JP2008102017A - 基板検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】基板検査装置1は、真空状態で基板の検査を行うメインチャンバ2と、大気側との間及びメインチャンバとの間で基板の搬出入を行うロードロックチャンバ3と、基板と電気的に接触して検査信号を印加するプローバフレーム20を格納するプローバフレームストッカ4とを備え、このプローバフレームストッカ4をロードロックチャンバ3あるいはメインチャンバ2の上部に配置する。プローバフレームストッカ4をロードロックチャンバ3上又はメインチャンバ2上に配置する構成とすることで、プローバフレームストッカ4の据え付けに要する面積は、ロードロックチャンバ3又はメインチャンバ2の据え付け面積をそのまま利用することができ、据え付け面積の増大を防ぐことができる。
【選択図】図1
Description
Claims (7)
- 真空状態で基板に検査信号を印加して基板検査を行う基板検査装置において、
真空状態で基板の検査を行うメインチャンバと、
大気側との間及び前記メインチャンバとの間で基板の搬出入を行うロードロックチャンバと、
基板と電気的に接触して検査信号を印加するプローバフレームを格納するプローバフレームストッカとを備え、
前記プローバフレームストッカを前記ロードロックチャンバの上部に配置したことを特徴とする、基板検査装置。 - 前記ロードロックチャンバは開閉自在の天板を有し、
前記天板は、上部に前記プローバフレームストッカを、下部に前記プローブフレームを搬送する搬送機構を備え、
前記天板及びプローバフレームストッカを昇降自在とする昇降機構を備え、
前記昇降機構の昇降動作と前記搬送機構の搬送動作により、ロードロックチャンバとプローバフレームストッカとの間でプローバフレームの交換を行うことを特徴とする、請求項1に記載の基板検査装置。 - 前記メインチャンバの上部にプローバフレームを一時的に保持する仮置き部を備え、
前記搬送機構はプローバフレームストッカとの間のプローバフレームの交換を前記仮置き部を介して行うことを特徴とする、請求項2に記載の基板検査装置。 - 前記昇降機構は、昇降動作により前記プローバフレームストッカと前記仮置き部との位置合わせを行うことを特徴とする、請求項3に記載の基板検査装置。
- 真空状態で基板に検査信号を印加して基板検査を行う基板検査装置において、
真空状態で基板の検査を行うメインチャンバと、
大気側との間及び前記メインチャンバとの間で基板の搬出入を行うロードロックチャンバと、
基板と電気的に接触して検査信号を印加するプローバフレームを格納するプローバフレームストッカとを備え、
前記プローバフレームストッカを前記メインチャンバの上部に配置したことを特徴とする、基板検査装置。 - 前記ロードロックチャンバは開閉自在の天板を有し、
前記天板は、下部に前記プローブフレームを搬送する搬送機構を備え、
前記天板を昇降自在とする昇降機構を備え、
前記昇降機構の昇降動作と前記搬送機構の搬送動作により、ロードロックチャンバとプローバフレームストッカとの間でプローバフレームの交換を行うことを特徴とする、請求項5に記載の基板検査装置。 - 前記昇降機構は、昇降動作により前記プローバフレームストッカと前記搬送機構との位置合わせを行うことを特徴とする、請求項6に記載の基板検査装置。
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