって、スリット状の開口部を形成したが、画素電極を櫛歯形状、あるいは魚の骨形状にして間隙部を設けた液晶装置に本発明を適用してもよい。
また、実施の形態1、実施の形態2では、半導体膜としてポリシコン膜を用いた例であったが、アモルファスシリコン膜や単結晶シリコン層を用いた素子基板10に本発明を適用してもよい。また、画素スイッチング素子として薄膜ダイオード素子(非線形素子)を用いた液晶装置に本発明を適用してもよい。
[電子機器への搭載例]
次に、上述した実施形態に係る液晶装置100を適用した電子機器について説明する。図6(a)に、液晶装置100を備えたモバイル型のパーソナルコンピュータの構成を示す。パーソナルコンピュータ2000は、表示ユニットとしての液晶装置100と本体部2010を備える。本体部2010には、電源スイッチ2001及びキーボード2002が設けられている。図6(b)に、液晶装置100を備えた携帯電話機の構成を示す。携帯電話機3000は、複数の操作ボタン3001及びスクロールボタン3002、並びに表示ユニットとしての液晶装置100を備える。スクロールボタン3002を操作することによって、液晶装置100に表示される画面がスクロールされる。図6(c)に、液晶装置100を適用した情報携帯端末(PDA:Personal Digital Assistants)の構成を示す。情報携帯端末4000は、複数の操作ボタン4001及び電源スイッチ4002、並びに表示ユニットとしての液晶装置100を備える。電源スイッチ4002を操作すると、住所録やスケジュール帳といった各種の情報が液晶装置100に表示される。
なお、液晶装置100が適用される電子機器としては、図6に示すものの他、デジタルスチルカメラ、液晶テレビ、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルを備えた機器等などが挙げられる。そして、これらの各種電子機器の表示部として、前述した液晶装置100が適用可能である。
(a)、(b)は各々、本発明を適用した液晶装置をその上に形成された各構成要素と共に対向基板の側から見た平面図、およびそのH−H’断面図。 本発明を適用した液晶装置に用いた素子基板の画像表示領域の電気的な構成を示す等価回路図。 (a)、(b)は各々、本発明の実施の形態1に係る液晶装置の画素1つ分の断面図、および素子基板において相隣接する画素の平面図。 本発明を適用した液晶装置を製造する際のラビング処理の様子を模式的に示す説明図。 (a)、(b)は各々、本発明の実施の形態2に係る液晶装置の画素1つ分の断面図、および素子基板において相隣接する画素の平面図。 本発明に係る液晶装置を用いた電子機器の説明図。 従来の液晶装置の画素1つ分の断面図、およびこの液晶装置を製造する際のラビング処理の様子を模式的に示す説明図。
符号の説明
1a…半導体膜、3a…走査線、4…層間絶縁膜、6…有機平坦化膜としての層間絶縁膜、6a…コンタクトホール、5a…データ線、5b…ドレイン電極、7a…画素電極、7b…画素電極のスリット状の間隙部、8…電極間絶縁膜、9a…共通電極、9b…スリット状の間隙部、10…素子基板、20…対向基板、30…画素スイッチング素子としての薄膜トランジスタ、50…液晶、60…保持容量、100…液晶装置、100a…画素。

Claims (11)

  1. 複数の画素を備えてなり、各前記画素に対応してスイッチング素子が設けられてなる液晶装置において、
    前記スイッチング素子が形成されてなる素子基板と、
    前記スイッチング素子を上に形成された層間絶縁膜と、
    前記層間絶縁膜上に形成される第1の電極層と、
    前記素子基板に形成されており、電極間絶縁膜を介して前記第1電極と平面的に重なる第2の電極層と、を具備し、
    各前記画素は、前記第1電極と前記第2の電極層とが平面的に重なる第1領域と、前記第1電極および前記第2の電極層のうち前記第1の電極層のみが形成されてなる第2領域と、を含んでなり、
    前記第2の電極層の膜厚が前記第1の電極層の膜厚より薄いことを特徴とする液晶装置。
  2. 前記素子基板が配向処理されてなることを特徴とする請求項1に記載の液晶装置。
  3. 前記第2の電極層上に配向膜が形成されてなり、前記第1領域と前記第2領域との境界において前記配向膜に段差が形成されてなることを特徴とする請求項2に記載の液晶装置。
  4. 前記第1の電極層および前記第2の電極層のいずれか一方が前記スイッチング素子に接続された画素電極であり、他方が前記複数の画素に跨って形成されてなる共通電極であることを特徴とする請求項1に記載の液晶装置。
  5. 前記第1の電極層が前記共通電極であり、前記第2の電極層が前記画素電極であることを特徴とする請求項4に記載の液晶装置。
  6. 前記第2領域は、前記第2の電極層に設けられた開口またはスリットにより構成されてなることを特徴とする請求項1に記載の液晶装置。
  7. 前記層間絶縁膜が有機物質を含む平坦化膜であることを特徴とする請求項1に記載の液晶装置。
  8. 前記第1の電極層および前記第2の電極層を構成する材料の比抵抗率の差が5×10E−4Ω・cm以下であることを特徴とする請求項1に記載の液晶装置。
  9. 複数の画素を備えてなり、各前記画素に対応してスイッチング素子が設けられてなる液晶装置を製造する方法において、
    前記素子基板に前記スイッチング素子を形成する工程と、
    前記スイッチング素子上に層間絶縁膜を形成する工程と、
    前記層間絶縁膜上に第1の電極層を形成する工程と、
    前記素子基板に、電極間絶縁膜を介して前記第1の電極層と平面的に重なる第2の電極層を形成する工程と、を具備し、
    前記第2の電極層を形成する工程においては、前記第2の電極層に開口又はスリットを形成するとともに、前記第2の電極層の膜厚が前記第1の電極の膜厚より薄くなるよう前記第2の電極層を形成することを特徴とする液晶装置の製造方法。
  10. 前記第2の電極上に配向膜を形成する工程と、
    前記配向膜をラビング処理する工程と、を更に含んでなることを特徴とする請求項9に記載の液晶装置の製造方法。
  11. 請求項1に記載の液晶装置を備えてなることを特徴とする電子機器。
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