JP2008045996A5 - - Google Patents

Claims (15)

1. 複数の電子部品を収納した試験用トレイを、テストヘッドに設けられたテスト部ユニットが有する複数のソケットの位置まで搬送することのできる電子部品ハンドリング装置であって、
   ソケットの大きさ、配置及び個数の少なくとも１種が異なる複数のテスト部ユニットの外形を略同じサイズにすることにより、前記複数のテスト部ユニットのいずれにも適合して使用可能な電子部品ハンドリング装置。
2. 使用するテスト部ユニットの種類に応じて、当該テスト部ユニットが有するソケットに電子部品が装着し得るように、試験用トレイが有する電子部品収納部材を交換することのできる請求項１に記載の電子部品ハンドリング装置。
3. 使用するテスト部ユニットの種類に応じて、前記試験用トレイの電子部品収納部材の交換を自動的に行う請求項２に記載の電子部品ハンドリング装置。
4. 使用するテスト部ユニットの情報を読み取り、当該読み取った情報に基づいて、前記試験用トレイの電子部品収納部材の交換を自動的に行う請求項３に記載の電子部品ハンドリング装置。
5. 前記試験用トレイは、電子部品収納部材の保持および解放が可能な可動部材を備えており、
   前記電子部品ハンドリング装置は、前記可動部材を駆動する装置を備えている
   ことを特徴とする請求項２に記載の電子部品ハンドリング装置。
6. 前記電子部品収納部材には、Ｚ軸方向に立設している突条部が複数形成されており、前記突条部が切り欠かれた切り欠き部に電子部品が収納されることを特徴とする請求項２に記載の電子部品ハンドリング装置。
7. 前記突条部には、Ｘ軸方向に延在する複数の突条部と、Ｙ軸方向に延在する複数の突条部とが存在することを特徴とする請求項６に記載の電子部品ハンドリング装置。
8. 前記突条部は、平面視略Ｌ状の形状を有し、前記電子部品収納部材の一角からその対角に向かって順次大きくなるように所定間隔で複数並んで形成されており、
   前記切り欠き部は、前記一角と対角の位置に形成されている
   ことを特徴とする請求項６に記載の電子部品ハンドリング装置。
9. 前記切り欠き部は、前記電子部品収納部材の略中央部に形成されており、
   前記Ｘ軸方向に延在する突条部および前記Ｙ軸方向に延在する突条部は、前記切り欠き部の周りに位置する
   ことを特徴とする請求項７に記載の電子部品ハンドリング装置。
10. 複数の電子部品を収納し、電子部品ハンドリング装置においてテスト部に搬送されるように取り廻される試験用トレイであって、
    前記試験用トレイは、電子部品収納部材と、前記電子部品収納部材を着脱可能に支持する支持体とを備えており、
    前記支持体には、前記電子部品収納部材の保持および解放が可能な可動部材が設けられている
    ことを特徴とする試験用トレイ。
11. Ｚ軸方向に立設している突条部が複数形成されており、前記突条部が切り欠かれた切り欠き部に電子部品が収納される電子部品収納部を備えた試験用トレイに対応して、電子部品ハンドリング装置において使用されるプッシャであって、
    前記プッシャの電子部品押圧部分には、前記電子部品収納部材における前記複数の突条部の相互間に挿入し得る凸部が複数設けられており、前記複数の凸部の相互間は、前記電子部品収納部材の突条部が挿入され得る凹部となっていることを特徴とするプッシャ。
12. 複数の電子部品を収納した試験用トレイを、テストヘッドに設けられたテスト部ユニットが有する複数のソケットの位置まで搬送することのできる電子部品ハンドリング装置の運用方法であって、
    ソケットの大きさ、配置及び個数の少なくとも１種が異なり、外形が略同じサイズである複数のテスト部ユニットの中から使用する所定のテスト部ユニットに応じて、当該テスト部ユニットが有するソケットに電子部品が装着し得るように、試験用トレイが有する電子部品収納部材を交換することを特徴とする電子部品ハンドリング装置の運用方法。
13. 使用する所定のテスト部ユニットに応じて、前記試験用トレイの電子部品収納部材の交換を自動的に行う請求項１２に記載の電子部品ハンドリング装置の運用方法。
14. 電子部品を供給用トレイから試験用トレイに移し替え、複数の電子部品を収納した試験用トレイを、テストヘッドに設けられたテスト部ユニットが有する複数のソケットの位置まで搬送することのできる電子部品ハンドリング装置の運用方法であって、
    ソケットの大きさ、配置及び個数の少なくとも１種が異なり、外形が略同じサイズである複数のテスト部ユニットの中から使用する所定のテスト部ユニットに応じて、電子部品を供給用トレイから試験用トレイに移し替える過程で、電子部品の配置を変更することを特徴とする電子部品ハンドリング装置の運用方法。
15. 使用する所定のテスト部ユニットに応じて、前記電子部品の配置の変更を自動的に行う請求項１４に記載の電子部品ハンドリング装置の運用方法。