JP2008117915A - 熱処理板の温度設定方法、プログラム、プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体及び熱処理板の温度設定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】PEB装置の熱板は、複数の熱板領域に区画されており、各熱板領域毎に温度設定できる。熱板の各熱板領域には、熱板面内の温度を調整するための温度補正値がそれぞれ設定できる。先ず、フォトリソグラフィー工程の終了したウェハ面内の線幅が測定される(S1)。その測定線幅の面内傾向Zがゼルニケ多項式を用いて複数の面内傾向成分Ziに分解される(S2)。その算出された複数の面内傾向成分Ziから、温度補正値の変更により改善可能な面内傾向成分Zaiが抜き出され、それらが足し合わされて、ウェハ面内の測定線幅の改善可能な面内傾向Zaが算出される(S3)。改善可能な面内傾向Zaの大きさが予め設定されている閾値Lを超えた場合にのみ、熱板の各熱板領域の温度補正値の設定変更が行われる(S6)。
【選択図】図10
Description
Z2(r・cosθ)
Z3(r・sinθ)
Z4(2r2−1)
Z5(r2・cos2θ)
Z6(r2・sin2θ)
Z7((3r3−2r)・cosθ)
Z8((3r3−2r)・sinθ)
Z9(6r4−6r2+1)
・
・
ΔZ=M・ΔT (1)
ΔT=M−1・ΔZ (2)
で表せられる。改善可能な面内傾向Zaの各面内傾向成分Zaiを零にするには、面内傾向の変化量ΔZに、改善可能な各面内傾向成分Zaiの値に−1を掛けたものが代入され、それ以外の改善不可能な面内傾向成分には零が代入される。
ΔF=M・ΔT (3)
84 PEB装置
90 熱板
120 線幅測定装置
150 温度設定装置
R1〜R5 熱板領域
W1〜W5 ウェハ領域
M 算出モデル
Z 面内傾向
Zi 面内傾向成分
Za 改善可能な面内傾向
Zai 改善可能な面内傾向
W ウェハ
Claims (16)
- 基板を載置して熱処理する熱処理板の温度設定方法であって、
前記熱処理板は、複数の領域に区画され、当該領域毎に温度設定可能であり、
さらに前記熱処理板の各領域毎に、熱処理板の面内温度を調整するための温度補正値が設定可能であり、
前記熱処理を含む一連の基板処理が終了した基板について基板面内の処理状態を測定する工程と、
前記測定された処理状態の基板の面内傾向から、前記熱処理板の各領域の温度補正値の変更により改善可能な面内傾向を算出する工程と、
前記改善可能な面内傾向の大きさが予め設定されている閾値を超えた場合に、前記熱処理板の各領域の温度補正値を変更する工程と、を有することを特徴とする、熱処理板の温度設定方法。 - 前記改善可能な面内傾向の大きさが閾値を超えた場合に、アラームを発することを特徴とする、請求項1に記載の熱処理板の温度設定方法。
- 前記改善可能な面内傾向を算出する際には、
前記測定された処理状態の基板の面内傾向をゼルニケ多項式を用いて複数の面内傾向成分に分解し、それらの複数の面内傾向成分のうちの、前記熱処理板の各領域の温度補正値の変更により改善可能な面内傾向成分を足し合わせて、前記改善可能な面内傾向を算出することを特徴とする、請求項1又は2に記載の熱処理板の温度設定方法。 - 前記熱処理板の各領域の温度補正値を変更する際には、
前記面内傾向成分の変化量と前記温度補正値との相関を示す算出モデルを用いて、前記改善可能な各面内傾向成分が零になるような前記熱処理板の各領域の温度補正値を算出し、その算出された温度補正値を前記熱処理板の各領域の温度に設定することを特徴とする、請求項3に記載の熱処理板の温度設定方法。 - 前記一連の基板処理は、フォトリソグラフィー工程において基板上にレジストパターンを形成する処理であることを特徴とする、請求項1〜4のいずれかに記載の熱処理板の温度設定方法。
- 前記基板面内の処理状態は、レジストパターンの線幅であることを特徴とする、請求項5に記載の熱処理板の温度設定方法。
- 前記熱処理は、露光処理後で現像処理前に行われる加熱処理であることを特徴とする、請求項5又は6に記載の熱処理板の温度設定方法。
- 請求項1〜7のいずれかに記載の熱処理板の温度設定方法を、コンピュータに実現させるためのプログラム。
- 請求項1〜7のいずれかに記載の熱処理板の温度設定方法をコンピュータに実現させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
- 基板を載置して熱処理する熱処理板の温度設定装置であって、
前記熱処理板は、複数の領域に区画され、当該領域毎に温度設定可能であり、
さらに前記熱処理板の各領域毎に、熱処理板の面内温度を調整するための温度補正値が設定可能であり、
前記熱処理を含む一連の基板処理が終了した基板についての基板面内の処理状態に基づいて、その処理状態の基板の面内傾向から、前記熱処理板の各領域の温度補正値の変更により改善可能な面内傾向を算出し、前記改善可能な面内傾向の大きさが予め設定されている閾値を超えた場合に、前記熱処理板の各領域の温度補正値を変更することを特徴とする、熱処理板の温度設定装置。 - 前記改善可能な面内傾向の大きさが閾値を超えた場合に、アラームを発することを特徴とする、請求項10に記載の熱処理板の温度設定装置。
- 前記改善可能な面内傾向を算出する際には、
前記処理状態の基板の面内傾向をゼルニケ多項式を用いて複数の面内傾向成分に分解し、それらの複数の面内傾向成分のうちの、前記熱処理板の各領域の温度補正値の変更により改善可能な面内傾向成分を足し合わせて、前記改善可能な面内傾向を算出することを特徴とする、請求項10又は11に記載の熱処理板の温度設定装置。 - 前記熱処理板の各領域の温度補正値を変更する際には、
前記面内傾向成分の変化量と前記温度補正値との相関を示す算出モデルを用いて、前記改善可能な各面内傾向成分が零になるような前記熱処理板の各領域の温度補正値を算出し、その算出された温度補正値を前記熱処理板の各領域の温度に設定することを特徴とする、請求項12に記載の熱処理板の温度設定装置。 - 前記一連の基板処理は、フォトリソグラフィー工程において基板上にレジストパターンを形成する処理であることを特徴とする、請求項10〜13のいずれかに記載の熱処理板の温度設定装置。
- 前記基板面内の処理状態は、レジストパターンの線幅であることを特徴とする、請求項14に記載の熱処理板の温度設定装置。
- 前記熱処理は、露光処理後で現像処理前に行われる加熱処理であることを特徴とする、請求項14又は15に記載の熱処理板の温度設定装置。
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