JP2008258316A - 固体撮像装置およびその製造方法、電子情報機器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】半導体基板101の深さ方向に、入射光の光吸収係数の波長依存性に対応する深さにて積層されたN層の各受光部111〜113を有する固体撮像素子100が基板平面方向に2次元状で周期的に配置されており、各受光部111〜113に到達する所定深さを有し、かつ、各受光部111〜113に対して互いに異なる一基板平面方向の辺おいてのみ隣接するようにトレンチ部111a〜113aが設けられている。このトレンチ部111a〜113aの内壁は、ゲート絶縁膜141により覆われ、トレンチ部111a〜113a内に読み出しゲート電極材料が埋め込まれており、光入射面と反対側の基板表面においてトレンチ部111a〜113aに隣接し、かつ、各受光部と離隔されて蓄積拡散層161が設けられている。
【選択図】図1
Description
(実施形態1)
図1は、本発明の実施形態1に係る固体撮像装置の要部構成例を示す縦断面図である。
(実施形態2)
上記実施形態1では、図3(A)に示すように、各受光部111〜113が平面視で正方形または矩形格子状に配列された複数の画素部のそれぞれに対して、3層の各受光部111〜113を、異なる一基板平面方向の辺が中心から離れる方向に延ばされた状態(各受光部111〜113が平面視で互いに重ならないように受光領域が外側に辺と共に延ばされた状態)で形成されているが、本実施形態2では、図3(B)に示すように、各画素部がそれぞれ、平面視で六角形状で互いに半周期分ずれたハニカム状(蜂の巣性)に配置されて、3層の各受光部211〜213を、異なる一基板平面方向の辺が中心から離れる方向に延ばされた状態(各受光部211〜213が平面視で互いに重ならないように受光領域が外側に辺と共に延ばされた状態)で形成されている場合について説明する。
(実施形態3)
上記実施形態1では、R,G,Bの三原色光を検出するために3層の各受光部111〜113により積層された固体撮像素子10について説明したが、本実施形態3では、四色の光を検出するために4層に各受光部が積層された固体撮像素子を持つ固体撮像装置の場合について説明する。
(実施形態4)
本実施形態4では、被写体からの画像光を光電変換して撮像する上記実施形態1〜3の固体撮像素子100〜300の少なくともいずれかを有する固体撮像装置を、画像入力デバイスとして撮像部に設けた例えばデジタルビデオカメラおよびデジタルスチルカメラなどのデジタルカメラや、監視カメラ、ドアホンカメラ、車載カメラ、テレビジョン電話用カメラおよび携帯電話用カメラなどの画像入力カメラ、さらに、画像入力部を有するスキャナ、ファクシミリ、カメラ付き携帯電話装置などの電子情報機器について説明する。
100、200、300 固体撮像素子
101 半導体基板
111 第1受光部
112 第2受光部
113 第3受光部
121 逆導電型拡散層
122 絶縁膜
131 チャネル拡散層
132 逆導電型拡散層
133 低濃度チャネル拡散層
141 ゲート絶縁膜
151、152、153 読み出しゲート電極
161 蓄積拡散層
162 ウェル
163 増幅トランジスタ
164 リセットトランジスタ
171 ビアコンタクト
181、182、183、184 層間絶縁膜
191、192、193 配線層
211、311 第1受光部形成領域
212、312 第2受光部形成領域
213 313 第3受光部形成領域
314 第4受光部形成領域
251、351 第1受光部用の読み出しゲート電極形成領域
252、352 第2受光部用の読出しゲート電極形成領域
253、353 第3受光部用の読出しゲート電極形成領域
354 第4受光部用の読出しゲート電極形成領域
Claims (31)
- 半導体基板の深さ方向に積層された複数の受光部を有する複数の固体撮像素子が基板表面に沿った方向に周期的に配列され、入射される電磁波のうち、該半導体基板材料における光吸収係数の波長依存性により各受光部の深さに対応した波長域の電磁波が該各受光部でそれぞれ検出されて信号電荷がそれぞれ生成される固体撮像装置において、
該半導体基板の光入射面または該光入射面と反対側の基板表面から、平面視で互いに重ならない受光部の位置にそれぞれ到達する各トレンチ部がそれぞれ設けられ、該各トレンチ部にそれぞれ読み出しゲート電極が設けられ、該読み出しゲート電極の駆動時に、該複数の受光部からそれぞれ該各トレンチ部の側壁部分をそれぞれ介して、該光入射面側または、該光入射面側と反対側の基板表面部側にそれぞれ独立して電荷転送可能とする電荷転送部が設けられている固体撮像装置。 - 前記電荷転送部は、前記各トレンチ部がそれぞれ、積層された受光部の各層毎に、互いに異なる一基板平面方向においてそれぞれ隣接するように配置され、該各トレンチ部の内壁がゲート絶縁膜により覆われて、当該各トレンチ部内にそれぞれ各読み出しゲート電極材料がそれぞれ埋め込まれている請求項1に記載の固体撮像装置。
- 前記トレンチ部の側壁に、該側壁を覆うゲート絶縁膜に沿って、前記複数の受光部とは電気的極性が異なる逆導電型拡散層が設けられている請求項1または2に記載の固体撮像装置。
- 前記光入射面または該光入射面と反対側の基板表面に前記ゲート絶縁膜と隣接し、かつ、前記受光部と隔離された状態で蓄積拡散層が設けられており、前記逆導電型拡散層に、該受光部から該蓄積拡散層に信号電荷を転送するためのチャネル領域が設けられている請求項3に記載の固体撮像装置。
- 前記チャネル領域は、前記受光部とは電気的極性が異なるチャネル拡散層である請求項4に記載の固体撮像装置。
- 前記複数の受光部の形成領域と前記チャネル領域とが重なる領域には、低濃度のチャンネル拡散層が形成されている請求項4または5に記載の固体撮像装置。
- 前記光入射面と反対側の基板表面から、または、該光入射面から前記複数の受光部の各深さまでの前記トレンチ部の側面に設けられた逆導電型拡散層により、基板表面に沿った方向に隣接する固体撮像素子が互いに電気的に素子分離されている請求項3に記載の固体撮像装置。
- 前記複数の受光部がそれぞれ平面視正方形または矩形格子状であり、該複数の受光部が平面視で互いに重なる形状から、平面視で互いに重ならないように外側に延ばされた辺毎に該辺に隣接するように、前記トレンチ部が該辺に沿って互いに異なる2方向または3方向に配置されている請求項1〜7のいずれかに記載の固体撮像装置。
- 前記複数の受光部がそれぞれ六角形状でハニカム状に配置され、該複数の受光部が平面視で互いに重なる形状から、平面視で互いに重ならないように外側に延ばされた辺毎に該辺に隣接するように、前記トレンチ部が該辺に沿って互いに異なる2方向または3方向に配置されている請求項1〜7のいずれかに記載の固体撮像装置。
- 前記複数の受光部がそれぞれ平面視正方形または矩形格子状であり、該複数の受光部が平面視で互いに重なる形状から、平面視で互いに重ならないように外側に延ばされた一部辺毎に該一部辺に隣接するように、前記トレンチ部が該一部辺に沿って互いに異なる4方向に配置されている請求項1〜7のいずれかに記載の固体撮像装置。
- 前記半導体基板がエピタキシャル層を有するシリコン基板であり、前記複数の受光部がそれぞれ、互いに異なる導電型の半導体接合によりそれぞれ形成されたフォトダイオードからそれぞれなっている請求項1、2、4および7のいずれかに記載の固体撮像装置。
- 前記複数の受光部として、第1波長域の電磁波を検出する第1受光部から第N(Nは自然数)波長域の電磁波を検出する第N受光部のN個の受光部を有する請求項1および8〜11のいずれかに記載の固体撮像装置。
- 前記複数の受光部として、第1波長域の電磁波を検出する第1受光部と、第2波長域の電磁波を検出する第2受光部とを有する請求項1、8,9および11のいずれかに記載の固体撮像装置。
- 前記複数の受光部として、第1波長域の電磁波を検出する第1受光部と、第2波長域の電磁波を検出する第2受光部と、第3波長域の電磁波を検出する第3受光部とを有する請求項1、8、9および11のいずれかに記載の固体撮像装置。
- 前記複数の受光部として、第1波長域の電磁波を検出する第1受光部と、第2波長域の電磁波を検出する第2受光部と、第3波長域の電磁波を検出する第3受光部と、第4波長域の電磁波を検出する第4受光部とを有する請求項1、10および11のいずれかに記載の固体撮像装置。
- 前記半導体基板の光入射面から前記第1受光部までの深さは0.2μm以上2.0μm以下の範囲内で白色光を検出し、該光入射面から前記第2受光部までの深さは3.0μm±0.3μmの範囲内で赤外光を検出する請求項12または13に記載の固体撮像装置。
- 前記半導体基板の光入射面から前記第1受光部までの深さは0.1μm以上0.2μm以下の範囲で紫外光を検出し、該光入射面から前記第2受光部までの深さは空乏層厚として0.2μm以上2.0μmの範囲で白色光を検出する請求項12または13に記載の固体撮像装置。
- 前記半導体基板の光入射面から前記第1受光部までの深さは0.1μm以上0.2μm以下の範囲で紫外光を検出し、該光入射面から前記第2受光部までの深さは3.0μm±0.3μmの範囲内で赤外光を検出する請求項12または13に記載の固体撮像装置。
- 前記半導体基板の光入射側表面から前記第1受光部までの深さは0.1μm以上0.4μm以下の範囲内であり、該半導体基板の光入射側表面から前記第2受光部までの深さは0.4μm以上0.8μm以下の範囲内であり、該半導体基板の光入射側表面から前記第3受光部までの深さは0.8μm以上2.5μm以下の範囲内であり、三原色光を検出する請求項14に記載の固体撮像装置。
- 前記半導体基板の光入射側表面から前記第1受光部までの深さは0.1μm以上0.4μm以下の範囲内であり、該半導体基板の光入射側表面から前記第2受光部までの深さは0.3μm以上0.6μm以下の範囲内であり、該半導体基板の光入射側表面から前記第3受光部までの深さは0.4μm以上0.8μm以下の範囲内であり、該半導体基板の光入射側表面から前記第3受光部までの深さは0.8μm以上2.5μm以下の範囲内であり、三原色光とエメラルド色光を検出する請求項15に記載の固体撮像装置。
- 前記複数の固体撮像素子内にそれぞれ、該複数の固体撮像素子のうちの所定の固体撮像素子を選択して信号出力する信号出力回路が設けられ、該信号出力回路は、前記半導体基板の光入射面側とは反対側または、該光入射面側から形成された複数のトランジスタによって構成されている請求項1〜7のいずれかに記載の固体撮像装置。
- 前記複数の固体撮像素子内にそれぞれ、該複数の固体撮像素子のうちの所定の固体撮像素子を選択して信号出力する信号出力回路が設けられ、該信号出力回路を構成するトランジスタは、該固体撮像素子内の不純物拡散層ウェル内および該不純物拡散層ウェル上に設けられている請求項1〜7のいずれかに記載の固体撮像装置。
- 前記信号出力回路は、前記受光部から前記蓄積拡散層に電荷転送された信号電圧に応じて信号増幅させる増幅トランジスタと、電荷転送の前に、該蓄積拡散層の信号電圧を所定電圧にリセットするためのリセットトランジスタとを有している請求項21または22に記載の固体撮像装置。
- 前記信号出力回路からの信号出力経路は、前記半導体基板の光入射面側とは反対側に形成された配線層によって構成されている請求項21〜23のいずれかに記載の固体撮像装置。
- 前記ゲート絶縁膜は、酸化膜または高誘電体絶縁膜である請求項2〜4および11のいずれかに記載の固体撮像装置。
- 前記酸化膜は酸化シリコン膜である請求項25に記載の固体撮像装置。
- 前記高誘電体絶縁膜はハフニュウムオキサイトである請求項25に記載の固体撮像装置。
- 前記読み出しゲート電極材料はドープトシリコン材料かまたは金属材料である請求項2に記載の固体撮像装置。
- CMOS型イメージセンサまたはCCD型イメージセンサである請求項1に記載の固体撮像装置。
- 請求項1〜29のいずれかに記載の固体撮像装置が画像入力デバイスとして撮像部に設けられた電子情報機器。
- 半導体基板の深さ方向に積層された複数の受光部を有する複数の固体撮像素子が基板表面に沿った方向に周期的に配列され、入射される電磁波のうち、該半導体基板材料における光吸収係数の波長依存性により各受光部の深さに対応した波長域の電磁波が該各受光部でそれぞれ検出されて信号電荷がそれぞれ生成される固体撮像装置の製造方法において、
該半導体基板の深さ方向に第1受光部拡散層から第N受光部拡散層(Nは自然数)を、各層毎に平面視で互いに重ならない部分を有するように互いに重なり合う領域から一基板平面方向に領域を辺と共に延ばした状態で順に形成する受光部形成工程と、
光入射面の基板表面に該各受光部と電気的極性が異なる逆導電型拡散層を形成する逆導電型拡散層形成工程と、
該光入射面と反対側の基板表面から、該各受光部にそれぞれ到達する深さを有し、積層された受光部の各層毎に互いに異なる一基板平面方向の辺に隣接するように配置されたトレンチを形成するトレンチ形成工程と、
該トレンチの側面に、該各受光部と電気的極性が異なる逆導電型拡散層を形成するトレンチ側面拡散層形成工程と、
該トレンチの内壁を覆うようにゲート絶縁膜を形成するゲート絶縁膜形成工程と、
該トレンチ内を埋め込んで読み出しゲート電極を形成するゲート電極形成工程と、
該光入射面と反対側の基板表面に該ゲート絶縁膜と隣接し、かつ、該受光部と隔離して蓄積拡散層を形成する蓄積拡散層形成工程とを有する固体撮像装置の製造方法。
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