JP2008267892A - 光画像計測装置及びそれを制御するプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】眼底観察装置1は、低コヒーレンス光L0を信号光LSと参照光LRに分割し、眼底Efを経由した信号光LSと参照ミラー174を経由した参照光LRを重畳させて干渉光LCを生成して検出し、その検出結果を基に眼底EfのOCT画像を形成する光画像計測装置である。眼底観察装置1は、眼底Efに対して信号光LSを走査する走査ユニット141と、信号光LSの一連の走査を行うときに、走査ユニット141を制御して走査間隔を変更させつつ信号光LSを走査させる制御部210とを備えている。それにより、注目部位については小さな走査間隔で高精度の画像を取得でき、他の部位については大きな走査間隔で走査時間を短縮できる。したがって、眼底Efの注目部位の高精度の画像を迅速に取得できる。
【選択図】図6
Description
まず、この発明に係る光画像計測装置の実施形態の構成について図1〜図6を参照しながら説明する。この実施形態に係る光画像計測装置は、眼科分野において使用されるものである。図1は、この発明に係る光画像計測装置としての機能を有する眼底観察装置1の全体構成の一例を表している。図2は、眼底カメラユニット1A内の走査ユニット141の構成の一例を表している。図3は、OCTユニット150の構成の一例を表している。図4は、演算制御装置200のハードウェア構成の一例を表している。図5及び図6は、眼底観察装置1の制御系の構成の一例を表している。
眼底観察装置1は、図1に示すように、眼底カメラユニット1A、OCTユニット150及び演算制御装置200を含んで構成される。眼底カメラユニット1Aは、眼底表面の2次元画像を撮影する従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有している。OCTユニット150は、光画像計測装置として機能する光学系を格納している。演算制御装置200は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。
眼底カメラユニット1Aは、光学的に取得されるデータ(撮像装置10、12により検出されるデータ)に基づいて被検眼の眼底の表面の2次元画像を形成するために用いられる。ここで、眼底の表面の2次元画像とは、眼底の表面を撮影したカラー画像やモノクロ画像、更には蛍光画像(フルオレセイン蛍光画像、インドシアニングリーン蛍光画像等)などを表す。眼底カメラユニット1Aは、従来の眼底カメラと同様に、眼底Efを照明する照明光学系100と、この照明光の眼底反射光を撮像装置10に導く撮影光学系120とを備えている。
次に、OCTユニット150の構成について図3を参照しつつ説明する。OCTユニット150は、光学的に取得されるデータ(後述のCCD184により検出されるデータ)に基づいて眼底の断層画像を形成するための装置である。
次に、演算制御装置200の構成について説明する。演算制御装置200は、OCTユニット150のCCD184から入力される検出信号を解析して、眼底Efの断層画像を形成する。このときの解析手法は、従来のフーリエドメインOCTの手法と同様である。
次に、眼底観察装置1の制御系の構成について図5及び図6を参照しつつ説明する。
眼底観察装置1の制御系は、演算制御装置200の制御部210を中心に構成される。制御部210は、マイクロプロセッサ201、RAM202、ROM203、ハードディスクドライブ204(制御プログラム204a)、通信インターフェイス209等を含んで構成される。
画像形成部220は、撮像装置10、12からの映像信号に基づいて眼底画像Ef′の画像データを形成する。また、画像形成部220は、OCTユニット150のCCD184からの検出信号に基づいて眼底Efの断層画像の画像データを形成する。
画像処理部230は、画像形成部220により形成された画像の画像データに対して各種の画像処理や解析処理を施す。たとえば、画像処理部230は、画像の輝度補正や分散補正等の各種補正処理などを実行する。
ユーザインターフェイス(User Interface;UI)240には、表示部240Aと操作部240Bが設けられている。表示部240Aは、ディスプレイ207等の表示デバイスにより構成される。また、操作部240Bは、キーボード205やマウス206などの入力デバイスや操作デバイスにより構成される。
信号光LSの走査は、前述のように、走査ユニット141のガルバノミラー141A、141Bの反射面の向きを変更することで行う。制御部210は、ミラー駆動機構241、242をそれぞれ制御することで、ガルバノミラー141A、141Bの反射面の向きをそれぞれ変更し、それにより信号光LSを眼底Ef上において走査する。
眼底観察装置1の使用形態について説明する。
図9のフローチャートを参照しつつ、眼底観察装置1の第1の使用形態を説明する。第1の使用形態は、眼底Efの画像から注目領域を自動的に抽出し、その抽出結果に基づいて走査間隔を変更しつつ信号光LSを走査させるものである。
図11のフローチャートを参照しつつ、眼底観察装置1の第2の使用形態を説明する。第2の使用形態は、オペレータが指定した眼底Efの画像中の位置に基づいて注目領域を抽出し、その抽出結果に基づいて走査間隔を変更しつつ信号光LSを走査させるものである。
図12のフローチャートを参照しつつ、眼底観察装置1の第3の使用形態を説明する。第3の使用形態は、固視位置と走査態様に基づいて注目領域を特定して抽出し、その抽出結果に基づいて走査間隔を変更しつつ信号光LSを走査させるものである。
図13のフローチャートを参照しつつ、眼底観察装置1の第4の使用形態を説明する。第4の使用形態は、オペレータが手入力で指定した注目領域を抽出し、その抽出結果に基づいて走査間隔を変更しつつ信号光LSを走査させるものである。
以上のような眼底観察装置1の作用及び効果について説明する。
以上に説明した構成は、この発明に係る光画像計測装置を好適に実施するための一例に過ぎない。よって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形を適宜に施すことが可能である。
この発明に係るプログラムについて説明する。上記の実施形態における制御プログラム204aは、この発明に係るプログラムの一例である。
1A 眼底カメラユニット
140 LCD
141 走査ユニット
141A、141B ガルバノミラー
150 OCTユニット
160 低コヒーレンス光源
162 光カプラ
174 参照ミラー
180 スペクトロメータ
184 CCD
200 演算制御装置
204a 制御プログラム
210 制御部
211 主制御部
212 記憶部
213 走査設定部
220 画像形成部
230 画像処理部
231 画像抽出部
240 ユーザインターフェイス
240A 表示部
240B 操作部
241、242 ミラー駆動機構
R 走査領域
Ri(i=1〜m) 走査線
Rij(i=1〜m、j=1〜n) 走査点
E 被検眼
Ef 眼底
Claims (14)
- 低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した前記信号光と参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記生成された干渉光を検出する検出手段と、
前記検出手段による検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する画像形成手段と、
を有する光画像計測装置であって、
前記被測定物体に対して信号光を走査する走査手段と、
信号光の一連の走査を行うときに、前記走査手段を制御し、走査間隔を変更させつつ信号光を走査させる制御手段と、
を備えることを特徴とする光画像計測装置。 - 前記被測定物体の画像中の注目領域を指定するための指定手段を更に備え、
前記制御手段は、前記指定された注目領域に対応する注目部位を含む前記被測定物体の部分領域に対する走査間隔が、前記部分領域以外の領域に対する走査間隔よりも小さくなるように、前記信号光を走査させる、
ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。 - 前記指定手段は、前記被測定物体の画像を解析して前記注目領域を抽出する抽出手段を含む、
ことを特徴とする請求項2に記載の光画像計測装置。 - 前記被測定物体は眼底であり、
前記抽出手段は、前記眼底の視神経乳頭に対応する画像位置から所定距離だけ離れた画像領域を前記注目領域として抽出する、
ことを特徴とする請求項3に記載の光画像計測装置。 - 前記被測定物体は眼底であり、
前記抽出手段は、前記眼底の黄斑部に対応する画像位置から所定距離だけ離れた画像領域を前記注目領域として抽出する、
ことを特徴とする請求項3に記載の光画像計測装置。 - 前記抽出手段は、前記眼底の画像を解析して前記画像位置を特定し、前記特定された画像位置から前記所定距離だけ離れた画像領域を前記注目領域として抽出する、
ことを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の光画像計測装置。 - 前記指定手段は、前記眼底の画像中の前記画像位置を指定するための操作手段を含み、
前記抽出手段は、該指定された前記画像位置から前記所定距離だけ離れた画像領域を前記注目領域として抽出する、
ことを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の光画像計測装置。 - 前記指定手段は、前記眼底の表面の2次元画像を前記眼底の画像として撮影する撮影手段を含む、
ことを特徴とする請求項6又は請求項7に記載の光画像計測装置。 - 前記被測定物体は被検眼であり、
2以上の固視位置のうちのいずれかに固視させるための固視標を前記被検眼に投影する投影手段と、
前記被検眼に対する前記信号光の走査パターンを指定するための走査指定手段と、
を更に備え、
前記指定手段は、前記投影手段による固視位置と該指定された走査パターンとに基づいて前記注目領域を指定する、
ことを特徴とする請求項2に記載の光画像計測装置。 - 前記指定手段は、前記注目領域を指定するための操作手段を含む、
ことを特徴とする請求項2に記載の光画像計測装置。 - 前記指定手段は、前記被測定物体の表面の2次元画像を前記被測定物体の画像として撮影する撮影手段と、前記撮影された2次元画像を表示する表示手段とを含み、
前記操作手段は、前記表示された2次元画像中に前記注目領域を指定するために用いられる、
ことを特徴とする請求項10に記載の光画像計測装置。 - 前記制御手段は、前記一連の走査における信号光の走査間隔を表す情報を記憶する記憶手段を含み、信号光の一連の走査を新たに行うときに、前記記憶された情報に基づいて信号光を走査させる、
ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。 - 前記制御手段は、前記一連の走査における信号光の走査間隔を表す情報を記憶する記憶手段を含み、
前記画像形成手段は、前記記憶された情報に基づいて前記被測定物体の3次元画像を形成する、
ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。 - 低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した前記信号光と参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記生成された干渉光を検出する検出手段と、
前記被測定物体に対して信号光を走査する走査手段と、
コンピュータと、
を有し、前記検出手段による検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する光画像計測装置を制御するプログラムであって、
信号光の一連の走査を行うときに、前記走査手段を制御し、走査間隔を変更させつつ信号光を走査させる制御手段として前記コンピュータを機能させる、
ことを特徴とするプログラム。
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