JP4996918B2 - 光画像計測装置及び光画像計測装置を制御するプログラム - Google Patents
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Description
まず、この発明に係る光画像計測装置の実施形態の構成について図1〜図7を参照しながら説明する。ここで、図1は、この発明に係る光画像計測装置としての機能を有する眼底観察装置1の全体構成の一例を表している。図2は、眼底カメラユニット1A内の走査ユニット141の構成の一例を表している。図3は、OCTユニット150の構成の一例を表している。図4は、演算制御装置200のハードウェア構成の一例を表している。図5は、眼底観察装置1の制御系の構成の一例を表している。図6は、眼底カメラユニット1Aに設けられた操作パネル3aの構成の一例を表している。図7は、演算制御装置200の制御系の構成の一例を表している。
この実施形態に係る眼底観察装置1は、図1に示すように、眼底カメラユニット1A、OCTユニット150及び演算制御装置200を含んで構成されている。眼底カメラユニット1Aは、眼底表面の2次元画像を撮影する従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有している。OCTユニット150は、光画像計測装置として機能する光学系を格納している。演算制御装置200は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。
眼底カメラユニット1Aは、光学的に取得されるデータ(撮像装置10、12により検出されるデータ)に基づいて被検眼の眼底の表面の2次元画像を形成するために用いられる。ここで、眼底の表面の2次元画像とは、眼底の表面を撮影したカラー画像やモノクロ画像、更には蛍光画像(フルオレセイン蛍光画像、インドシアニングリーン蛍光画像等)などを表す。眼底カメラユニット1Aは、従来の眼底カメラと同様に、眼底Efを照明する照明光学系100と、この照明光の眼底反射光を撮像装置10に導く撮影光学系120とを備えている。
次に、図3を参照しつつOCTユニット150の構成について説明する。OCTユニット150は、光学的に取得されるデータ(後述のCCD184により検出されるデータ)に基づいて眼底の断層画像を形成するための装置である。
次に、演算制御装置200の構成について説明する。演算制御装置200は、OCTユニット150のスペクトロメータ180のCCD184から入力される検出信号を解析して、被検眼Eの眼底Efの断層画像を形成する処理を行う。このときの解析手法は、従来のフーリエドメインOCTの手法と同様である。
次に、眼底観察装置1の制御系の構成について図5〜図7を参照しつつ説明する。図5には、眼底観察装置1が具備する構成のうち、この発明に係る動作や処理に関わる部分が特に記載されている。図6には、眼底カメラユニット1Aに設けられた操作パネル3aの構成の一例が記載されている。図7には、演算制御装置200の詳細構成が記載されている。
眼底観察装置1の制御系は、図5に示す演算制御装置200の制御部210を中心に構成される。制御部210は、マイクロプロセッサ201、RAM202、ROM203、ハードディスクドライブ204(制御プログラム204a)、通信インターフェイス209等を含んで構成される。
画像形成部220は、眼底カメラユニット1Aの撮像装置10、12からの映像信号に基づいて眼底画像の画像データを形成する処理と、OCTユニット150のCCD184からの検出信号に基づいて眼底Efの断層画像の画像データを形成する処理とを行う。
画像処理部230は、画像形成部220により形成された画像の画像データに対して各種の画像処理や解析処理を施すものである。たとえば、画像処理部230は、OCTユニット150からの検出信号に基づく断層画像に基づいて眼底Efの3次元画像の画像データを形成する処理や、画像の輝度補正や分散補正等の各種補正処理などを実行する。
信号レベル算出部232は、画像形成部220のOCT画像形成ボード208bにより形成された画像(OCT画像)を解析し、このOCT画像の信号レベルを算出する。画像の信号レベルの演算方法としては、公知の任意の手法を用いることが可能である。なお、信号レベルの算出対象となるOCT画像は、2次元の断層画像であってもよいし、1次元の深度方向の画像(後述)であってもよい。なお、信号レベルとは、OCT画像の画像データに含まれる信号成分の強度を意味し、OCT画像の画像データからノイズ成分(の少なくとも一部)を除去した後に得られる成分の強度である。この信号成分は、眼底Efの形態を反映した成分である。
信号レベル判断部233は、信号レベル算出部232により算出された信号レベルの値を所定の閾値と比較して大小関係を判断する。この閾値は、あらかじめ設定され、ハードディスクドライブ204a等に格納されている。
画像位置特定部234は、信号レベル判断部233により信号レベルが閾値を超えると判断されたOCT画像を解析し、前述のフレームにおける所定の部分画像の位置を求める。この部分画像は、たとえば、眼底Efの所定の深度位置に相当する画像である。この深度位置として、たとえば、眼底Efを構成する複数の層(神経繊維層、視細胞層、網膜色素上皮層等)のうち、OCT画像中において画素値(輝度値等)が最大となる層を用いることができる。
移動距離算出部235は、画像位置特定部234により特定された部分画像の位置に基づいて、参照ミラー174の移動距離を算出する。
ユーザインターフェイス(User Interface;UI)240には、表示部240Aと操作部240Bが設けられている。表示部240Aは、ディスプレイ207等の表示デバイスにより構成される。また、操作部240Bは、キーボード205やマウス206などの入力デバイスや操作デバイスにより構成される。
眼底カメラユニット1Aの操作パネル3aについて説明する。操作パネル3aは、たとえば、眼底カメラユニット1Aの架台(図示せず)上に配設されている。
信号光LSの走査は、前述のように、眼底カメラユニット1Aの走査ユニット141のガルバノミラー141A、141Bの位置(反射面の向き)を変更することにより行われる。制御部210は、ミラー駆動機構241、242をそれぞれ制御してガルバノミラー141A、141Bの反射面の向きをそれぞれ変更することにより、眼底Efにおける信号光LSの照射位置を走査する。
次に、画像形成部220及び画像処理部230によるOCT画像(眼底Efの断層画像)に関する処理の一例を説明する。
以上のような構成を有する眼底観察装置1の使用形態について説明する。図10に示すフローチャートは、眼底観察装置1の使用形態の一例を表している。このフローチャートに示す使用形態は、眼底Efの深度方向における計測位置の位置合わせの自動化を図るものである。
まず、制御部210は、参照ミラー駆動機構243を制御して、参照ミラー174を所定の初期位置に配置させる(S1)。この初期位置はあらかじめ設定されている。この実施形態においては、参照光LRの光路長が最短になる位置に参照ミラー174を移動させる。すなわち、参照ミラー174の移動可能範囲において最も光カプラ162側の位置に参照ミラー174を配置させる。
次に、OCT画像を取得するための計測を行う(S2)。この処理の具体例を以下に説明する。まず、制御部210は、低コヒーレンス光源160を制御して低コヒーレンス光L0を出力させるとともに、ミラー駆動機構241、242を制御して信号光LSを走査する。参照ミラー174を経由した参照光LRと眼底Efを経由した信号光LSは、光カプラ162により重畳されて干渉光LCを生成する。干渉光LCは、回折格子182により分光され、各スペクトルがCCD184により検出される。CCD184は、検出信号を演算制御装置200に送る。このような処理をたとえば一つの走査線Riについて行う(つまりn個の走査点Ri1〜Rinについて当該処理を行う。)。
続いて、画像形成部220は、CCD184から入力される検出信号に基づいてOCT画像を形成する(S3)。このとき、たとえば次のような処理を行うことにより処理時間の短縮を図ることが可能である。
次に、信号レベル算出部232は、画像形成部220により形成されたOCT画像の信号レベルを算出する(S4)。このとき、信号レベル算出部232は、たとえば、ステップ3で形成された各深度方向の画像の信号レベルを算出する。
次に、信号レベル判断部233は、信号レベル算出部232により算出された信号レベルが閾値を超えるか判断する(S5)。このとき、信号レベル判断部233は、たとえば、ステップ4で算出された各深度方向の画像の信号レベルについて閾値を超えるか判断し、全ての深度方向の画像の信号レベルが閾値を超えるときに「Y」と判断する。なお、複数の深度方向の画像のうちの所定個数の信号レベルが閾値を超えたときに「Y」と判断するようにしてもよい。
ステップ5において信号レベルが閾値以下であると判断された場合(S5;N)、制御部210は、参照ミラー駆動機構243を制御し、参照ミラー174を特定距離だけ移動させる(S6)。この特定距離はあらかじめ設定されている。
ステップ5において信号レベルが閾値を超えると判断された場合(S5;Y)、画像位置特定部234は、各OCT画像中の所定の部分画像のフレーム内における位置を特定する(S7)。
続いて、移動距離算出部235は、ステップ7で特定された部分画像のフレーム内における位置に基づいて、参照ミラー174の移動距離を算出する(S8)。
制御部210は、ステップ8で算出された移動距離だけ参照ミラー174を移動させる(S9)。それにより、当該部分画像に相当する眼底Efの深度位置と、フレーム内の特定位置とが一致することとなる。
ステップ9の参照ミラー174の移動が終了したら、制御部210は、低コヒーレンス光源160やミラー駆動機構241、242等を制御して、眼底EfのOCT画像(断層画像)の計測を行う(S10)。ステップ1〜ステップ9の処理は、眼底EfのOCT画像を取得するための準備であり、ステップ10がOCT画像の本計測である。以上で、この実施形態に係る使用形態の説明を終了する。
以上に説明した眼底観察装置1の使用形態について、図11〜図13を参照しつつ具体例を説明する。
以上のような眼底観察装置1の作用及び効果について説明する。
以上に説明した構成は、この発明に係る光画像計測装置を好適に実施するための一例に過ぎないものである。したがって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形を適宜に施すことが可能である。
この発明に係るプログラムについて説明する。上記の実施形態においては、制御プログラム204aがこの発明に係るプログラムに相当している。
1A 眼底カメラユニット
141 走査ユニット
141A、141B ガルバノミラー
150 OCTユニット
160 低コヒーレンス光源
162 光カプラ
174 参照ミラー
180 スペクトロメータ
182 回折格子
184 CCD
200 演算制御装置
204a 制御プログラム
210 制御部
220 画像形成部
230 画像処理部
231 解析部
232 信号レベル算出部
233 信号レベル判断部
234 画像位置特定部
235 移動距離算出部
240 ユーザインターフェイス
240A 表示部
240B 操作部
241、242 ミラー駆動機構
243 参照ミラー駆動機構
Gi(i=1〜m) 断層画像
Gij(i=1〜m、j=1〜n) 深度方向の画像
E 被検眼
Ef 眼底
Ef′ 眼底画像
Claims (8)
- 低コヒーレンス光を出力する光源と、
該出力された低コヒーレンス光を被測定物体に向かう信号光と参照物体に向かう参照光とに分割し、前記被測定物体を経由した信号光と前記参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記信号光と前記参照光との光路長差を変更する変更手段と、
前記生成された干渉光を検出する検出手段と、
該検出手段による検出結果に基づいて画像を形成する画像形成手段と、
該形成された画像を解析して当該画像の信号レベル又は信号レベル対ノイズレベル比を算出し、該算出された信号レベル又は信号レベル対ノイズレベル比が閾値を超えるか判断する解析手段と、
前記変更手段を制御し、前記解析手段により前記信号レベル又は信号レベル対ノイズレベル比が閾値を超えると判断されるように前記光路長差を変更させる制御手段と、
を備えることを特徴とする光画像計測装置。 - 前記制御手段は、前記解析手段により前記信号レベル又は信号レベル対ノイズレベル比が閾値以下であると判断されたときに前記光路長差を特定距離だけ変更させ、
前記解析手段は、前記光路長差が特定距離だけ変更された後に前記検出された干渉光に基づく新たな画像の信号レベル又は信号レベル対ノイズレベル比を算出し、該算出された新たな信号レベル又は信号レベル対ノイズレベル比が前記閾値を超えるか判断する、
ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。 - 前記画像形成手段は、所定のフレーム内に画像を形成し、
前記制御手段は、前記信号レベル又は信号レベル対ノイズレベル比が閾値を超えると判断された画像における前記被測定物体の所定深度位置に相当する部分画像が前記所定のフレーム内の特定位置に配置されるように前記光路長差を変更させる、
ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。 - 前記解析手段は、前記信号レベル又は信号レベル対ノイズレベル比が閾値を超えると判断された画像を解析し、前記所定のフレーム内における前記部分画像の位置を求め、該求められた位置と前記特定位置との変位を算出し、
前記制御手段は、該算出された変位に対応する距離だけ前記光路長差を変更させることにより前記部分画像を前記特定位置に配置させる、
ことを特徴とする請求項3に記載の光画像計測装置。 - 低コヒーレンス光を出力する光源と、
該出力された低コヒーレンス光を被測定物体に向かう信号光と参照物体に向かう参照光とに分割し、前記被測定物体を経由した信号光と前記参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記信号光と前記参照光との光路長差を変更する変更手段と、
前記生成された干渉光を検出する検出手段と、
該検出手段による検出結果に基づいて、所定のフレーム内に画像を形成する画像形成手段と、
前記変更手段を制御し、前記形成された画像における前記被測定物体の所定深度位置に相当する部分画像が前記所定のフレーム内の特定位置に配置されるように前記光路長差を変更させる制御手段と、
を備えることを特徴とする光画像計測装置。 - 前記参照物体は、前記参照光を反射するミラーであり、
前記変更手段は、前記参照光の進行方向に前記ミラーを移動させる駆動手段を含む、
ことを特徴とする請求項1又は請求項5に記載の光画像計測装置。 - 低コヒーレンス光を出力する光源と、
該出力された低コヒーレンス光を被測定物体に向かう信号光と参照物体に向かう参照光とに分割し、前記被測定物体を経由した信号光と前記参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記信号光と前記参照光との光路長差を変更する変更手段と、
前記生成された干渉光を検出する検出手段と、
該検出手段による検出結果に基づいて画像を形成する画像形成手段と、
を有する光画像計測装置を、
前記形成された画像を解析して当該画像の信号レベル又は信号レベル対ノイズレベル比を算出し、該算出された信号レベル又は信号レベル対ノイズレベル比が閾値を超えるか判断する解析手段として機能させ、
前記変更手段を制御し、前記解析手段により前記信号レベル又は信号レベル対ノイズレベル比が閾値を超えると判断されるように前記光路長差を変更させる制御手段として機能させる、
ことを特徴とするプログラム。 - 低コヒーレンス光を出力する光源と、
該出力された低コヒーレンス光を被測定物体に向かう信号光と参照物体に向かう参照光とに分割し、前記被測定物体を経由した信号光と前記参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記信号光と前記参照光との光路長差を変更する変更手段と、
前記生成された干渉光を検出する検出手段と、
該検出手段による検出結果に基づいて、所定のフレーム内に画像を形成する画像形成手段と、
を有する光画像計測装置を、
前記変更手段を制御し、前記形成された画像における前記被測定物体の所定深度位置に相当する部分画像が前記所定のフレーム内の特定位置に配置されるように前記光路長差を変更させる制御手段として機能させる、
ことを特徴とするプログラム。
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