JP2008059690A - 半導体装置及びテスト方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】BISTによりメモリを実仕様周波数でテストしながら、テストデータを出力可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】 複数のメモリセルと、メモリセルのそれぞれにアクセス可能な複数の入出力回路を有するメモリ32a〜32nをそれぞれ有する複数のメモリ回路30a〜30nと、複数のメモリの良否テストを実施する組込みセルフテスト回路10とを備え、複数のメモリ回路30a〜30nのそれぞれが、複数の入出力回路を逐次選択して選択された対象入出力回路を介して複数のメモリセルのそれぞれから読み出されたデータ信号を組込みセルフテスト回路10に逐次出力する入出力選択器38a〜38nを有する。
【選択図】図1
【解決手段】 複数のメモリセルと、メモリセルのそれぞれにアクセス可能な複数の入出力回路を有するメモリ32a〜32nをそれぞれ有する複数のメモリ回路30a〜30nと、複数のメモリの良否テストを実施する組込みセルフテスト回路10とを備え、複数のメモリ回路30a〜30nのそれぞれが、複数の入出力回路を逐次選択して選択された対象入出力回路を介して複数のメモリセルのそれぞれから読み出されたデータ信号を組込みセルフテスト回路10に逐次出力する入出力選択器38a〜38nを有する。
【選択図】図1
Description
本発明は、メモリを備えた半導体装置に関し、特に組込みセルフテストを備えた半導体装置及び組込みセルフテストによるメモリの不良解析のテスト方法に関する。
システム大規模集積回路(LSI)に搭載されるメモリの数は数十から数百に及び、そのほとんどのメモリのテストは組込みセルフテスト(BIST)によって行われるようになってきている。BIST化の有無に関わらず、メモリに不良が見つかった場合は不良解析を行って不良原因を究明し対策を打つと言う流れには変わりは無い。そしてメモリの不良解析に最も有効なものがフェイルビットマップ(FBM)である。
通常のメモリテスタを使用してダイレクトにメモリにアクセスしてテストを行う場合は、FBM取得が非常に簡単である。被測定メモリと同じアドレス空間をテスタ内の不良解析メモリにマッピングさせ、テストに同期させて各セルのテスト結果を不良解析メモリに記録させている。このようなマッピング機能は、一般のメモリテスタには標準的に装備されている。
一方、BIST化されたメモリのFBM取得はかなり複雑になる。通常のBISTによるテストモードでは、BIST回路内でメモリの出力と期待値の比較を行い、その結果だけを外部ピンに出力する仕様になっている。
例えば、BISTによるテストモードの基本動作では、複数のメモリ回路のそれぞれにBIST回路からアドレス信号、メモリ制御信号、書き込みデータ等が入力され、メモリ回路のメモリに対して書き込み及び読み出し動作が行われる。メモリの読み出しデータは、メモリ回路内において、データレジスタを経由して比較器に入力されてBIST回路から出力された期待値と比較される。BIST回路では、複数のメモリの比較結果の論理和がテスト結果として出力される。
FBM取得のためには、不良のメモリセルのアドレスを知る必要がある。しかし、メモリBISTのテストモードの動作ではメモリの良否結果は取得できても、不良セルのアドレスを取得することはできない。不良セルのアドレスを得るために、通常のテストモード以外に不良解析モードを備えたBISTが存在する。
一般の不良解析モードでは、メモリから読み出された不良解析データがシフトチェインパスを介して外部ピンに出力される。例えば、メモリのセルから読み出された1アドレス分の不良解析データがデータレジスタに一旦記憶される。各メモリ回路のデータレジスタは、シフトチェインパスを介してシフトレジスタ状に接続されており、シフトアウト動作により逐次BIST回路から不良解析データが外部出力ピンに出力される。出力データをテスタ上で期待値と比較することにより不良検出することができる。不良検出したステップから不良セルのアドレスを導き出し、FBMを作成してメモリの不良解析が行われる。不良検出ステップと不良アドレスの関係は被測定メモリのサイズとBISTのテスト仕様から求めることができる。
一般の不良解析モードでは、読み出しステップの後にシフトアウトステップが設けられたタイミングチャートを用いる。そのため、メモリの不良解析データを外部に出力することができ、BIST化メモリのFBMを取得することができる。しかし、メモリから不良解析データを読み出した後に読み出された不良解析データのシフトアウト動作が入るため、直ぐにメモリへの書き込み動作に入ることができずメモリに対しては連続アクセスすることができない。そのため、実仕様周波数でメモリをテストしていることにはならない。
メモリの不良原因は物理的なオープン/ショートだけではない。例えば、寄生容量や寄生抵抗に起因する不良は、高速テストでないと検出できない場合も多い。したがって、実仕様周波数でメモリをテストすることが必要となる。
BISTを用いて実仕様の速度でメモリをテストする不良解析モードが提案がされている(例えば、特許文献1及び2参照。)。提案された不良解析モードにおいては、テスト結果を保持するために半導体装置とは別に設けた外付け、あるいは内臓のFBM用メモリに高速で出力された不良解析データが格納される。テスト終了後に、格納された不良解析データを低速のテスタで処理してFBMを作成している。しかし、特許文献1では、読み出された不良解析データが、FBM用メモリへ逐次出力されるため、読み出し直後にメモリへの書き込みはできない。また、特許文献2では、不良ビットが検出されると、一定のクロック数の期間、次のアドレスの読み出しが停止される。したがって、不良解析モードにおいて実仕様のクロックを用いてメモリをテストしていても、実際のメモリテストが部分的に中断されている。したがって、不良解析モードにおいて、メモリを実仕様周波数でテストしながら、不良解析データを出力することは困難である。
特開2002−298598号公報
特開2004−86996号公報
本発明の目的は、BISTによりメモリを実仕様周波数でテストしながら、不良解析テストデータを出力可能な半導体装置及びテスト方法を提供することにある。
本発明の第1の態様によれば、(イ)複数のメモリセルと、メモリセルのそれぞれにアクセス可能な複数の入出力回路を有するメモリをそれぞれ有する複数のメモリ回路と、(ロ)複数のメモリの良否テストを実施する組込みセルフテスト回路とを備え、(ハ)複数のメモリ回路のそれぞれが、複数の入出力回路を逐次選択して選択された対象入出力回路を介して複数のメモリセルのそれぞれから読み出されたデータ信号を組込みセルフテスト回路に逐次出力する入出力選択器を有する半導体装置が提供される。
本発明の第2の態様によれば、(イ)複数のメモリセルと、メモリセルのそれぞれにアクセス可能な複数の入出力回路を有するメモリをそれぞれ有する複数のメモリ回路、及び複数のメモリの良否テストを実施する組込みセルフテスト回路を備える半導体装置の複数のメモリ回路のメモリのテスト方法であって、(ロ)複数の入出力回路の中から対象入出力回路を選択し、複数のメモリセルのそれぞれからデータ信号を読み出し、(ハ)複数のメモリセルのそれぞれに複数の入出力回路を介してテスト信号を逐次書き込み、(ニ)対象入出力回路を介して複数のメモリセルのそれぞれから逐次読み出されたテストデータ信号を選択し、(ホ)対象メモリからテストデータ信号を選択的に逐次外部出力ピンに出力することを含むテスト方法が提供される。
本発明によれば、BISTによりメモリを実仕様周波数でテストしながら、不良解析テストデータを出力可能な半導体装置及びテスト方法を提供することが可能となる。
以下図面を参照して、本発明の形態について説明する。以下の図面の記載において、同一または類似の部分には同一または類似の符号が付してある。但し、図面は模式的なものであり、装置やシステムの構成等は現実のものとは異なることに留意すべきである。したがって、具体的な構成は以下の説明を参酌して判断すべきものである。また図面相互間においても互いの構成等が異なる部分が含まれていることは勿論である。
本発明の実施の形態に係る半導体装置は、図1に示すように、BIST回路10、複数のメモリ回路30a、30b、・・・、30n等を備える。半導体装置には、テスタ等の外部の装置とBIST回路10との外部接続端子として、入力ピン21、22、及び出力ピン24等が設けられる。BIST回路10は、メモリ選択器12、論理和(OR)回路14、フリップフロップ(FF)16、18、マルチプレクサ20等を備える。メモリ回路30a〜30nのそれぞれは、メモリ32a、32b、・・・、32n、データレジスタ34a、34b、・・・、34n、比較器36a、36b、・・・、36n、入出力(I/O)選択器38a、38b、・・・、38n等を備える。図1では省略したが、メモリ32a〜32nはそれぞれ、複数のメモリセルを有するメモリセルアレイと、複数のメモリセルのそれぞれにアクセス可能な複数の入出力(I/O)回路等を備える。I/O選択器38a〜38nのそれぞれは、複数のメモリ32a〜32nのそれぞれのI/O回路に接続され、複数のI/O回路を逐次選択して選択された対象I/O回路を介して複数のメモリセルのそれぞれから読み出されたデータ信号を逐次出力する。メモリ選択器12は、複数の入出力選択器38a〜38nのそれぞれの出力ノードに入力ノードを接続し、複数のメモリ32a〜32nの中から対象メモリを選択し、対象メモリを備えるメモリ回路のI/O選択器から入力されたデータ信号を逐次FF16及びマルチプレクサ20を介して出力ピン24に出力する。
メモリ回路30a〜30nのメモリ32a〜32nそれぞれの後段に、データレジスタ34a〜34nが接続される。データレジスタ34a〜34nそれぞれの後段に、比較器36a〜36n及びI/O選択器38a〜38nが並列に接続される。なお、図1では図示を省略したメモリ32a〜32nの複数のI/O回路に対応して、メモリ32a〜32nとデータレジスタ34a〜34nとの間、データレジスタ34a〜34nと比較器36a〜36n、及びI/O選択器38a〜38nとの間は複数の配線で並列に接続される。
比較器36a〜36nそれぞれの出力ノードは、BIST回路10のOR回路14の複数の入力ノードのそれぞれに並列に接続される。OR回路14の出力ノードは、FF18の入力ノードに接続される。FF18の出力ノードは、マルチプレクサ20の入力ノードの一つに接続される。
I/O選択器38a〜38nの出力ノードは、BIST回路10のメモリ選択器12の複数の入力ノードにそれぞれ並列に接続される。メモリ選択器12の出力ノードは、FF16の入力ノードに接続される。FF16の出力ノードは、マルチプレクサ20の入力ノードの一つに接続される。
半導体装置の入力ピン21が、BIST回路10に接続される。入力ピン22が、メモリ選択器12に接続される。出力ピン24が、マルチプレクサ20の出力に接続される。メモリ選択器12からI/O選択器38a〜38nを逐次経由して直列に接続するシフトチェーンパス26が設けられる。
BISTによる良否テストモードでは、比較器36a〜36n、OR回路14、及びFF18等が用いられる。例えば、BIST回路10に設けられたタイミング発生器及びパターン発生器等(図示省略)で生成された制御信号、アドレス信号、及びデータ信号等がメモリ回路30a〜30nのそれぞれに入力される。制御信号及びアドレス信号に基いて、メモリ32a〜32nそれぞれのメモリセルに対してデータ信号の書き込み及び読み出し動作が行われる。
例えば、図2に示すように、実仕様周波数の基準クロックに同期して、アドレスiのメモリセルの書き込み及び読み出しが行われる。まず、ステップR1で初期値が読み出される。次に、ステップWでデータ信号が書き込まれる。その後、ステップR2で書き込まれたデータ信号が読み出される。アドレスiに対する読み出しステップR1及びR2で読み出された初期値及びデータ値は、各データレジスタ34a〜34nにシフトインして格納される。その結果、アドレスiのステップR1、W、及びR2の時間に対して1クロック周期遅れて、各データレジスタ34a〜34nに空値を挟んでレジスタ値D1i、D2iが格納される。
ステップR1、W、及びR2からなる3ステップを1テストサイクルとして、メモリ32a〜32nの各I/O回路に割り当てられたアドレスの数だけテストサイクルを繰り返す。例えば、アドレスi〜アドレス(i+2)のメモリセルの書き込み及び読み出し動作の間に、各メモリセルの読み出されたデータ信号は、レジスタ値D2(i−1)、D1i、D2i、D1(i+1)、D2(i+1)、D1(i+2)として、1クロック周期遅れるようにステップR1及びR2に同期してデータレジスタ34a〜34nに格納される。
このように、データレジスタ34a〜34nに格納された各メモリセルの読み出されたデータは、比較器36a〜36nにそれぞれ入力される。比較器36a〜36nのそれぞれでは、入力されたデータのパターンがBIST回路のパターン発生器等から出力された期待値と比較される。比較結果は、OR回路14に入力される。OR回路14で複数の比較器36a〜36nからの比較結果の論理和が算出され、FF18を経由して出力ピン24にメモリ32a〜32nの良否(パス/フェイル)判定信号が出力される。
上述のように、良否テストモードでは、実仕様周波数でメモリ32a〜32nの良否判定ができるが、不良メモリセルのアドレスを特定することはできない。したがって、メモリ32a〜32nの不良解析に有効なFBMを取得することは困難である。
一方、FBM取得のための不良解析モードでは、I/O選択器38a〜38n、メモリ選択器12、及びFF16等が用いられる。また、図3に示すように、メモリ32a〜32nの不良解析を実施するときには、入力ピン21、22、及び出力ピン24を介してテスタ40が半導体装置に接続される。
テスタ40は、タイミング発生器42、パターン発生器44、ドライバ46、不良解析メモリ48、比較器50、メインプロセッサ52、パターンデータメモリ54、FBMメモリ56等を備える。タイミング発生器42及びパターン発生器44が、それぞれドライバ46を介して入力ピン21、22に接続される。パターンデータメモリ54に接続されたパターン発生器44が、不良解析メモリ48及び比較器50に接続される。不良解析メモリ48に接続された比較器50が、出力ピン24に接続される。FBMメモリ56に接続されたメインプロセッサ52が、不良解析メモリ48に接続される。
テスタ40のパターン発生器44は、パターンデータメモリ54に格納された制御信号、アドレス信号、データ信号、及び入力選択信号等のパターンデータ情報を用いて制御信号、アドレス信号、データ信号等のテスト信号のパターンデータ及び選択信号のパターンデータを発生させる。タイミング発生器42は、テスト信号及び選択信号を同期させるタイミングを発生させる。ドライバ46を介してテスト信号及び選択信号それぞれのパターンデータが入力ピン21及び22にそれぞれ出力される。
比較器50は、出力ピン24を介してBIST回路10から出力されたテストデータをパターン発生器44から取得した期待値と比較する。比較結果は、パターン発生器44で生成されたパターンデータと共に不良解析メモリ48に格納される。
メインプロセッサ52は、不良解析メモリ48に格納された比較結果及びパターンデータに基き、不良解析対象のメモリのFBMを作成してFBMメモリ56に格納する。
図4に示すように、メモリ選択器12は、複数の入力ノード(1)、(2)、・・・、(n)、メモリ設定回路66、複数の論理積(AND)回路62a、62b、・・・、62n、及びOR回路64等を備えたデコーダである。メモリ設定回路66は、複数のFF60a、60b、・・・、60nを有する。実施の形態では、デジタル型デコーダを用いているが、アナログ型デコーダであってもよい。入力ノード(1)〜(n)には、I/O選択器38a〜38nの出力ノードがそれぞれ接続される。FF60a〜60nのそれぞれは、入力ピン22に接続されたシフトチェーンパス26によりシフトレジスタ状に直列に接続される。AND回路62a〜62nの入力ノードに、入力ノード(1)〜(n)、及びFF60a〜60nの出力ノードがそれぞれ接続される。AND回路62a〜62nのそれぞれの出力ノードは、OR回路64の複数の入力ノードのそれぞれに並列に接続される。
図5は、図1に示したI/O選択器38a〜38nの中の一つを代表として選び、I/O選択器38として示した図である。図5に示すように、I/O選択器38は、複数の入力ノード(1)、(2)、・・・、(m)、I/O設定回路76、複数のAND回路72a、72b、・・・、72m、及びOR回路74等を備えたデコーダである。I/O設定回路76は、複数のFF70a、70b、・・・、70mを有する。実施の形態では、デジタル型デコーダを用いているが、アナログ型デコーダであってもよい。AND回路72a〜72mの入力ノードに、入力ノード(1)〜(m)、及びFF70a〜70mの出力ノードがそれぞれ接続される。AND回路72a〜72mのそれぞれの出力ノードは、OR回路74の複数の入力ノードのそれぞれに並列に接続される。
図6に示すように、メモリ32a〜32nにはそれぞれメモリセルアレイ33a、33b、・・・、33nの複数のメモリセル132にそれぞれアクセス可能な複数のI/O回路80a、80b、・・・、80mが備えられる。I/O選択器38a〜38nそれぞれの入力ノード(1)〜(m)には、メモリ32a〜32nの複数のI/O回路80a〜80mに対応するデータレジスタ34a〜34nの出力ノードがそれぞれ接続される。FF70a〜70mのそれぞれは、シフトチェーンパス26によりシフトレジスタ状に直列に接続される。
メモリ選択器12のメモリ設定回路66及びI/O選択器38a〜38nのI/O設定回路76a、76b、・・・、76nは、図6に示すように、シフトチェーンパス26によりシフトレジスタ状に直列に接続される。入力ピン22からメモリ設定回路66及びI/O設定回路76a〜76nのそれぞれに入力される選択信号のパターンデータに基いて、メモリ32a〜32n及びメモリ32a〜32nそれぞれのI/O回路80a〜80mの中から対象メモリ及び対象I/O回路を選択する。例えば、対象メモリ及び対象I/O回路としてメモリ32a及びI/O回路80aを選択する場合、メモリ選択器12のFF60a及びI/O選択器38aのFF70aの状態が「1」に設定され、選択されていないメモリ32b〜32m及びI/O回路80b〜80mに対応するFFの状態は「0」に設定される。したがって、この場合の選択信号のパターンデータは、「10・・・010・・・010・・・0・・・10・・・0」となる。
具体的には、図7に示すように、入力選択動作において、選択信号のパターンデータは、入力ピン22からメモリ選択器12のFF60aからFF60n、更に各I/O選択器38a〜38nのFF70aからFF70mにシフトチェーンパス26を経由して逐次シフトイン(Si)される。メモリ選択器12のメモリ設定回路66及びI/O選択器38a〜38nのI/O設定回路76a〜76nのそれぞれに選択信号が設定されて対象メモリ及び対象I/O回路が選択されると、テスト信号のパターンデータが入力ピン21からBIST回路10に入力される。BIST回路10は、テスト信号のパターンデータに基いて、各メモリセルアレイ33a〜33nのI/O回路80a〜80mのそれぞれからアクセスされる複数のメモリセル132のそれぞれのアドレス0、1、・・・、kのメモリセル132のメモリテストを逐次実施する。
良否テストモードと同様、ステップR1、W、R2からなる3ステップを1テストサイクルとして、メモリ32a〜32nの各I/O回路からアクセス可能な複数のメモリセル132のアドレス0〜kについてメモリテストが繰り返される。例えば、図8に示すように、アドレスi〜アドレス(i+2)のメモリセル132のメモリテスト動作の間に、各アドレスのメモリセル132で読み出されたテストデータ値が、レジスタ値D2(i−1)、D1i、D2i、D1(i+1)、D2(i+1)、D1(i+2)として、各I/O回路80a〜80mを介して1クロック周期遅れるようにステップR1及びR2に同期してデータレジスタ34a〜34nに格納される。各I/O回路80a〜80mに対応するデータレジスタ34a〜34nのレジスタ値のそれぞれは、I/O選択器38a〜38nの入力ノード(1)〜(m)の入力値となる。
簡単のため、I/O選択器38aを対象I/O選択器、I/O回路80aを対象I/O回路として、図5に示したI/O選択器38を参照して説明する。I/O選択器38aは、対象メモリのI/O回路80a〜80mの出力のそれぞれを入力ノード(1)〜(m)の入力とする。対象I/O回路の出力を入力とするAND回路72aに接続されたFF70aの状態は「1」で、他のFF70b〜70mは「0」である。したがって、AND回路72aでは、入力ノード(1)の入力値がそのまま出力される。一方、AND回路72b〜72mでは、「0」が出力される。AND回路72a〜72mの出力を入力とするOR回路74では、AND回路72aの入力値、即ち対象I/O回路から読み出されたメモリセル132のデータ値が出力される。
メモリ選択器12は、I/O選択器38a〜38nの出力のそれぞれを入力ノード(1)〜(n)の入力値とする。例えば、図6において、I/O選択器38aを対象I/O選択器とする。図4に示したFF60a〜60nの中で対象I/O選択器38aの出力を入力とするAND回路62aに接続されたFF60aの状態は「1」であり、他のFF60b〜60nは「0」である。したがって、AND回路62aでは、入力ノード(1)の入力値がそのまま出力される。一方、AND回路62b〜62nでは、「0」が出力される。AND回路62a〜62nの出力を入力とするOR回路64では、AND回路62aの入力値、即ち対象I/O回路から読み出されたメモリセル132のデータ値が図1に示したFF16に出力される。
例えば、図8に示すように、アドレスi〜アドレス(i+2)のメモリセル132のメモリテスト動作の間に、データレジスタ34a〜34nに格納されたテストデータ値D2(i−1)、D1i、D2i、D1(i+1)、D2(i+1)、D1(i+2)がBIST出力として、出力ピン24からテスタ40の比較器50に出力される。
なお、図7に示すように、メモリテスト動作の間に2クロック周期遅れてデータ出力動作が行われる。そのため、対象I/O回路の最後のアドレスkから出力されたデータをBIST出力するために、2シフトアウト(So)クロック周期のデータ出力動作が必要となる。
現行のBIST回路を内蔵した半導体装置では、メモリセルから読み出されたテストデータ信号を一旦格納する複数のデータレジスタが、シフトチェーンパスによりシフトレジスタ状に接続されている。複数のデータレジスタのそれぞれに格納されたテストデータ信号は、シフトアウト動作により逐次BIST出力として出力ピンから出力される。したがって、複数のデータレジスタに格納されたデータ信号が全てシフトアウトされるまで、メモリテストは中断されてしまう。このように、現行のBIST回路を内蔵した半導体装置の不良解析モードでは、実仕様周波数でメモリテストを行うことができない。
また、複数のメモリのそれぞれで読み出されたテストデータ信号を出力ピンに直接出力して不良解析を行なう場合は、複数のメモリの数だけ出力ピンが必要となる。しかし、不良解析のために割り当てられる半導体装置の外部ピンの数は限られている。したがって、複数のメモリのそれぞれに出力ピンを設けることは好ましくない。
本発明の実施の形態に係る半導体装置では、I/O選択器38a〜38nが、データレジスタ34a〜34nの後段に配置される。また、メモリ選択器12が、I/O選択器38a〜38nの後段に配置される。I/O選択器38a〜38nは、メモリ32a〜32nのI/O回路80a〜80mからアクセスされる複数のメモリセル132のアドレスのそれぞれから読み出されるデータ信号を1ビットずつ逐次選択して出力することができる。また、メモリ選択器12は、複数のメモリ32a〜32nから1つを選択することができる。その結果、メモリテストの各サイクルで読み出された対象メモリの対象I/O回路のテストデータ信号が一つの出力ピン24から外部に出力することができる。このように、実施の形態に係る半導体装置によれば、BISTによりメモリを実仕様周波数でテストしながら、不良解析データを出力することが可能となる。
対象メモリの全てのI/O回路80a〜80mのテストデータを読み出すには、メモリテストをI/O回路80a〜80mのそれぞれについて逐次実行する。更に、全てのメモリ32a〜32nについてメモリテストを実行する場合は、I/O選択器38a〜38n及びメモリ選択器12の設定を逐次変更しつつ、全てのメモリ32a〜32nについてメモリセル132のデータが出力されるようにしてメモリテストを実行する。このようにして、複数のメモリ32a〜32nの実仕様周波数に同期して複数のメモリ32a〜32nのそれぞれの読み出しデータ信号を一つの出力ピン24から外部に出力することが可能となる。
また、メモリ選択器12とI/O選択器38a〜38nのそれぞれは、シフトチェーンパス26によりシフトレジスタ状に直列に接続されている。したがって、一つの入力ピン22から選択信号をシフトインすることにより、I/O選択器38a〜38n及びメモリ選択器12の設定を逐次変更することが可能となる。
次に、本発明の実施の形態に係るテスト方法を、図9に示すフローチャートを用いて説明する。なお、図9においては、一つの対象メモリのテスト方法について説明する。不良解析対象のメモリが複数ある場合は、図9の処理を複数の対象メモリのそれぞれに対して実行すればよい。
(イ)ステップS100で、図6に示した複数のメモリ32a〜32nの中の対象メモリについて、複数のI/O回路80a〜80mの中から対象I/O回路、例えばI/O回路80aを設定する。I/O回路数j(jは、1〜mの整数)が1に設定される。
(ロ)ステップS101で、テスタ40のパターン発生器44により発生された選択信号のパターンデータが、入力ピン22を介してメモリ選択器12及び複数のI/O選択器38a〜38nを直列に接続するシフトチェーンパス26にシフトインされる。例えば、メモリ選択器12により対象メモリとしてメモリ32aが選択され、I/O選択器38a〜38nにより対象I/O回路としてI/O回路80aが選択される。
(ハ)ステップS102で、パターン発生器44により発生されたテスト信号のパターンデータが、入力ピン21を介してBIST回路10に入力され、メモリテストが実行される。
(ニ)ステップS103で、メモリ32aのI/O回路80aの複数のアドレスのそれぞれのテストデータ信号が、I/O選択器38a及びメモリ選択器12等を経由してBIST回路10から出力ピン24を介して逐次出力される。
(ホ)ステップS104で、比較器50により、テストデータ信号とパターン発生器44で作成された期待値とが比較される。
(ヘ)ステップS105で、比較器50の比較結果が、不良解析メモリ48に格納される。また、パターン発生器44で作成されたテスト信号のパターンデータが、比較結果と共に不良解析メモリ48に格納される。
(ト)ステップS106で、メインプロセッサ52により、不良解析メモリ48に格納された比較結果及びパターンデータに基き、不良解析対象のメモリのFBMが作成される。作成されたFBMは、FBMメモリ56に格納される。
(チ)ステップS107で、I/O回路数jがインクリメントされる。I/O回路数jがmになるまで、ステップS101〜ステップS106の処理が繰り返し実行される。
本発明の実施の形態に係るテスト方法では、対象メモリの対象I/O回路において、複数のアドレスのそれぞれに対して実仕様周波数でメモリテストを実行しながら、読み出されたテストデータ信号を逐次出力することができる。また、複数のアドレスのそれぞれのテストデータ信号は、BIST回路10から一つの出力ピンを介して出力される。更に、不良解析メモリ48に格納された比較結果及びテスト入力信号のパターンデータを用いて不良ビットのアドレスを判定することが可能である。
本発明の実施の形態に係るテスト方法によれば、BISTによりメモリを実仕様周波数でテストしながら、不良解析データを出力することが可能となる。
(第1の変形例)
本発明の実施の形態の第1の変形例に係る半導体装置は、図10に示すように、OR回路90を有するBIST回路10等を備える。OR回路90の入力ノードには、I/O選択器38a〜38nの出力ノードが並列に接続される。OR回路90の出力ノードは、マルチプレクサ20の入力ノードに接続される。I/O選択器38a〜38nのI/O設定回路76a〜76nのそれぞれは、入力ピン22に接続されたシフトチェーンパス26により直列に接続される。
本発明の実施の形態の第1の変形例に係る半導体装置は、図10に示すように、OR回路90を有するBIST回路10等を備える。OR回路90の入力ノードには、I/O選択器38a〜38nの出力ノードが並列に接続される。OR回路90の出力ノードは、マルチプレクサ20の入力ノードに接続される。I/O選択器38a〜38nのI/O設定回路76a〜76nのそれぞれは、入力ピン22に接続されたシフトチェーンパス26により直列に接続される。
本発明の実施の形態の第1の変形例では、I/O選択器38a〜38nの出力を入力として複数のメモリセルのアドレスのそれぞれから読み出されるデータ信号を1ビットずつ逐次選択して出力するOR回路90を用いる点が実施の形態と異なる。他の構成は実施の形態と同様であるので、重複する記載は省略する。
入力ピン22からシフトチェーンパス26を介してI/O設定回路76a〜76nのそれぞれに入力される選択信号のパターンデータに基いて、メモリ32a〜32n及びメモリ32a〜32nそれぞれのI/O回路80a〜80mの中から対象メモリ及び対象I/O回路が選択される。例えば、対象メモリ及び対象I/O回路としてメモリ32a及びI/O回路80aを選択する場合、I/O設定回路76aのFF70aだけが「1」に設定され、選択されていないメモリ32aのI/O回路80b〜80m及びメモリ32b〜32mのI/O回路80a〜80mに対応するFFのそれぞれは「0」に設定される。したがって、この場合の選択信号のパターンデータは、「10・・・000・・・0・・・00・・・0」となる。
図3に示したパターン発生器44で生成された選択信号が、入力ピン22からシフトチェーンパス26を経由して各I/O選択器38a〜38nのI/O設定回路76a〜76nのFF70a〜70mに逐次シフトインされる。I/O設定回路76a〜76nのそれぞれに選択信号が設定されて対象メモリ及び対象I/O回路が選択されると、テスト信号のパターンデータがBIST回路10に入力される。BIST回路10は、テスト信号のパターンデータに基いて、各メモリ32a〜32nのI/O回路80a〜80mのそれぞれからアクセスされる複数のメモリセルのアドレスにおいてメモリテストを逐次実施する。
I/O選択器38a〜38nでは、対象メモリの対象I/O回路のメモリセルのテストデータ信号が選択的に出力される。したがって、OR回路90から、対象メモリの対象I/O回路からアクセスされる複数のメモリセルのアドレスのそれぞれから読み出されるデータ信号を1ビットずつ逐次選択して出力することができる。このように、実施の形態の第1の変形例に係る半導体装置によれば、BISTによりメモリを実仕様周波数でテストしながら、不良解析データを出力することが可能となる。
また、実施の形態の第1の変形例では、I/O選択器38a〜38nの出力を入力として複数のメモリセルのアドレスのそれぞれから読み出されるデータ信号を1ビットずつ逐次選択して出力するOR回路90が用いられる。したがって、図4に示したメモリ選択器12に比べ、回路構成を簡単にすることができる。
(第2の変形例)
本発明の実施の形態の第2の変形例に係る半導体装置は、図11に示すように、I/O選択器38A、38B、・・・、38Nを有するメモリ回路30a〜30n、メモリ選択器12及びI/O設定回路76Aを有するBIST回路10等を備える。I/O選択器38A〜38Nのそれぞれは、AND回路72a〜72m及びOR回路74等を備える。I/O設定回路76Aは、FF70a、70b、・・・、70mを備える。
本発明の実施の形態の第2の変形例に係る半導体装置は、図11に示すように、I/O選択器38A、38B、・・・、38Nを有するメモリ回路30a〜30n、メモリ選択器12及びI/O設定回路76Aを有するBIST回路10等を備える。I/O選択器38A〜38Nのそれぞれは、AND回路72a〜72m及びOR回路74等を備える。I/O設定回路76Aは、FF70a、70b、・・・、70mを備える。
メモリ選択器12のメモリ設定回路66のFF60a〜60n及びI/O設定回路76AのFF70a〜70nのそれぞれは、シフトチェーンパス26によりシフトレジスタ状に直列に接続される。I/O選択器38A〜38NのAND回路72a〜72mのそれぞれには、I/O設定回路76AのFF70a〜70mがそれぞれ並列に接続される。
本発明の実施の形態の第2の変形例では、メモリ32a〜32nのI/O回路80a〜80mの中から対象I/O回路の選択を設定するI/O設定回路76AをI/O選択器38A〜38Nで共有して用いる点が実施の形態と異なる。他の構成は実施の形態と同様であるので、重複する記載は省略する。
入力ピン22からメモリ設定回路66及びI/O設定回路76Aのそれぞれに入力される選択信号のパターンデータに基いて、メモリ32a〜32n及びメモリ32a〜32nそれぞれのI/O回路80a〜80mの中から対象メモリ及び対象I/O回路が選択される。例えば、対象メモリ及び対象I/O回路としてメモリ32a及びI/O回路80aを選択する場合、メモリ設定回路66のFF60a及びI/O設定回路76aのFF70aが「1」に設定され、選択されていないメモリ32b〜32n及びI/O回路80b〜80mに対応するFFのそれぞれは「0」に設定される。したがって、この場合の選択信号のパターンデータは、「10・・・010・・・0」となる。
図3に示したパターン発生器44で生成された選択信号が、入力ピン22からシフトチェーンパス26を経由してメモリ設定回路66及びI/O設定回路76AのFF60a〜60n、70a〜70mに逐次シフトインされる。メモリ設定回路66及びI/O設定回路76Aのそれぞれに選択信号が設定されて対象メモリ及び対象I/O回路が選択されると、テスト信号のパターンデータがBIST回路10に入力される。BIST回路10は、テスト信号のパターンデータに基いて、各メモリ32a〜32nのI/O回路80a〜80mのそれぞれからアクセスされるアドレスのメモリセルのメモリテストを逐次実施する。
I/O選択器38a〜38nでは、I/O設定回路76Aの設定に基いて、各メモリ32a〜32nの対象I/O回路のメモリセルのテストデータ信号が選択されて逐次出力される。メモリ選択器12では、入力された各メモリ32a〜32nの対象I/O回路のメモリセルのテストデータ信号から対象メモリのテストデータ信号が選択されて逐次出力される。したがって、メモリ選択器12から、対象メモリの対象I/O回路からアクセスされる複数のメモリセルのアドレスのそれぞれから読み出されるデータ信号を1ビットずつ逐次選択して出力することができる。このように、実施の形態の第2の変形例に係る半導体装置によれば、BISTによりメモリを実仕様周波数でテストしながら、不良解析データを出力することが可能となる。
また、実施の形態の第2の変形例では、I/O選択器38A〜38Nのそれぞれの対象I/O回路の選択が、共有のI/O設定回路76Aで設定される。したがって、I/O選択器38A〜38Nの回路構成を簡単にすることができる。
なお、実施の形態の第2の変形例では、I/O設定回路76AをBIST回路10内に配置しているが、配置は限定されない。例えば、メモリ回路30a〜30nのいずれかにI/O設定回路を配置してもよい。あるいは、BIST回路10及びメモリ回路30a〜30n以外の半導体装置領域に配置してもよい。
(その他の実施の形態)
上記のように、本発明の実施の形態を記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者にはさまざまな代替実施の形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。
上記のように、本発明の実施の形態を記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者にはさまざまな代替実施の形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。
本発明の実施の形態においては、テスタ40のタイミング発生器42、パターン発生器44、及びパターンデータメモリ54等を用いてテスト信号及び選択信号のパターンデータを生成している。しかし、BIST回路10に内臓のタイミング発生器、パターン発生器、及びパターンデータメモリ等を用いてテスト信号及び選択信号のパターンデータを生成してもよい。この場合、BIST回路10のパターンデータメモリに、予めテスト信号及び選択信号のパターンデータ情報が格納される。
このように、本発明はここでは記載していないさまざまな実施の形態等を含むことは勿論である。したがって、本発明の技術的範囲は上記の説明から妥当な特許請求の範囲に係わる発明特定事項によってのみ定められるものである。
10…BIST回路
12…メモリ選択器
20…マルチプレクサ
21、22…入力ピン
24…出力ピン
26…シフトチェーンパス
30a〜30n…メモリ回路
32a〜32n…メモリ
33a〜33n…メモリセルアレイ
34a〜34n…データレジスタ
36a〜36n…比較器
38、38a〜38n…入出力(I/O)選択器
80a〜80m…入出力(I/O)回路
132…メモリセル
12…メモリ選択器
20…マルチプレクサ
21、22…入力ピン
24…出力ピン
26…シフトチェーンパス
30a〜30n…メモリ回路
32a〜32n…メモリ
33a〜33n…メモリセルアレイ
34a〜34n…データレジスタ
36a〜36n…比較器
38、38a〜38n…入出力(I/O)選択器
80a〜80m…入出力(I/O)回路
132…メモリセル
Claims (5)
- 複数のメモリセルと、該メモリセルのそれぞれにアクセス可能な複数の入出力回路を有するメモリをそれぞれ有する複数のメモリ回路と、
前記複数のメモリの良否テストを実施する組込みセルフテスト回路
とを備え、前記複数のメモリ回路のそれぞれが、前記複数の入出力回路を逐次選択して選択された対象入出力回路を介して前記複数のメモリセルのそれぞれから読み出されたデータ信号を前記組込みセルフテスト回路に逐次出力する入出力選択器を有することを特徴とする半導体装置。 - 前記複数のメモリ回路の入出力選択器のそれぞれの出力ノードに入力ノードを接続し、前記複数のメモリ回路のメモリの中から対象メモリを選択し、前記対象メモリを備えるメモリ回路の前記入出力選択器から入力された前記データ信号を逐次外部出力ピンに出力するメモリ選択器を、前記組込みセルフテスト回路が備えることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
- 前記複数のメモリ回路の入出力選択器のそれぞれが、前記対象入出力回路を設定するために、互いに他のメモリセルの入出力選択回路の入出力設定回路と直列に接続された入出力設定回路を有することを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
- 前記メモリ選択器が前記対象メモリを設定するメモリ設定回路を備え、
前記組込みセルフテスト回路が前記メモリ設定回路に直列に接続され、前記複数の入出力選択器のそれぞれに並列に前記対象入出力回路を設定する入出力設定回路を更に備えることを特徴とする請求項2に記載の半導体装置。 - 複数のメモリセルと、該メモリセルのそれぞれにアクセス可能な複数の入出力回路を有するメモリをそれぞれ有する複数のメモリ回路、及び前記複数のメモリの良否テストを実施する組込みセルフテスト回路を備える半導体装置の前記複数のメモリ回路のメモリのテスト方法であって、
前記複数の入出力回路の中から対象入出力回路を選択し、前記複数のメモリセルのそれぞれからデータ信号を読み出し、
前記複数のメモリセルのそれぞれに前記複数の入出力回路を介してテスト信号を逐次書き込み、
前記対象入出力回路を介して前記複数のメモリセルのそれぞれから逐次読み出されたテストデータ信号を選択し、
前記対象メモリから前記テストデータ信号を選択的に逐次外部出力ピンに出力する
ことを含むことを特徴とするテスト方法。
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